説明

ガラス基板

【課題】ソーダ石灰ガラスと同等の熱膨張係数を有するとともに、高歪点であり、且つ生産性に優れるガラス基板を作製すること。
【解決手段】本発明のガラス基板は、ガラス組成として、質量%で、SiO 40〜60%、Al 0〜15%、B 3.5〜15%(但し、3.5%は含まない)、MgO+CaO+SrO+BaO(MgO、CaO、SrO、BaOの合量) 10〜30%、BaO 0.1〜15%、NaO+KO(NaO、KOの合量) 1〜25%、NaO 0〜15%、KO 0〜15%、ZrO 0.1〜15%を含有し、歪点が570℃以上625℃未満であり、且つ30〜380℃における熱膨張係数が60〜90×10−7/℃であることを特徴とする。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、ガラス基板に関し、特にプラズマディスプレイパネル(PDP)や太陽電池パネルに好適なガラス基板に関する。
【背景技術】
【0002】
PDPは、前面ガラス基板と背面ガラス基板を対向させて、電極等の位置合わせを行った後、その周囲を約500〜600℃で封着することにより作製される。前面ガラス基板の表面には、ITO膜やネサ膜等からなる透明電極が成膜されており、透明電極上には、誘電体層が形成されている。また、背面ガラス基板の表面には、Al、Ag、Ni等からなる電極が形成されており、その電極上には、誘電体層と隔壁が形成されている。なお、誘電体層と隔壁は、それぞれ約500〜600℃の熱処理により、形成されている。
【0003】
従来、PDP用ガラス基板として、フロート法等で板厚1.5〜3.0mmに成形されたソーダ石灰ガラス(熱膨張係数:約84×10−7/℃)が用いられてきた。しかし、ソーダ石灰ガラスは、歪点が低いため、PDPの製造工程における熱処理により、熱変形や熱収縮しやすい課題を有していた。そこで、現在では、熱処理による熱変形や熱収縮を抑制するために、熱膨張係数がソーダ石灰ガラスと同等であり、且つ570℃以上の歪点を有する高歪点ガラスが広く使用されるに到っている(特許文献1参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開平8−290938号公報
【特許文献2】特開2002−193635号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
高歪点ガラスは、ソーダ石灰ガラスと比較して、溶融温度や成形温度が極めて高いため、溶融性や成形性が低い。具体的には、従来の高歪点ガラス基板は、成形温度(高温粘度10dPa・sにおける温度)が1200℃前後であるため、低温でガラス基板を成形することが困難である(特許文献2参照)。結果として、従来の高歪点ガラスは、ソーダ石灰ガラスよりも生産性に劣り、コスト高になっていた。
【0006】
そこで、本発明は、ソーダ石灰ガラスと同等の熱膨張係数を有するとともに、高歪点であり、且つ生産性に優れるガラス基板を作製することを技術的課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明者等は、鋭意検討の結果、ガラス組成中の各成分の含有量を厳密に規制し、特にBを所定量導入することにより、上記技術的課題を解決できることを見出し、本発明として、提案するものである。すなわち、本発明のガラス基板は、ガラス組成として、質量%で、SiO 40〜60%、Al 0〜15%、B 3.5〜15%(但し、3.5%は含まない)、MgO+CaO+SrO+BaO(MgO、CaO、SrO、BaOの合量) 10〜30%、BaO 0.1〜15%、NaO+KO(NaO、KOの合量) 1〜25%、NaO 0〜15%、KO 0〜15%、ZrO 0.1〜15%を含有し、歪点が570℃以上625℃未満であり、且つ30〜380℃における熱膨張係数が60〜90×10−7/℃であることを特徴とする。ここで、「歪点」は、ASTM C336−71に基づいて測定した値を指す。また、「30〜380℃における熱膨張係数」は、ディラトメーターで測定した平均値を指す。
【0008】
本発明のガラス基板は、ガラス組成中の各成分の含有量を厳密に規制している。このようにすれば、歪点や熱膨張係数を適正な範囲(例えば、歪点:570℃以上625℃未満、30〜380℃における熱膨張係数:60〜90×10−7/℃)に規制しやすくなる。特に、本発明のガラス基板は、ガラス組成中のBの含有量を3.5質量%より多く含有している。このようにすれば、溶融温度や成形温度が顕著に低下するため、つまり溶融性や成形性が顕著に向上するため、ガラス基板の生産性が向上し、結果として、ガラス基板を低廉化することができる。
