光ピックアップ装置および光ディスク装置
【課題】簡素な構成にてトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制でき、また、効果的に迷光を除去し得る光ピックアップ装置および光ディスク装置を提供する。
【解決手段】ディスクによって反射されたレーザ光のうち、レーザ光軸の周りに設定された４つの光束領域Ａ〜Ｄの光束の進行方向を変化させ、光束領域Ａ〜Ｄの光束を互いに離散させる。光検出器の検出面には、信号光のみが存在する信号光領域が現れる。この領域に８つのセンサＰ１１〜Ｐ１８を配置する。Ｐ１７とＰ１８の加算信号と、Ｐ１２とＰ１１の加算信号との差分信号を信号ＰＰ１とし、Ｐ１３とＰ１４の加算信号と、Ｐ１５とＰ１６の加算信号との差分信号を信号ＰＰ２とすると、ＰＰ＝ＰＰ１−ｋ・ＰＰ２の演算によりプッシュプル信号を求める。これにより、迷光の影響が抑制され、且つ、ＤＣ成分が抑制されたプッシュプル信号が得られる。
【解決手段】ディスクによって反射されたレーザ光のうち、レーザ光軸の周りに設定された４つの光束領域Ａ〜Ｄの光束の進行方向を変化させ、光束領域Ａ〜Ｄの光束を互いに離散させる。光検出器の検出面には、信号光のみが存在する信号光領域が現れる。この領域に８つのセンサＰ１１〜Ｐ１８を配置する。Ｐ１７とＰ１８の加算信号と、Ｐ１２とＰ１１の加算信号との差分信号を信号ＰＰ１とし、Ｐ１３とＰ１４の加算信号と、Ｐ１５とＰ１６の加算信号との差分信号を信号ＰＰ２とすると、ＰＰ＝ＰＰ１−ｋ・ＰＰ２の演算によりプッシュプル信号を求める。これにより、迷光の影響が抑制され、且つ、ＤＣ成分が抑制されたプッシュプル信号が得られる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ装置および光ディスク装置に関するものであり、特に、複数の記録層が積層された記録媒体に対して記録／再生を行う際に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスクの大容量化に伴い、記録層の多層化が進んでいる。一枚のディスク内に複数の記録層を含めることにより、ディスクのデータ容量を顕著に高めることができる。記録層を積層する場合、これまでは片面２層が一般的であったが、最近では、さらに大容量化を進めるために、片面に３層以上の記録層を配することも検討されている。ここで、記録層の積層数を増加させると、ディスクの大容量化を促進できる。しかし、その一方で、記録層間の間隔が狭くなり、層間クロストークによる信号劣化が増大する。
【０００３】
記録層を多層化すると、記録／再生対象とされる記録層（ターゲット記録層）からの反射光が微弱となる。このため、ターゲット記録層の上下にある記録層から、不要な反射光（迷光）が光検出器に入射すると、検出信号が劣化し、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボに悪影響を及ぼす惧れがある。したがって、このように記録層が多数配されている場合には、適正に迷光を除去して、光検出器からの信号を安定化させる必要がある。
【０００４】
以下の特許文献１には、ピンホールを用いて迷光を除去する技術が記載されている。また、特許文献２には、１／２波長板と偏光光学素子を組み合わせることにより迷光を除去する技術が記載されている。
【０００５】
なお、特許文献３には、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制する手法が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−２６０６６９号公報
【特許文献２】特開２００６−２５２７１６号公報
【特許文献３】特開平１１−３５３６６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記特許文献１の技術によれば、ターゲット記録層から反射されたレーザ光（信号光）の収束位置にピンホールを正確に位置づける必要があるため、ピンホールの位置調整作業が困難であるとの課題がある。位置調整作業を容易にするためピンホールのサイズを大きくすると、迷光がピンホールを通過する割合が増加し、迷光による信号劣化を効果的に抑制できなくなる。
【０００８】
また、特許文献２の技術によれば、迷光を除去するために、１／２波長板と偏光光学素子が２つずつ必要である他、さらに、２つのレンズが必要であるため、部品点数とコストが増加し、また、各部材の配置調整が煩雑であるとの課題がある。また、これらの部材を並べて配置するスペースが必要となり、光学系が大型化するとの課題もある。
【０００９】
なお、光ディスク装置においては、ディスクによって反射されたレーザ光の光量分布の偏りに基づいてトラッキングエラー信号が生成される。かかるトラッキングエラー信号には、レーザ光軸に対する対物レンズのオフセットに応じてＤＣ成分が重畳される。よって、光ディスク装置では、かかるＤＣ成分を円滑に抑制する手法が要求される。
【００１０】
かかるＤＣ成分は、たとえば、３つのビームを用いたＤＰＰ（Differential Push-Pull）法により抑制できる。しかし、３ビーム法ではレーザ光を３つのビームに分割する必要があり、光学系と光検出器の構成が複雑になるとの問題がある。また、上記特許文献３の手法では、１つのビームによってトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制できる。しかし、この手法は、トラッキングエラー信号に特化したものであり、この手法に記載のセンサパターンからはフォーカスエラー信号を生成することができない。さらに、ＤＣ成分を検出するセンサパターン領域がビーム強度分布の弱い周辺部であるため、ＤＣ成分を検出するための信号量が小さい。
【００１１】
本発明は、このような課題を解消するためになされたものであり、簡素な構成にてトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を効果的に抑制できるようにすることを主たる目的とする。加えて、本発明は、簡素な構成にて効果的に迷光を除去し得る光ピックアップ装置および光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の第１の態様に係る光ピックアップ装置は、レーザ光源と、前記レーザ光源から出射されたレーザ光を記録媒体上に収束させる対物レンズと、前記記録媒体によって反射された前記レーザ光に非点収差を導入し、これにより、第１の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第１の焦線位置と、前記第１の方向に垂直な第２の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第２の焦線位置とを前記レーザ光の進行方向に互いに離間させる非点収差素子と、前記記録媒体によって反射された前記レーザ光の光束を、前記第１の方向と前記第２の方向にそれぞれ平行な第１および第２の直線によって４分割し、さらに分割後の各光束を、これら第１および第２の直線にそれぞれ４５°の角度をもつ第３および第４の直線によって２分割した８つの光束をそれぞれ個別に受光するセンサを有する光検出器とを備える。ここで、前記非点収差素子は、前記記録媒体からのトラック像が前記第１、第２、第３および第４の直線の何れかと平行となるように配置されている。
【００１３】
この場合、上記光ピックアップ装置または当該光ピックアップ装置が搭載される光ディスク装置に以下の構成を有する演算回路を配することにより、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制することができる。
【００１４】
すなわち、演算回路は、前記光検出器からの出力信号を処理する。この演算回路は、前記第１、第２、第３および第４の直線のうちトラック像に対して４５°の角度を有する２つの直線によって前記記録媒体から反射されたレーザ光の光束を４つに分割したとき、前記トラック像を横切る方向にある２つの光束の光量差をこれら２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第１の演算部と、残り２つの光束の前記トラック像を横切る方向の光量の偏りをこれら残り２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第２の演算部とを有する。また、この演算回路は、前記第２の演算部による演算値に変数ｋを乗算した値を前記第１の演算部による演算値から減算する第３の演算部をさらに備える。
【００１５】
ここで、前記変数ｋは、前記レーザ光の光軸に対する前記対物レンズのオフセットに応じて、前記第１の演算部による演算値と前記第２の演算部による演算値が同じ方向に変位する場合には正の値を持ち、異なる方向に変位する場合には負の値を持つものとされる。
【００１６】
このように第２の演算部による演算値を第１の演算部による演算値から減算すると、第３の演算部からの演算値（トラッキングエラー信号）に生じるＤＣ成分を抑制することができる。ここで、上記変数ｋを、前記第１の演算部の演算値に生じるＤＣ成分を最も抑制できる値に設定すると、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を最も効果的に抑制することができる。
【００１７】
なお、第１の態様に係る光ピックアップ装置では、光検出器が、第１および第２の直線によって分離された４つの光束を受光するセンサを有しているため、これらセンサからの出力を適宜演算回路にて演算処理することにより、非点収差法に基づくフォーカスエラー信号を生成することができる。
【００１８】
第１の態様に係る光ピックアップ装置は、前記記録媒体によって反射された前記レーザ光の光束を前記第１および第２の直線によって４分割した４つの光束の進行方向を互いに異ならせ、これら４つの光束を互いに離散させる光学素子をさらに有する構成とされ得る。
【００１９】
こうすると、ターゲット記録層にて反射されたレーザ光（信号光）と、当該ターゲット記録層の上および／若しくは下の記録層から反射されたレーザ光（迷光）とが、光検出器の受光面（オンフォーカス時に信号光スポットが最小錯乱円になる面）上において、互いに重なり合わないようにすることができる。したがって、光検出器により信号光のみを受光することができ、よって、迷光による検出信号の劣化を抑制することができる。また、この作用を、角度調整素子を光路中に配置するのみで実現できる。よって、この態様によれば、簡素な構成にて効果的に迷光による影響を除去することができる。
【００２０】
なお、前記光学素子は、離散された前記４つの光束が前記光検出器の受光面上において直方形の異なる４つの頂角の位置にそれぞれ導かれるよう、前記４つの光束の進行方向を変化させる構成とされ得る。こうすると、前記センサを配置し易くなり、また、センサの配置領域をコンパクトにすることができる。
【００２１】
ここで、前記４つの頂角のうち少なくとも一つの対角方向に向き合う一対の頂角に配置される前記センサを、前記直方形から、前記対角方向にはみ出すような形状とすることができる。こうすると、これら一対のセンサによって信号光をより円滑に受光することができる。
【００２２】
本発明の第２の態様に係る光ディスク装置は、上記第１の態様に係る光ピックアップ装置と上記演算回路とを備える。よって、第２の態様に係る光ディスク装置においても、上記の如く、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制することができる。なお、上記演算回路の全部または一部は、第１の態様に係る光ピックアップ装置に装備されていても良い。
【発明の効果】
【００２３】
以上のとおり、本発明によれば、簡素な構成にてトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制することができる。加えて、上記光学素子を配することにより、簡素な構成にて効果的に迷光を除去することができる。
【００２４】
本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態によって何ら制限されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図２】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図３】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図４】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図５】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図６】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図７】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図８】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図９】実施形態に係る技術原理（角度付与と光束の分布）を説明する図である。
【図１０】実施の形態に係るセンサパターンの配置方法を示す図である。
【図１１】プッシュプル信号のＤＣ成分を検証（シミュレーション）するために用いた光学系を示す図である。
【図１２】上記シミュレーションの条件を説明する図である。
【図１３】レンズシフトが生じたときの信号光の光量バランスを検証したシミュレーション結果を示す図である。
【図１４】レンズシフトが生じたときのプッシュプル信号と、信号ＰＰ１、ＰＰ２の状態を検証したシミュレーション結果を示す図である。
【図１５】変数ｋを変化させたときのプッシュプル信号のオフセット状態を検証したシミュレーション結果を示す図である。
【図１６】実施例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す図である。
【図１７】実施例に係る角度調整素子の構成例を示す図である。
【図１８】実施例に係る演算回路の構成を示す図である。
【図１９】実施例および本発明の技術原理の好ましい適用範囲を示す図である。
【図２０】変更例に係るセンサパターンの構成例を示す図である。
【図２１】実施例の他の変更例を示す図（光学系の変更に伴うセンサパターンの変更形態とトラック像の方向の変更に伴う演算式の変更を説明する図）である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。
【００２７】
＜技術的原理＞
まず、図１ないし図１０を参照して、本実施の形態に適用される技術的原理について説明する。
【００２８】
図１（ａ）は、ターゲット記録層によって反射されたレーザ光（信号光）が、平行光の状態でアナモレンズ等の非点収差素子に入射されたときの信号光と迷光の収束状態を示す図である。なお、“迷光１”は、レーザ光入射面側から見てターゲット記録層よりも一つ奥側にある記録層にて反射されたレーザ光であり、“迷光２”は、ターゲット記録層よりも一つ手前にある記録層にて反射されたレーザ光である。また、同図は、信号光がターゲット記録層にフォーカス合わせされたときの状態を示している。
【００２９】
図示の如く、アナモレンズの作用により、図中の“曲面方向”に信号光が収束することによって面Ｓ１に焦線が生じ、さらに、この曲面方向に垂直な図中の“平面方向”に信号光が収束することによって面Ｓ２に焦線が生じる。そして、面Ｓ１と面Ｓ２の間の面Ｓ０において、信号光のスポットが最小（最小錯乱円）となる。非点収差法に基づくフォーカス調整では、面Ｓ０に光検出器の受光面が置かれる。なお、ここではアナモレンズにおける非点収差作用を簡単に説明するために、便宜上、“曲面方向”と“平面方向”と表現しているが、実際には、互いに異なる位置に焦線を結ぶ作用がアナモレンズによって生じれば良く、図１中の“平面方向”におけるアナモレンズの形状を平面に限定するものではない。なお、アナモレンズに収束状態でレーザ光が入射する場合は、“平面方向”におけるアナモレンズの形状は直線状（曲率半径＝∞）となり得る。
【００３０】
なお、同図（ａ）に示す如く、迷光１の焦線位置（同図では、非点収差素子による２つの焦線位置の間の範囲を“収束範囲”と示す）は、信号光の焦線位置よりも非点収差素子に接近しており、また、迷光２の焦線位置は、信号光の焦線位置よりも非点収差素子から離れている。
【００３１】
図１（ｂ）〜（ｅ）は、それぞれ、平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上における信号光のビーム形状を示す図である。真円で非点収差素子に入射した信号光は、面Ｓ１上で楕円となり、面Ｓ０上で略真円となった後、面Ｓ２上にて再び楕円となる。ここで、面Ｓ１上のビーム形状と面Ｓ２上のビーム形状は、それぞれの長軸が互いに垂直の関係となっている。
【００３２】
ここで、同図（ａ）および（ｂ）のように、平行光部分におけるビームの外周に、反時計方向に８つの位置（位置１〜８：同図では丸囲み数字で表記）を設定すると、位置１〜８を通る光線は、非点収差素子によってそれぞれ収束作用を受ける。なお、位置４と位置８は、曲面方向に平行な直線にて平行光部分のビーム断面を２分割する場合の分割線上に位置しており、位置２と位置６は、平面方向に平行な直線にて平行光部分のビーム断面を２分割する場合の分割線上に位置している。位置１、３、５、７はそれぞれ、位置２、４、６、８によって区分される外周円弧の中間にある。
【００３３】
平行光部分において位置４と位置８を通る光線は、面Ｓ１で曲面方向の焦線へと収束された後に面Ｓ０へと入射する。このため、これら位置４、８を通る光線は、面Ｓ０上において、同図（ｄ）に示す位置４、８を通る。同様に、平行光部分において位置１、３、５、７を通る光線も、面Ｓ１にて曲面方向の焦線へと収束された後に面Ｓ０へと入射するため、面Ｓ０上では、同図（ｄ）に示す位置１、３、５、７を通る。これに対し、平行光部分において位置２、６を通る光線は、面Ｓ１で曲面方向の焦線へと収束されずに面Ｓ０へと入射する。このため、これら位置２、６を通る光線は、面Ｓ０上において、同図（ｄ）に示す位置２、６を通る。
【００３４】
図２（ｂ）〜（ｅ）は、それぞれ、平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上における迷光１のビーム形状と光線通過位置を示す図である。同図（ｂ）に示すように、迷光１の外周にも、上記信号光の場合と同様に８つの位置１〜８を設定すると、これら８つの位置１〜８を通る光線は、曲面方向の焦線および平面方向の焦線の何れかに収束された後に面Ｓ０へと入射する。このため、平行光部分において位置１〜８を通る光線は、面Ｓ０上において、それぞれ、同図（ｄ）に示す位置１〜８を通る。
【００３５】
図３（ｂ）〜（ｅ）は、それぞれ、平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上における迷光２のビーム形状と光線通過位置を示す図である。同図（ｂ）に示すように、迷光２の外周にも、上記信号光の場合と同様に８つの位置１〜８を設定すると、これら８つの位置１〜８を通る光線は、曲面方向の焦線と平面方向の焦線の何れへも収束されることなく面Ｓ０へと入射する。このため、平行光部分において位置１〜８を通る光線は、面Ｓ０上において、それぞれ、同図（ｄ）に示す位置１〜８を通る。
【００３６】
