説明

樹脂組成物

【課題】耐熱性に優れ、反りが少なく、低反発の硬化物が得られる樹脂組成物、それを用いた回路基板の保護膜形成用材料及び回路基板を提供すること。
【解決手段】本発明の樹脂組成物は、熱硬化後のガラス転移温度が50℃〜120℃、弾性率が0.3GPa〜1.4GPaであって、はんだ浴に260℃にて60秒間浸漬した際、膨れ・焦げがないことを満たし、UL−94規格でVTM−1以上の難燃性を有することを特徴とする。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体素子の表面保護膜、層間絶縁膜、ボンディングシート、プリント配線板用保護絶縁膜として有用な耐熱性を有する樹脂組成物、及び樹脂組成物を用いた回路基板などの電子部品に関するものである。
【背景技術】
【0002】
半導体素子の表面保護膜、層間絶縁膜、プリント配線板用保護絶縁膜として、耐熱性に優れていることから、ポリイミドが用いられるようになってきている。特に、フレキシブル配線回路に適用する場合、硬化後の反りが少ないことが求められている。耐熱性に優れ、且つ、硬化後の反りを防止した樹脂組成物としては、エステル末端オリゴマーとアミン末端オリゴマーからなるポリイミド系インクが開示されている(例えば、特許文献1参照)。しかしながら、このような樹脂組成物は、イミド化のために少なくとも250℃以上で熱処理する必要があり、形成されるポリイミド樹脂の収縮が大きく加工性に問題がある。また、回路材料に銅箔を用いた場合には、カルボキシル基と配線材料との反応が起こり、配線材料の酸化が発生するという問題がある。
【0003】
一方、低温で硬化を行うことができ、また、硬化後の反りを抑制するためにジアミノシロキサンをジアミン成分として使用したポリイミドシロキサン前駆体が開示されている(例えば、特許文献2、特許文献3参照)。しかしながら、これらのポリイミドシロキサン前駆体を回路基板に塗布し、イミド化させて回路の保護被膜を形成した場合、その後のプリプレグやボンディング工程で、保護皮膜と接着シートとの間の接着力が不足するという問題がある。
【0004】
また、アルキルエーテルジアミンを用いて感光性ドライフィルムレジスト用途にイミド化温度を下げ、ポリアミド酸の一部を部分イミド化した非シリコーン系のポリイミド前駆体が開示されている(例えば、特許文献4参照)。しかしながら、これらの部分イミド化したポリイミド前駆体からなる硬化物は柔軟性が不十分であった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開平2−145664号公報
【特許文献2】特開昭57−143328号公報
【特許文献3】特開昭58−13631号公報
【特許文献4】特開2006−321924号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
本発明は、かかる点に鑑みて為されてものであり、耐熱性に優れ、反りが少なく、低反発の硬化物が得られる樹脂組成物を提供することを目的とする。また、それを用いた回路基板の保護膜形成用材料及び回路基板を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、熱硬化後のガラス転移温度が50℃〜120℃、弾性率が0.3GPa〜1.4GPaであって、はんだ浴に260℃にて60秒間浸漬した際、膨れ・焦げがないことを満たし、UL−94規格でVTM−1以上の難燃性を有する樹脂組成物が、その課題を解決しうることを見いだし、この知見に基づいて本発明をなすに至った。さらに、本発明者らは、上記樹脂組成物の構成は、イミド化率を制御した特定のポリイミド前駆体と、熱架橋性官能基を有する化合物とを含むことが好ましいことを見出した。すなわち、本発明は以下のとおりである。
【0008】
本発明の樹脂組成物は、熱硬化後のガラス転移温度が50℃〜120℃、弾性率が0.3GPa〜1.4GPaであって、はんだ浴に260℃にて60秒間浸漬した際、膨れ・焦げがないことを満たし、UL−94規格でVTM−1以上の難燃性を有することを特徴とする。
【0009】
本発明の樹脂組成物においては、樹脂組成物を1ヶ月保管後、重量平均分子量Mwの変化が10%以下であることが好ましい。
【0010】
本発明の樹脂組成物においては、ポリイミド前駆体と、熱架橋性官能基を有する化合物と、を含む樹脂組成物であって、前記ポリイミド前駆体が、下記一般式(1)で表される少なくとも1種のアルキルエーテル基を有するジアミン成分を必須成分として含んでなるポリイミド前駆体を有することが好ましい。
【0011】
【化1】

