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Fターム[2G059JJ14]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 光学要素 (16,491) | ミラー、反射面 (2,430) | 曲面ミラー、曲面反射面 (409)

Fターム[2G059JJ14]に分類される特許

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【課題】小型で簡易な構成により広い波長域の光を発光できる光源装置を提供する。
【解決手段】光源装置1は、蛍光を発光する複数の蛍光体層を含む可動蛍光部3と、可動蛍光部3に励起光を照射する励起光源2と、可動蛍光部3から発光した蛍光を集光する非球面ミラー4および集光レンズ5と、可動蛍光部3に照射される励起光の焦点位置を変化させる焦点変化部と、を備える。複数の蛍光体層の各々は異なる粒子径の半導体ナノ粒子を含む。複数の蛍光体層のうちの一つに励起光を照射し半導体ナノ粒子が粒子径に対応した蛍光を発光することにより、異なる複数の波長の蛍光を発光する。 (もっと読む)


【課題】金属の塗膜や半導体ウエハのエピ層等の積層膜中の欠陥検査の測定時間を短縮したテラヘルツ波を用いた検査装置及び検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】予め基準サンプルを用いてテラヘルツ波信号の時間波形を求め、時間波形の基準ピーク位置およびその近傍の基準測定位置の強度データを予め求めておくステップと、被測定物の測定点の時間波形について、基準ピーク位置および基準測定位置について、被測定物の強度データを求めるステップと、基準サンプルと被測定物との基準ピーク位置および基準測定位置の強度データを比較して、ピーク位置のずれと強度データの差とが予め設定された値以上の場合に異常と判定するステップと、から成り、時間波形を予め測定された基準位置の強度データのみをサンプリングして、測定時間を短縮するようにしたことを特徴とするテラヘルツ波を用いた検査方法。 (もっと読む)


【課題】受光部への光の入射角度を小さくした検出器を提供する。
【解決手段】検出器Aは、発光部1と、受光部2と、導光体3とを備える。導光体3は、下部ミラー4と上部ミラー5とを組み合わせて構成され、検出対象の気体が通気口を通して導入される内部空間を有し、内部空間の周りの反射面6で発光部1からの放射光を反射することによって放射光を受光部2へと導光する。反射面6の形状は2点P1,P2を焦点とする楕円体状に形成され、焦点P1の位置に発光部1が配置され、焦点P2の位置に対して発光部1に近い側に受光部2が配置されている。 (もっと読む)


【課題】流動性媒体中に存在する物質の濃度を測定することができる装置を提供する。
【解決手段】MQW LEDの発光が吸収測定に使用され、発せられた光が測定システム内で測定対象物質と相互作用し、光学フィルターを介して検出器ユニット内で吸収検出器および参照検出器に対して作用し、これらの検出器が測定信号および参照信号を生成し、これらの信号を比較することによって測定対象物質の濃度が求められる。少なくとも1つのエッジフィルター、たとえば短波長パスフィルターまたは長波長パスフィルターとして設計されたエッジフィルターが光学フィルターとして使用される。また、1以上の帯域特性を有する少なくとも1つのバンドパスフィルターが光学フィルターとして使用される。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ電磁波の検出精度を向上させることができるテラヘルツ放射顕微鏡、これに用いられる、光伝導素子、レンズ及びデバイスの製造方法を提供すること。
【解決手段】光伝導素子は、基材と、電極と、膜材とを具備する。前記基材は、光源から発生したパルスレーザーが、観察対象であるデバイスに照射されることにより発生するテラヘルツ電磁波が入射する入射面を有する。前記電極は、前記基材に形成され、前記基材の入射面に入射された前記テラヘルツ電磁波を検出する。前記膜材は、前記基材の前記入射面に形成され、前記テラヘルツ電磁波を透過させ、前記パルスレーザーを反射させる。 (もっと読む)