図４は、以上に説明した平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上におけるビーム形状と光線の通過位置を、信号光、迷光１および迷光２を対比して示す図である。同図中の（ｃ）の段を対比して分かるとおり、平行光部分において位置１を通過した信号光、迷光１および迷光２の光束は、それぞれ、面Ｓ０上において、互いに異なる外周位置を通過する。同様に、平行光部分において位置３，４，５，７，８を通過した信号光、迷光１および迷光２の光束も、面Ｓ０において、互いに異なる外周位置を通過する。平行光部分において位置２，６を通過した信号光と迷光２の光束は、面Ｓ０において、同じ外周位置を通過する。この場合も、平行光部分において位置２，６を通過した信号光と迷光１の光束は、面Ｓ０において、互いに異なる外周位置を通過し、また、平行光部分において位置２、６を通過した迷光１と迷光２の光束は、面Ｓ０において、互いに異なる外周位置を通過する。
【００３７】
次に、以上の現象を考慮して、平行光部分における信号光および迷光１、２の領域分割パターンと、面Ｓ０上における信号光および迷光１、２の照射領域との関係について検討する。
【００３８】
まず、図５（ａ）に示すように、平行光部分における信号光および迷光１、２を、平面方向と曲面方向に対して４５°傾いた２つの直線で分割し、４つの光束領域Ａ〜Ｄに区分したとする。なお、この分割パターンは、従来の非点収差法に基づく領域分割に対応するものである。
【００３９】
この場合、上述の現象により、光束領域Ａ〜Ｄの信号光は、面Ｓ０上において、同図（ｂ）のように分布する。また、光束領域Ａ〜Ｄの迷光１および迷光２は、上述の現象により、それぞれ、同図（ｃ）および（ｄ）のように分布する。
【００４０】
ここで、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２を光束領域毎に取り出すと、各光の分布は、図６（ａ）ないし（ｄ）のようになる。この場合、各光束領域の信号光には、同じ光束領域の迷光１および迷光２の何れか一方が必ず重なる。このため、各光束領域の信号光を光検出器上のセンサパターンで受光すると、少なくとも、同じ光束領域における迷光１または迷光２が対応するセンサパターンに同時に入射し、これにより検出信号に劣化が生じる。
【００４１】
これに対し、図７（ａ）に示すように、平行光部分における信号光および迷光１、２を、平面方向と曲面方向に平行な２つの直線で分割し、４つの光束領域Ａ〜Ｄに区分したとする。この場合、上述の現象から、光束領域Ａ〜Ｄの信号光は、面Ｓ０上において、同図（ｂ）のように分布する。また、光束領域Ａ〜Ｄの迷光１および迷光２は、上述の現象により、それぞれ、同図（ｃ）および（ｄ）のように分布する。
【００４２】
ここで、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２を光束領域毎に取り出すと、各光の分布は、図８（ａ）ないし（ｄ）のようになる。この場合、各光束領域の信号光には、同じ光束領域の迷光１および迷光２の何れも重ならない。このため、各光束領域内の光束（信号光、迷光１、２）を異なる方向に離散させた後に、信号光のみをセンサパターンにて受光するように構成すると、対応するセンサパターンには信号光のみが入射し、迷光の入射を抑止することができる。これにより、迷光による検出信号の劣化を回避することができる。
【００４３】
以上のように、信号光および迷光１、２を平面方向と曲面方向に平行な２つの直線で４つの光束領域Ａ〜Ｄに分割し、これら光束領域Ａ〜Ｄを通る光を分散させて面Ｓ０上において離間させることにより、信号光のみを取り出すことができる。本実施の形態は、この原理を基盤とするものである。
【００４４】
図９は、図７（ａ）に示す４つの光束領域Ａ〜Ｄを通る光束（信号光、迷光１、２）の進行方向を、それぞれ、異なる方向に、同じ角度だけ変化させたときの、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２の分布状態を示す図である。ここでは、同図（ａ）に示すように、光束領域Ａ〜Ｄを通る光束（信号光、迷光１、２）の進行方向が、それぞれ、方向Ｄａ、Ｄｂ、Ｄｃ、Ｄｄに、同じ角度量α（図示せず）だけ変化している。なお、方向Ｄａ、Ｄｂ、Ｄｃ、Ｄｄは、平面方向と曲面方向に対して、それぞれ、４５°の傾きを持っている。
【００４５】
この場合、方向Ｄａ、Ｄｂ、Ｄｃ、Ｄｄにおける角度量αを調節することにより、Ｓ０平面上において、同図（ｂ）に示すように各光束領域の信号光と迷光１、２を分布させることができる。その結果、図示の如く、信号光のみが存在する信号光領域をＳ０平面上に設定することができる。この信号光領域に光検出器のセンサパターンを設定することにより、各領域の信号光のみを、対応するセンサパターンにて受光することができる。
【００４６】
図１０は、センサパターンの配置方法を説明する図である。同図（ａ）および（ｂ）は、従来の非点収差法に基づく光束の分割方法とセンサパターンを示す図であり、同図（ｃ）および（ｄ）は、上述の原理に基づく光束の分割方法とセンサパターンを示す図である。ここで、トラック方向は、平面方向および曲面方向に対して４５°の傾きを持っている。なお、同図（ａ）および（ｂ）には、説明の便宜上、光束が８つの光束領域ａ〜ｈに区分されている。また、トラック溝による回折の像（トラック像）が実線で示され、オフフォーカス時のビーム形状が点線によって示されている。
【００４７】
なお、トラック溝による信号光の０次回折像と一次回折像の重なり状態は、波長／（トラックピッチ×対物レンズＮＡ）で求められることが知られており、同図（ａ）、（ｂ）、（ｄ）のように、４つの光束領域ａ、ｄ、ｅ、ｈに一次回折像が収まる条件は、波長／（トラックピッチ×対物レンズＮＡ）＞√２となる。
【００４８】
従来の非点収差法では、光検出器のセンサパターンＰ１〜Ｐ４（４分割センサ）が同図（ｂ）のように設定される。この場合、光束領域ａ〜ｈの光強度に基づく検出信号成分をＡ〜Ｈで表すと、フォーカスエラー信号ＦＥは、ＦＥ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ＋Ｆ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ＋Ｈ）の演算により求まり、プッシュプル信号ＰＰは、ＰＰ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｇ＋Ｈ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）の演算により求まる。
【００４９】
これに対し、上記図９（ｂ）の分布状態では、上述の如く、信号光領域内に、図１０（ｃ）の状態で信号光が分布している。この場合、図１０（ａ）に示す光束領域ａ〜ｈを通る信号光の分布を同図（ｃ）の分布に重ねると、同図（ｄ）のようになる。すなわち、同図（ａ）の光束領域ａ〜ｈを通る信号光は、光検出器のセンサパターンが置かれる面Ｓ０上では、同図（ｄ）に示す光束領域ａ〜ｈへと導かれる。
【００５０】
したがって、同図（ｄ）に示す光束領域ａ〜ｈの位置に、同図（ｄ）に重ねて示す如くセンサパターンＰ１１〜Ｐ１８を設定すれば、同図（ｂ）の場合と同様の演算処理によって、フォーカスエラー信号とプッシュプル信号を生成することができる。すなわち、この場合も、光束領域ａ〜ｈの光束を受光するセンサパターンからの検出信号をＡ〜Ｈで表すと、同図（ｂ）の場合と同様、フォーカスエラー信号ＦＥは、ＦＥ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ＋Ｆ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ＋Ｈ）の演算により取得でき、また、プッシュプル信号ＰＰは、ＰＰ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｇ＋Ｈ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）の演算により取得することができる。
【００５１】
以上のように、本原理によれば、平行光部分における信号光および迷光１、２を、図１の平面方向と曲面方向に平行な２つの直線で４つの光束領域Ａ〜Ｄに分割し、これら光束領域Ａ〜Ｄを通る光を分散させ、さらに、分散させた後の各光束領域Ａ〜Ｄにおける信号光を、２分割された受光部（２分割センサ）によって個別に受光することにより、従来の非点収差法に基づく場合と同様の演算処理にて、フォーカスエラー信号とプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を生成することができる。
【００５２】
ところで、ここでは、図１０（ｂ）に示す従前の生成方法に倣って、プッシュプル信号ＰＰが、ＰＰ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｇ＋Ｈ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）の演算により取得されたが、かかる従前の演算手法では、生成されたプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に、レーザ光軸に対する対物レンズのシフト（光軸ずれ）に基づくＤＣ成分が重畳されるとの問題が生じる。
【００５３】
かかるＤＣ成分は、図１０（ｄ）に示すセンサパターンにおいて、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を以下のように修正することにより、効果的に抑制され得る。
【００５４】
以下、本件出願の発明者が行ったシミュレーション結果とともに、ＤＣ成分を効果的に抑制可能なプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）の生成手法について説明する。
【００５５】
図１１は、本シミュレーションに用いた光学系を示す図である。図中、１０は、波長４０５ｎｍのレーザ光を出射する半導体レーザ、１１は、半導体レーザ１０から出射されたレーザ光を略全反射する偏光ビームスプリッタ、１２はレーザ光を平行光に変換するコリメートレンズ、１３はコリメートレンズ１２側から入射されるレーザ光（直線偏光）を円偏光に変換する１／４波長板、１４はレーザ光のビーム形状をレーザ光軸を中心とする真円に調整するためのアパーチャ、１５はレーザ光をディスク上に収束させる対物レンズ、１６は偏光ビームスプリッタ１１を透過したディスクからの反射光に非点収差を導入する検出レンズ、１７は、上記図９（ａ）を参照して説明した作用をレーザ光に付与する角度調整素子、１８は光検出器である。
【００５６】
角度調整素子は、上記図９（ａ）を参照して説明したように、４つの光束領域Ａ〜Ｄを通過するレーザ光を互いに分光させて、光検出面上で、図９（ｂ）に示すように各光束領域を通過したレーザ光を分布させる作用を有する。
【００５７】
本光学系の設計条件は、以下の通りである。
（１）往路倍率：１０倍
（２）復路倍率：１８倍
（３）角度調整素子１７によって付与される分光角度：１．９度
（４）角度調整素子１７の分光面と光検出器１１３の検出面の間の距離（空気換算）：３ｍｍ
（５）角度調整素子１７を配さないときの光検出面上におけるスポット径：６０μｍ
（６）角度調整素子１７を配したときの光検出面上における各信号光（光束領域Ａ〜Ｄをそれぞれ通過）の変位距離：１００μｍ
（７）レーザ光の広がり角：垂直広がり角＝２０．０度、水平広がり角＝９．０度
（８）レンズ有効径：φ＝２．４ｍｍ
（９）レンズの開口数：０．８５
（１０）ディスクのトラックピッチ：０．３２μｍ
【００５８】
なお、上記（１）の往路倍率とは、対物レンズの焦点距離に対するコリメートレンズの焦点距離の比であり、（２）の復路倍率とは、対物レンズの焦点距離に対するコリメートレンズと検出レンズの合成焦点距離の比のことである。本光学系では、ディスクによって反射されたレーザ光（信号光）は、角度調整素子１７を除去すると検出面上において最小錯乱円となる。上記（５）のスポット径とは、この最小錯乱円の径のことである。
【００５９】
また、上記（６）の変位距離とは、角度調整素子１７を除去したときの検出面上における信号光の光軸中心と、角度調整素子１７を配したときの各信号光の頂点位置（図８に示す扇型が直角となる頂点の位置）との間の距離のことである。なお、センサパターンの寸法条件は、図１２（ａ）の通りである。
【００６０】
上記（７）の垂直広がり角とは、光ピックアップ装置１０に内蔵されるレーザ素子の半導体層の層間方向におけるレーザ光の広がり角を意味し、水平広がり角とは半導体層に平行な方向におけるレーザ光の広がり角を意味する。ここで、広がり角は、図１２（ｂ）に示すように、ピーク強度Ｐの半分以上の強度を持つビーム部分の広がり角とされている。上記（８）のレンズ有効径とは、アパーチャ１４を通過した後、対物レンズ１５に入射する際のビームの直径を意味する。
【００６１】
なお、半導体レーザ１０から出射されたレーザ光は、上記のように水平方向と垂直方向で広がり角が相違しているため、アパーチャ１４からコリメートレンズ１２へと向かう平行光束では、かかる広がり角の相違に基づいて、強度分布に偏りが生じている。図１２（ｄ）は、かかる平行光束における強度の偏りを模式的に示す図である。同図中、白色の部分は強度が高く、ハッチングが付された部分は強度が低いことを示す。なお、同図の左側は、レーザ光軸に対して対物レンズの光軸がずれていない状態を示し、同図の右側は、レーザ光軸に対して対物レンズの光軸がトラックを横切る方向にシフトしている状態（レンズシフトあり）を示している。同図には、図９（ａ）に示す平面方向と曲面方向の分割線が重ねて示されている。
【００６２】
図１３は、上記条件のもとで、レンズシフトがある場合とない場合の信号光の強度をシミュレーションしたシミュレーション結果である。同図上段は、レンズシフトがない状態で、ディスク上のビームスポットがトラックセンターに位置するときと、トラックセンターからディスク径方向にずれたときの信号光の強度をシミュレーションしたものである。また、同図下段は、レンズシフトが３００μｍである状態で、ディスク上のビームスポットがトラックセンターに位置するときと、トラックセンターからディスク径方向にずれたときの信号光の強度をシミュレーションしたものである。
【００６３】
なお、デトラック＝＋Ｔ／４は、ビームスポットがトラックセンターからトラックピッチの１／４だけディスク外周方向にずれていることを示しており、デトラック＝＋Ｔ／４は、ビームスポットがトラックセンターからトラックピッチの１／４だけディスク内周方向にずれていることを示している。また、デトラック＝０は、トラックセンターに対するビームスポットのずれ（デトラック）が生じていないことを示している。
【００６４】
同図の上段を参照すると、ビームスポットがトラックセンターに位置づけられている状態では、４つの信号光のうち左右２つの信号光の強度が均等となっており、ビームスポットがトラックセンターからディスク外周方向および内周方向にずれると、ずれ方向に応じて、左右２つの信号光の強度に差が生じている。よって、レンズシフトがない場合には、左右２つの信号光を受光するセンサからの出力信号をもとに、左右２つの信号光の強度差を求めることにより、適正にプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を求めることができる。
【００６５】
これに対し、同図の下段左端のシミュレーション結果を参照すると、ビームスポットがトラックセンターに位置づけられているにも関わらず、左右２つの信号光に強度差が生じている。すなわち、ここでは、右側の信号光の強度が左側の信号光の強度よりも大きくなっている。また、同図の下段中央のシミュレーション結果では、上段中央のシミュレーション結果よりも、右側の信号光と左側の信号光の強度差が小さくなっており、逆に、同図の下段右端のシミュレーション結果では、上段中央のシミュレーション結果よりも、右側の信号光と左側の信号光の強度差が大きくなっている。このように、レンズシフトが生じた場合には、信号光の左右のバランスが不適正となり、このため、左右２つの信号光を受光するセンサからの出力信号をもとに左右２つの信号光の強度差を求めても、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を適正に求めることができない。すなわち、この場合、プッシュプル信号には、レンズシフトに基づくＤＣ成分が重畳されることとなる。
【００６６】
次に、４つの信号光のうち上下２つの信号光について検討すると、同図上段の３つのシミュレーション結果では、デトラックの有無に拘わりなく、上下２つの信号光の左右の強度バランスは均等である。他方、同図下段の３つのシミュレーション結果では、デトラックの有無に拘わりなく、上下２つの信号光に同様のひずみが生じており、このひずみによって、上下２つの信号光の左右方向の強度バランスが不均等となっている。すなわち、ここでは、何れの場合も、上下２つの信号光の強度が左側に偏っている。
【００６７】
かかるシミュレーション結果から、レンズシフトが生じると、上下２つの信号光にひずみが生じ、これら２つの信号光の強度が左右何れかの方向に偏ることが分かる。したがって、この偏りを上下２つの信号光を受光するセンサからの出力信号をもとに求めれば、求めた値は、レンズシフトに基づくＤＣ成分を反映するものとなる可能性がある。
【００６８】
そこで、本件出願の発明者は、さらに、左右の信号光の強度差に応じた信号ＰＰ１と、上下の信号光の強度の左右の偏りに応じた信号ＰＰ２をシミュレーションにより求め、ＰＰ２をもとに、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるＤＣ成分を抑制できるかを検討した。ここで、ＰＰ１、ＰＰ２は、図１２（ｃ）に記載の演算式によって求めた。なお、シミュレーションの条件は、上記と同様である。
【００６９】
図１４（ａ）〜（ｃ）は、シミュレーション結果を示す図である。
【００７０】
同図（ａ）は、デトラック量を変化させたときのプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）の変化を求めたシミュレーション結果である。同図横軸のデトラック＝0、0.08、0.24は、それぞれ、図１３のデトラック＝０、＋Ｔ／４、−Ｔ／４に対応する。同図には、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍ、１００μｍ、２００μｍ、３００μｍのときの４つのシミュレーション結果が併せて示されている。なお、ここでは、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）が図１０（ｄ）の演算式、すなわち、信号ＰＰ１と信号ＰＰ２の加算（ＰＰ１＋ＰＰ２）によって求められている。このシミュレーション結果から、レンズシフト（ＬＳ）が大きくなるに従ってプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）が上方向にシフトし、ＤＣ成分が大きくなっていることが分かる。
【００７１】
同図（ｂ）は、同図（ａ）のシミュレーション結果から信号ＰＰ１の信号成分を抽出したシミュレーション結果を示す図である。なお、同図には、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍ、３００μｍのときの信号ＰＰ１が示されている。また、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍ、３００μｍのときのプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）ＰＰが併せて示されている。なお、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍの信号ＰＰ１とプッシュプル信号ＰＰは互いに重なり合っている。このシミュレーション結果から、レンズシフト（ＬＳ）が大きくなるに従って、信号ＰＰ１が上方向にシフトし、ＤＣ成分が大きくなっていることが分かる。