【0009】
第二に、本発明のガラス基板は、10dPa・sにおける温度が1150℃未満であることを特徴とする。ここで、「10dPa・sにおける温度」は、白金球引き上げ法で測定した値を指す。なお、10dPa・sにおける温度は、溶融ガラスを板状に成形する際に目安になる温度、つまり成形温度に相当する温度であり、この温度が低い程、ガラス基板を成形しやすくなる。
【0010】
第三に、本発明のガラス基板は、PDPに用いることを特徴とする。
【0011】
第四に、本発明のガラス基板は、太陽電池パネルに用いることを特徴とし、特にCIS系太陽電池または色素増感型太陽電池に用いることを特徴とする。CIS系太陽電池は、ガラス基板上に、光吸収層としてCu、In、Ga、Seからなるカルコパイライト型化合物半導体、Cu(IN,Ga)Seが形成されている。カルコパイライト型化合物半導体は、セレン化法等で作製されるが、その際の熱処理温度は約500〜600℃である。従来、CIS系太陽電池には、ガラス基板としてソーダ石灰ガラスが用いられてきた。しかし、ソーダ石灰ガラスは、歪点が低いため、カルコパイライト型化合物半導体の作製工程における熱処理により、熱変形や熱収縮しやすい課題を有していた。一方、本発明のガラス基板は、高歪点であるとともに、ソーダ石灰ガラスと同等の熱膨張係数を有し、且つ生産性が良好であるため、本用途に好適である。また、本発明のガラス基板は、高歪点であるため、色素増感型太陽電池の製造工程における熱処理(TiOの焼成工程)により、熱変形や熱収縮が生じ難い性質も有している。
【発明を実施するための最良の形態】
【0012】
本発明のガラス基板において、ガラス組成中の各成分の含有量を上記のように限定した理由を以下に説明する。なお、以下の%表示は、特に断りがない限り、質量%を指す。
【0013】
SiOは、ガラスのネットワークを形成する成分である。その含有量は40〜60%、好ましくは43〜58%、より好ましくは45〜55%未満である。SiOの含有量が多くなると、高温粘度が高くなって、溶融性や成形性が低下し、或いは熱膨張係数が低下し過ぎて、周辺材料の熱膨張係数に整合し難くなる。一方、SiOの含有量が少なくなると、熱膨張係数が高くなり過ぎて、耐熱衝撃性が低下しやすくなり、また歪点が低下しやすくなり、更にはPDP等の製造工程における熱処理により、ガラス基板に割れが発生したり、熱変形や熱収縮が生じやすくなる。
【0014】
Alは、歪点を高める成分である。その含有量は0〜15%、好ましくは3〜14%、より好ましくは5〜13%である。Alの含有量が多くなると、高温粘度が高くなって、溶融性や成形性が低下し、或いは熱膨張係数が低下し過ぎて、周辺材料の熱膨張係数に整合し難くなる。
【0015】
は、高温粘度を低下させて、溶融性や成形性を顕著に高める成分であり、必須成分である。その含有量は3.5〜15%(但し、3.5%は含まない)、好ましくは4.1〜15%、より好ましくは4.5〜12%、更に好ましくは5.1〜10%未満である。Bの含有量が多くなると、歪点が低下しやすくなる。一方、Bの含有量が3.5%以下になると、溶融温度や成形温度が上昇しやすくなる。
【0016】
MgO+CaO+SrO+BaOは、高温粘度を低下させて、溶融性や成形性を高める成分である。その含有量は10〜30%、好ましくは15〜25%である。MgO+CaO+SrO+BaOの含有量が多くなると、耐失透性が低下しやすくなるため、ガラス基板に成形し難くなる。一方、MgO+CaO+SrO+BaOの含有量が少なくなると、歪点が低下する傾向にあり、また溶融温度や成形温度が上昇する傾向にある。
【0017】
MgOは、高温粘度を顕著に低下させて、溶融性や成形性を高める成分である。その含有量は0〜10%、好ましくは0〜9%、より好ましくは0〜8%である。MgOの含有量が多くなると、耐失透性が低下しやすくなるため、ガラス基板に成形し難くなる。
【0018】
CaOは、高温粘度を低下させて、溶融性や成形性を高める成分である。その含有量は0〜10%、好ましくは0〜9%、より好ましくは0〜8%である。CaOの含有量が多くなると、耐失透性が低下しやすくなるため、ガラス基板に成形し難くなる。