【課題】サイズと、重量と、コストとに関して、大幅に簡素化された、気体の検出用の3チャネルの分光計を提供する。
【解決手段】3チャネル分光計100は、入射放射線101を受け取って、入射放射線の第1の部分と、第2の部分と、第3の部分とを透過するビームスプリッタ要素105と、第1の部分を受け取って、第1の波長の範囲の第1のスリット出力放射線を透過する第1のスリットと、第2の部分を受け取って、第2の波長の範囲の第2のスリット出力放射線を透過する第2のスリットと、入射放射線の第3の部分を受け取って、第3の波長の範囲の第3のスリット出力放射線を透過する第3のスリットと、第1と、第2と、第3のスリット出力放射線を受け取って、平行にする共通の光学フォーム111と、共通の光学フォームから、平行にされた第1と、第2と、第3のスリット出力放射線を受け取って、反射する分散要素113とを含む。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ波の発生及び検出を行うテラヘルツ波発生検出室を有するテラヘルツ波伝播装置において、テラヘルツ波の伝播経路を簡単に調整できるテラヘルツ波発生検出室を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態に係るテラヘルツ波発生検出室200においては、テラヘルツ波発生部107及びテラヘルツ波検出部111は、壁面の開口部に挿入され、壁面の外側から固定部材203によって固定される。固定部材203は、凹型固定部材204と、凸型固定部材205とを含む。凹型固定部材204が有する凹面と、凸型固定部材205が有する凸面とを合致させて固定することによって、テラヘルツ波発生部107及びテラヘルツ波検出部111を所望の位置及び向きに調整することができる。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ波を伝播させるテラヘルツ波伝播装置において、複数の放物面鏡を用いてコリメート及び集光する際に、従来の技術より少ない数の放物面鏡を用いてテラヘルツ波の伝播が可能なテラヘルツ波伝播装置を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態に係るテラヘルツ波伝播装置200においては、テラヘルツ波発生部107からの入射テラヘルツ波108は、放物面鏡201によってコリメートされる。さらにコリメートされた入射テラヘルツ波108は放物面鏡203で集光され、被測定物109に入射する。被測定物109から出射された出射テラヘルツ波110は、放物面鏡203によってコリメートされる。コリメートされた出射テラヘルツ波110は放物面鏡202で集光され、テラヘルツ波検出部111に入射する。 (もっと読む)


【課題】測定周波数帯域の広帯域化と周波数分解能の高分解能化とを実現したテラヘルツ測定装置等を提供する。
【解決手段】THz波スペクトル測定装置(1)は、フェムト秒レーザーをポンプ光とプローブ光とに分岐するビームスプリッタ(11)と、ポンプ光を受けてTHz波を発生させるTHz波発生源(12)と、プローブ光をチャープパルスに変換するチャープ発生光学器(22)と、チャープパルスを2つに分岐するビームスプリッタ(31)と、分岐された一方の参照光を検出する参照光検出手段と、他方をTHz波の電気光学効果にて変調する電気光学結晶(43)と、電気光学結晶(43)から出力された信号光を検出する信号光検出手段と、同時に検出された参照光と信号光とに基づいてTHz波の時間波形を取得する演算回路(50)とを有する。 (もっと読む)


【課題】調査される材料に所定の光路に沿って所定の放射線を照射する第1の照明機器と、調査される材料を透過した放射線を記録する放射線記録空間とを備えた光透過材の光学特性の測定装置の提供。
【解決手段】放射線記録空間4は、上記第1の照明機器2によって放射された上記放射線が、まず初めに上記材料10に当たった後に、少なくともしばらくの間、上記放射線記録空間4の内壁4aに当たるように設けられ、実質的に上記放射線記録空間4の内壁4aからのみ反射した及び/又は散乱した放射線を記録するように設けられた放射線検出機器12と、上記放射線記録空間4の内壁4aに光を照射する第2の照明機器14とを備えている。 (もっと読む)