【００７２】
同図（ｃ）は、同図（ａ）のシミュレーション結果から信号ＰＰ２の信号成分を抽出したシミュレーション結果を示す図である。なお、同図には、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍ、３００μｍのときの信号ＰＰ２が示されている。また、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍ、３００μｍのときのプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）ＰＰが併せて示されている。このシミュレーション結果から、レンズシフト（ＬＳ）が大きくなるに従って、信号ＰＰ２が増加することが分かる。したがって、図１０（ｄ）に示す従来の演算式に従い信号ＰＰ１に信号ＰＰ２を加算してプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）ＰＰを生成すると、生成したプッシュプル信号ＰＰに含まれるＤＣ成分は、信号ＰＰ１のみの場合よりも、信号ＰＰ２の分だけさらに増大することが分かる。
【００７３】
なお、上記のように、信号ＰＰ２はレンズシフト（ＬＳ）に伴い増加するため、信号ＰＰ１から信号ＰＰ２を減算することにより、プッシュプル成分の減少なしにＤＣ成分を抑制することができることが分かる。そこで、本件出願の発明者は、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）ＰＰを求めるための演算式として
ＰＰ＝ＰＰ１−ｋ・ＰＰ２ …（１）
を設定し、この演算式中の変数ｋを変化させることによりＤＣ成分をどのように抑制できるかを上記と同様の条件のもとで検証した。
【００７４】
図１５は、シミュレーション結果を示す図である。
【００７５】
同図（ａ）は、変数ｋをｋ＝−１，１，２，３，４としたときの、レンズシフト対するプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット量（ＤＣ成分）をシミュレーションしたものである。なお、縦軸は、トラッキングエラー信号の振り幅（正負の極大値間の差分）に対するオフセット量（ＤＣ成分）の比率である。また、ｋ＝−１のときのシミュレーション結果は、図１０（ｄ）に示す従来の演算式（ＰＰ＝ＰＰ１＋ＰＰ２）にてプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）ＰＰを求める場合に相当する。
【００７６】
このシミュレーション結果から、変数ｋをｋ＝３に設定すると、レンズシフトの大きさに拘わらず、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット量（ＤＣ成分）を略ゼロに維持できることが分かる。
【００７７】
同図（ｂ）は、変数ｋをｋ＝−１（従来の演算式）に設定して、デトラック量を変化させたときのプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）の大きさをシミュレーションにより求めたものである。このシミュレーション結果は、図１４（ａ）と同じである。この場合には、上述の如く、レンズシフトが大きくなるに伴って、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のＤＣ成分が大きくなる。
【００７８】
同図（ｃ）は、同図（ａ）のシミュレーション結果をもとに、変数ｋをｋ＝３に設定して、同図（ｂ）と同様のシミュレーションを行ったときのシミュレーション結果である。このシミュレーション結果から分かるとおり、変数ｋをｋ＝３に設定することにより、レンズシフト（ＬＳ）の大きさに拘わらず、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。
【００７９】
以上のシミュレーション結果から分かるとおり、上記式（１）の演算によりプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を求め、さらに、その際、変数ｋを適正値に調節することにより、レンズシフト（ＬＳ）の大きさに拘わらず、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。したがって、上記図１〜図１０を参照して説明した基本原理に、さらに、上記式（１）の演算を適用することにより、迷光の影響が除去された高品質の信号を生成できるとともに、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。
【００８０】
なお、変数ｋの値は、使用する光学系によって変動し得る。よって、光ピックアップ装置を光ディスク装置に搭載する場合には、適宜、変数ｋの値を適正値に調整する必要がある。
【００８１】
また、上記シミュレーションでは、信号ＰＰ２を、ＰＰ２＝（Ｇ＋Ｂ）−（Ｆ＋Ｃ）により求めたため、図１５（ａ）のように、上記式（１）の変数ｋが正の値を持つときにプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制できることとなったが、信号ＰＰ２を、ＰＰ２＝（Ｆ＋Ｃ）−（Ｇ＋Ｂ）により求める場合には、上記とは信号ＰＰ２の極性が反対となるため、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制するためには、上記変数ｋが負の値を持つ必要がある。よって、上記式（１）の変数は、信号ＰＰ２の求め方によっても、適宜、極性を調整する必要がある。すなわち、上記変数ｋは、レンズシフトに伴って、信号ＰＰ１と信号ＰＰ２が同じ方向に変位する場合には正の値を持ち、異なる方向に変位する場合には負の値を持つものとされる必要がある。
【００８２】
なお、上記では、上下２つの信号光の双方から信号ＰＰ２を求め、求めた信号ＰＰ２に基づいてプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を抑制するようにしたが、上下２つの信号光の何れか一方のみから信号ＰＰ２を求め、求めた信号ＰＰ２に基づいて、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を抑制するようにすることもできる。この場合、信号ＰＰ２は、たとえば、ＰＰ２＝Ｇ−Ｆ、または、ＰＰ２＝Ｂ−Ｃの演算により求められる。この場合、信号ＰＰ２の大きさは、上記の場合の半分程度となる。よって、これに応じて式（１）の変数ｋを調節する必要がある。
【００８３】
＜実施例＞
以下、上記原理に基づく実施例について説明する。
【００８４】
図１６に、本実施例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す。なお、同図には、便宜上、関連する回路構成が併せて図示されている。また、同図中のディスクには、複数の記録層が積層して配置されている。
【００８５】
図示の如く、光ピックアップ装置の光学系は、半導体レーザ１０１と、偏光ビームスプリッタ１０２と、コリメートレンズ１０３と、レンズアクチュエータ１０４と、立ち上げミラー１０５と、１／４波長板１０６と、アパーチャ１０７と、対物レンズ１０８と、ホルダ１０９と、対物レンズアクチュエータ１１０と、検出レンズ１１１と、角度調整素子１１２と、光検出器１１３を備えている。
【００８６】
半導体レーザ１０１は、所定波長のレーザ光を出射する。半導体レーザ１０１から出射されるレーザ光の広がり角は、上記シミュレーションの場合と同様、水平広がり角と垂直広がり角が異なっている。
【００８７】
偏光ビームスプリッタ１０２は、半導体レーザ１０１から入射されるレーザ光（Ｓ偏光）を略全反射するとともに、コリメートレンズ１０３側から入射されるレーザ光（Ｐ偏光）を略全透過する。コリメートレンズ１０３は、偏光ビームスプリッタ１０２側から入射されるレーザ光を平行光に変換する。
【００８８】
レンズアクチュエータ１０４は、サーボ回路２０３から入力されるサーボ信号に応じてコリメートレンズ１０３を光軸方向に変位させる。これにより、レーザ光に生じる収差が補正される。立ち上げミラー１０５は、コリメートレンズ１０３側から入射されたレーザ光を対物レンズ１０８に向かう方向に反射する。
【００８９】
１／４波長板１０６は、ディスクへと向かうレーザ光を円偏光に変換するとともに、ディスクからの反射光をディスクへ向かう際の偏光方向に直交する直線偏光に変換する。これにより、ディスクによって反射されたレーザ光は、偏光ビームスプリッタ１０２を透過する。
【００９０】
アパーチャ１０７は、図１１におけるアパーチャ１４と同様、対物レンズ１０８に対するレーザ光の有効径が適正となるように、レーザ光のビーム形状を円形形状に調整する。対物レンズ１０８は、レーザ光をディスク内のターゲット記録層に適正に収束できるよう設計されている。ホルダ１０９は、１／４波長板１０６と対物レンズ１０８を一体的に保持する。対物レンズアクチュエータ１１０は、従来周知の電磁駆動回路によって構成され、当該回路のうち、フォーカスコイル等のコイル部がホルダ１０９に装着されている。
【００９１】
検出レンズ１１１は、ディスクからの反射光に非点収差を導入する。すなわち、検出レンズ１１１は、図１の非点収差素子に相当する。検出レンズ１１１は、平面方向と曲面方向が、ディスクからのトラック像に対してそれぞれ４５°の傾きとなるよう配置される。このように検出レンズ１１１が配置されると、検出レンズ１１１の平面方向と曲面方向は、レーザ光の強度分布に対して図１２（ｄ）のように設定される。
【００９２】
角度調整素子１１２は、検出レンズ１１１側から入射されたレーザ光の進行方向を、図９を参照して述べた如く変化させる。すなわち、角度調整素子１１２は、入射されたレーザ光のうち、図９の光束領域Ａ〜Ｄを通過する光束の進行方向を、それぞれ、方向Ｄａ〜Ｄｄに、同じ角度量αだけ変化させる。なお、角度量αは、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２の分布状態が、図９（ｂ）の分布状態となるように設定されている。
【００９３】
光検出器１１３は、図１０（ｄ）に示すセンサパターンを有する。光検出器１１３は、このセンサパターンが図１の面Ｓ０の位置に位置づけられるように配置される。光検出器１１３には、図１０（ｄ）に示す８個のセンサＰ１１〜Ｐ１８が配されており、これらが、各々、図１０（ｄ）の光束領域ａ〜ｈを通る光束を受光する。
【００９４】
信号演算回路２０１は、光検出器１１３の８個のセンサから出力された検出信号を、図１０（ｄ）を参照して述べた如く演算処理し、フォーカスエラー信号を生成する。また、信号演算回路２０１は、これら８個のセンサから出力された検出信号を加算して再生ＲＦ信号を生成する。さらに、信号演算回路２０１は、光検出器１１３の８個のセンサから出力された検出信号を、上記式（１）に従って演算処理し、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を生成する。生成されたフォーカスエラー信号とプッシュプル信号はサーボ回路２０３に送られ、再生ＲＦ信号は再生回路２０２とサーボ回路２０３に送られる。
【００９５】
再生回路２０２は、信号演算回路２０１から入力された再生ＲＦ信号を復調して再生データを生成する。サーボ回路２０３は、信号演算回路２０１から入力されたプッシュプル信号とフォーカスエラー信号からトラッキングサーボ信号とフォーカスサーボ信号を生成し、これらを対物レンズアクチュエータ１１０に出力する。また、サーボ回路２０３は、信号演算回路２０１から入力された再生ＲＦ信号の品質が最良になるよう、レンズアクチュータ１０４にサーボ信号を出力する。コントローラ２０４は、内蔵メモリに格納されたプログラムに従って各部を制御する。
【００９６】
図１７は、角度調整素子１１２の構成例を示す図である。同図（ａ）は、回折パターンを有するホログラム素子によって角度調整素子１１２を構成する場合の構成例を示し、同図（ｂ）および（ｃ）は、多面プリズムによって角度調整素子１１２を構成する場合の構成例を示している。
【００９７】
まず、同図（ａ）の構成例において、角度調整素子１１２は、正方形形状の透明板にて形成され、光入射面にホログラムパターンが形成されている。光入射面は、図示の如く、４つのホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに区分されている。これらホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに、それぞれ、図９（ａ）の光束領域Ａ〜Ｄを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が入射するよう、角度調整素子１１２が検出レンズ１１１の後段に配置される。
【００９８】
ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄは、入射されたレーザ光（信号光、迷光１、２）を、それぞれ、方向Ｖａ〜Ｖｄに回折させる。方向Ｖａ〜Ｖｄは、図９（ａ）の方向Ｄａ〜Ｄｄに一致している。よって、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄは、回折により、検出レンズ１１１から入射されたレーザ光（信号光、迷光１、２）の進行方向を、それぞれ、図９（ａ）のＤａ〜Ｄｄの方向に変化させる。各領域における回折角は同じとなっている。
【００９９】
ここで、回折角は、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が、図１の面Ｓ０において、図９（ｂ）のように分布するよう調整されている。よって、上記の如く、図１０（ｄ）のセンサパターンを有する光検出器１１３の受光面を面Ｓ０に配置することにより、上記８個のセンサによって、対応する信号光を適正に受光することができる。
【０１００】
なお、上記ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄの回折効率は互いに同じとなっている。ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに形成されるホログラムがステップ型である場合、回折効率は、ホログラムパターンのステップ数と１ステップあたりの高さによって調整され、回折角は、ホログラムパターンのピッチによって調整される。よって、この場合には、予め決められた回折次数の回折効率が所期の値となるように、ホログラムパターンのステップ数と１ステップあたりの高さが設定され、さらに、当該回折次数における回折角が図９（ｂ）の分布を与え得るように、ホログラムパターンのピッチが調整される。
【０１０１】
なお、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに形成されるホログラムをブレーズ型とすることも可能である。この場合、ステップ型のホログラムよりも回折効率を高めることができる。
【０１０２】
図１７（ｂ）の構成例において、角度調整素子１１２は、光出射面が平坦で、且つ、光入射面が４つの領域において異なる方向に個別に傾斜する透明体によって形成されている。同図（ｃ）は同図（ｂ）を光入射面側から見た図である。図示の如く、角度調整素子１１２の光入射面には、４つの傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈが形成されている。これら傾斜面に入射面側から光線がＸ軸に平行に入射すると、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈに入射する際の屈折作用によって、光の進行方向が、それぞれ、同図（ｃ）のＶｅ〜Ｖｈの方向に変化する。ここで、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈにおける屈折角は、同じである。
【０１０３】
同図（ｂ）の角度調整素子１１２は、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈに、それぞれ、図９（ａ）の光束領域Ａ〜Ｄを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が入射するよう、検出レンズ１１１の後段に配置される。こうして角度調整素子１１２が配置されると、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈにおける屈折方向Ｖｅ〜Ｖｈが、図９（ａ）の方向Ｄａ〜Ｄｄに一致することとなる。よって、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈは、屈折により、検出レンズ１１１から入射されたレーザ光（信号光、迷光１、２）の進行方向を、一定角度だけ、それぞれ、図９（ａ）のＤａ〜Ｄｄの方向に変化させる。
【０１０４】
ここで、各傾斜面における屈折角は、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が、図１の面Ｓ０において、図９（ｂ）のように分布するよう調整されている。よって、面Ｓ０に、図１０（ｄ）のセンサパターンを有する光検出器１１３を配置することにより、上記８個のセンサによって、対応する信号光を適正に受光することができる。
【０１０５】
なお、図１６（ａ）の構成例では、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに、レーザ光の進行方向を一定角度だけ変化させる角度付与の回折作用のみを持たせるようにしたが、角度付与の他、検出レンズ１１１による非点収差作用をも同時に発揮するホログラムパターンを、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに設定しても良い。また、角度調整素子１１２の光入射面に上記角度付与のためのホログラムパターンを形成し、非点収差作用を持たせるためのホログラムパターンを角度調整素子１１２の光出射面に持たせるようにしても良い。同様に、図１６（ｂ）の角度調整素子１１２においても、光出射面に、非点収差を導入するためのレンズ面を形成するようにしても良く、あるいは、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈを曲面形状として、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈに非点収差のレンズ作用を持たせるようにしても良い。こうすると、検出レンズ１１１を省略することができ、部品点数とコストの削減を図ることができる。
【０１０６】
図１８は、信号演算回路２０１のうち、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を生成する演算処理部の構成を示す図である。図示の如く、プッシュプル信号の演算処理部は、加算回路２１、２２、２４、２５と、減算回路２３、２６、２８と、乗算回路２７とを備えている。
【０１０７】
なお、上記原理では、ｋ＞０でプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）が抑制されるとしたが、本実施例では、同図に示した演算回路に従い、ｋ＜０でかかるオフセット（ＤＣ成分）が適切に抑制される構成となっている。すなわち、上記原理では、図１２（ｃ）に示す如く信号ＰＰ２が、ＰＰ２＝（Ｇ＋Ｂ）−（Ｆ＋Ｃ）で求められたが、本実施例では、信号ＰＰ２が、図１８の演算回路に従って、ＰＰ２＝（Ｆ＋Ｃ）−（Ｇ＋Ｂ）で求められるため、ｋ＜０のときにオフセット（ＤＣ成分）が適切に抑制される。