(式(1)中、R1、R2、R3、R4、及びR5は炭素数1〜炭素数5のアルキレン基を表し、R6、R7、R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14及びR15は水素原子または炭素数1〜炭素数5のアルキル基を表し、m、n、及びqは1〜20の整数を表す。)
【0012】
本発明の樹脂組成物においては、熱架橋性官能基を有する化合物が、トリアジン化合物、ベンゾオキサジン化合物、及びブロックイソシアネート化合物からなる群から選択された少なくとも1つの化合物であることが好ましい。
【0013】
本発明の樹脂組成物においては、全ジアミンに対する上記一般式(1)で表されるジアミンの含有量が25モル%〜60モル%であることが好ましい。
【0014】
本発明の樹脂組成物においては、前記ポリイミド前駆体100質量部に対して、前記熱架橋性官能基を有する化合物を5質量部〜40質量部の範囲で含有することが好ましい。
【0015】
本発明の樹脂組成物においては、難燃剤を含むことが好ましい。
【0016】
本発明のプリント回路基板の保護膜形成用材料は、上記樹脂組成物からなることを特徴とする。
【0017】
本発明の硬化物は、上記樹脂組成物を熱硬化して得られたことを特徴とする。
【0018】
本発明の回路基板は、配線を有する基材と、前記基材の表面を被覆する上記硬化物と、備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【0019】
本発明によれば、耐熱性に優れ、反りが少なく、低反発の硬化物が得られる樹脂組成物を提供することができる。また、それを用いた回路基板の保護膜形成用材料及び回路基板を提供することができる。
【発明を実施するための形態】
【0020】
以下、本発明について具体的に説明する。
本発明に係る樹脂組成物は、熱硬化後のガラス転移温度が50℃〜120℃、弾性率が0.3GPa〜1.4GPaであって、はんだ浴に260℃にて60秒間浸漬した際、膨れ・焦げがないことを満たし、UL−94規格でVTM−1以上の難燃性を有する樹脂組成物であり、硬化後に耐熱性に優れ、低反り、低反発性、難燃性を示す。この樹脂組成物の構成としては、ポリイミド前駆体、及び熱架橋性官能基を有する化合物を含む樹脂組成物であって、ポリイミド前駆体が、下記一般式(1)で表される少なくとも1種のアルキルエーテル基を有するジアミン成分を必須成分として含んでなるポリイミド前駆体を有するものが好ましい。
【0021】
【化2】

(式(1)中、R1、R2、R3、R4、及びR5は炭素数1〜炭素数5のアルキレン基を表し、R6、R7、R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14及びR15は水素原子または炭素数1〜炭素数5のアルキル基を表し、m、n、及びqは1〜20の整数を表す。)
【0022】
ポリイミド前駆体がアルキルエーテル基を有するジアミン成分を必須成分として含んでなることで、熱硬化後硬化物のガラス転移温度と弾性率を制御することができ、反りが少なく、低反発性を発現できる。そして、本発明に係る樹脂組成物は、熱硬化後に熱架橋性官能基を有する化合物の架橋を形成する。特定の構造を有するポリイミドと熱架橋性官能基を有する化合物との間で化学的な架橋と、特定の構造を有するポリイミドがポリオキシアルキレン鎖を有することから、高分子鎖間の局部的な相互作用で、三次元的なネットワークを形成することにより、耐熱性を発現できる。
【0023】
中でも、硬化後のガラス転移温度が61℃〜98℃であり、硬化後の弾性率が0.4GPa〜1.0GPaであることが好ましく、この特性を満たす樹脂組成物とすることで、さらに低反り、低反発性を示し、また、耐熱性も満足する。
【0024】
さらに、1ヶ月保管後、重量平均分子量Mwの変化が10%以下であれば、樹脂組成物のポットライフが長く貯蔵安定性に優れるため、取り扱い上好ましい。
【0025】
また、ポリイミド前駆体としては、部分イミド化したポリイミドを用いることが好ましい。部分イミド化とは、ポリイミド前駆体の分子鎖中のポリアミド酸の一部がイミド化したものである。ポリイミド前駆体のイミド化率は40%〜100%の範囲内がより好ましく、70%〜100%の範囲内が更に好ましい。ポリイミド前駆体のイミド化率が40%以上であれば、ポリイミド前駆体中のカルボキシル基の残基がある程度減少しているため、貯蔵安定性に優れる。
【0026】
(A)ポリイミド前駆体
下記一般式(1)で表される少なくとも1種のアルキルエーテル基を有するジアミン成分を必須成分として含んでなるポリイミド前駆体について説明する。
【0027】
【化3】

