実時間工程診断ができる分光分析器
【課題】
本発明は実時間工程診断ができる分光分析器に関するものであって、より詳細には、反応器に収容される反応副産物または反応物にビームを入射しかつ出射される出射ビームを測定することにより、反応副産物または反応物の定量及び定性分析ができるようにする実時間工程診断ができる分光分析器を提供する。
【解決手段】
本発明はビームが入射される入射窓と、前記入射窓に入射されたビームが入射されて反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容する収容部と、前記収容部内から入射されたビームが反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されて出射される出射窓と、前記収容部内部に装着されて前記入射窓に入射されたビームが前記収容部内部を少なくとも1回以上往復するように反射して前記出射窓に出射させる反射ミラーを含み、内部が真空状態となる反応器;前記反応器から出射されたビームを検出する検出器;検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器;とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器を提供する。
本発明は実時間工程診断ができる分光分析器に関するものであって、より詳細には、反応器に収容される反応副産物または反応物にビームを入射しかつ出射される出射ビームを測定することにより、反応副産物または反応物の定量及び定性分析ができるようにする実時間工程診断ができる分光分析器を提供する。
【解決手段】
本発明はビームが入射される入射窓と、前記入射窓に入射されたビームが入射されて反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容する収容部と、前記収容部内から入射されたビームが反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されて出射される出射窓と、前記収容部内部に装着されて前記入射窓に入射されたビームが前記収容部内部を少なくとも1回以上往復するように反射して前記出射窓に出射させる反射ミラーを含み、内部が真空状態となる反応器;前記反応器から出射されたビームを検出する検出器;検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器;とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器を提供する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は実時間工程診断ができる分光分析器に関するものであって、より詳しくは、反応器に収容される反応副産物または反応物にビームを入射し、かつ出射される出射ビームを測定することによって反応副産物または反応物の定量及び定性分析ができるようにする実時間工程診断ができる分光分析器に関するものである。
【背景技術】
【0002】
あらゆる原子や分子は空間で絶え間なく運動しており、これに該当するエネルギーを含んでいる。原子や分子の運動に関わるこのエネルギーは量子化されているため、常に特定なエネルギー状態のみで存在する。いかなる特定なエネルギー状態で運動している原子や分子は外部からエネルギーを吸収してより高いエネルギー状態となる。エネルギーを波動で示すとE=hvになる。ここで、hはPlank常数であり、vは周波数を意味する。従って、より高いエネルギー状態になるために必要なエネルギー△E=h(V2−V1)=h・△vとなる。hは常数であるから原子や分子が浮き立つために必要なエネルギーは周波数のみの関数になり、原子や分子がいかなるエネルギーを吸収した時に現れるスペクトルは周波数の関数になる。原子や分子が有するエネルギー状態は運動の種類に応じて異なるようになり、その結果、吸収できるエネルギーの大きさも異なる。その中で、赤外線領域のエネルギーに該する分子の運動には振動と回転、併進運動があり、特に赤外線分光法と関係あるものは振動と回転運動による転移である。一般に振動に必要なエネルギーは回転に必要なエネルギーより大きな値を有するが、赤外線領域の中でも最も普遍的に使用される中赤外線領域に該する運動は主に振動運動である。従って、赤外線分光法は赤外線領域の光を照射することができる光源を使用して分子の振動−回転運動に対する情報を得て分子の構造を確認し、定量分析ができる機器分析法とも言える。
【0003】
従来の分光分析器は常圧状態において収容された反応副産物または反応物にビームを走査させてビームを検出することによって反応副産物または反応物の成分を定量及び定性分析するようになる。
【0004】
このように従来の分光分析器は常圧状態において分光分析を行うため反応副産物または反応物の正確な分光分析が難しく、ビームが入射される入射窓とビームが出射される出射窓及び反射ミラーなどに反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されてビームがろくに伝達できなくなるという問題点があった。
【0005】
このような反応副産物または反応物が入射窓と出射窓及び反射ミラーなどに吸着及び蒸着される場合、これを分解して洗滌する保持保守を行うが、このような保持保守の周期が短くて実時間診断が難しくなるという問題点があった。
【0006】
また、従来の分光分析器は分析のために反応器に流入される反応副産物または反応物に適合に入射窓及び出射窓の温度を短い時間内に調節し難いという短所があった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
本発明は前記の問題点を解決するために案出されたものであって、本発明の目的は真空状態で分光分析を行うことにより実時間工程診断ができる分光分析器を提供することにある。また、工程休止期に反応器から出てくる気体をモニタリングすることによって装備点検周期(PM周期)を知らせることもできる。
【0008】
また、本発明のもう1つの目的は入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどに吸着及び蒸着される反応副産物または反応物による汚染を防止させて正確な分光分析ができるようにする実時間工程診断ができる分光分析器を提供することにある。
【0009】
また、本発明のもう1つの目的は入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどを排気口のラインに連結される反応器に設けることではなく、化学反応が生じる化学反応チャンバーに設けて化学反応チャンバーの内部の反応副産物または反応物の成分を直接的に定量及び定性分析することにある。
【0010】
また、本発明のもう1つの目的は入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどを排気口のラインに連結される反応器に設けるのみならず、化学反応が生じる化学反応チャンバーにも設けることにより化学反応チャンバーの内部の反応副産物または反応物の成分を定量及び定性分析することにある。この場合、入射窓に入射される赤外線を発光させる赤外線発光部を前記反応器及び化学反応チャンバー当たり1つずつ別個に設けることができる。一方、赤外線発光部を1つのみ設けることもできるが、赤外線発光部は赤外線を選択的に前記反応器または化学反応チャンバーに入射させるように所定角度範囲で回転可能に設けられる。従って、赤外線発光部を2つ設けて反応器と化学反応チャンバーを同時に全てモニタリングすることができ、赤外線発光部を1つ設けて反応器と化学反応チャンバーを選択的にモニタリングすることができる。
【0011】
本発明のもう1つの目的は吸着及び蒸着によって汚染度を減らすことによって保持保守周期を延長することができるようにする実時間工程診断ができる分光分析器を提供することにある。
【0012】
本発明のもう1つの目的は分析室に流入される反応副産物または反応物の温度に合わせて分析室に備えられた入射窓及び出射窓の温度を調節するに容易な実時間工程診断ができる分光分析器を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0013】
本発明はビームが入射される入射窓11と、前記入射窓11に入射されたビームが入射されて反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容する収容部12と、前記収容部12内から入射されたビームが反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されて出射される出射窓13と、前記収容部12内部に装着されて前記入射窓11に入射されたビームが前記収容部12内部を少なくとも1回以上往復するように反射して前記出射窓13に出射させる反射ミラー14を含み、内部が真空状態となる反応器10;前記反応器10から出射されたビームを検出する検出器20;検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器30;とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器に関するものである。
【0014】
本発明において、前記反射ミラー14は前記入射窓11を介して入射されたビームが前記収容部12内でジグザグ流路を形成しながら往復するように設けられ、前記収容部12には副産反応物または副産物が前記入射されたビームのジグザグ流路に沿って流動されるようにジグザグ流路が形成されることができ、前記反応器10は前記反応器10内の圧力を調節するための圧力調節器15がさらに備えられ、前記入射窓11及び出射窓13または反射ミラー14に反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されることを防止するように窒素気体を注入するエアカーテン16がさらに備えられ、前記反応器10は温度調節ができ、前記反応器10は前記入射窓11、出射窓13及び反射ミラー14に吸着及び蒸着された試料を洗滌するために気体または液体を注入するための注入口17がさらに備えられる。
【0015】
本発明はビームが入射される入射窓111と、前記入射窓111に入射されたビームが入射されて反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容する収容部112と、反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されたビームが透過されるように、固定部113によって前記収容部112内に設けられるクリスタル114と、前記クリスタル114の周辺に離隔されて備えられて遠赤外線領域の連続輻射線を提供するプラズマ電極115と、前記クリスタル114から出射されたビームを出射する出射窓116を含み、内部が真空状態となる反応器110;前記反応器110から出射されたビームの屈折及び散乱を検出する検出器120;検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器130;とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器に関するものであって、本発明は前記収容部112内部に装着され、前記入射窓111から入射されたビームが前記クリスタル114内部を少なくとも1回以上往復して透過するように反射して、前記出射窓116に出射させる反射ミラーMを含むことができる。
【0016】