【0019】
SrOは、高温粘度を低下させて、溶融性や成形性を高める成分である。その含有量は0〜15%、好ましくは0〜13%、より好ましくは0〜10%である。SrOの含有量が多くなると、耐失透性が低下しやすくなるため、ガラス基板に成形し難くなる。
【0020】
BaOは、高温粘度を低下させて、溶融性や成形性を顕著に高める成分であり、必須成分である。その含有量は0.1〜15%、好ましくは2〜13%、より好ましくは4〜10%である。BaOの含有量が多くなると、耐失透性が低下しやすくなるため、ガラス基板に成形し難くなる。一方、BaOの含有量が0.1%より少ないと、溶融温度や成形温度が上昇しやすくなる。
【0021】
NaO+KOは、高温粘度を低下させて、溶融性や成形性を高める成分であり、また熱膨張係数を調整し得る成分である。その含有量は1〜25%、好ましくは5〜20%である。NaO+KOの含有量が多くなると、熱膨張係数が高くなり過ぎて、耐熱衝撃性が低下しやすくなり、また歪点が低下する傾向にある。このため、PDP等の製造工程における熱処理により、ガラス基板に割れが発生したり、熱変形や熱収縮が生じやすくなる。一方、NaO+KOの含有量が少なくなると、溶融温度や成形温度が上昇する傾向にある。
【0022】
NaOは、高温粘度を低下させて、溶融性や成形性を高める成分であり、また熱膨張係数を調整し得る成分である。また、CIS系太陽電池に用いる場合は、光電変換効率を向上させる上で重要な成分である。その含有量は0〜10%、好ましくは2〜8%、より好ましくは3〜7%である。NaOの含有量が多くなると、熱膨張係数が高くなり過ぎて、耐熱衝撃性が低下しやすくなり、また歪点が低下する傾向にある。このため、PDP等の製造工程における熱処理により、ガラス基板に割れが発生したり、熱変形や熱収縮が生じやすくなる。
【0023】
Oは、高温粘度を低下させて、溶融性や成形性を高める成分であり、また熱膨張係数を調整し得る成分である。その含有量は0〜15%、好ましくは1〜13%、より好ましくは2〜12%である。KOの含有量が多くなると、熱膨張係数が高くなり過ぎて、耐熱衝撃性が低下しやすくなり、また歪点が低下する傾向にある。このため、PDP等の製造工程における熱処理により、ガラス基板に割れが発生したり、熱変形や熱収縮が生じやすくなる。
【0024】
ZrOは、歪点を顕著に高める成分であり、必須成分である。その含有量は0.1〜15%、好ましくは2〜13%、より好ましくは3〜10%である。ZrOの含有量が多くなると、失透ブツが発生しやすくなるため、ガラス基板に成形し難くなる。一方、ZrOの含有量が少なくなると、歪点が低下しやすくなる。なお、上記の通り、Bの含有量が多くなると、歪点が低下しやすくなるが、ZrOを所定量添加すれば、そのような事態を抑制することができる。
【0025】
上記成分以外に溶解性、清澄性、成形性を改善するために、SO、As、Sb、P、F、Clを合量で2%まで添加することができる。また、化学的耐久性を改善するために、La、TiO、SnO、ZnOを合量で5%まで添加することができる。さらに、ガラス基板の色調を調整するために、Fe、CoO、NiO、Ndを合量で1%まで添加することができる。但し、フロート法でガラス基板を成形する場合、As、Sbはフロートバス中で還元されて金属異物になるため、これらの成分の添加を避けることが好ましい。
【0026】
LiOは、高温粘度を低下させて、溶融性や成形性を高める成分であるが、歪点を顕著に低下させる作用を有するため、実質的に含有しないことが好ましい。ここで、「実質的にLiOを含有しない」とは、ガラス組成中のLiOの含有量が1000ppm未満の場合を指す。
【0027】
本発明のガラス基板において、歪点は570℃以上625℃未満であり、好ましくは570℃以上600℃以下である。歪点が570℃未満であると、PDP等の製造工程における熱処理により、熱変形や熱収縮が生じやすくなる。一方、歪点が625℃以上であると、溶融温度や成形温度が上昇し、ガラス基板の製造コストが高騰する。
【0028】
本発明のガラス基板において、30〜380℃における熱膨張係数は60〜90×10−7/℃であり、好ましくは65〜90×10−7/℃、より好ましくは80〜90×10−7/℃である。このようにすれば、ガラス基板の熱膨張係数が、誘電体層等の周辺材料の熱膨張係数に整合しやすくなる。
【0029】