【０１０８】
加算回路２１は、センサＰ１１、Ｐ１２からの出力信号を加算して、左右２つの信号光のうち左側の信号光の光量に応じた信号を出力する。加算回路２２は、センサＰ１７、Ｐ１８からの出力信号を加算して、左右２つの信号光のうち右側の信号光の光量に応じた信号を出力する。減算回路２３は、加算回路２１、２２からの出力信号の差分を取り、これにより、左右２つの信号光の光量差に基づく上記信号ＰＰ１を生成する。
【０１０９】
加算回路２４は、センサＰ１３、Ｐ１４からの出力信号を加算して、上下２つの信号光の左側の光量に応じた信号を出力する。加算回路２５は、センサＰ１５、Ｐ１６からの出力信号を加算して、上下２つの信号光の右側の光量に応じた信号を出力する。減算回路２６は、加算回路２４、２５からの出力信号の差分を取り、これにより、上下２つの信号光の左右方向の偏りに基づく上記信号ＰＰ２を生成する。
【０１１０】
乗算回路２７は、減算回路２６から出力される信号ＰＰ２に上記変数ｋを乗じた信号を減算回路２８に出力する。減算回路２８は、減算回路２３から入力される信号ＰＰ１から、乗算回路２７から入力される信号を減算し、減算後の信号をプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）として出力する。
【０１１１】
乗算回路２７における変数ｋは、手動または自動で最適値に調節される。手動により調節される場合には、たとえば、ネジを回すことにより変数ｋを変えることができるボリューム調節部が配される。この場合、製品出荷時に、テストディスクを用いて、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）をモニタしながら、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）が最小となるよう、手動で変数ｋの値が調節される。
【０１１２】
変数ｋが自動で調節される場合には、変数ｋをΔｋずつ加減する制御処理がコントローラ２０４に付加される。この場合には、製品出荷時に、テストディスクを用いて、変数ｋの調節動作が行われる。すなわち、コントローラ２０４は、変数ｋ値をデフォルト値の前後でΔｋずつ変化させながら、同時に、レンズシフト（ＬＳ）を発生させ、レンズシフトが０μｍから３００μｍへと変化したときのプッシュプル信号のオフセット値（ＤＣ成分）の変動量を、それぞれの変数ｋ値について取得する。そして、コントローラ２０４は、取得した変動量が最小となるときの変数ｋの値を、実動作時の乗算回路２７の変数ｋの値として設定する。
【０１１３】
なお、図１６に示す信号演算回路２０１は、光ピックアップ装置側にあっても、光ディスク装置側にあっても良い。また、信号演算回路２０１を構成する回路部の一部が光ピックアップ装置側にあってもよい。たとえば、図１８に示す演算部の全てが、光ピックアップ装置側にあっても、光ディスク装置側にあっても良く、あるいは、信号ＰＰ１、ＰＰ２を生成する回路部は光ピックアップ装置側にあり、それより後段側の回路は光ディスク装置側にある等、演算部が光ピックアップ装置と光ディスク装置に分かれて配置されていても良い。
【０１１４】
以上、本実施例によれば、ディスク内に配された記録層のうちターゲット記録層から反射された信号光と、当該ターゲット記録層の上および下の記録層から反射された迷光１、２とが、光検出器１１３の受光面（オンフォーカス時に信号光スポットが最小錯乱円になる面Ｓ０）上において、互いに重なり合わないようにすることができる。具体的には、受光面（面Ｓ０）上における信号光と迷光１、２の分布を、図９（ｂ）の状態にすることができる。したがって、図９（ｂ）の信号光領域に、図１０（ｄ）に示すセンサパターンを配置することにより、センサＰ１１〜Ｐ１８によって、対応する信号光のみを受光することができる。このため、迷光による検出信号の劣化を抑制することができる。
【０１１５】
加えて、本実施例によれば、図１８の回路構成によりプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）が生成されるため、上記シミュレーション結果をもとに説明した如く、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。
【０１１６】
また、これらの効果を、ディスクによって反射されたレーザ光の光路中、すなわち、図１６の構成では検出レンズ１１１と光検出器１１３の間に、角度調整素子１１２を配置するのみで達成することができる。したがって、本実施例によれば、簡素な構成にて効果的に迷光による影響を除去することができ、かつ、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。
【０１１７】
なお、上記原理による迷光除去効果は、図１９に示すように、迷光１の平面方向の焦線位置が面Ｓ０（信号光のスポットが最小錯乱円となる面）よりも非点収差素子に接近した位置にあり、且つ、迷光２の曲面方向の焦線位置が面Ｓ０よりも非点収差素子から離れた位置にあるときに奏され得るものである。すなわち、この関係が満たされていれば、信号光と迷光１、２の分布は上記図８に示す状態となり、面Ｓ０において、信号光と迷光１、２が重なり合わないようすることができる。換言すれば、この関係が満たされる限り、たとえ、信号光の曲面方向の焦線位置よりも迷光１の平面方向の焦線位置が面Ｓ０に接近し、あるいは、信号光の平面方向の焦線位置よりも迷光２の曲面方向の焦線位置が面Ｓ０に接近したとしても、上記原理に基づく本発明ないし実施例の効果は奏され得る。
【０１１８】
＜変更例＞
上記実施例では、光検出器１１３は、図１０（ｄ）に示すセンサパターン有していたが、これに替えて、図２０（ｂ）、（ｃ）に示すセンサパターンを有していても良い。こうすると、角度調整素子１１２がずれた場合や、ディスクにチルトが生じた場合にも、ディスクからの反射光が、より確実にセンサ領域に導かれる。
【０１１９】
以下、本変更例に係るシミュレーション結果を参照して、本変更例で用いるセンサパターンについて説明する。
【０１２０】
本変更例に係るシミュレーションは、上記原理に対して行ったシミュレーションの光学系（図１１）を用いて行われた。シミュレーションは、上記（１）〜（１０）の条件（以下、「基準条件」という）と、これに所定のパラメータ（後述）を追加した条件（以下、「付加条件」という）の２つの条件のもとで行われた。
【０１２１】
図２０（ａ）の淡色で示す領域は、基準条件のもとで、光検出器１８上のセンサパターンに照射する信号光の所定強度以上の分布を示している。図示の如く、所定強度以上の信号光の分布は、センサＰ１１〜Ｐ１８内に収まっている。
【０１２２】
次に、基準条件に対して、さらに下記（１１）〜（１４）のパラメータが付加された付加条件のもとで、シミュレーションが行われた。
（１１）角度調整素子１７のディスク径方向のずれ：１５μｍ
（１２）ディスクの径方向のチルト：０．６°
（１３）ディスクの径方向と垂直な方向（円周方向）のチルト：０．３°
（１４）レンズシフト：３００μｍ
なお、上記（１１）〜（１４）に示す値は、基準条件からの、各パラメータの最大変化量を表している。すなわち、付加条件のもとでは、上記（１１）〜（１４）に示す値の範囲内で、各光学部品が変位されることになる。
【０１２３】
図２０（ａ）の濃色で示す領域は、付加条件のもとで、光検出器１８上のセンサパターンに照射する信号光の所定強度以上の分布を示している。図示の如く、所定強度以上の信号光の分布は、センサＰ１１〜Ｐ１８の外側にはみ出している。
【０１２４】
以上のシミュレーション結果から分かるとおり、基準条件に上記（１１）〜（１４）の条件が付加されると、所定強度以上の信号光の分布は、センサＰ１１〜Ｐ１８の外側に広がることになる。この場合、各センサによって受光される信号光の光量が減少するため、各センサから出力される信号光の検出信号は、基準条件の場合に比べ劣化することになる。そこで、本件出願の発明者は、付加条件下で、所定強度以上の信号光が分布する範囲を含み得る領域１〜４に対応したセンサを設けることを検討した。
【０１２５】
図２０（ｂ）は、付加条件下においても、所定強度以上の信号光を受光することができるセンサパターンを示す図である。センサＰ２１〜Ｐ２８は、センサＰ１１〜Ｐ１８の受光領域に、同図（ａ）の領域１〜４が加えられた受光領域を有するセンサである。こうすると、図９（ｂ）に示す迷光が、信号光領域の外側にあるセンサＰ２１〜Ｐ２８の受光領域に掛かるものの、付加条件下であっても、所定強度以上の信号光をセンサＰ２１〜Ｐ２８にて受光することができる。
【０１２６】
図２０（ｃ）は、同図（ｂ）のセンサＰ２３〜Ｐ２６が、センサＰ１３〜Ｐ１６に置き換えられたセンサパターンを示す図である。こうすると、センサＰ１３〜Ｐ１６は、センサＰ２３〜Ｐ２６に比べ、信号光領域からはみ出した信号光を受光することができないものの、センサＰ１３〜Ｐ１６は信号光領域外にはみ出さないため、センサＰ１３〜Ｐ１６に掛かる迷光は、センサＰ２３〜Ｐ２６に比べ、少なくなる。このため、同図（ｃ）のセンサパターンが用いられると、ＰＰ２に係るセンサの検出信号の精度が、同図（ｂ）に比べ、高められ得る。これにより、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）が適正に抑制され得る。
【０１２７】
なお、同図（ａ）を参照して分かるとおり、上下のセンサＰ１３〜Ｐ１６からはみ出した信号光の分布は、左右のセンサＰ１１、Ｐ１２、Ｐ１７、Ｐ１８からはみ出した信号光の分布に比べ、小さい。このため、付加条件下で、上下のセンサとして、同図（ｃ）のセンサＰ１３〜Ｐ１６が用いられたとしても、十分な信号光がセンサＰ１３〜Ｐ１６によって受光され得る。
【０１２８】
なお、同図（ｃ）では、左右のセンサの方を信号光領域からはみ出させたが、上下のセンサの方を、同図（ｂ）のように信号光領域からはみ出させ、左右のセンサは、信号光領域内に収めるようにしても良い。こうすると、上下のセンサでより多くの信号光を受光することができるとともに、左右のセンサに対する迷光の影響を抑制することができる。
【０１２９】
また、上下のセンサは、同図（ａ）に示す領域２、３を網羅する領域でなくても良い。すなわち、上下のセンサの信号光領域の外側にある部分が、同図（ｂ）のセンサＰ２３〜Ｐ２６の信号光領域の外側にある部分よりも小さくなっていても良い。こうすると、上下のセンサに入射する迷光の影響が、同図（ｂ）よりも改善され、上下のセンサが受光する信号光の光量が、同図（ｃ）よりも改善される。
【０１３０】
以上、本発明の実施例および変更例について説明したが、本発明は、上記実施例および変更例に制限されるものではなく、また、本発明の実施形態も上記以外に種々の変更が可能である。
【０１３１】
なお、上記実施例および変更例は、ＤＣ成分を抑制するための構成の他に迷光を除去するための構成をも含むものであったが、迷光を除去する必要がない場合には、図１６の構成から角度調整素子１１２を削除し、光検出器１１３のセンサパターンを、図２１（ｂ）に示すパターンから図２１（ａ）に示すパターンへと変更することで、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。図２１（ａ）の示すセンサパターンでは、図１０（ｂ）に示す４つのセンサがそれぞれビーム周方向に２分割されている。
【０１３２】
この場合、光束領域ａ〜ｈを受光する各センサの出力Ａ〜Ｈについて、上記実施例と同様、ＰＰ１＝（Ａ＋Ｈ）−（Ｄ＋Ｅ）、ＰＰ２＝（Ｆ＋Ｃ）−（Ｇ＋Ｂ）の演算により信号ＰＰ１、ＰＰ２を求め、求めた信号ＰＰ１、ＰＰ２について上記式（１）の演算を行うことにより、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。なお、この場合、フォーカスエラー信号は、上記図１０（ｂ）を参照して説明した如く、ＦＥ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ＋Ｆ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ＋Ｈ）の演算により求められる。
【０１３３】
また、ここでは、ディスクからのトラック像が非点収差の発生方向（平面方向／曲面方向）に対して４５°傾くとして説明を行ったが、図２１（ｃ）に示すように、トラック像が非点収差の発生方向に平行となるよう光学系を調整することもできる。この場合、トラック像は、光検出器の受光面上の各光束領域に対して、同図（ｄ）に示すように位置づけられる。なお、同図（ｄ）では、トラック像が実線で示され、オフフォーカス時のビーム形状が点線によって示されている。
【０１３４】
よって、この場合には、光束領域ａ〜ｈを受光する各センサの出力Ａ〜Ｈについて、ＰＰ１＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｅ＋Ｆ）、ＰＰ２＝（Ｇ＋Ｄ）−（Ｈ＋Ｃ）の演算により信号ＰＰ１、ＰＰ２を求め、求めた信号ＰＰ１、ＰＰ２について上記式（１）の演算を行うことにより、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。この場合も、フォーカスエラー信号は、上記と同様、ＦＥ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ＋Ｆ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ＋Ｈ）の演算により求められる。
【０１３５】
なお、同図（ｄ）は、角度調整素子１１２が配されない場合のセンサパターンであるが、上記のように角度調整素子１１２を配して４つの光束領域を分散させ、各信号光を同図（ｂ）のセンサパターンにて受光する場合にも、同様に、ＰＰ１＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｅ＋Ｆ）、ＰＰ２＝（Ｇ＋Ｄ）−（Ｈ＋Ｃ）の演算により信号ＰＰ１、ＰＰ２を求め、求めた信号ＰＰ１、ＰＰ２について上記式（１）の演算を行うことにより、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。
【０１３６】
この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【０１３７】
１０１ 半導体レーザ（レーザ光源）
１０８ 対物レンズ
１１１ 検出レンズ（非点収差素子）
１１２ 角度調整素子（光学素子）
１１３ 光検出器
Ｐ１１〜Ｐ１８ センサ
Ｐ２１〜Ｐ２８ センサ
２１、２２ 加算回路（第１の演算部）
２３ 減算回路（第１の演算部）
２４、２５ 加算回路（第２の演算部）
２６ 減算回路（第２の演算部）
２７ 乗算回路（第３の演算部）
２８ 減算回路（第３の演算部）
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ装置および光ディスク装置に関するものであり、特に、複数の記録層が積層された記録媒体に対して記録／再生を行う際に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスクの大容量化に伴い、記録層の多層化が進んでいる。一枚のディスク内に複数の記録層を含めることにより、ディスクのデータ容量を顕著に高めることができる。記録層を積層する場合、これまでは片面２層が一般的であったが、最近では、さらに大容量化を進めるために、片面に３層以上の記録層を配することも検討されている。ここで、記録層の積層数を増加させると、ディスクの大容量化を促進できる。しかし、その一方で、記録層間の間隔が狭くなり、層間クロストークによる信号劣化が増大する。
【０００３】
記録層を多層化すると、記録／再生対象とされる記録層（ターゲット記録層）からの反射光が微弱となる。このため、ターゲット記録層の上下にある記録層から、不要な反射光（迷光）が光検出器に入射すると、検出信号が劣化し、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボに悪影響を及ぼす惧れがある。したがって、このように記録層が多数配されている場合には、適正に迷光を除去して、光検出器からの信号を安定化させる必要がある。
【０００４】
以下の特許文献１には、ピンホールを用いて迷光を除去する技術が記載されている。また、特許文献２には、１／２波長板と偏光光学素子を組み合わせることにより迷光を除去する技術が記載されている。
【０００５】
なお、特許文献３には、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制する手法が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−２６０６６９号公報
【特許文献２】特開２００６−２５２７１６号公報
【特許文献３】特開平１１−３５３６６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記特許文献１の技術によれば、ターゲット記録層から反射されたレーザ光（信号光）の収束位置にピンホールを正確に位置づける必要があるため、ピンホールの位置調整作業が困難であるとの課題がある。位置調整作業を容易にするためピンホールのサイズを大きくすると、迷光がピンホールを通過する割合が増加し、迷光による信号劣化を効果的に抑制できなくなる。
【０００８】
また、特許文献２の技術によれば、迷光を除去するために、１／２波長板と偏光光学素子が２つずつ必要である他、さらに、２つのレンズが必要であるため、部品点数とコストが増加し、また、各部材の配置調整が煩雑であるとの課題がある。また、これらの部材を並べて配置するスペースが必要となり、光学系が大型化するとの課題もある。
【０００９】
なお、光ディスク装置においては、ディスクによって反射されたレーザ光の光量分布の偏りに基づいてトラッキングエラー信号が生成される。かかるトラッキングエラー信号には、レーザ光軸に対する対物レンズのオフセットに応じてＤＣ成分が重畳される。よって、光ディスク装置では、かかるＤＣ成分を円滑に抑制する手法が要求される。
【００１０】
かかるＤＣ成分は、たとえば、３つのビームを用いたＤＰＰ（Differential Push-Pull）法により抑制できる。しかし、３ビーム法ではレーザ光を３つのビームに分割する必要があり、光学系と光検出器の構成が複雑になるとの問題がある。また、上記特許文献３の手法では、１つのビームによってトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制できる。しかし、この手法は、トラッキングエラー信号に特化したものであり、この手法に記載のセンサパターンからはフォーカスエラー信号を生成することができない。さらに、ＤＣ成分を検出するセンサパターン領域がビーム強度分布の弱い周辺部であるため、ＤＣ成分を検出するための信号量が小さい。
【００１１】
本発明は、このような課題を解消するためになされたものであり、簡素な構成にてトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を効果的に抑制できるようにすることを主たる目的とする。加えて、本発明は、簡素な構成にて効果的に迷光を除去し得る光ピックアップ装置および光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の第１の態様に係る光ピックアップ装置は、レーザ光源と、前記レーザ光源から出射されたレーザ光を記録媒体上に収束させる対物レンズと、前記記録媒体によって反射された前記レーザ光に非点収差を導入し、これにより、第１の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第１の焦線位置と、前記第１の方向に垂直な第２の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第２の焦線位置とを前記レーザ光の進行方向に互いに離間させる非点収差素子と、前記記録媒体によって反射された前記レーザ光の光束を、前記第１の方向と前記第２の方向にそれぞれ平行な第１および第２の直線によって４分割し、さらに分割後の各光束を、これら第１および第２の直線にそれぞれ４５°の角度をもつ第３および第４の直線によって２分割した８つの光束をそれぞれ個別に受光するセンサを有する光検出器とを備える。ここで、前記非点収差素子は、前記記録媒体からのトラック像が前記第１、第２、第３および第４の直線の何れかと平行となるように配置されている。