本発明において、前記反応器110は前記反応器内の圧力を調節するための圧力調節器117がさらに備えられ、前記クリスタル114とプラズマ電極115に反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されることを防止するように非活性気体を注入する掃除用ポート118がさらに備えられ、前記固定部113は前記クリスタル114の温度を調節するように温度調節ができ、前記反応器110は前記クリスタル114とプラズマ電極115に吸着及び蒸着された試料を洗滌するために前記クリスタル114とプラズマ電極115との間に気体または液体を注入するための注入口119がさらに備えられ、前記分析器は休止期装備内部から出てくる気体を分析して装備掃除周期または保持管理周期(PM周期)分析に用いられる。
【0017】
一方、本発明は前記のいずれか1つに記載の分光分析器において、ガスが注入される場合、注入されたガスが前記入射窓1131の外側面と接触できるように前記入射窓1131が設けられた部位を内包し、前記反応器1130の外側面に形成される第1ガス収容部1110と、ガスが注入される場合、注入されたガスが前記出射窓1122の外側面と接触できるように前記出射窓1122が設けられた部位を内包し、前記反応器1130の外側面に形成される第2ガス収容部1120とを含むことを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器に関するものである。
【0018】
本発明において、前記第1ガス収容部1110と前記第2ガス収容部1120は相互練通されることができ、前記第1ガス収容部1110の外部から発光されたビームが前記入射窓1131を介して入射できるように前記第1ガス収容部1110に備えられる収容部入射窓1111;前記出射窓1132を介して出射された光線が前記第2ガス収容部1120の外部へ出射できるように前記第2ガス収容部1120に備えられる収容部出射窓1122;とを含み、前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120はその下側端部を介して相互練通するように連結され、第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120との間に凹込部が形成するように連結され、前記反応器1130は前記凹込部に脱着できるように設けられることができる。
【0019】
本発明は前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120とに連結されるガス排出弁1162;前記ガス排出弁1162を介して前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120とに連結されるポンプ1160;とを含み、前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内にガスを供給するガス供給部1150;前記ガス供給部1150に収容されるガス温度を調節する温度調節部1154;とが備えられ、前記第1ガス収容部1110または前記第2ガス収容部1120のうちいずれか1つまたは全ての体積が調節でき、前記第1ガス収容部1110または前記第2ガス収容部1120のうち少なくともいずれか1つは長さ調節ができる長さ調節部が形成される。
【発明を実施するための最良の形態】
【0020】
以下、図面を参照して本発明による実時間肯定診断ができる分光分析器をより詳細に説明する。
【0021】
図1は本発明による実時間工程診断ができる赤外線分光分析器の構造を示す図面である。
【0022】
図示されたように、本発明の実時間工程診断ができる赤外線分光分析器は入射窓11と、収容部12と、出射窓13及び反射ミラー14を備え、内部が真空状態となる反応器10;前記反応器10から出射されたビームの屈折及び散乱を検出する検出器20;検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器30;とを含めてなる。
【0023】
前記反応器10は入射窓11と、収容部12と、出射窓13及び反射ミラー14が備え、内部が真空状態となる。前記反応器10は反応副産物または反応物が投入されて投入された反応副産物または反応物にビームが走査される。なお、前記反応器10は前記反応器10内の圧力を調節するための圧力調節器15がさらに備えられて最適の圧力範囲で測定が可能になる。
【0024】
前記入射窓11は前記反応器10に装着され、ビームが入射される。
【0025】
前記収容部12には反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物が一時収容され、前記入射窓11から入射されたビームが入射される。この際、入射されたビームは反応副産物または反応物と屈折及び散乱を起す。このように屈折及び散乱されたビームの強度を測定することによって試料の定性及び定量を分析することができる。前記収容部12は排気口などから排気される排気ガスなどを一時収容して分光分析した後に排出するようになるため実時間工程診断が可能になる。なお、前記収容部12は排気口に直接挿入して図1のように実時間工程診断ができるのみならず、排気口に小さいポートを形成してここから収集された反応副産物または反応物を収集してサンプリングすることによって実時間で工程診断を可能にする。
【0026】
図1を参照すれば、反射ミラー14は入射窓11を介して入射されたビームが収容部12内でジグザグ流路を形成しながら往復するように設けられる。即ち、反射ミラー14は入射窓11から入射されたビームを反射して入射されたビームが収容部12内部を少なくとも1回以上往復した後、出射窓13を介して出射されるようにする役割を果たす。このために、2つの鏡が入射窓11の付近と出射窓13の付近にそれぞれ設けられるが、2つの鏡は凹鏡または平面鏡などである。平面鏡である場合、入射されたビームがジグザグ流路を形成するように所定角度が傾けて設けられる。収容部12に入射されたビームがジグザグ経路を形成することによってビームの検出距離が長くなって測定感度を増加させる。
【0027】
一方、図2を参照すれば、収容部12には反応副産物または反応物の流動を案内するジグザグ流路が形成される。この際、収容部12に形成されるジグザグ流路は収容部12に入射されたビームが形成するジグザグ流路を含むように形成される。従って、ビームの経路が延びられる外にビームの経路と反応副産物または反応物の流路が同一な方向をなす。
【0028】
前記出射窓13は前記収容部12内から入射されたビームが反応副産物または反応物を通過した後、出射するようになる。
【0029】
前記検出器20は前記反応器10から出射されたビームの屈折及び散乱を検出する役割を果たす。前記検出器20は公知のものとしてMCTのようなIR detectorを使用する。
【0030】
前記分析器30は前記検出器20によって検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する役割を果たす。
【0031】
図3は本発明による他の形態の実時間工程診断ができる分光分析器の構造を示す図面である。
【0032】
図示されたように、本発明の他の形態の実時間工程診断ができる分光分析器は入射窓111と、反応副産物または反応物を一時収容する収容部112と、反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されたビームが透過されるように固定部113によって収容部112内に設けられるクリスタル114と、クリスタル114の周辺に離隔されて備えられるプラズマ電極115と、出射窓116を含む反応器110;前記反応器110から出射されたビームの屈折及び散乱を検出する検出器120;検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器130を含めてなる。
【0033】
前記反応器110は入射窓111と、収容部112と、出射窓116と、クリスタル114及びプラズマ電極115が備えられ、内部が真空状態となる。前記反応器110は入射されたビームが収容された反応副産物または反応物と反応して屈折及び散乱を起した後反応器110の外部に出射される。また、前記反応器110は前述した本発明の実時間工程診断ができる分光分析器と同様に前記反応器110内の圧力を調節するための圧力調節器117がさらに備えられて最適の圧力範囲で測定ができるようになる。
【0034】
前記入射窓111と出射窓116は前述した本発明の実時間工程診断ができる分光分析器と同一である。
【0035】
前記収容部112は前記入射窓111から入射されたビームが入射され、反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容するようになる。
【0036】
前記クリスタル114は前記収容部112内で固定部113によって固定されるが、収容部112に入射されたビームが反応副産物または反応物による屈折及び散乱されて収容部112の外部に出射される前にクリスタル114内部を透過するように設けられる。一方、図3を参照すれば、収容部112内部には入射窓111から入射されたビームがクリスタル114内部を少なくとも1回以上往復して透過された後、出射窓116を介して出射するように、前記入射されたビームを反射させる反射ミラーMが設けられる。同時に、前記固定部113は前記クリスタル114の温度を調節するように温度調節ができるものが望ましい。
【0037】
前記プラズマ電極115は前記クリスタル114の周辺に離隔されて備えられ、前記クリスタル114の掃除や前記クリスタル114に吸着及び蒸着された反応副産物または反応物や異物質の分解を促進させる役割を果たす。
【0038】
前記クリスタル114とプラズマ電極115に反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されることを防止するように前述した本発明の実時間工程診断ができる分光分析器と同一な窒素気体を注入する掃除用ポート118がさらに備えられるものが望ましい。
【0039】
また、前記反応器110は前記クリスタル114とプラズマ電極115に吸着及び蒸着された試料を洗滌するために前記クリスタル114とプラズマ電極115との間に気体または液体を注入するための注入口119がさらに備えられたものが望ましい。
【0040】
前記検出器120及び分析器130は前述した本発明の実時間工程診断ができる分光分析器と同一である。
【0041】
未説明符号40、140はフォーカスレンズ(focus lens)であり、50、150はフォーカスレンズ及びフラットミラー(focus lens & flat mirror)である。
【0042】
図面に図示されていないが、本発明のもう1つの一実施例の場合、入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどが排気口のラインに連結される反応器に設けられるものではなく、化学反応が生じる化学反応チャンバーに直接設けられる。これによって、化学反応チャンバーの内部の反応副産物または反応物の成分を直接的に定量及び定性分析するようになる。特に、入射窓を介して入射される赤外線ビームが化学反応チャンバーの内壁に少なくとも1回以上衝突した後、出射窓を介して出射するように反射ミラーを設けることによって化学反応チャンバーの内壁状態をモニタリングすることができる。
【0043】
図面に図示されていないが、本発明のもう1つの一実施例の場合、入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどが排気口のラインに連結される反応器に設けるのみならず、化学反応が生じる化学反応チャンバーにも設けられる。ことによって化学反応が生じる反応チャンバーの内部の反応副産物または反応物の成分を直接定量及び定性分析することができる。この場合、入射窓に入射される赤外線を発光させる赤外線発光部を前記反応器及び化学反応チャンバー当たり1つずつ別個に設けることができる。一方、赤外線発光部を1つのみ設けることもできるが、赤外線発光部は赤外線を前記反応器または化学反応チャンバーに選択的に入射させるように所定角度範囲で回転可能に設けられる。従って、赤外線発光部を2つ設けて反応器と化学反応チャンバーが同時に全てモニタリングでき、赤外線発光部を1つ設けて反応器と化学反応チャンバーを選択的にモニタリングすることができる。