本発明のガラス基板において、10dPa・sにおける温度は1150℃未満、特に1100℃未満が好ましい。このようにすれば、低温でガラス基板を成形しやすくなるため、ガラス基板の生産性が向上し、ガラス基板を低廉化することができる。
【0030】
本発明のガラス基板は、所望のガラス組成になるように、ガラス原料を調合したガラスバッチを連続溶融炉に投入した上で、このガラスバッチを加熱溶融し、脱泡した後、成形装置に供給して、溶融ガラスを板状に成形し、徐冷することにより、製造することができる。
【0031】
本発明のガラス基板を製造するに際し、ガラス原料の一部にカレットを用いることが好ましい。このようにすれば、ガラスバッチの溶解性を高めることができる。特に、Bの導入原料として、無アルカリアルミノボロシリケートガラスのカレットを用いること好ましい。このようにすれば、無アルカリアルミノボロシリケートガラスのカレットの再利用を促進できるとともに、カレット以外のガラス原料中のアルカリ成分の含有量が相対的に多くなるため、ガラスバッチの溶解性を更に高めることができる。
【0032】
ガラス基板の成形方法として、フロート法、スロットダウンドロー法、オーバーフローダウンドロー法、リドロー法等の成形方法を採用することができる。特に、フロート法は、安価に大型のガラス基板を効率良く成形できるため、好ましい。
【実施例】
【0033】
以下、実施例に基づいて本発明を詳細に説明する。
【0034】
表1は、本発明の実施例(試料No.1〜8)および比較例(試料No.9)を示している。
【0035】
【表1】

【0036】
次のようにして、表1の各試料を作製した。まず表中のガラス組成になるように、ガラス原料を調合したガラスバッチを白金坩堝に投入し、1550℃2時間溶融した。次に、溶融ガラスをカーボン型に流し込み、板状に成形した後、所定の徐冷処理を行った。最後に、得られたガラスに対して、以下の測定に応じた加工を施した。
【0037】
各試料につき、熱膨張係数、歪点および10dPa・sにおける温度を測定した。その結果を表1に示す。
【0038】
熱膨張係数は、直径5.0mm、長さ20mmの円柱状の試料を測定試料とし、ディラトメーターで測定した平均値である。測定温度範囲は30〜380℃である。
【0039】
歪点は、ASTM C336−71に基づいて測定した値である。
【0040】
10dPa・sにおける温度は、白金球引き上げ法により測定した値である。
【0041】
表1から明らかなように、試料No.1〜8は、10dPa・sにおける温度が低いため、低温でガラス基板を成形しやすいと考えられる。また、試料No.1〜8は、熱膨張係数が83〜85×10−7/℃であるため、PDPの周辺部材やCIS系結晶相の熱膨張係数に整合している。さらに、試料No.1〜8は、歪点が570〜600℃であるため、耐熱性が良好である。一方、試料No.9は、10dPa・sにおける温度が高いため、低温でガラス基板を成形し難いと考えられる。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
ガラス組成として、質量%で、SiO 40〜60%、Al 0〜15%、B 3.5〜15%(但し、3.5%は含まない)、MgO+CaO+SrO+BaO 10〜30%、BaO 0.1〜15%、NaO+KO 1〜25%、NaO 0〜15%、KO 0〜15%、ZrO 0.1〜15%を含有し、歪点が570℃以上625℃未満であり、且つ30〜380℃における熱膨張係数が60〜90×10−7/℃であることを特徴とするガラス基板。
【請求項2】
10dPa・sにおける温度が1150℃未満であることを特徴とする請求項1に記載のガラス基板。
【請求項3】
プラズマディスプレイパネルに用いることを特徴とする請求項1または2に記載のガラス基板。
【請求項4】
太陽電池パネルに用いることを特徴とする請求項1または2に記載のガラス基板。

【公開番号】特開2011−121838(P2011−121838A)
【公開日】平成23年6月23日(2011.6.23)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2009−282656(P2009−282656)
【出願日】平成21年12月14日(2009.12.14)
【出願人】(000232243)日本電気硝子株式会社 (1,447)
【Fターム(参考)】