【００１３】
この場合、上記光ピックアップ装置または当該光ピックアップ装置が搭載される光ディスク装置に以下の構成を有する演算回路を配することにより、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制することができる。
【００１４】
すなわち、演算回路は、前記光検出器からの出力信号を処理する。この演算回路は、前記第１、第２、第３および第４の直線のうちトラック像に対して４５°の角度を有する２つの直線によって前記記録媒体から反射されたレーザ光の光束を４つに分割したとき、前記トラック像を横切る方向にある２つの光束の光量差をこれら２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第１の演算部と、残り２つの光束の前記トラック像を横切る方向の光量の偏りをこれら残り２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第２の演算部とを有する。また、この演算回路は、前記第２の演算部による演算値に変数ｋを乗算した値を前記第１の演算部による演算値から減算する第３の演算部をさらに備える。
【００１５】
ここで、前記変数ｋは、前記レーザ光の光軸に対する前記対物レンズのオフセットに応じて、前記第１の演算部による演算値と前記第２の演算部による演算値が同じ方向に変位する場合には正の値を持ち、異なる方向に変位する場合には負の値を持つものとされる。
【００１６】
このように第２の演算部による演算値を第１の演算部による演算値から減算すると、第３の演算部からの演算値（トラッキングエラー信号）に生じるＤＣ成分を抑制することができる。ここで、上記変数ｋを、前記第１の演算部の演算値に生じるＤＣ成分を最も抑制できる値に設定すると、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を最も効果的に抑制することができる。
【００１７】
なお、第１の態様に係る光ピックアップ装置では、光検出器が、第１および第２の直線によって分離された４つの光束を受光するセンサを有しているため、これらセンサからの出力を適宜演算回路にて演算処理することにより、非点収差法に基づくフォーカスエラー信号を生成することができる。
【００１８】
第１の態様に係る光ピックアップ装置は、前記記録媒体によって反射された前記レーザ光の光束を前記第１および第２の直線によって４分割した４つの光束の進行方向を互いに異ならせ、これら４つの光束を互いに離散させる光学素子をさらに有する構成とされ得る。
【００１９】
こうすると、ターゲット記録層にて反射されたレーザ光（信号光）と、当該ターゲット記録層の上および／若しくは下の記録層から反射されたレーザ光（迷光）とが、光検出器の受光面（オンフォーカス時に信号光スポットが最小錯乱円になる面）上において、互いに重なり合わないようにすることができる。したがって、光検出器により信号光のみを受光することができ、よって、迷光による検出信号の劣化を抑制することができる。また、この作用を、角度調整素子を光路中に配置するのみで実現できる。よって、この態様によれば、簡素な構成にて効果的に迷光による影響を除去することができる。
【００２０】
なお、前記光学素子は、離散された前記４つの光束が前記光検出器の受光面上において直方形の異なる４つの頂角の位置にそれぞれ導かれるよう、前記４つの光束の進行方向を変化させる構成とされ得る。こうすると、前記センサを配置し易くなり、また、センサの配置領域をコンパクトにすることができる。
【００２１】
ここで、前記４つの頂角のうち少なくとも一つの対角方向に向き合う一対の頂角に配置される前記センサを、前記直方形から、前記対角方向にはみ出すような形状とすることができる。こうすると、これら一対のセンサによって信号光をより円滑に受光することができる。
【００２２】
本発明の第２の態様に係る光ディスク装置は、上記第１の態様に係る光ピックアップ装置と上記演算回路とを備える。よって、第２の態様に係る光ディスク装置においても、上記の如く、トラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制することができる。なお、上記演算回路の全部または一部は、第１の態様に係る光ピックアップ装置に装備されていても良い。
【発明の効果】
【００２３】
以上のとおり、本発明によれば、簡素な構成にてトラッキングエラー信号に生じるＤＣ成分を抑制することができる。加えて、上記光学素子を配することにより、簡素な構成にて効果的に迷光を除去することができる。
【００２４】
本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態によって何ら制限されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図２】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図３】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図４】実施形態に係る技術原理（光線の進み方）を説明する図である。
【図５】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図６】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図７】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図８】実施形態に係る技術原理（分割パターンと光束の分布）を説明する図である。
【図９】実施形態に係る技術原理（角度付与と光束の分布）を説明する図である。
【図１０】実施の形態に係るセンサパターンの配置方法を示す図である。
【図１１】プッシュプル信号のＤＣ成分を検証（シミュレーション）するために用いた光学系を示す図である。
【図１２】上記シミュレーションの条件を説明する図である。
【図１３】レンズシフトが生じたときの信号光の光量バランスを検証したシミュレーション結果を示す図である。
【図１４】レンズシフトが生じたときのプッシュプル信号と、信号ＰＰ１、ＰＰ２の状態を検証したシミュレーション結果を示す図である。
【図１５】変数ｋを変化させたときのプッシュプル信号のオフセット状態を検証したシミュレーション結果を示す図である。
【図１６】実施例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す図である。
【図１７】実施例に係る角度調整素子の構成例を示す図である。
【図１８】実施例に係る演算回路の構成を示す図である。
【図１９】実施例および本発明の技術原理の好ましい適用範囲を示す図である。
【図２０】変更例に係るセンサパターンの構成例を示す図である。
【図２１】実施例の他の変更例を示す図（光学系の変更に伴うセンサパターンの変更形態とトラック像の方向の変更に伴う演算式の変更を説明する図）である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。
【００２７】
＜技術的原理＞
まず、図１ないし図１０を参照して、本実施の形態に適用される技術的原理について説明する。
【００２８】
図１（ａ）は、ターゲット記録層によって反射されたレーザ光（信号光）が、平行光の状態でアナモレンズ等の非点収差素子に入射されたときの信号光と迷光の収束状態を示す図である。なお、“迷光１”は、レーザ光入射面側から見てターゲット記録層よりも一つ奥側にある記録層にて反射されたレーザ光であり、“迷光２”は、ターゲット記録層よりも一つ手前にある記録層にて反射されたレーザ光である。また、同図は、信号光がターゲット記録層にフォーカス合わせされたときの状態を示している。
【００２９】
図示の如く、アナモレンズの作用により、図中の“曲面方向”に信号光が収束することによって面Ｓ１に焦線が生じ、さらに、この曲面方向に垂直な図中の“平面方向”に信号光が収束することによって面Ｓ２に焦線が生じる。そして、面Ｓ１と面Ｓ２の間の面Ｓ０において、信号光のスポットが最小（最小錯乱円）となる。非点収差法に基づくフォーカス調整では、面Ｓ０に光検出器の受光面が置かれる。なお、ここではアナモレンズにおける非点収差作用を簡単に説明するために、便宜上、“曲面方向”と“平面方向”と表現しているが、実際には、互いに異なる位置に焦線を結ぶ作用がアナモレンズによって生じれば良く、図１中の“平面方向”におけるアナモレンズの形状を平面に限定するものではない。なお、アナモレンズに収束状態でレーザ光が入射する場合は、“平面方向”におけるアナモレンズの形状は直線状（曲率半径＝∞）となり得る。
【００３０】
なお、同図（ａ）に示す如く、迷光１の焦線位置（同図では、非点収差素子による２つの焦線位置の間の範囲を“収束範囲”と示す）は、信号光の焦線位置よりも非点収差素子に接近しており、また、迷光２の焦線位置は、信号光の焦線位置よりも非点収差素子から離れている。
【００３１】
図１（ｂ）〜（ｅ）は、それぞれ、平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上における信号光のビーム形状を示す図である。真円で非点収差素子に入射した信号光は、面Ｓ１上で楕円となり、面Ｓ０上で略真円となった後、面Ｓ２上にて再び楕円となる。ここで、面Ｓ１上のビーム形状と面Ｓ２上のビーム形状は、それぞれの長軸が互いに垂直の関係となっている。
【００３２】
ここで、同図（ａ）および（ｂ）のように、平行光部分におけるビームの外周に、反時計方向に８つの位置（位置１〜８：同図では丸囲み数字で表記）を設定すると、位置１〜８を通る光線は、非点収差素子によってそれぞれ収束作用を受ける。なお、位置４と位置８は、曲面方向に平行な直線にて平行光部分のビーム断面を２分割する場合の分割線上に位置しており、位置２と位置６は、平面方向に平行な直線にて平行光部分のビーム断面を２分割する場合の分割線上に位置している。位置１、３、５、７はそれぞれ、位置２、４、６、８によって区分される外周円弧の中間にある。
【００３３】
平行光部分において位置４と位置８を通る光線は、面Ｓ１で曲面方向の焦線へと収束された後に面Ｓ０へと入射する。このため、これら位置４、８を通る光線は、面Ｓ０上において、同図（ｄ）に示す位置４、８を通る。同様に、平行光部分において位置１、３、５、７を通る光線も、面Ｓ１にて曲面方向の焦線へと収束された後に面Ｓ０へと入射するため、面Ｓ０上では、同図（ｄ）に示す位置１、３、５、７を通る。これに対し、平行光部分において位置２、６を通る光線は、面Ｓ１で曲面方向の焦線へと収束されずに面Ｓ０へと入射する。このため、これら位置２、６を通る光線は、面Ｓ０上において、同図（ｄ）に示す位置２、６を通る。
【００３４】
図２（ｂ）〜（ｅ）は、それぞれ、平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上における迷光１のビーム形状と光線通過位置を示す図である。同図（ｂ）に示すように、迷光１の外周にも、上記信号光の場合と同様に８つの位置１〜８を設定すると、これら８つの位置１〜８を通る光線は、曲面方向の焦線および平面方向の焦線の何れかに収束された後に面Ｓ０へと入射する。このため、平行光部分において位置１〜８を通る光線は、面Ｓ０上において、それぞれ、同図（ｄ）に示す位置１〜８を通る。
【００３５】
図３（ｂ）〜（ｅ）は、それぞれ、平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上における迷光２のビーム形状と光線通過位置を示す図である。同図（ｂ）に示すように、迷光２の外周にも、上記信号光の場合と同様に８つの位置１〜８を設定すると、これら８つの位置１〜８を通る光線は、曲面方向の焦線と平面方向の焦線の何れへも収束されることなく面Ｓ０へと入射する。このため、平行光部分において位置１〜８を通る光線は、面Ｓ０上において、それぞれ、同図（ｄ）に示す位置１〜８を通る。
【００３６】
図４は、以上に説明した平行光部分および面Ｓ１、Ｓ０、Ｓ２上におけるビーム形状と光線の通過位置を、信号光、迷光１および迷光２を対比して示す図である。同図中の（ｃ）の段を対比して分かるとおり、平行光部分において位置１を通過した信号光、迷光１および迷光２の光束は、それぞれ、面Ｓ０上において、互いに異なる外周位置を通過する。同様に、平行光部分において位置３，４，５，７，８を通過した信号光、迷光１および迷光２の光束も、面Ｓ０において、互いに異なる外周位置を通過する。平行光部分において位置２，６を通過した信号光と迷光２の光束は、面Ｓ０において、同じ外周位置を通過する。この場合も、平行光部分において位置２，６を通過した信号光と迷光１の光束は、面Ｓ０において、互いに異なる外周位置を通過し、また、平行光部分において位置２、６を通過した迷光１と迷光２の光束は、面Ｓ０において、互いに異なる外周位置を通過する。
【００３７】
次に、以上の現象を考慮して、平行光部分における信号光および迷光１、２の領域分割パターンと、面Ｓ０上における信号光および迷光１、２の照射領域との関係について検討する。
【００３８】
まず、図５（ａ）に示すように、平行光部分における信号光および迷光１、２を、平面方向と曲面方向に対して４５°傾いた２つの直線で分割し、４つの光束領域Ａ〜Ｄに区分したとする。なお、この分割パターンは、従来の非点収差法に基づく領域分割に対応するものである。
【００３９】
この場合、上述の現象により、光束領域Ａ〜Ｄの信号光は、面Ｓ０上において、同図（ｂ）のように分布する。また、光束領域Ａ〜Ｄの迷光１および迷光２は、上述の現象により、それぞれ、同図（ｃ）および（ｄ）のように分布する。
【００４０】
ここで、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２を光束領域毎に取り出すと、各光の分布は、図６（ａ）ないし（ｄ）のようになる。この場合、各光束領域の信号光には、同じ光束領域の迷光１および迷光２の何れか一方が必ず重なる。このため、各光束領域の信号光を光検出器上のセンサパターンで受光すると、少なくとも、同じ光束領域における迷光１または迷光２が対応するセンサパターンに同時に入射し、これにより検出信号に劣化が生じる。
【００４１】
これに対し、図７（ａ）に示すように、平行光部分における信号光および迷光１、２を、平面方向と曲面方向に平行な２つの直線で分割し、４つの光束領域Ａ〜Ｄに区分したとする。この場合、上述の現象から、光束領域Ａ〜Ｄの信号光は、面Ｓ０上において、同図（ｂ）のように分布する。また、光束領域Ａ〜Ｄの迷光１および迷光２は、上述の現象により、それぞれ、同図（ｃ）および（ｄ）のように分布する。
【００４２】
ここで、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２を光束領域毎に取り出すと、各光の分布は、図８（ａ）ないし（ｄ）のようになる。この場合、各光束領域の信号光には、同じ光束領域の迷光１および迷光２の何れも重ならない。このため、各光束領域内の光束（信号光、迷光１、２）を異なる方向に離散させた後に、信号光のみをセンサパターンにて受光するように構成すると、対応するセンサパターンには信号光のみが入射し、迷光の入射を抑止することができる。これにより、迷光による検出信号の劣化を回避することができる。
【００４３】
以上のように、信号光および迷光１、２を平面方向と曲面方向に平行な２つの直線で４つの光束領域Ａ〜Ｄに分割し、これら光束領域Ａ〜Ｄを通る光を分散させて面Ｓ０上において離間させることにより、信号光のみを取り出すことができる。本実施の形態は、この原理を基盤とするものである。
【００４４】
図９は、図７（ａ）に示す４つの光束領域Ａ〜Ｄを通る光束（信号光、迷光１、２）の進行方向を、それぞれ、異なる方向に、同じ角度だけ変化させたときの、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２の分布状態を示す図である。ここでは、同図（ａ）に示すように、光束領域Ａ〜Ｄを通る光束（信号光、迷光１、２）の進行方向が、それぞれ、方向Ｄａ、Ｄｂ、Ｄｃ、Ｄｄに、同じ角度量α（図示せず）だけ変化している。なお、方向Ｄａ、Ｄｂ、Ｄｃ、Ｄｄは、平面方向と曲面方向に対して、それぞれ、４５°の傾きを持っている。
【００４５】
この場合、方向Ｄａ、Ｄｂ、Ｄｃ、Ｄｄにおける角度量αを調節することにより、Ｓ０平面上において、同図（ｂ）に示すように各光束領域の信号光と迷光１、２を分布させることができる。その結果、図示の如く、信号光のみが存在する信号光領域をＳ０平面上に設定することができる。この信号光領域に光検出器のセンサパターンを設定することにより、各領域の信号光のみを、対応するセンサパターンにて受光することができる。
【００４６】
図１０は、センサパターンの配置方法を説明する図である。同図（ａ）および（ｂ）は、従来の非点収差法に基づく光束の分割方法とセンサパターンを示す図であり、同図（ｃ）および（ｄ）は、上述の原理に基づく光束の分割方法とセンサパターンを示す図である。ここで、トラック方向は、平面方向および曲面方向に対して４５°の傾きを持っている。なお、同図（ａ）および（ｂ）には、説明の便宜上、光束が８つの光束領域ａ〜ｈに区分されている。また、トラック溝による回折の像（トラック像）が実線で示され、オフフォーカス時のビーム形状が点線によって示されている。
【００４７】
なお、トラック溝による信号光の０次回折像と一次回折像の重なり状態は、波長／（トラックピッチ×対物レンズＮＡ）で求められることが知られており、同図（ａ）、（ｂ）、（ｄ）のように、４つの光束領域ａ、ｄ、ｅ、ｈに一次回折像が収まる条件は、波長／（トラックピッチ×対物レンズＮＡ）＞√２となる。
【００４８】
従来の非点収差法では、光検出器のセンサパターンＰ１〜Ｐ４（４分割センサ）が同図（ｂ）のように設定される。この場合、光束領域ａ〜ｈの光強度に基づく検出信号成分をＡ〜Ｈで表すと、フォーカスエラー信号ＦＥは、ＦＥ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ＋Ｆ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ＋Ｈ）の演算により求まり、プッシュプル信号ＰＰは、ＰＰ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｇ＋Ｈ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）の演算により求まる。
【００４９】
これに対し、上記図９（ｂ）の分布状態では、上述の如く、信号光領域内に、図１０（ｃ）の状態で信号光が分布している。この場合、図１０（ａ）に示す光束領域ａ〜ｈを通る信号光の分布を同図（ｃ）の分布に重ねると、同図（ｄ）のようになる。すなわち、同図（ａ）の光束領域ａ〜ｈを通る信号光は、光検出器のセンサパターンが置かれる面Ｓ０上では、同図（ｄ）に示す光束領域ａ〜ｈへと導かれる。
【００５０】