【0044】
図4は本発明による他の形態の実時間工程診断ができる分光分析器の概略図を、図5は図4の主要部の概略的左側面図を、図6は図4の主要部の概略的右側面図を示す。
【0045】
図4を参照すれば、本発明は第1ガス収容部1110、第2ガス収容部1120、反応器1130、赤外線が発光される発光部1200、赤外線が受光される受光部1300及び演算部1400を有する。
【0046】
反応器1130は図1乃至図3に参照して、前述した分光分析器の反応器10、110のいずれか1つである。従って、図2を参照すれば、分析室1130の側壁には入射窓1131及び出射窓1132が設けられる。入射窓1131及び出射窓1132は図1乃至図3に図示された入射窓11、111及び出射窓13、113である。
【0047】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110は入射窓1131が設けられた部位を内包し反応器1130の外側面に形成され、第2ガス収容部1120は出射窓1132が設けられた部位を内包し反応器1130の外側面に形成される。即ち、第1ガス収容部1110は第1ガス収容部1110にガスが注入される場合、注入されたガスが入射窓1131の外側面と接触できるように反応器1130の外側面に形成され、第2ガス収容部1120は第2ガス収容部1120にガスが注入される場合、注入されたガスが出射窓1132の外側面と接触できるように反応器1130の外側面に形成される。一方、第1ガス収容部1110と第2ガス収容部1120は相互練通される。
【0048】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120はその下側端部を介して相互練通されるように連結されるが、第1ガス収容部1110と第2ガス収容部1120との間に凹込部が形成するように連結される。反応器1130は前記凹込部に安着に設けられる。図面に図示されていないが、反応器1130は前記凹込部に脱着できるように設けられる。例えば、スライドされることによって前記凹込部に脱着できるように設けられる。
【0049】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110の側壁には収容部入射窓1111が設けられ、第2ガス収容部1120の側壁には収容部出射窓1122が設けられる。収容部入射窓1111は第1ガス収容部1110の外部に設けられる発光部1200から発光された赤外線が第1ガス収容部1110に入射させるための窓であり、収容部出射窓1122は出射窓1132を介して第2ガス収容部に入射された赤外線が第2ガス収容部1120の外部に出射させるための窓である。発光部1200は反応器1130に入射される赤外線を発生する装置であり、受光部1300は反応器1130を通過した赤外線が収集される装置である。
【0050】
図5及び図6を参照すれば、収容部入射窓1111は入射窓1131より大きく形成され、収容部出射窓1122は出射窓1132より大きく形成される。発光部1200、収容部入射窓1111、入射窓1131、出射窓1132、収容部出射窓1122及び受光部1300の相対位置は赤外線の経路に沿って相対的に決定される。
【0051】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110には第1ガス収容部1110の長さを調節するための長さ調節部1113が形成され、第2ガス収容部1120には第2ガス収容部1120の長さを調節するための長さ調節部1123が形成される。長さ調節部1113、1123は第1ガス収容部4110及び第2ガス収容部4120の体積を調節するためのものである。長さ調節部1113、1123は皺部またはスライド部(図示せず)を形成したりするなど他の方法で第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120の体積を調節可能にするためのものである。
【0052】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110には第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内にガスを供給するためのガス供給部1150が連結される。なお、ガス供給部1150には第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内に供給されるガス量を調節するためのガス流入弁1151が備えられる。また、ガス供給部1150には第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内に供給されるガスの温度を調節する温度調節部1154が備えられる。温度調節部1154は温度調節部1154に収容されたガスを加熱するヒーターであり得る。
【0053】
図4を参照すると、第2ガス収容部1120には第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内に供給されたガスを排出するガス排出弁1162が連結される。ガス排出弁1162にはポンプ1160が連結される。ポンプ1160はガス供給部1150から第1ガス収容部1110と第2ガス収容部1120内に供給されたガスが入射窓1131及び出射窓1132の温度を所望の温度に変化させた後、前記ガスを外部に排出して第1ガス収容部1110と第2ガス収容部1120を真空状態で形成させるためのものである。
【0054】
一方、図4を参照すれば、受光部1300には演算部1400が連結される。演算部1400は受光部1300から検出されるデーターを演算処理して反応副産物または反応物に含まれた化学物質の成分を分析する装置である。
【0055】
以下、前記した本発明の作用について説明する。
【0056】
図4を参照すれば、反応器1130に備えられる入射窓1131及び出射窓1122の温度は分析室1130に流入される反応副産物または反応物の温度と同一なものが望ましい。従って、入射窓1131及び出射窓1132の温度を変化させる場合、温度調節部1154を通じてガス供給部1150のガス温度を、流入される反応副産物または反応物の温度と同一にした後、ガス流入弁1151を開放して第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120に流入させると入射窓1131及び出射窓1132の温度は反応器1130に流入される反応副産物または反応物の温度と同一になる。
【0057】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120にガスが流入されて所定時間が経過して入射窓1131及び出射窓1132の温度が十分変化したと判断されるとガス排出弁1162を開放し、ポンプ1160を稼動させることによって第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内のガスを外部に放出して第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内部を真空状態で形成するようになる。これは赤外線を用いた分光分析が反応器1130内の反応副産物または反応物に対する情報分析を目的にするものであって、赤外線が前記反応副産物または反応物でないガス収容部1110、1120内のガスに対する情報を含まないようにするためのものである。
【0058】
図4を参照すると、第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内部が真空状態となると、反応副産物または反応物が反応器1130内部に流入されるようにする。
【0059】
図4を参照すれば、反応器1130内に反応副産物または反応物が流入されると、発光部1200を通じて赤外線を発光させて赤外線が収容部入射窓1111及び入射窓1131を通じて分析室1130内に入射されて反応副産物または反応物と衝突した後、出射窓1132及び収容部出射窓1122を介して受光部1300に捕集される。
【0060】
図4を参照すれば、受光部1300に連結された演算部1400が受光部1300から検出されるデーターを演算処理して反応副産物または反応物の成分を明らかにするものである。
【0061】
図4を参照すると、本発明は反応器1130が第1ガス収容部1110と第2ガス収容部1120との間に脱着できるように設けられているため、反応器1130が汚染された場合は反応器1130のみを容易に取り替えることができる長所がある。
【0062】
前記した本発明の実施例の場合、発光部1200と受光部1300は第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120の外部に備えられたものにしたが、他の実施例の場合は発光部1200と受光部1300は第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120の内部に備えることができる。この場合、収容部入射窓1131及び収容部出射窓1122は備えられない。
【0063】
前記した本発明の実施例の場合、赤外線を用いるものとしたが、赤外線の他にraman、UV、Laserなどを用いることもできる。
【0064】
図7は本発明によるもう1つの形態の実時間工程診断ができる分光分析器の主要部の概略図である。
【0065】
図7を参照すれば、本発明は図6に図示された分光分析器と同様に分析反応器1130a、入射窓1131a、出射窓1132a、第1ガス収容部1110a、収容部入射窓1111a、第2ガス収容部1120a、収容部出射窓1222aを含む。
【0066】
図7を参照すれば、第1ガス収容部1110a及び第2ガス収容部1120aは図6に図示された分光分析器とは違って相互練通されない。従って、図面に図示されないが、1つのガス供給部から流出される同一な温度のガスを第1ガス収容部1110a及び第2ガス収容部1120aにそれぞれ供給するようにするものが望ましい。一方、第1ガス収容部1110a及び第2ガス収容部1120aにはガスを排出するための別途のポンプ(図示せず)がそれぞれ連結されるものが望ましい。
【産業上利用可能性】
【0067】
本発明は赤外線を用いて真空状態で分光分析をするため、従来の常圧状態で分光分析をすることに比べてビームの屈折及び散乱によるビームの強度を正確に測定することによって反応副産物または反応物の成分分析が容易な長所がある。
【0068】
また、マルチパスを用いて測定感度を向上させることができ、入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどに吸着及び蒸着される反応副産物または反応物による汚染を防止することができ、このような吸着及び蒸着によって汚染度を減らすことによって保持保守周期を延長することができて実時間工程診断ができる長所がある。
【0069】
なお、本発明は第1ガス収容部と第2ガス収容部にガスを供給することによって、反応器に流入される反応副産物または反応物の温度に合わせて入射窓及び出射窓の温度を調節するに容易である長所がある。
【0070】
本発明は反応器が第1ガス収容部と第2ガス収容部との間に脱着できるように設けられているため、反応器が汚染された場合は反応器のみを容易に取り替えることができる長所がある。