【課題】検出器の小型化を実現した色・濁度計を提供する。
【解決手段】測定セルと比較セルからなる液槽に光源からの光を同時に入射させ、前記測定セルと比較セルを透過した透過光に基づいて色度及び濁度を測定する色・濁度計において、前記液層は、一方の側面に中心が所定の距離を隔てて穴の側面が重なるように形成された深さの異なる2つの穴を有する柱状の透明体であって、該2つの穴を閉塞する同一厚さの透明閉塞板を備え、前記2つの穴のうち深さが深く形成された穴と前記透明閉塞板と前記透明体の他方の面までの厚さで形成される空間を測定セルとし、前記2つの穴のうち深さが浅く形成された穴と前記透明閉塞板と前記透明体の他方の面までの厚さで形成される空間を比較セルとすると共に、前記測定セルと比較セルを透過した光を同一性能の光検出器でそれぞれ受光するように構成した。 (もっと読む)


【課題】効率良く安価に電磁波パルスの測定精度を向上する技術を提供すること。
【解決手段】テラヘルツ波測定装置100は、テラヘルツ波を試料Wに照射する照射部12と、試料Wを透過したテラヘルツ波の電界強度を検出する検出部13と、レーザ光源11から検出部13までの光路長を段階的に変更することによって、検出部が前記電磁波パルスの電界強度を検出するタイミングを段階的に変更する遅延部14と、光路長を変更する変更範囲を設定する変更範囲設定部23とを備えている。変更範囲設定部23は、遅延部14が、光路長を第1の変更範囲で段階的に変更した場合に、前記試料を透過または反射した前記電磁波パルスが前記検出部で検出されるときの前記光路長を含む前記光路長の範囲を、第2の変更範囲に設定する、前記遅延部14は、光路長を変更範囲R2で段階的に変更する際に、光路長を変更範囲R1で段階的に変更する場合よりも細かく変更する。 (もっと読む)


【課題】電磁波パルスを利用して取得される試料の情報の画像化を、効率良く行う技術を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波測定装置100は、照射部12を試料Wに対して相対的に移動させる移動機構15と、検出部13に入射するプローブ光LP12の光路長が互いに相違する第1の測定用光路長、第2の測定用光路長および第3の測定用光路長のそれぞれに設定されるように遅延部14を制御する制御部17を備えている。また、テラヘルツ波測定装置100は、検出部13にて検出された電界強度を、RGBの階調特性を示す階調データに変換するデータ変換部25と、検出部13にて検出される電界強度に関する情報が前記階調データに応じた色調で表現された画像を生成する画像生成部26とを備える。 (もっと読む)


【課題】検出器の数を増やしたり、複雑な濁度の演算を行ったり、特殊な形状の散乱光検出器を用いたりすることなく、低コストで精度良く試料液の濁度を測定することが可能な透過散乱光方式の濁度計を提供する。
【解決手段】内部に試料液14が導入される測定セル2と、測定セル内の試料液に光を照射する光源16と、試料液を透過した光20を検出する透過光検出器18と、光反射面24を測定セルに向けた状態で透過光検出器の後方に配置され、透過光検出器の後方に焦点を結ぶ凹面鏡22と、光入射面28を凹面鏡に向けた状態で透過光検出器と凹面鏡との間に配置され、光入射面が凹面鏡の焦点またはその近傍に位置する散乱光検出器とを具備する濁度計とする。 (もっと読む)


【課題】イメージング画像を簡易な装置構成で高速に取得することができ、透過方式および反射方式のいずれにも適用できるテラヘルツ波イメージング装置を提供する。
【解決手段】サンプル5にテラヘルツ波101を照射する照射手段10と、複数のマイクロミラー7を有し、マイクロミラー7のそれぞれがサンプル5からのテラヘルツ波103を反射するマイクロミラーアレイ6と、単一の受光素子から構成され、マイクロミラーアレイ6からのテラヘルツ波105を検出して電気信号に変換する検出手段20と、電気信号を処理して、サンプル5のイメージング画像を得る画像処理部72と、複数のマイクロミラー7を制御する制御部71を備える。複数のマイクロミラー7は、それぞれの傾斜角度が独立して制御可能である。制御部71は、傾斜角度を変えるマイクロミラー7を特定するための走査アドレス情報71aを保持し、マイクロミラー7のそれぞれの傾斜角度を変える。 (もっと読む)


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