したがって、同図（ｄ）に示す光束領域ａ〜ｈの位置に、同図（ｄ）に重ねて示す如くセンサパターンＰ１１〜Ｐ１８を設定すれば、同図（ｂ）の場合と同様の演算処理によって、フォーカスエラー信号とプッシュプル信号を生成することができる。すなわち、この場合も、光束領域ａ〜ｈの光束を受光するセンサパターンからの検出信号をＡ〜Ｈで表すと、同図（ｂ）の場合と同様、フォーカスエラー信号ＦＥは、ＦＥ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ＋Ｆ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ＋Ｈ）の演算により取得でき、また、プッシュプル信号ＰＰは、ＰＰ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｇ＋Ｈ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）の演算により取得することができる。
【００５１】
以上のように、本原理によれば、平行光部分における信号光および迷光１、２を、図１の平面方向と曲面方向に平行な２つの直線で４つの光束領域Ａ〜Ｄに分割し、これら光束領域Ａ〜Ｄを通る光を分散させ、さらに、分散させた後の各光束領域Ａ〜Ｄにおける信号光を、２分割された受光部（２分割センサ）によって個別に受光することにより、従来の非点収差法に基づく場合と同様の演算処理にて、フォーカスエラー信号とプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を生成することができる。
【００５２】
ところで、ここでは、図１０（ｂ）に示す従前の生成方法に倣って、プッシュプル信号ＰＰが、ＰＰ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｇ＋Ｈ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ）の演算により取得されたが、かかる従前の演算手法では、生成されたプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に、レーザ光軸に対する対物レンズのシフト（光軸ずれ）に基づくＤＣ成分が重畳されるとの問題が生じる。
【００５３】
かかるＤＣ成分は、図１０（ｄ）に示すセンサパターンにおいて、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を以下のように修正することにより、効果的に抑制され得る。
【００５４】
以下、本件出願の発明者が行ったシミュレーション結果とともに、ＤＣ成分を効果的に抑制可能なプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）の生成手法について説明する。
【００５５】
図１１は、本シミュレーションに用いた光学系を示す図である。図中、１０は、波長４０５ｎｍのレーザ光を出射する半導体レーザ、１１は、半導体レーザ１０から出射されたレーザ光を略全反射する偏光ビームスプリッタ、１２はレーザ光を平行光に変換するコリメートレンズ、１３はコリメートレンズ１２側から入射されるレーザ光（直線偏光）を円偏光に変換する１／４波長板、１４はレーザ光のビーム形状をレーザ光軸を中心とする真円に調整するためのアパーチャ、１５はレーザ光をディスク上に収束させる対物レンズ、１６は偏光ビームスプリッタ１１を透過したディスクからの反射光に非点収差を導入する検出レンズ、１７は、上記図９（ａ）を参照して説明した作用をレーザ光に付与する角度調整素子、１８は光検出器である。
【００５６】
角度調整素子は、上記図９（ａ）を参照して説明したように、４つの光束領域Ａ〜Ｄを通過するレーザ光を互いに分光させて、光検出面上で、図９（ｂ）に示すように各光束領域を通過したレーザ光を分布させる作用を有する。
【００５７】
本光学系の設計条件は、以下の通りである。
（１）往路倍率：１０倍
（２）復路倍率：１８倍
（３）角度調整素子１７によって付与される分光角度：１．９度
（４）角度調整素子１７の分光面と光検出器１１３の検出面の間の距離（空気換算）：３ｍｍ
（５）角度調整素子１７を配さないときの光検出面上におけるスポット径：６０μｍ
（６）角度調整素子１７を配したときの光検出面上における各信号光（光束領域Ａ〜Ｄをそれぞれ通過）の変位距離：１００μｍ
（７）レーザ光の広がり角：垂直広がり角＝２０．０度、水平広がり角＝９．０度
（８）レンズ有効径：φ＝２．４ｍｍ
（９）レンズの開口数：０．８５
（１０）ディスクのトラックピッチ：０．３２μｍ
【００５８】
なお、上記（１）の往路倍率とは、対物レンズの焦点距離に対するコリメートレンズの焦点距離の比であり、（２）の復路倍率とは、対物レンズの焦点距離に対するコリメートレンズと検出レンズの合成焦点距離の比のことである。本光学系では、ディスクによって反射されたレーザ光（信号光）は、角度調整素子１７を除去すると検出面上において最小錯乱円となる。上記（５）のスポット径とは、この最小錯乱円の径のことである。
【００５９】
また、上記（６）の変位距離とは、角度調整素子１７を除去したときの検出面上における信号光の光軸中心と、角度調整素子１７を配したときの各信号光の頂点位置（図８に示す扇型が直角となる頂点の位置）との間の距離のことである。なお、センサパターンの寸法条件は、図１２（ａ）の通りである。
【００６０】
上記（７）の垂直広がり角とは、光ピックアップ装置１０に内蔵されるレーザ素子の半導体層の層間方向におけるレーザ光の広がり角を意味し、水平広がり角とは半導体層に平行な方向におけるレーザ光の広がり角を意味する。ここで、広がり角は、図１２（ｂ）に示すように、ピーク強度Ｐの半分以上の強度を持つビーム部分の広がり角とされている。上記（８）のレンズ有効径とは、アパーチャ１４を通過した後、対物レンズ１５に入射する際のビームの直径を意味する。
【００６１】
なお、半導体レーザ１０から出射されたレーザ光は、上記のように水平方向と垂直方向で広がり角が相違しているため、アパーチャ１４からコリメートレンズ１２へと向かう平行光束では、かかる広がり角の相違に基づいて、強度分布に偏りが生じている。図１２（ｄ）は、かかる平行光束における強度の偏りを模式的に示す図である。同図中、白色の部分は強度が高く、ハッチングが付された部分は強度が低いことを示す。なお、同図の左側は、レーザ光軸に対して対物レンズの光軸がずれていない状態を示し、同図の右側は、レーザ光軸に対して対物レンズの光軸がトラックを横切る方向にシフトしている状態（レンズシフトあり）を示している。同図には、図９（ａ）に示す平面方向と曲面方向の分割線が重ねて示されている。
【００６２】
図１３は、上記条件のもとで、レンズシフトがある場合とない場合の信号光の強度をシミュレーションしたシミュレーション結果である。同図上段は、レンズシフトがない状態で、ディスク上のビームスポットがトラックセンターに位置するときと、トラックセンターからディスク径方向にずれたときの信号光の強度をシミュレーションしたものである。また、同図下段は、レンズシフトが３００μｍである状態で、ディスク上のビームスポットがトラックセンターに位置するときと、トラックセンターからディスク径方向にずれたときの信号光の強度をシミュレーションしたものである。
【００６３】
なお、デトラック＝＋Ｔ／４は、ビームスポットがトラックセンターからトラックピッチの１／４だけディスク外周方向にずれていることを示しており、デトラック＝＋Ｔ／４は、ビームスポットがトラックセンターからトラックピッチの１／４だけディスク内周方向にずれていることを示している。また、デトラック＝０は、トラックセンターに対するビームスポットのずれ（デトラック）が生じていないことを示している。
【００６４】
同図の上段を参照すると、ビームスポットがトラックセンターに位置づけられている状態では、４つの信号光のうち左右２つの信号光の強度が均等となっており、ビームスポットがトラックセンターからディスク外周方向および内周方向にずれると、ずれ方向に応じて、左右２つの信号光の強度に差が生じている。よって、レンズシフトがない場合には、左右２つの信号光を受光するセンサからの出力信号をもとに、左右２つの信号光の強度差を求めることにより、適正にプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を求めることができる。
【００６５】
これに対し、同図の下段左端のシミュレーション結果を参照すると、ビームスポットがトラックセンターに位置づけられているにも関わらず、左右２つの信号光に強度差が生じている。すなわち、ここでは、右側の信号光の強度が左側の信号光の強度よりも大きくなっている。また、同図の下段中央のシミュレーション結果では、上段中央のシミュレーション結果よりも、右側の信号光と左側の信号光の強度差が小さくなっており、逆に、同図の下段右端のシミュレーション結果では、上段中央のシミュレーション結果よりも、右側の信号光と左側の信号光の強度差が大きくなっている。このように、レンズシフトが生じた場合には、信号光の左右のバランスが不適正となり、このため、左右２つの信号光を受光するセンサからの出力信号をもとに左右２つの信号光の強度差を求めても、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を適正に求めることができない。すなわち、この場合、プッシュプル信号には、レンズシフトに基づくＤＣ成分が重畳されることとなる。
【００６６】
次に、４つの信号光のうち上下２つの信号光について検討すると、同図上段の３つのシミュレーション結果では、デトラックの有無に拘わりなく、上下２つの信号光の左右の強度バランスは均等である。他方、同図下段の３つのシミュレーション結果では、デトラックの有無に拘わりなく、上下２つの信号光に同様のひずみが生じており、このひずみによって、上下２つの信号光の左右方向の強度バランスが不均等となっている。すなわち、ここでは、何れの場合も、上下２つの信号光の強度が左側に偏っている。
【００６７】
かかるシミュレーション結果から、レンズシフトが生じると、上下２つの信号光にひずみが生じ、これら２つの信号光の強度が左右何れかの方向に偏ることが分かる。したがって、この偏りを上下２つの信号光を受光するセンサからの出力信号をもとに求めれば、求めた値は、レンズシフトに基づくＤＣ成分を反映するものとなる可能性がある。
【００６８】
そこで、本件出願の発明者は、さらに、左右の信号光の強度差に応じた信号ＰＰ１と、上下の信号光の強度の左右の偏りに応じた信号ＰＰ２をシミュレーションにより求め、ＰＰ２をもとに、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるＤＣ成分を抑制できるかを検討した。ここで、ＰＰ１、ＰＰ２は、図１２（ｃ）に記載の演算式によって求めた。なお、シミュレーションの条件は、上記と同様である。
【００６９】
図１４（ａ）〜（ｃ）は、シミュレーション結果を示す図である。
【００７０】
同図（ａ）は、デトラック量を変化させたときのプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）の変化を求めたシミュレーション結果である。同図横軸のデトラック＝0、0.08、0.24は、それぞれ、図１３のデトラック＝０、＋Ｔ／４、−Ｔ／４に対応する。同図には、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍ、１００μｍ、２００μｍ、３００μｍのときの４つのシミュレーション結果が併せて示されている。なお、ここでは、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）が図１０（ｄ）の演算式、すなわち、信号ＰＰ１と信号ＰＰ２の加算（ＰＰ１＋ＰＰ２）によって求められている。このシミュレーション結果から、レンズシフト（ＬＳ）が大きくなるに従ってプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）が上方向にシフトし、ＤＣ成分が大きくなっていることが分かる。
【００７１】
同図（ｂ）は、同図（ａ）のシミュレーション結果から信号ＰＰ１の信号成分を抽出したシミュレーション結果を示す図である。なお、同図には、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍ、３００μｍのときの信号ＰＰ１が示されている。また、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍ、３００μｍのときのプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）ＰＰが併せて示されている。なお、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍの信号ＰＰ１とプッシュプル信号ＰＰは互いに重なり合っている。このシミュレーション結果から、レンズシフト（ＬＳ）が大きくなるに従って、信号ＰＰ１が上方向にシフトし、ＤＣ成分が大きくなっていることが分かる。
【００７２】
同図（ｃ）は、同図（ａ）のシミュレーション結果から信号ＰＰ２の信号成分を抽出したシミュレーション結果を示す図である。なお、同図には、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍ、３００μｍのときの信号ＰＰ２が示されている。また、レンズシフト（ＬＳ）が０μｍ、３００μｍのときのプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）ＰＰが併せて示されている。このシミュレーション結果から、レンズシフト（ＬＳ）が大きくなるに従って、信号ＰＰ２が増加することが分かる。したがって、図１０（ｄ）に示す従来の演算式に従い信号ＰＰ１に信号ＰＰ２を加算してプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）ＰＰを生成すると、生成したプッシュプル信号ＰＰに含まれるＤＣ成分は、信号ＰＰ１のみの場合よりも、信号ＰＰ２の分だけさらに増大することが分かる。
【００７３】
なお、上記のように、信号ＰＰ２はレンズシフト（ＬＳ）に伴い増加するため、信号ＰＰ１から信号ＰＰ２を減算することにより、プッシュプル成分の減少なしにＤＣ成分を抑制することができることが分かる。そこで、本件出願の発明者は、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）ＰＰを求めるための演算式として
ＰＰ＝ＰＰ１−ｋ・ＰＰ２ …（１）
を設定し、この演算式中の変数ｋを変化させることによりＤＣ成分をどのように抑制できるかを上記と同様の条件のもとで検証した。
【００７４】
図１５は、シミュレーション結果を示す図である。
【００７５】
同図（ａ）は、変数ｋをｋ＝−１，１，２，３，４としたときの、レンズシフト対するプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット量（ＤＣ成分）をシミュレーションしたものである。なお、縦軸は、トラッキングエラー信号の振り幅（正負の極大値間の差分）に対するオフセット量（ＤＣ成分）の比率である。また、ｋ＝−１のときのシミュレーション結果は、図１０（ｄ）に示す従来の演算式（ＰＰ＝ＰＰ１＋ＰＰ２）にてプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）ＰＰを求める場合に相当する。
【００７６】
このシミュレーション結果から、変数ｋをｋ＝３に設定すると、レンズシフトの大きさに拘わらず、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット量（ＤＣ成分）を略ゼロに維持できることが分かる。
【００７７】
同図（ｂ）は、変数ｋをｋ＝−１（従来の演算式）に設定して、デトラック量を変化させたときのプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）の大きさをシミュレーションにより求めたものである。このシミュレーション結果は、図１４（ａ）と同じである。この場合には、上述の如く、レンズシフトが大きくなるに伴って、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のＤＣ成分が大きくなる。
【００７８】
同図（ｃ）は、同図（ａ）のシミュレーション結果をもとに、変数ｋをｋ＝３に設定して、同図（ｂ）と同様のシミュレーションを行ったときのシミュレーション結果である。このシミュレーション結果から分かるとおり、変数ｋをｋ＝３に設定することにより、レンズシフト（ＬＳ）の大きさに拘わらず、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。
【００７９】
以上のシミュレーション結果から分かるとおり、上記式（１）の演算によりプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を求め、さらに、その際、変数ｋを適正値に調節することにより、レンズシフト（ＬＳ）の大きさに拘わらず、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。したがって、上記図１〜図１０を参照して説明した基本原理に、さらに、上記式（１）の演算を適用することにより、迷光の影響が除去された高品質の信号を生成できるとともに、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。
【００８０】
なお、変数ｋの値は、使用する光学系によって変動し得る。よって、光ピックアップ装置を光ディスク装置に搭載する場合には、適宜、変数ｋの値を適正値に調整する必要がある。
【００８１】
また、上記シミュレーションでは、信号ＰＰ２を、ＰＰ２＝（Ｇ＋Ｂ）−（Ｆ＋Ｃ）により求めたため、図１５（ａ）のように、上記式（１）の変数ｋが正の値を持つときにプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制できることとなったが、信号ＰＰ２を、ＰＰ２＝（Ｆ＋Ｃ）−（Ｇ＋Ｂ）により求める場合には、上記とは信号ＰＰ２の極性が反対となるため、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制するためには、上記変数ｋが負の値を持つ必要がある。よって、上記式（１）の変数は、信号ＰＰ２の求め方によっても、適宜、極性を調整する必要がある。すなわち、上記変数ｋは、レンズシフトに伴って、信号ＰＰ１と信号ＰＰ２が同じ方向に変位する場合には正の値を持ち、異なる方向に変位する場合には負の値を持つものとされる必要がある。
【００８２】
なお、上記では、上下２つの信号光の双方から信号ＰＰ２を求め、求めた信号ＰＰ２に基づいてプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を抑制するようにしたが、上下２つの信号光の何れか一方のみから信号ＰＰ２を求め、求めた信号ＰＰ２に基づいて、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）を抑制するようにすることもできる。この場合、信号ＰＰ２は、たとえば、ＰＰ２＝Ｇ−Ｆ、または、ＰＰ２＝Ｂ−Ｃの演算により求められる。この場合、信号ＰＰ２の大きさは、上記の場合の半分程度となる。よって、これに応じて式（１）の変数ｋを調節する必要がある。
【００８３】
＜実施例＞
以下、上記原理に基づく実施例について説明する。
【００８４】