【0071】
本発明は第1ガス収容部と第2ガス収容部内のガスを排出するポンプを備えることによって、出射窓を介して出射された赤外線が反応副産物または反応物に対する情報のみを含むようにすることができる長所がある。
【図面の簡単な説明】
【0072】
【図1】本発明による実時間工程診断ができる赤外線分光分析器の概略図である。
【図2】本発明のもう1つの形態の反応器の概略図である。
【図3】本発明によるもう1つの形態の実時間工程診断ができる赤外線分光分析器の概略図である。
【図4】本発明によるもう1つの形態の実時間工程診断ができる分光分析器の概略図である。
【図5】図4の主要部の概略的左側面図である。
【図6】図4の主要部の概略的右側面図である。
【図7】本発明によるもう1つの形態の実時間工程診断ができる分光分析器の主要部の概略図である。
【符号の説明】
【0073】
*図面の主要符号の詳細な説明*
10、110:反応器 11、111:入射窓
12、112:収容部 13、116:出射窓
14:反射ミラー 15、117:圧力調節器
16:エアカーテン 17、119:注入口
20、120:検出器 30、130:分析器
113:固定部 114:クリスタル
115:プラズマ電極 118:掃除用ポート
1110:第1ガス収容部 1111:収容部入射窓
1113:長さ調節部
1120:第2ガス収容部 1122:収容部出射窓
1123:長さ調節部
1130:反応器 1131:入射窓
1132:出射窓
1150:ガス供給部 1151:ガス流入弁
1154:温度調節部
1160:ポンプ 1162:ガス排出弁
1200:発光部 1300:受光部
1400:演算部
1110a:第1ガス収容部 1111a:収容部入射窓
1120a:第2ガス収容部 1222a:収容部出射窓
1130a:反応器 1131a:入射窓
1132a:出射窓
【技術分野】
【0001】
本発明は実時間工程診断ができる分光分析器に関するものであって、より詳しくは、反応器に収容される反応副産物または反応物にビームを入射し、かつ出射される出射ビームを測定することによって反応副産物または反応物の定量及び定性分析ができるようにする実時間工程診断ができる分光分析器に関するものである。
【背景技術】
【0002】
あらゆる原子や分子は空間で絶え間なく運動しており、これに該当するエネルギーを含んでいる。原子や分子の運動に関わるこのエネルギーは量子化されているため、常に特定なエネルギー状態のみで存在する。いかなる特定なエネルギー状態で運動している原子や分子は外部からエネルギーを吸収してより高いエネルギー状態となる。エネルギーを波動で示すとE=hvになる。ここで、hはPlank常数であり、vは周波数を意味する。従って、より高いエネルギー状態になるために必要なエネルギー△E=h(V2−V1)=h・△vとなる。hは常数であるから原子や分子が浮き立つために必要なエネルギーは周波数のみの関数になり、原子や分子がいかなるエネルギーを吸収した時に現れるスペクトルは周波数の関数になる。原子や分子が有するエネルギー状態は運動の種類に応じて異なるようになり、その結果、吸収できるエネルギーの大きさも異なる。その中で、赤外線領域のエネルギーに該する分子の運動には振動と回転、併進運動があり、特に赤外線分光法と関係あるものは振動と回転運動による転移である。一般に振動に必要なエネルギーは回転に必要なエネルギーより大きな値を有するが、赤外線領域の中でも最も普遍的に使用される中赤外線領域に該する運動は主に振動運動である。従って、赤外線分光法は赤外線領域の光を照射することができる光源を使用して分子の振動−回転運動に対する情報を得て分子の構造を確認し、定量分析ができる機器分析法とも言える。
【0003】
従来の分光分析器は常圧状態において収容された反応副産物または反応物にビームを走査させてビームを検出することによって反応副産物または反応物の成分を定量及び定性分析するようになる。
【0004】
このように従来の分光分析器は常圧状態において分光分析を行うため反応副産物または反応物の正確な分光分析が難しく、ビームが入射される入射窓とビームが出射される出射窓及び反射ミラーなどに反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されてビームがろくに伝達できなくなるという問題点があった。
【0005】
このような反応副産物または反応物が入射窓と出射窓及び反射ミラーなどに吸着及び蒸着される場合、これを分解して洗滌する保持保守を行うが、このような保持保守の周期が短くて実時間診断が難しくなるという問題点があった。
【0006】
また、従来の分光分析器は分析のために反応器に流入される反応副産物または反応物に適合に入射窓及び出射窓の温度を短い時間内に調節し難いという短所があった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
本発明は前記の問題点を解決するために案出されたものであって、本発明の目的は真空状態で分光分析を行うことにより実時間工程診断ができる分光分析器を提供することにある。また、工程休止期に反応器から出てくる気体をモニタリングすることによって装備点検周期(PM周期)を知らせることもできる。
【0008】
また、本発明のもう1つの目的は入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどに吸着及び蒸着される反応副産物または反応物による汚染を防止させて正確な分光分析ができるようにする実時間工程診断ができる分光分析器を提供することにある。
【0009】
また、本発明のもう1つの目的は入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどを排気口のラインに連結される反応器に設けることではなく、化学反応が生じる化学反応チャンバーに設けて化学反応チャンバーの内部の反応副産物または反応物の成分を直接的に定量及び定性分析することにある。
【0010】
また、本発明のもう1つの目的は入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどを排気口のラインに連結される反応器に設けるのみならず、化学反応が生じる化学反応チャンバーにも設けることにより化学反応チャンバーの内部の反応副産物または反応物の成分を定量及び定性分析することにある。この場合、入射窓に入射される赤外線を発光させる赤外線発光部を前記反応器及び化学反応チャンバー当たり1つずつ別個に設けることができる。一方、赤外線発光部を1つのみ設けることもできるが、赤外線発光部は赤外線を選択的に前記反応器または化学反応チャンバーに入射させるように所定角度範囲で回転可能に設けられる。従って、赤外線発光部を2つ設けて反応器と化学反応チャンバーを同時に全てモニタリングすることができ、赤外線発光部を1つ設けて反応器と化学反応チャンバーを選択的にモニタリングすることができる。
【0011】
本発明のもう1つの目的は吸着及び蒸着によって汚染度を減らすことによって保持保守周期を延長することができるようにする実時間工程診断ができる分光分析器を提供することにある。
【0012】
本発明のもう1つの目的は分析室に流入される反応副産物または反応物の温度に合わせて分析室に備えられた入射窓及び出射窓の温度を調節するに容易な実時間工程診断ができる分光分析器を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0013】
本発明はビームが入射される入射窓11と、前記入射窓11に入射されたビームが入射されて反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容する収容部12と、前記収容部12内から入射されたビームが反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されて出射される出射窓13と、前記収容部12内部に装着されて前記入射窓11に入射されたビームが前記収容部12内部を少なくとも1回以上往復するように反射して前記出射窓13に出射させる反射ミラー14を含み、内部が真空状態となる反応器10;前記反応器10から出射されたビームを検出する検出器20;検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器30;とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器に関するものである。
【0014】
本発明において、前記反射ミラー14は前記入射窓11を介して入射されたビームが前記収容部12内でジグザグ流路を形成しながら往復するように設けられ、前記収容部12には副産反応物または副産物が前記入射されたビームのジグザグ流路に沿って流動されるようにジグザグ流路が形成されることができ、前記反応器10は前記反応器10内の圧力を調節するための圧力調節器15がさらに備えられ、前記入射窓11及び出射窓13または反射ミラー14に反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されることを防止するように窒素気体を注入するエアカーテン16がさらに備えられ、前記反応器10は温度調節ができ、前記反応器10は前記入射窓11、出射窓13及び反射ミラー14に吸着及び蒸着された試料を洗滌するために気体または液体を注入するための注入口17がさらに備えられる。
【0015】
本発明はビームが入射される入射窓111と、前記入射窓111に入射されたビームが入射されて反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容する収容部112と、反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されたビームが透過されるように、固定部113によって前記収容部112内に設けられるクリスタル114と、前記クリスタル114の周辺に離隔されて備えられて遠赤外線領域の連続輻射線を提供するプラズマ電極115と、前記クリスタル114から出射されたビームを出射する出射窓116を含み、内部が真空状態となる反応器110;前記反応器110から出射されたビームの屈折及び散乱を検出する検出器120;検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器130;とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器に関するものであって、本発明は前記収容部112内部に装着され、前記入射窓111から入射されたビームが前記クリスタル114内部を少なくとも1回以上往復して透過するように反射して、前記出射窓116に出射させる反射ミラーMを含むことができる。
【0016】
本発明において、前記反応器110は前記反応器内の圧力を調節するための圧力調節器117がさらに備えられ、前記クリスタル114とプラズマ電極115に反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されることを防止するように非活性気体を注入する掃除用ポート118がさらに備えられ、前記固定部113は前記クリスタル114の温度を調節するように温度調節ができ、前記反応器110は前記クリスタル114とプラズマ電極115に吸着及び蒸着された試料を洗滌するために前記クリスタル114とプラズマ電極115との間に気体または液体を注入するための注入口119がさらに備えられ、前記分析器は休止期装備内部から出てくる気体を分析して装備掃除周期または保持管理周期(PM周期)分析に用いられる。
【0017】