図１６に、本実施例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す。なお、同図には、便宜上、関連する回路構成が併せて図示されている。また、同図中のディスクには、複数の記録層が積層して配置されている。
【００８５】
図示の如く、光ピックアップ装置の光学系は、半導体レーザ１０１と、偏光ビームスプリッタ１０２と、コリメートレンズ１０３と、レンズアクチュエータ１０４と、立ち上げミラー１０５と、１／４波長板１０６と、アパーチャ１０７と、対物レンズ１０８と、ホルダ１０９と、対物レンズアクチュエータ１１０と、検出レンズ１１１と、角度調整素子１１２と、光検出器１１３を備えている。
【００８６】
半導体レーザ１０１は、所定波長のレーザ光を出射する。半導体レーザ１０１から出射されるレーザ光の広がり角は、上記シミュレーションの場合と同様、水平広がり角と垂直広がり角が異なっている。
【００８７】
偏光ビームスプリッタ１０２は、半導体レーザ１０１から入射されるレーザ光（Ｓ偏光）を略全反射するとともに、コリメートレンズ１０３側から入射されるレーザ光（Ｐ偏光）を略全透過する。コリメートレンズ１０３は、偏光ビームスプリッタ１０２側から入射されるレーザ光を平行光に変換する。
【００８８】
レンズアクチュエータ１０４は、サーボ回路２０３から入力されるサーボ信号に応じてコリメートレンズ１０３を光軸方向に変位させる。これにより、レーザ光に生じる収差が補正される。立ち上げミラー１０５は、コリメートレンズ１０３側から入射されたレーザ光を対物レンズ１０８に向かう方向に反射する。
【００８９】
１／４波長板１０６は、ディスクへと向かうレーザ光を円偏光に変換するとともに、ディスクからの反射光をディスクへ向かう際の偏光方向に直交する直線偏光に変換する。これにより、ディスクによって反射されたレーザ光は、偏光ビームスプリッタ１０２を透過する。
【００９０】
アパーチャ１０７は、図１１におけるアパーチャ１４と同様、対物レンズ１０８に対するレーザ光の有効径が適正となるように、レーザ光のビーム形状を円形形状に調整する。対物レンズ１０８は、レーザ光をディスク内のターゲット記録層に適正に収束できるよう設計されている。ホルダ１０９は、１／４波長板１０６と対物レンズ１０８を一体的に保持する。対物レンズアクチュエータ１１０は、従来周知の電磁駆動回路によって構成され、当該回路のうち、フォーカスコイル等のコイル部がホルダ１０９に装着されている。
【００９１】
検出レンズ１１１は、ディスクからの反射光に非点収差を導入する。すなわち、検出レンズ１１１は、図１の非点収差素子に相当する。検出レンズ１１１は、平面方向と曲面方向が、ディスクからのトラック像に対してそれぞれ４５°の傾きとなるよう配置される。このように検出レンズ１１１が配置されると、検出レンズ１１１の平面方向と曲面方向は、レーザ光の強度分布に対して図１２（ｄ）のように設定される。
【００９２】
角度調整素子１１２は、検出レンズ１１１側から入射されたレーザ光の進行方向を、図９を参照して述べた如く変化させる。すなわち、角度調整素子１１２は、入射されたレーザ光のうち、図９の光束領域Ａ〜Ｄを通過する光束の進行方向を、それぞれ、方向Ｄａ〜Ｄｄに、同じ角度量αだけ変化させる。なお、角度量αは、面Ｓ０上における信号光と迷光１、２の分布状態が、図９（ｂ）の分布状態となるように設定されている。
【００９３】
光検出器１１３は、図１０（ｄ）に示すセンサパターンを有する。光検出器１１３は、このセンサパターンが図１の面Ｓ０の位置に位置づけられるように配置される。光検出器１１３には、図１０（ｄ）に示す８個のセンサＰ１１〜Ｐ１８が配されており、これらが、各々、図１０（ｄ）の光束領域ａ〜ｈを通る光束を受光する。
【００９４】
信号演算回路２０１は、光検出器１１３の８個のセンサから出力された検出信号を、図１０（ｄ）を参照して述べた如く演算処理し、フォーカスエラー信号を生成する。また、信号演算回路２０１は、これら８個のセンサから出力された検出信号を加算して再生ＲＦ信号を生成する。さらに、信号演算回路２０１は、光検出器１１３の８個のセンサから出力された検出信号を、上記式（１）に従って演算処理し、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を生成する。生成されたフォーカスエラー信号とプッシュプル信号はサーボ回路２０３に送られ、再生ＲＦ信号は再生回路２０２とサーボ回路２０３に送られる。
【００９５】
再生回路２０２は、信号演算回路２０１から入力された再生ＲＦ信号を復調して再生データを生成する。サーボ回路２０３は、信号演算回路２０１から入力されたプッシュプル信号とフォーカスエラー信号からトラッキングサーボ信号とフォーカスサーボ信号を生成し、これらを対物レンズアクチュエータ１１０に出力する。また、サーボ回路２０３は、信号演算回路２０１から入力された再生ＲＦ信号の品質が最良になるよう、レンズアクチュータ１０４にサーボ信号を出力する。コントローラ２０４は、内蔵メモリに格納されたプログラムに従って各部を制御する。
【００９６】
図１７は、角度調整素子１１２の構成例を示す図である。同図（ａ）は、回折パターンを有するホログラム素子によって角度調整素子１１２を構成する場合の構成例を示し、同図（ｂ）および（ｃ）は、多面プリズムによって角度調整素子１１２を構成する場合の構成例を示している。
【００９７】
まず、同図（ａ）の構成例において、角度調整素子１１２は、正方形形状の透明板にて形成され、光入射面にホログラムパターンが形成されている。光入射面は、図示の如く、４つのホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに区分されている。これらホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに、それぞれ、図９（ａ）の光束領域Ａ〜Ｄを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が入射するよう、角度調整素子１１２が検出レンズ１１１の後段に配置される。
【００９８】
ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄは、入射されたレーザ光（信号光、迷光１、２）を、それぞれ、方向Ｖａ〜Ｖｄに回折させる。方向Ｖａ〜Ｖｄは、図９（ａ）の方向Ｄａ〜Ｄｄに一致している。よって、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄは、回折により、検出レンズ１１１から入射されたレーザ光（信号光、迷光１、２）の進行方向を、それぞれ、図９（ａ）のＤａ〜Ｄｄの方向に変化させる。各領域における回折角は同じとなっている。
【００９９】
ここで、回折角は、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が、図１の面Ｓ０において、図９（ｂ）のように分布するよう調整されている。よって、上記の如く、図１０（ｄ）のセンサパターンを有する光検出器１１３の受光面を面Ｓ０に配置することにより、上記８個のセンサによって、対応する信号光を適正に受光することができる。
【０１００】
なお、上記ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄの回折効率は互いに同じとなっている。ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに形成されるホログラムがステップ型である場合、回折効率は、ホログラムパターンのステップ数と１ステップあたりの高さによって調整され、回折角は、ホログラムパターンのピッチによって調整される。よって、この場合には、予め決められた回折次数の回折効率が所期の値となるように、ホログラムパターンのステップ数と１ステップあたりの高さが設定され、さらに、当該回折次数における回折角が図９（ｂ）の分布を与え得るように、ホログラムパターンのピッチが調整される。
【０１０１】
なお、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに形成されるホログラムをブレーズ型とすることも可能である。この場合、ステップ型のホログラムよりも回折効率を高めることができる。
【０１０２】
図１７（ｂ）の構成例において、角度調整素子１１２は、光出射面が平坦で、且つ、光入射面が４つの領域において異なる方向に個別に傾斜する透明体によって形成されている。同図（ｃ）は同図（ｂ）を光入射面側から見た図である。図示の如く、角度調整素子１１２の光入射面には、４つの傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈが形成されている。これら傾斜面に入射面側から光線がＸ軸に平行に入射すると、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈに入射する際の屈折作用によって、光の進行方向が、それぞれ、同図（ｃ）のＶｅ〜Ｖｈの方向に変化する。ここで、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈにおける屈折角は、同じである。
【０１０３】
同図（ｂ）の角度調整素子１１２は、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈに、それぞれ、図９（ａ）の光束領域Ａ〜Ｄを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が入射するよう、検出レンズ１１１の後段に配置される。こうして角度調整素子１１２が配置されると、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈにおける屈折方向Ｖｅ〜Ｖｈが、図９（ａ）の方向Ｄａ〜Ｄｄに一致することとなる。よって、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈは、屈折により、検出レンズ１１１から入射されたレーザ光（信号光、迷光１、２）の進行方向を、一定角度だけ、それぞれ、図９（ａ）のＤａ〜Ｄｄの方向に変化させる。
【０１０４】
ここで、各傾斜面における屈折角は、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈを通過したレーザ光（信号光、迷光１、２）が、図１の面Ｓ０において、図９（ｂ）のように分布するよう調整されている。よって、面Ｓ０に、図１０（ｄ）のセンサパターンを有する光検出器１１３を配置することにより、上記８個のセンサによって、対応する信号光を適正に受光することができる。
【０１０５】
なお、図１６（ａ）の構成例では、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに、レーザ光の進行方向を一定角度だけ変化させる角度付与の回折作用のみを持たせるようにしたが、角度付与の他、検出レンズ１１１による非点収差作用をも同時に発揮するホログラムパターンを、ホログラム領域１１２ａ〜１１２ｄに設定しても良い。また、角度調整素子１１２の光入射面に上記角度付与のためのホログラムパターンを形成し、非点収差作用を持たせるためのホログラムパターンを角度調整素子１１２の光出射面に持たせるようにしても良い。同様に、図１６（ｂ）の角度調整素子１１２においても、光出射面に、非点収差を導入するためのレンズ面を形成するようにしても良く、あるいは、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈを曲面形状として、傾斜面１１２ｅ〜１１２ｈに非点収差のレンズ作用を持たせるようにしても良い。こうすると、検出レンズ１１１を省略することができ、部品点数とコストの削減を図ることができる。
【０１０６】
図１８は、信号演算回路２０１のうち、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）を生成する演算処理部の構成を示す図である。図示の如く、プッシュプル信号の演算処理部は、加算回路２１、２２、２４、２５と、減算回路２３、２６、２８と、乗算回路２７とを備えている。
【０１０７】
なお、上記原理では、ｋ＞０でプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）が抑制されるとしたが、本実施例では、同図に示した演算回路に従い、ｋ＜０でかかるオフセット（ＤＣ成分）が適切に抑制される構成となっている。すなわち、上記原理では、図１２（ｃ）に示す如く信号ＰＰ２が、ＰＰ２＝（Ｇ＋Ｂ）−（Ｆ＋Ｃ）で求められたが、本実施例では、信号ＰＰ２が、図１８の演算回路に従って、ＰＰ２＝（Ｆ＋Ｃ）−（Ｇ＋Ｂ）で求められるため、ｋ＜０のときにオフセット（ＤＣ成分）が適切に抑制される。
【０１０８】
加算回路２１は、センサＰ１１、Ｐ１２からの出力信号を加算して、左右２つの信号光のうち左側の信号光の光量に応じた信号を出力する。加算回路２２は、センサＰ１７、Ｐ１８からの出力信号を加算して、左右２つの信号光のうち右側の信号光の光量に応じた信号を出力する。減算回路２３は、加算回路２１、２２からの出力信号の差分を取り、これにより、左右２つの信号光の光量差に基づく上記信号ＰＰ１を生成する。
【０１０９】
加算回路２４は、センサＰ１３、Ｐ１４からの出力信号を加算して、上下２つの信号光の左側の光量に応じた信号を出力する。加算回路２５は、センサＰ１５、Ｐ１６からの出力信号を加算して、上下２つの信号光の右側の光量に応じた信号を出力する。減算回路２６は、加算回路２４、２５からの出力信号の差分を取り、これにより、上下２つの信号光の左右方向の偏りに基づく上記信号ＰＰ２を生成する。
【０１１０】
乗算回路２７は、減算回路２６から出力される信号ＰＰ２に上記変数ｋを乗じた信号を減算回路２８に出力する。減算回路２８は、減算回路２３から入力される信号ＰＰ１から、乗算回路２７から入力される信号を減算し、減算後の信号をプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）として出力する。
【０１１１】
乗算回路２７における変数ｋは、手動または自動で最適値に調節される。手動により調節される場合には、たとえば、ネジを回すことにより変数ｋを変えることができるボリューム調節部が配される。この場合、製品出荷時に、テストディスクを用いて、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）をモニタしながら、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）のオフセット（ＤＣ成分）が最小となるよう、手動で変数ｋの値が調節される。
【０１１２】
変数ｋが自動で調節される場合には、変数ｋをΔｋずつ加減する制御処理がコントローラ２０４に付加される。この場合には、製品出荷時に、テストディスクを用いて、変数ｋの調節動作が行われる。すなわち、コントローラ２０４は、変数ｋ値をデフォルト値の前後でΔｋずつ変化させながら、同時に、レンズシフト（ＬＳ）を発生させ、レンズシフトが０μｍから３００μｍへと変化したときのプッシュプル信号のオフセット値（ＤＣ成分）の変動量を、それぞれの変数ｋ値について取得する。そして、コントローラ２０４は、取得した変動量が最小となるときの変数ｋの値を、実動作時の乗算回路２７の変数ｋの値として設定する。
【０１１３】
なお、図１６に示す信号演算回路２０１は、光ピックアップ装置側にあっても、光ディスク装置側にあっても良い。また、信号演算回路２０１を構成する回路部の一部が光ピックアップ装置側にあってもよい。たとえば、図１８に示す演算部の全てが、光ピックアップ装置側にあっても、光ディスク装置側にあっても良く、あるいは、信号ＰＰ１、ＰＰ２を生成する回路部は光ピックアップ装置側にあり、それより後段側の回路は光ディスク装置側にある等、演算部が光ピックアップ装置と光ディスク装置に分かれて配置されていても良い。
【０１１４】
以上、本実施例によれば、ディスク内に配された記録層のうちターゲット記録層から反射された信号光と、当該ターゲット記録層の上および下の記録層から反射された迷光１、２とが、光検出器１１３の受光面（オンフォーカス時に信号光スポットが最小錯乱円になる面Ｓ０）上において、互いに重なり合わないようにすることができる。具体的には、受光面（面Ｓ０）上における信号光と迷光１、２の分布を、図９（ｂ）の状態にすることができる。したがって、図９（ｂ）の信号光領域に、図１０（ｄ）に示すセンサパターンを配置することにより、センサＰ１１〜Ｐ１８によって、対応する信号光のみを受光することができる。このため、迷光による検出信号の劣化を抑制することができる。
【０１１５】
加えて、本実施例によれば、図１８の回路構成によりプッシュプル信号（トラッキングエラー信号）が生成されるため、上記シミュレーション結果をもとに説明した如く、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を効果的に抑制することができる。
【０１１６】
また、これらの効果を、ディスクによって反射されたレーザ光の光路中、すなわち、図１６の構成では検出レンズ１１１と光検出器１１３の間に、角度調整素子１１２を配置するのみで達成することができる。したがって、本実施例によれば、簡素な構成にて効果的に迷光による影響を除去することができ、かつ、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。
【０１１７】
なお、上記原理による迷光除去効果は、図１９に示すように、迷光１の平面方向の焦線位置が面Ｓ０（信号光のスポットが最小錯乱円となる面）よりも非点収差素子に接近した位置にあり、且つ、迷光２の曲面方向の焦線位置が面Ｓ０よりも非点収差素子から離れた位置にあるときに奏され得るものである。すなわち、この関係が満たされていれば、信号光と迷光１、２の分布は上記図８に示す状態となり、面Ｓ０において、信号光と迷光１、２が重なり合わないようすることができる。換言すれば、この関係が満たされる限り、たとえ、信号光の曲面方向の焦線位置よりも迷光１の平面方向の焦線位置が面Ｓ０に接近し、あるいは、信号光の平面方向の焦線位置よりも迷光２の曲面方向の焦線位置が面Ｓ０に接近したとしても、上記原理に基づく本発明ないし実施例の効果は奏され得る。
【０１１８】
＜変更例＞
上記実施例では、光検出器１１３は、図１０（ｄ）に示すセンサパターン有していたが、これに替えて、図２０（ｂ）、（ｃ）に示すセンサパターンを有していても良い。こうすると、角度調整素子１１２がずれた場合や、ディスクにチルトが生じた場合にも、ディスクからの反射光が、より確実にセンサ領域に導かれる。
【０１１９】
以下、本変更例に係るシミュレーション結果を参照して、本変更例で用いるセンサパターンについて説明する。
【０１２０】
本変更例に係るシミュレーションは、上記原理に対して行ったシミュレーションの光学系（図１１）を用いて行われた。シミュレーションは、上記（１）〜（１０）の条件（以下、「基準条件」という）と、これに所定のパラメータ（後述）を追加した条件（以下、「付加条件」という）の２つの条件のもとで行われた。
【０１２１】
図２０（ａ）の淡色で示す領域は、基準条件のもとで、光検出器１８上のセンサパターンに照射する信号光の所定強度以上の分布を示している。図示の如く、所定強度以上の信号光の分布は、センサＰ１１〜Ｐ１８内に収まっている。
【０１２２】
次に、基準条件に対して、さらに下記（１１）〜（１４）のパラメータが付加された付加条件のもとで、シミュレーションが行われた。
（１１）角度調整素子１７のディスク径方向のずれ：１５μｍ
（１２）ディスクの径方向のチルト：０．６°
（１３）ディスクの径方向と垂直な方向（円周方向）のチルト：０．３°
（１４）レンズシフト：３００μｍ