一方、本発明は前記のいずれか1つに記載の分光分析器において、ガスが注入される場合、注入されたガスが前記入射窓1131の外側面と接触できるように前記入射窓1131が設けられた部位を内包し、前記反応器1130の外側面に形成される第1ガス収容部1110と、ガスが注入される場合、注入されたガスが前記出射窓1122の外側面と接触できるように前記出射窓1122が設けられた部位を内包し、前記反応器1130の外側面に形成される第2ガス収容部1120とを含むことを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器に関するものである。
【0018】
本発明において、前記第1ガス収容部1110と前記第2ガス収容部1120は相互練通されることができ、前記第1ガス収容部1110の外部から発光されたビームが前記入射窓1131を介して入射できるように前記第1ガス収容部1110に備えられる収容部入射窓1111;前記出射窓1132を介して出射された光線が前記第2ガス収容部1120の外部へ出射できるように前記第2ガス収容部1120に備えられる収容部出射窓1122;とを含み、前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120はその下側端部を介して相互練通するように連結され、第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120との間に凹込部が形成するように連結され、前記反応器1130は前記凹込部に脱着できるように設けられることができる。
【0019】
本発明は前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120とに連結されるガス排出弁1162;前記ガス排出弁1162を介して前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120とに連結されるポンプ1160;とを含み、前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内にガスを供給するガス供給部1150;前記ガス供給部1150に収容されるガス温度を調節する温度調節部1154;とが備えられ、前記第1ガス収容部1110または前記第2ガス収容部1120のうちいずれか1つまたは全ての体積が調節でき、前記第1ガス収容部1110または前記第2ガス収容部1120のうち少なくともいずれか1つは長さ調節ができる長さ調節部が形成される。
【発明を実施するための最良の形態】
【0020】
以下、図面を参照して本発明による実時間肯定診断ができる分光分析器をより詳細に説明する。
【0021】
図1は本発明による実時間工程診断ができる赤外線分光分析器の構造を示す図面である。
【0022】
図示されたように、本発明の実時間工程診断ができる赤外線分光分析器は入射窓11と、収容部12と、出射窓13及び反射ミラー14を備え、内部が真空状態となる反応器10;前記反応器10から出射されたビームの屈折及び散乱を検出する検出器20;検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器30;とを含めてなる。
【0023】
前記反応器10は入射窓11と、収容部12と、出射窓13及び反射ミラー14が備え、内部が真空状態となる。前記反応器10は反応副産物または反応物が投入されて投入された反応副産物または反応物にビームが走査される。なお、前記反応器10は前記反応器10内の圧力を調節するための圧力調節器15がさらに備えられて最適の圧力範囲で測定が可能になる。
【0024】
前記入射窓11は前記反応器10に装着され、ビームが入射される。
【0025】
前記収容部12には反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物が一時収容され、前記入射窓11から入射されたビームが入射される。この際、入射されたビームは反応副産物または反応物と屈折及び散乱を起す。このように屈折及び散乱されたビームの強度を測定することによって試料の定性及び定量を分析することができる。前記収容部12は排気口などから排気される排気ガスなどを一時収容して分光分析した後に排出するようになるため実時間工程診断が可能になる。なお、前記収容部12は排気口に直接挿入して図1のように実時間工程診断ができるのみならず、排気口に小さいポートを形成してここから収集された反応副産物または反応物を収集してサンプリングすることによって実時間で工程診断を可能にする。
【0026】
図1を参照すれば、反射ミラー14は入射窓11を介して入射されたビームが収容部12内でジグザグ流路を形成しながら往復するように設けられる。即ち、反射ミラー14は入射窓11から入射されたビームを反射して入射されたビームが収容部12内部を少なくとも1回以上往復した後、出射窓13を介して出射されるようにする役割を果たす。このために、2つの鏡が入射窓11の付近と出射窓13の付近にそれぞれ設けられるが、2つの鏡は凹鏡または平面鏡などである。平面鏡である場合、入射されたビームがジグザグ流路を形成するように所定角度が傾けて設けられる。収容部12に入射されたビームがジグザグ経路を形成することによってビームの検出距離が長くなって測定感度を増加させる。
【0027】
一方、図2を参照すれば、収容部12には反応副産物または反応物の流動を案内するジグザグ流路が形成される。この際、収容部12に形成されるジグザグ流路は収容部12に入射されたビームが形成するジグザグ流路を含むように形成される。従って、ビームの経路が延びられる外にビームの経路と反応副産物または反応物の流路が同一な方向をなす。
【0028】
前記出射窓13は前記収容部12内から入射されたビームが反応副産物または反応物を通過した後、出射するようになる。
【0029】
前記検出器20は前記反応器10から出射されたビームの屈折及び散乱を検出する役割を果たす。前記検出器20は公知のものとしてMCTのようなIR detectorを使用する。
【0030】
前記分析器30は前記検出器20によって検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する役割を果たす。
【0031】
図3は本発明による他の形態の実時間工程診断ができる分光分析器の構造を示す図面である。
【0032】
図示されたように、本発明の他の形態の実時間工程診断ができる分光分析器は入射窓111と、反応副産物または反応物を一時収容する収容部112と、反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されたビームが透過されるように固定部113によって収容部112内に設けられるクリスタル114と、クリスタル114の周辺に離隔されて備えられるプラズマ電極115と、出射窓116を含む反応器110;前記反応器110から出射されたビームの屈折及び散乱を検出する検出器120;検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器130を含めてなる。
【0033】
前記反応器110は入射窓111と、収容部112と、出射窓116と、クリスタル114及びプラズマ電極115が備えられ、内部が真空状態となる。前記反応器110は入射されたビームが収容された反応副産物または反応物と反応して屈折及び散乱を起した後反応器110の外部に出射される。また、前記反応器110は前述した本発明の実時間工程診断ができる分光分析器と同様に前記反応器110内の圧力を調節するための圧力調節器117がさらに備えられて最適の圧力範囲で測定ができるようになる。
【0034】
前記入射窓111と出射窓116は前述した本発明の実時間工程診断ができる分光分析器と同一である。
【0035】
前記収容部112は前記入射窓111から入射されたビームが入射され、反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容するようになる。
【0036】
前記クリスタル114は前記収容部112内で固定部113によって固定されるが、収容部112に入射されたビームが反応副産物または反応物による屈折及び散乱されて収容部112の外部に出射される前にクリスタル114内部を透過するように設けられる。一方、図3を参照すれば、収容部112内部には入射窓111から入射されたビームがクリスタル114内部を少なくとも1回以上往復して透過された後、出射窓116を介して出射するように、前記入射されたビームを反射させる反射ミラーMが設けられる。同時に、前記固定部113は前記クリスタル114の温度を調節するように温度調節ができるものが望ましい。
【0037】
前記プラズマ電極115は前記クリスタル114の周辺に離隔されて備えられ、前記クリスタル114の掃除や前記クリスタル114に吸着及び蒸着された反応副産物または反応物や異物質の分解を促進させる役割を果たす。
【0038】
前記クリスタル114とプラズマ電極115に反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されることを防止するように前述した本発明の実時間工程診断ができる分光分析器と同一な窒素気体を注入する掃除用ポート118がさらに備えられるものが望ましい。
【0039】
また、前記反応器110は前記クリスタル114とプラズマ電極115に吸着及び蒸着された試料を洗滌するために前記クリスタル114とプラズマ電極115との間に気体または液体を注入するための注入口119がさらに備えられたものが望ましい。
【0040】
前記検出器120及び分析器130は前述した本発明の実時間工程診断ができる分光分析器と同一である。
【0041】
未説明符号40、140はフォーカスレンズ(focus lens)であり、50、150はフォーカスレンズ及びフラットミラー(focus lens & flat mirror)である。
【0042】
図面に図示されていないが、本発明のもう1つの一実施例の場合、入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどが排気口のラインに連結される反応器に設けられるものではなく、化学反応が生じる化学反応チャンバーに直接設けられる。これによって、化学反応チャンバーの内部の反応副産物または反応物の成分を直接的に定量及び定性分析するようになる。特に、入射窓を介して入射される赤外線ビームが化学反応チャンバーの内壁に少なくとも1回以上衝突した後、出射窓を介して出射するように反射ミラーを設けることによって化学反応チャンバーの内壁状態をモニタリングすることができる。
【0043】
図面に図示されていないが、本発明のもう1つの一実施例の場合、入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどが排気口のラインに連結される反応器に設けるのみならず、化学反応が生じる化学反応チャンバーにも設けられる。ことによって化学反応が生じる反応チャンバーの内部の反応副産物または反応物の成分を直接定量及び定性分析することができる。この場合、入射窓に入射される赤外線を発光させる赤外線発光部を前記反応器及び化学反応チャンバー当たり1つずつ別個に設けることができる。一方、赤外線発光部を1つのみ設けることもできるが、赤外線発光部は赤外線を前記反応器または化学反応チャンバーに選択的に入射させるように所定角度範囲で回転可能に設けられる。従って、赤外線発光部を2つ設けて反応器と化学反応チャンバーが同時に全てモニタリングでき、赤外線発光部を1つ設けて反応器と化学反応チャンバーを選択的にモニタリングすることができる。
【0044】
図4は本発明による他の形態の実時間工程診断ができる分光分析器の概略図を、図5は図4の主要部の概略的左側面図を、図6は図4の主要部の概略的右側面図を示す。
【0045】
図4を参照すれば、本発明は第1ガス収容部1110、第2ガス収容部1120、反応器1130、赤外線が発光される発光部1200、赤外線が受光される受光部1300及び演算部1400を有する。
【0046】
反応器1130は図1乃至図3に参照して、前述した分光分析器の反応器10、110のいずれか1つである。従って、図2を参照すれば、分析室1130の側壁には入射窓1131及び出射窓1132が設けられる。入射窓1131及び出射窓1132は図1乃至図3に図示された入射窓11、111及び出射窓13、113である。
【0047】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110は入射窓1131が設けられた部位を内包し反応器1130の外側面に形成され、第2ガス収容部1120は出射窓1132が設けられた部位を内包し反応器1130の外側面に形成される。即ち、第1ガス収容部1110は第1ガス収容部1110にガスが注入される場合、注入されたガスが入射窓1131の外側面と接触できるように反応器1130の外側面に形成され、第2ガス収容部1120は第2ガス収容部1120にガスが注入される場合、注入されたガスが出射窓1132の外側面と接触できるように反応器1130の外側面に形成される。一方、第1ガス収容部1110と第2ガス収容部1120は相互練通される。
【0048】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120はその下側端部を介して相互練通されるように連結されるが、第1ガス収容部1110と第2ガス収容部1120との間に凹込部が形成するように連結される。反応器1130は前記凹込部に安着に設けられる。図面に図示されていないが、反応器1130は前記凹込部に脱着できるように設けられる。例えば、スライドされることによって前記凹込部に脱着できるように設けられる。
【0049】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110の側壁には収容部入射窓1111が設けられ、第2ガス収容部1120の側壁には収容部出射窓1122が設けられる。収容部入射窓1111は第1ガス収容部1110の外部に設けられる発光部1200から発光された赤外線が第1ガス収容部1110に入射させるための窓であり、収容部出射窓1122は出射窓1132を介して第2ガス収容部に入射された赤外線が第2ガス収容部1120の外部に出射させるための窓である。発光部1200は反応器1130に入射される赤外線を発生する装置であり、受光部1300は反応器1130を通過した赤外線が収集される装置である。
【0050】
図5及び図6を参照すれば、収容部入射窓1111は入射窓1131より大きく形成され、収容部出射窓1122は出射窓1132より大きく形成される。発光部1200、収容部入射窓1111、入射窓1131、出射窓1132、収容部出射窓1122及び受光部1300の相対位置は赤外線の経路に沿って相対的に決定される。
【0051】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110には第1ガス収容部1110の長さを調節するための長さ調節部1113が形成され、第2ガス収容部1120には第2ガス収容部1120の長さを調節するための長さ調節部1123が形成される。長さ調節部1113、1123は第1ガス収容部4110及び第2ガス収容部4120の体積を調節するためのものである。長さ調節部1113、1123は皺部またはスライド部(図示せず)を形成したりするなど他の方法で第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120の体積を調節可能にするためのものである。
【0052】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110には第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内にガスを供給するためのガス供給部1150が連結される。なお、ガス供給部1150には第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内に供給されるガス量を調節するためのガス流入弁1151が備えられる。また、ガス供給部1150には第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内に供給されるガスの温度を調節する温度調節部1154が備えられる。温度調節部1154は温度調節部1154に収容されたガスを加熱するヒーターであり得る。
【0053】
図4を参照すると、第2ガス収容部1120には第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内に供給されたガスを排出するガス排出弁1162が連結される。ガス排出弁1162にはポンプ1160が連結される。ポンプ1160はガス供給部1150から第1ガス収容部1110と第2ガス収容部1120内に供給されたガスが入射窓1131及び出射窓1132の温度を所望の温度に変化させた後、前記ガスを外部に排出して第1ガス収容部1110と第2ガス収容部1120を真空状態で形成させるためのものである。
【0054】
一方、図4を参照すれば、受光部1300には演算部1400が連結される。演算部1400は受光部1300から検出されるデーターを演算処理して反応副産物または反応物に含まれた化学物質の成分を分析する装置である。
【0055】
以下、前記した本発明の作用について説明する。
【0056】
図4を参照すれば、反応器1130に備えられる入射窓1131及び出射窓1122の温度は分析室1130に流入される反応副産物または反応物の温度と同一なものが望ましい。従って、入射窓1131及び出射窓1132の温度を変化させる場合、温度調節部1154を通じてガス供給部1150のガス温度を、流入される反応副産物または反応物の温度と同一にした後、ガス流入弁1151を開放して第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120に流入させると入射窓1131及び出射窓1132の温度は反応器1130に流入される反応副産物または反応物の温度と同一になる。
【0057】
図4を参照すれば、第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120にガスが流入されて所定時間が経過して入射窓1131及び出射窓1132の温度が十分変化したと判断されるとガス排出弁1162を開放し、ポンプ1160を稼動させることによって第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内のガスを外部に放出して第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内部を真空状態で形成するようになる。これは赤外線を用いた分光分析が反応器1130内の反応副産物または反応物に対する情報分析を目的にするものであって、赤外線が前記反応副産物または反応物でないガス収容部1110、1120内のガスに対する情報を含まないようにするためのものである。
【0058】
図4を参照すると、第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内部が真空状態となると、反応副産物または反応物が反応器1130内部に流入されるようにする。
【0059】
図4を参照すれば、反応器1130内に反応副産物または反応物が流入されると、発光部1200を通じて赤外線を発光させて赤外線が収容部入射窓1111及び入射窓1131を通じて分析室1130内に入射されて反応副産物または反応物と衝突した後、出射窓1132及び収容部出射窓1122を介して受光部1300に捕集される。
【0060】
図4を参照すれば、受光部1300に連結された演算部1400が受光部1300から検出されるデーターを演算処理して反応副産物または反応物の成分を明らかにするものである。
【0061】
図4を参照すると、本発明は反応器1130が第1ガス収容部1110と第2ガス収容部1120との間に脱着できるように設けられているため、反応器1130が汚染された場合は反応器1130のみを容易に取り替えることができる長所がある。
【0062】
前記した本発明の実施例の場合、発光部1200と受光部1300は第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120の外部に備えられたものにしたが、他の実施例の場合は発光部1200と受光部1300は第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120の内部に備えることができる。この場合、収容部入射窓1131及び収容部出射窓1122は備えられない。
【0063】
前記した本発明の実施例の場合、赤外線を用いるものとしたが、赤外線の他にraman、UV、Laserなどを用いることもできる。
【0064】
図7は本発明によるもう1つの形態の実時間工程診断ができる分光分析器の主要部の概略図である。
【0065】
図7を参照すれば、本発明は図6に図示された分光分析器と同様に分析反応器1130a、入射窓1131a、出射窓1132a、第1ガス収容部1110a、収容部入射窓1111a、第2ガス収容部1120a、収容部出射窓1222aを含む。
【0066】
図7を参照すれば、第1ガス収容部1110a及び第2ガス収容部1120aは図6に図示された分光分析器とは違って相互練通されない。従って、図面に図示されないが、1つのガス供給部から流出される同一な温度のガスを第1ガス収容部1110a及び第2ガス収容部1120aにそれぞれ供給するようにするものが望ましい。一方、第1ガス収容部1110a及び第2ガス収容部1120aにはガスを排出するための別途のポンプ(図示せず)がそれぞれ連結されるものが望ましい。
【産業上利用可能性】
【0067】
本発明は赤外線を用いて真空状態で分光分析をするため、従来の常圧状態で分光分析をすることに比べてビームの屈折及び散乱によるビームの強度を正確に測定することによって反応副産物または反応物の成分分析が容易な長所がある。
【0068】
また、マルチパスを用いて測定感度を向上させることができ、入射窓及び出射窓、反射ミラー、クリスタルなどに吸着及び蒸着される反応副産物または反応物による汚染を防止することができ、このような吸着及び蒸着によって汚染度を減らすことによって保持保守周期を延長することができて実時間工程診断ができる長所がある。
【0069】
なお、本発明は第1ガス収容部と第2ガス収容部にガスを供給することによって、反応器に流入される反応副産物または反応物の温度に合わせて入射窓及び出射窓の温度を調節するに容易である長所がある。
【0070】
本発明は反応器が第1ガス収容部と第2ガス収容部との間に脱着できるように設けられているため、反応器が汚染された場合は反応器のみを容易に取り替えることができる長所がある。
【0071】
本発明は第1ガス収容部と第2ガス収容部内のガスを排出するポンプを備えることによって、出射窓を介して出射された赤外線が反応副産物または反応物に対する情報のみを含むようにすることができる長所がある。
【図面の簡単な説明】
【0072】
【図1】本発明による実時間工程診断ができる赤外線分光分析器の概略図である。
【図2】本発明のもう1つの形態の反応器の概略図である。
【図3】本発明によるもう1つの形態の実時間工程診断ができる赤外線分光分析器の概略図である。
【図4】本発明によるもう1つの形態の実時間工程診断ができる分光分析器の概略図である。
【図5】図4の主要部の概略的左側面図である。
【図6】図4の主要部の概略的右側面図である。
【図7】本発明によるもう1つの形態の実時間工程診断ができる分光分析器の主要部の概略図である。
【符号の説明】
【0073】