なお、上記（１１）〜（１４）に示す値は、基準条件からの、各パラメータの最大変化量を表している。すなわち、付加条件のもとでは、上記（１１）〜（１４）に示す値の範囲内で、各光学部品が変位されることになる。
【０１２３】
図２０（ａ）の濃色で示す領域は、付加条件のもとで、光検出器１８上のセンサパターンに照射する信号光の所定強度以上の分布を示している。図示の如く、所定強度以上の信号光の分布は、センサＰ１１〜Ｐ１８の外側にはみ出している。
【０１２４】
以上のシミュレーション結果から分かるとおり、基準条件に上記（１１）〜（１４）の条件が付加されると、所定強度以上の信号光の分布は、センサＰ１１〜Ｐ１８の外側に広がることになる。この場合、各センサによって受光される信号光の光量が減少するため、各センサから出力される信号光の検出信号は、基準条件の場合に比べ劣化することになる。そこで、本件出願の発明者は、付加条件下で、所定強度以上の信号光が分布する範囲を含み得る領域１〜４に対応したセンサを設けることを検討した。
【０１２５】
図２０（ｂ）は、付加条件下においても、所定強度以上の信号光を受光することができるセンサパターンを示す図である。センサＰ２１〜Ｐ２８は、センサＰ１１〜Ｐ１８の受光領域に、同図（ａ）の領域１〜４が加えられた受光領域を有するセンサである。こうすると、図９（ｂ）に示す迷光が、信号光領域の外側にあるセンサＰ２１〜Ｐ２８の受光領域に掛かるものの、付加条件下であっても、所定強度以上の信号光をセンサＰ２１〜Ｐ２８にて受光することができる。
【０１２６】
図２０（ｃ）は、同図（ｂ）のセンサＰ２３〜Ｐ２６が、センサＰ１３〜Ｐ１６に置き換えられたセンサパターンを示す図である。こうすると、センサＰ１３〜Ｐ１６は、センサＰ２３〜Ｐ２６に比べ、信号光領域からはみ出した信号光を受光することができないものの、センサＰ１３〜Ｐ１６は信号光領域外にはみ出さないため、センサＰ１３〜Ｐ１６に掛かる迷光は、センサＰ２３〜Ｐ２６に比べ、少なくなる。このため、同図（ｃ）のセンサパターンが用いられると、ＰＰ２に係るセンサの検出信号の精度が、同図（ｂ）に比べ、高められ得る。これにより、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）が適正に抑制され得る。
【０１２７】
なお、同図（ａ）を参照して分かるとおり、上下のセンサＰ１３〜Ｐ１６からはみ出した信号光の分布は、左右のセンサＰ１１、Ｐ１２、Ｐ１７、Ｐ１８からはみ出した信号光の分布に比べ、小さい。このため、付加条件下で、上下のセンサとして、同図（ｃ）のセンサＰ１３〜Ｐ１６が用いられたとしても、十分な信号光がセンサＰ１３〜Ｐ１６によって受光され得る。
【０１２８】
なお、同図（ｃ）では、左右のセンサの方を信号光領域からはみ出させたが、上下のセンサの方を、同図（ｂ）のように信号光領域からはみ出させ、左右のセンサは、信号光領域内に収めるようにしても良い。こうすると、上下のセンサでより多くの信号光を受光することができるとともに、左右のセンサに対する迷光の影響を抑制することができる。
【０１２９】
また、上下のセンサは、同図（ａ）に示す領域２、３を網羅する領域でなくても良い。すなわち、上下のセンサの信号光領域の外側にある部分が、同図（ｂ）のセンサＰ２３〜Ｐ２６の信号光領域の外側にある部分よりも小さくなっていても良い。こうすると、上下のセンサに入射する迷光の影響が、同図（ｂ）よりも改善され、上下のセンサが受光する信号光の光量が、同図（ｃ）よりも改善される。
【０１３０】
以上、本発明の実施例および変更例について説明したが、本発明は、上記実施例および変更例に制限されるものではなく、また、本発明の実施形態も上記以外に種々の変更が可能である。
【０１３１】
なお、上記実施例および変更例は、ＤＣ成分を抑制するための構成の他に迷光を除去するための構成をも含むものであったが、迷光を除去する必要がない場合には、図１６の構成から角度調整素子１１２を削除し、光検出器１１３のセンサパターンを、図２１（ｂ）に示すパターンから図２１（ａ）に示すパターンへと変更することで、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。図２１（ａ）の示すセンサパターンでは、図１０（ｂ）に示す４つのセンサがそれぞれビーム周方向に２分割されている。
【０１３２】
この場合、光束領域ａ〜ｈを受光する各センサの出力Ａ〜Ｈについて、上記実施例と同様、ＰＰ１＝（Ａ＋Ｈ）−（Ｄ＋Ｅ）、ＰＰ２＝（Ｆ＋Ｃ）−（Ｇ＋Ｂ）の演算により信号ＰＰ１、ＰＰ２を求め、求めた信号ＰＰ１、ＰＰ２について上記式（１）の演算を行うことにより、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。なお、この場合、フォーカスエラー信号は、上記図１０（ｂ）を参照して説明した如く、ＦＥ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ＋Ｆ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ＋Ｈ）の演算により求められる。
【０１３３】
また、ここでは、ディスクからのトラック像が非点収差の発生方向（平面方向／曲面方向）に対して４５°傾くとして説明を行ったが、図２１（ｃ）に示すように、トラック像が非点収差の発生方向に平行となるよう光学系を調整することもできる。この場合、トラック像は、光検出器の受光面上の各光束領域に対して、同図（ｄ）に示すように位置づけられる。なお、同図（ｄ）では、トラック像が実線で示され、オフフォーカス時のビーム形状が点線によって示されている。
【０１３４】
よって、この場合には、光束領域ａ〜ｈを受光する各センサの出力Ａ〜Ｈについて、ＰＰ１＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｅ＋Ｆ）、ＰＰ２＝（Ｇ＋Ｄ）−（Ｈ＋Ｃ）の演算により信号ＰＰ１、ＰＰ２を求め、求めた信号ＰＰ１、ＰＰ２について上記式（１）の演算を行うことにより、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。この場合も、フォーカスエラー信号は、上記と同様、ＦＥ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｅ＋Ｆ）−（Ｃ＋Ｄ＋Ｇ＋Ｈ）の演算により求められる。
【０１３５】
なお、同図（ｄ）は、角度調整素子１１２が配されない場合のセンサパターンであるが、上記のように角度調整素子１１２を配して４つの光束領域を分散させ、各信号光を同図（ｂ）のセンサパターンにて受光する場合にも、同様に、ＰＰ１＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｅ＋Ｆ）、ＰＰ２＝（Ｇ＋Ｄ）−（Ｈ＋Ｃ）の演算により信号ＰＰ１、ＰＰ２を求め、求めた信号ＰＰ１、ＰＰ２について上記式（１）の演算を行うことにより、プッシュプル信号（トラッキングエラー信号）に含まれるオフセット（ＤＣ成分）を抑制することができる。
【０１３６】
この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【０１３７】
１０１ 半導体レーザ（レーザ光源）
１０８ 対物レンズ
１１１ 検出レンズ（非点収差素子）
１１２ 角度調整素子（光学素子）
１１３ 光検出器
Ｐ１１〜Ｐ１８ センサ
Ｐ２１〜Ｐ２８ センサ
２１、２２ 加算回路（第１の演算部）
２３ 減算回路（第１の演算部）
２４、２５ 加算回路（第２の演算部）
２６ 減算回路（第２の演算部）
２７ 乗算回路（第３の演算部）
２８ 減算回路（第３の演算部）
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光を記録媒体上に収束させる対物レンズと、
前記記録媒体によって反射された前記レーザ光に非点収差を導入し、これにより、第１の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第１の焦線位置と、前記第１の方向に垂直な第２の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第２の焦線位置とを前記レーザ光の進行方向に互いに離間させる非点収差素子と、
前記記録媒体によって反射された前記レーザ光の光束を、前記第１の方向と前記第２の方向にそれぞれ平行な第１および第２の直線によって４分割し、さらに分割後の各光束を、これら第１および第２の直線にそれぞれ４５°の角度をもつ第３および第４の直線によって２分割した８つの光束をそれぞれ個別に受光するセンサを有する光検出器と、を備え、
前記記録媒体からのトラック像が前記第１、第２、第３および第４の直線の何れかと平行となるように前記非点収差素子が配置されている、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ピックアップ装置において、
前記記録媒体によって反射された前記レーザ光の光束を前記第１および第２の直線によって４分割した４つの光束の進行方向を互いに異ならせ、これら４つの光束を互いに離散させる光学素子をさらに有する、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ピックアップ装置において、
前記光学素子は、離散された前記４つの光束が前記光検出器の受光面上において直方形の異なる４つの頂角の位置にそれぞれ導かれるよう、前記４つの光束の進行方向を変化させる、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項４】
請求項１ないし３の何れか一項に記載の光ピックアップ装置において、
前記光検出器からの出力を処理する演算回路をさらに備え、
前記演算回路は、
前記第１、第２、第３および第４の直線のうちトラック像に対して４５°の角度を有する２つの直線によって前記記録媒体から反射されたレーザ光の光束を４つに分割したとき、前記トラック像を横切る方向にある２つの光束の光量差をこれら２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第１の演算部と、残り２つの光束の前記トラック像を横切る方向の光量の偏りをこれら残り２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第２の演算部とを有する、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ピックアップ装置において、
前記演算回路は、前記第２の演算部による演算値に変数ｋを乗算した値を前記第１の演算部による演算値から減算する第３の演算部をさらに備え、
前記変数ｋは、前記レーザ光の光軸に対する前記対物レンズのオフセットに応じて、前記第１の演算部による演算値と前記第２の演算部による演算値が同じ方向に変位する場合には正の値を持ち、異なる方向に変位する場合には負の値を持つ、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項６】
請求項５に記載の光ピックアップ装置において、
前記変数ｋは、前記オフセットによって前記第１の演算部による演算値に生じるＤＣ成分を最も抑制できる値に設定されている、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項７】
請求項３に記載の光ピックアップ装置において、
前記４つの頂角のうち少なくとも一つの対角方向に向き合う一対の頂角に配置される前記センサが、前記直方形から、前記対角方向にはみ出すような形状となっている、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項８】
請求項１ないし３の何れか一項に記載の光ピックアップ装置と、
前記光検出器からの出力を処理する演算回路をさらに備え、
前記演算回路は、
前記第１、第２、第３および第４の直線のうちトラック像に対して４５°の角度を有する２つの直線によって前記記録媒体から反射されたレーザ光の光束を４つに分割したとき、前記トラック像を横切る方向にある２つの光束の光量差をこれら２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第１の演算部と、残り２つの光束の前記トラック像を横切る方向の光量の偏りをこれら残り２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第２の演算部と、前記第２の演算部による演算値に変数ｋを乗算した値を前記第１の演算部による演算値から減算する第３の演算部をさらに備え、
前記変数ｋは、前記レーザ光の光軸に対する前記対物レンズのオフセットに応じて、前記第１の演算部による演算値と前記第２の演算部による演算値が同じ方向に変位する場合には正の値を持ち、異なる方向に変位する場合には負の値を持つ、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
請求項８に記載の光ディスク装置において、
前記変数ｋは、前記オフセットによって前記第１の演算部による演算値に生じるＤＣ成分を最も抑制できる値に設定されている、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１】
レーザ光源と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光を記録媒体上に収束させる対物レンズと、
前記記録媒体によって反射された前記レーザ光に非点収差を導入し、これにより、第１の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第１の焦線位置と、前記第１の方向に垂直な第２の方向に前記レーザ光が収束することによって生じる第２の焦線位置とを前記レーザ光の進行方向に互いに離間させる非点収差素子と、
前記記録媒体によって反射された前記レーザ光の光束を、前記第１の方向と前記第２の方向にそれぞれ平行な第１および第２の直線によって４分割し、さらに分割後の各光束を、これら第１および第２の直線にそれぞれ４５°の角度をもつ第３および第４の直線によって２分割した８つの光束をそれぞれ個別に受光するセンサを有する光検出器と、を備え、
前記記録媒体からのトラック像が前記第１、第２、第３および第４の直線の何れかと平行となるように前記非点収差素子が配置されている、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ピックアップ装置において、
前記記録媒体によって反射された前記レーザ光の光束を前記第１および第２の直線によって４分割した４つの光束の進行方向を互いに異ならせ、これら４つの光束を互いに離散させる光学素子をさらに有する、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ピックアップ装置において、
前記光学素子は、離散された前記４つの光束が前記光検出器の受光面上において直方形の異なる４つの頂角の位置にそれぞれ導かれるよう、前記４つの光束の進行方向を変化させる、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項４】
請求項１ないし３の何れか一項に記載の光ピックアップ装置において、
前記光検出器からの出力を処理する演算回路をさらに備え、
前記演算回路は、
前記第１、第２、第３および第４の直線のうちトラック像に対して４５°の角度を有する２つの直線によって前記記録媒体から反射されたレーザ光の光束を４つに分割したとき、前記トラック像を横切る方向にある２つの光束の光量差をこれら２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第１の演算部と、残り２つの光束の前記トラック像を横切る方向の光量の偏りをこれら残り２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第２の演算部とを有する、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ピックアップ装置において、
前記演算回路は、前記第２の演算部による演算値に変数ｋを乗算した値を前記第１の演算部による演算値から減算する第３の演算部をさらに備え、
前記変数ｋは、前記レーザ光の光軸に対する前記対物レンズのオフセットに応じて、前記第１の演算部による演算値と前記第２の演算部による演算値が同じ方向に変位する場合には正の値を持ち、異なる方向に変位する場合には負の値を持つ、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項６】
請求項５に記載の光ピックアップ装置において、
前記変数ｋは、前記オフセットによって前記第１の演算部による演算値に生じるＤＣ成分を最も抑制できる値に設定されている、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項７】
請求項３に記載の光ピックアップ装置において、
前記４つの頂角のうち少なくとも一つの対角方向に向き合う一対の頂角に配置される前記センサが、前記直方形から、前記対角方向にはみ出すような形状となっている、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項８】
請求項１ないし３の何れか一項に記載の光ピックアップ装置と、
前記光検出器からの出力を処理する演算回路をさらに備え、
前記演算回路は、
前記第１、第２、第３および第４の直線のうちトラック像に対して４５°の角度を有する２つの直線によって前記記録媒体から反射されたレーザ光の光束を４つに分割したとき、前記トラック像を横切る方向にある２つの光束の光量差をこれら２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第１の演算部と、残り２つの光束の前記トラック像を横切る方向の光量の偏りをこれら残り２つの光束に対応する前記センサからの出力信号に基づいて算出する第２の演算部と、前記第２の演算部による演算値に変数ｋを乗算した値を前記第１の演算部による演算値から減算する第３の演算部をさらに備え、
前記変数ｋは、前記レーザ光の光軸に対する前記対物レンズのオフセットに応じて、前記第１の演算部による演算値と前記第２の演算部による演算値が同じ方向に変位する場合には正の値を持ち、異なる方向に変位する場合には負の値を持つ、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
請求項８に記載の光ディスク装置において、
前記変数ｋは、前記オフセットによって前記第１の演算部による演算値に生じるＤＣ成分を最も抑制できる値に設定されている、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【公開番号】特開２０１０−１０２８１３（Ｐ２０１０−１０２８１３Ａ）
【公開日】平成２２年５月６日（２０１０．５．６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−１２９６６８（Ｐ２００９−１２９６６８）
【出願日】平成２１年５月２８日（２００９．５．２８）
【出願人】（０００００１８８９）三洋電機株式会社 (18,308)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年５月６日（２０１０．５．６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年５月２８日（２００９．５．２８）
【出願人】（０００００１８８９）三洋電機株式会社 (18,308)
【Ｆターム（参考）】
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