*図面の主要符号の詳細な説明*
10、110:反応器 11、111:入射窓
12、112:収容部 13、116:出射窓
14:反射ミラー 15、117:圧力調節器
16:エアカーテン 17、119:注入口
20、120:検出器 30、130:分析器
113:固定部 114:クリスタル
115:プラズマ電極 118:掃除用ポート
1110:第1ガス収容部 1111:収容部入射窓
1113:長さ調節部
1120:第2ガス収容部 1122:収容部出射窓
1123:長さ調節部
1130:反応器 1131:入射窓
1132:出射窓
1150:ガス供給部 1151:ガス流入弁
1154:温度調節部
1160:ポンプ 1162:ガス排出弁
1200:発光部 1300:受光部
1400:演算部
1110a:第1ガス収容部 1111a:収容部入射窓
1120a:第2ガス収容部 1222a:収容部出射窓
1130a:反応器 1131a:入射窓
1132a:出射窓
【特許請求の範囲】
【請求項1】
ビームが入射される入射窓11と、
前記入射窓11を介して入射されたビームを用いて、反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容する収容部12と、
前記入射窓11を介して入射されたビームが前記収容部12内で反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されて出射される出射窓13と、
前記収容部12内部に装着され、前記入射窓11に入射されたビームが前記収容部12内部を少なくとも1回以上往復するように反射して前記出射窓13に出射させる反射ミラー14を含み、内部が真空状態となる反応器10;
前記反応器10から出射されたビームを検出する検出器20;
検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器30とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項2】
前記反射ミラー14は前記入射窓11を介して入射されたビームが前記収容部12内でジグザグ流路を形成しながら往復するように設けられることを特徴とする請求項1に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項3】
前記収容部12には副産反応物または副産物が前記入射されたビームのジグザグ流路に沿って流動されるようにジグザグ流路が形成されることを特徴とする請求項2に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項4】
前記反応器10は前記反応器10内の圧力を調節するための圧力調節器15がさらに備えられることを特徴とする請求項1に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項5】
前記入射窓11及び出射窓13または反射ミラー14に反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されることを防止するように窒素気体を注入するエアカーテン16がさらに備えられることを特徴とする請求項1に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項6】
前記反応器10は温度調節ができることを特徴とする請求項1に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項7】
前記反応器10は前記入射窓11、出射窓13及び反射ミラー14に吸着及び蒸着された試料を洗滌するために気体または液体を注入するための注入口17がさらに備えられることを特徴とする請求項1に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項8】
ビームが入射される入射窓111と、
前記入射窓111を介して入射されたビームを用いて、反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容する収容部112と、
反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されたビームが透過されるように、固定部113によって前記収容部112内に設けられるクリスタル114と、
前記クリスタル114の周辺に離隔されて備えられ、遠赤外線領域の連続輻射線を提供するプラズマ電極115と、
前記クリスタル114から出射されたビームを出射する出射窓116を含み、内部が真空状態となる反応器110;
前記反応器110から出射されたビームの屈折及び散乱を検出する検出器120;
検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器130とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項9】
前記収容部112内部に装着され、前記入射窓111を介して入射されたビームが前記クリスタル114内部を少なくとも1回以上往復して透過するように反射して、前記出射窓116を介して出射させる反射ミラーMを含むことを特徴とする請求項8に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項10】
前記反応器110は前記反応器内の圧力を調節するための圧力調節器117がさらに備えられることを特徴とする請求項8または9に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項11】
前記クリスタル114とプラズマ電極115に反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されることを防止するように非活性気体を注入する掃除用ポート118がさらに備えられることを特徴とする請求項8または9に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項12】
前記固定部113は前記クリスタル114の温度を調節するように温度調節ができることを特徴とする請求項8または9に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項13】
前記反応器110は前記クリスタル114とプラズマ電極115に吸着及び蒸着された試料を洗滌するために前記クリスタル114とプラズマ電極115との間に気体または液体を注入するための注入口119がさらに備えられることを特徴とする請求項8または9に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項14】
前記分析器は休止期装備内部から出てくる気体を分析して装備掃除周期または保持管理周期(PM周期)分析に用いられることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1つに記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項15】
ガスが注入される場合、注入されたガスが前記入射窓1131の外側面と接触できるように前記入射窓1131が設けられた部位を内包し、前記反応器1130の外側面に形成される第1ガス収容部1110と、
ガスが注入される場合、注入されたガスが前記出射窓1122の外側面と接触できるように前記出射窓1122が設けられた部位を内包し、前記反応器1130の外側面に形成される第2ガス収容部1120とを含むことを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1つに記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項16】
前記第1ガス収容部1110と前記第2ガス収容部1120は相互練通されることを特徴とする請求項15に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項17】
前記第1ガス収容部1110の外部から発光されたビームが前記入射窓1131を介して入射できるように前記第1ガス収容部1110に備えられる収容部入射窓1111と、
前記出射窓1132を介して出射された光線が前記第2ガス収容部1120の外部へ出射できるように前記第2ガス収容部1120に備えられる収容部出射窓1122とを含むことを特徴とする請求項16に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項18】
前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120はその下側端部を介して相互練通されるように連結され、第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120との間に凹込部が形成されるように連結され、
前記反応器1130は前記凹込部に脱着できるように設けられることを特徴とする請求項17に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項19】
前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120とに連結されるガス排出弁1162と、
前記ガス排出弁1162を介して前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120とに連結されるポンプ1160とを含むことを特徴とする請求項17に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項20】
前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内にガスを供給するガス供給部1150と、
前記ガス供給部1150に収容されるガス温度を調節する温度調節部1154が備えられることを特徴とする請求項17に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項21】
前記第1ガス収容部1110または前記第2ガス収容部1120のうちいずれか1つまたは全ての体積が調節できることを特徴とする請求項17に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項22】
前記第1ガス収容部1110または前記第2ガス収容部1120のうち 少なくともいずれか1つは長さ調節ができる長さ調節部が形成されることを特徴とする請求項21に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項23】
化学反応が生じる化学反応チャンバー;
前記化学反応チャンバーに備えられ、ビームが入射される入射窓;
前記化学反応チャンバー内の反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されたビームが透過するように、固定部によって前記化学反応チャンバー内に設けられるクリスタル;
前記クリスタルの周辺に離隔されて備えられ、遠赤外線領域の連続輻射線を提供するプラズマ電極;
前記クリスタルから出射されたビームを出射するように、前記化学反応チャンバーに備えられる出射窓;
前記化学反応チャンバー内部に装着され、前記入射窓を介して入射されたビームが前記クリスタル内部を少なくとも1回以上往復して透過するように反射して前記出射窓を介して出射させる反射ミラー;
前記化学チャンバーから出射されたビームの屈折及び散乱を検出する検出器;
検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項1】
ビームが入射される入射窓11と、
前記入射窓11を介して入射されたビームを用いて、反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容する収容部12と、
前記入射窓11を介して入射されたビームが前記収容部12内で反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されて出射される出射窓13と、
前記収容部12内部に装着され、前記入射窓11に入射されたビームが前記収容部12内部を少なくとも1回以上往復するように反射して前記出射窓13に出射させる反射ミラー14を含み、内部が真空状態となる反応器10;
前記反応器10から出射されたビームを検出する検出器20;
検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器30とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項2】
前記反射ミラー14は前記入射窓11を介して入射されたビームが前記収容部12内でジグザグ流路を形成しながら往復するように設けられることを特徴とする請求項1に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項3】
前記収容部12には副産反応物または副産物が前記入射されたビームのジグザグ流路に沿って流動されるようにジグザグ流路が形成されることを特徴とする請求項2に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項4】
前記反応器10は前記反応器10内の圧力を調節するための圧力調節器15がさらに備えられることを特徴とする請求項1に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項5】
前記入射窓11及び出射窓13または反射ミラー14に反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されることを防止するように窒素気体を注入するエアカーテン16がさらに備えられることを特徴とする請求項1に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項6】
前記反応器10は温度調節ができることを特徴とする請求項1に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項7】
前記反応器10は前記入射窓11、出射窓13及び反射ミラー14に吸着及び蒸着された試料を洗滌するために気体または液体を注入するための注入口17がさらに備えられることを特徴とする請求項1に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項8】
ビームが入射される入射窓111と、
前記入射窓111を介して入射されたビームを用いて、反応副産物または反応物の実時間工程診断ができるように反応副産物または反応物を一時収容する収容部112と、
反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されたビームが透過されるように、固定部113によって前記収容部112内に設けられるクリスタル114と、
前記クリスタル114の周辺に離隔されて備えられ、遠赤外線領域の連続輻射線を提供するプラズマ電極115と、
前記クリスタル114から出射されたビームを出射する出射窓116を含み、内部が真空状態となる反応器110;
前記反応器110から出射されたビームの屈折及び散乱を検出する検出器120;
検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器130とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項9】
前記収容部112内部に装着され、前記入射窓111を介して入射されたビームが前記クリスタル114内部を少なくとも1回以上往復して透過するように反射して、前記出射窓116を介して出射させる反射ミラーMを含むことを特徴とする請求項8に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項10】
前記反応器110は前記反応器内の圧力を調節するための圧力調節器117がさらに備えられることを特徴とする請求項8または9に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項11】
前記クリスタル114とプラズマ電極115に反応副産物または反応物が吸着及び蒸着されることを防止するように非活性気体を注入する掃除用ポート118がさらに備えられることを特徴とする請求項8または9に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項12】
前記固定部113は前記クリスタル114の温度を調節するように温度調節ができることを特徴とする請求項8または9に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項13】
前記反応器110は前記クリスタル114とプラズマ電極115に吸着及び蒸着された試料を洗滌するために前記クリスタル114とプラズマ電極115との間に気体または液体を注入するための注入口119がさらに備えられることを特徴とする請求項8または9に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項14】
前記分析器は休止期装備内部から出てくる気体を分析して装備掃除周期または保持管理周期(PM周期)分析に用いられることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1つに記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項15】
ガスが注入される場合、注入されたガスが前記入射窓1131の外側面と接触できるように前記入射窓1131が設けられた部位を内包し、前記反応器1130の外側面に形成される第1ガス収容部1110と、
ガスが注入される場合、注入されたガスが前記出射窓1122の外側面と接触できるように前記出射窓1122が設けられた部位を内包し、前記反応器1130の外側面に形成される第2ガス収容部1120とを含むことを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1つに記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項16】
前記第1ガス収容部1110と前記第2ガス収容部1120は相互練通されることを特徴とする請求項15に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項17】
前記第1ガス収容部1110の外部から発光されたビームが前記入射窓1131を介して入射できるように前記第1ガス収容部1110に備えられる収容部入射窓1111と、
前記出射窓1132を介して出射された光線が前記第2ガス収容部1120の外部へ出射できるように前記第2ガス収容部1120に備えられる収容部出射窓1122とを含むことを特徴とする請求項16に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項18】
前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120はその下側端部を介して相互練通されるように連結され、第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120との間に凹込部が形成されるように連結され、
前記反応器1130は前記凹込部に脱着できるように設けられることを特徴とする請求項17に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項19】
前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120とに連結されるガス排出弁1162と、
前記ガス排出弁1162を介して前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120とに連結されるポンプ1160とを含むことを特徴とする請求項17に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項20】
前記第1ガス収容部1110及び第2ガス収容部1120内にガスを供給するガス供給部1150と、
前記ガス供給部1150に収容されるガス温度を調節する温度調節部1154が備えられることを特徴とする請求項17に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項21】
前記第1ガス収容部1110または前記第2ガス収容部1120のうちいずれか1つまたは全ての体積が調節できることを特徴とする請求項17に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項22】
前記第1ガス収容部1110または前記第2ガス収容部1120のうち 少なくともいずれか1つは長さ調節ができる長さ調節部が形成されることを特徴とする請求項21に記載の実時間工程診断ができる分光分析器。
【請求項23】
化学反応が生じる化学反応チャンバー;
前記化学反応チャンバーに備えられ、ビームが入射される入射窓;
前記化学反応チャンバー内の反応副産物または反応物によって屈折及び散乱されたビームが透過するように、固定部によって前記化学反応チャンバー内に設けられるクリスタル;
前記クリスタルの周辺に離隔されて備えられ、遠赤外線領域の連続輻射線を提供するプラズマ電極;
前記クリスタルから出射されたビームを出射するように、前記化学反応チャンバーに備えられる出射窓;
前記化学反応チャンバー内部に装着され、前記入射窓を介して入射されたビームが前記クリスタル内部を少なくとも1回以上往復して透過するように反射して前記出射窓を介して出射させる反射ミラー;
前記化学チャンバーから出射されたビームの屈折及び散乱を検出する検出器;
検出されたビームの強度を用いて試料の定性及び定量を分析する分析器とを含めてなることを特徴とする実時間工程診断ができる分光分析器。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【公開番号】特開2009−42217(P2009−42217A)
【公開日】平成21年2月26日(2009.2.26)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−154783(P2008−154783)
【出願日】平成20年6月13日(2008.6.13)
【出願人】(508179419)コリア リサーチ インスティテュート オブ スタンダーズ アンド サイエンス (10)
【氏名又は名称原語表記】KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS AND SCIENCE
【Fターム(参考)】
【公開日】平成21年2月26日(2009.2.26)
【国際特許分類】
【出願日】平成20年6月13日(2008.6.13)
【出願人】(508179419)コリア リサーチ インスティテュート オブ スタンダーズ アンド サイエンス (10)
【氏名又は名称原語表記】KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS AND SCIENCE
【Fターム(参考)】
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