(式(1)中、R1、R2、R3、R4、及びR5は炭素数1〜炭素数5のアルキレン基を表し、R6、R7、R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14及びR15は水素原子または炭素数1〜炭素数5のアルキル基を表し、m、n、及びqは1〜20の整数を表す。)
【0028】
上記一般式(1)で表されるジアミンとしては、例えば、ポリオキシエチレンジアミンや、ポリオキシプロピレンジアミン、その他、炭素鎖数の異なるオキシアルキレン基を含むポリオキシアルキレンジアミン等が挙げられる。ポリオキシアルキレンジアミン類としては、米ハンツマン社製のジェファーミンED−600、ED−900、ED−2003、EDR−148、HK−511等のポリオキシエチレンジアミンや、ジェファーミンD−230、D−400、D−2000、D−4000等のポリオキシプロピレンジアミンや、ジェファーミンXTJ−542、XTJ−533、XTJ−536等のポリテトラメチレンエチレン基をもつもの等が使用例として挙げられる。
【0029】
中でも、比較的分子量の低いEDR−148、D−230、D−400、HK−511等は、比較的高いガラス転移温度をもつポリマーとなり得るため、耐熱性、耐薬品性が必要な用途で好ましく用いられる。一方、比較的分子量の高いD−2000等は、柔軟性等に優れる。また、耐熱性、耐薬品性と柔軟性、溶剤可溶性のバランスの点から、ポリオキシアルキレンジアミンの重量平均分子量としては、400〜1400が好ましく、500〜1000が特に好ましい。このような重量平均分子量のポリオキシジアミンとしては、ED−600、ED−900、XTJ−542が好ましく用いられる。中でも、エチレン基を有するポリオキシエチレンジアミンであるED−600とED−900は、溶剤可溶性がより向上し、特に好ましく用いられる。
【0030】
上記一般式(1)で表されるジアミンの含有量は、全ジアミンに対して25モル%〜80モル%であることが好ましい。より好ましくは25モル%〜60モル%、さらに好ましくは30モル%〜50モル%である。25モル%以上であれば、低反り、低反発性を示し、80モル%以下であれば、耐溶剤性と耐熱性に優れる。また、上記一般式(1)で表わされるジアミンは、その分子構造にエステル基を含有しないと共に、適度な長さのポリオキシアルキレン基を有する。このように、分子鎖中に加水分解性を有するエステル基を含有しないので、硬化後、特に高温高湿下で硬化物の安定性が良い。また、その分子鎖が適度な長さを有すると共に、適度な極性を有するので、反りと反発性を低減できる。
【0031】
また、上記一般式(1)で表わされるジアミンは、純度が高いものを用いた方がポリアミド酸として高分子量のものを得やすい。上記一般式(1)で表わされるジアミンの純度は、好ましくは95%以上、さらに好ましくは97%以上、さらに好ましくは98.5%以上である。
【0032】
上記一般式(1)で表されるジアミン以外に使用できるジアミンとしては、例えば、3,3’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、3,3’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェニル)エーテル、ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)エーテル、1,3−ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、ビス(3−(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェニル)エーテル、ビス(4−(4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェニル)エーテル、1,3−ビス(3−(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−(4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、4,4’−ビス(3−アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、m−フェニレンジアミン、o−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミン、ビス(3−アミノフェニル)スルフィド、ビス(4−アミノフェニル)スルフィド、ビス(3−アミノフェニル)スルホキシド、ビス(4−アミノフェニル)スルホキシド、ビス(3−アミノフェニル)スルホン、ビス(4−アミノフェニル)スルホン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、α,ω−ビス(2−アミノエチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノブチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノフェニル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジフェニルシロキサン等が挙げられるが、これらに限定されない。好ましくは、4,4’−ビス(3−アミノフェノキシ)ビフェニル、1,3−ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼンである。
【0033】
上記一般式(1)で表されるジアミン以外に使用できるジアミンは、全ジアミンに対して、20モル%〜75モル%含むことが好ましい。より好ましくは40モル%〜75モル%、さらに好ましくは50モル%〜70モル%である。全ジアミンに対して、20モル%以上用いることで耐溶剤性に優れ、75モル%以下用いることで反りと反発性が抑制される。
【0034】
テトラカルボン酸二無水物に制限はなく、従来公知のテトラカルボン酸二無水物を用いることができる。テトラカルボン酸二無水物の具体例として、芳香族テトラカルボン酸としては、ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2’,3,3’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,2’,3,3’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、1,1−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、1,1−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)スルホン二無水物、3,3’−オキシジフタル酸二無水物、4,4’−オキシジフタル酸二無水物、2,2−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,3−ジヒドロ−1,3−ジオキソ−5−イソベンゾフランカルボン酸−1,4−フェニレンエステル、4−(2,5−ジオキソテトラヒドロフラン−3−イル)−1,2,3,4−テトラヒドロナフタレン−1,2−ジカルボン酸無水物、1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,5,6−ピリジンテトラカルボン酸二無水物、3,4,9,10−ペリレンテトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,2−ビス(4−(3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,2−ビス(4−(3,4−ジカルボキシベンゾイルオキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ビフェニル二無水物などを挙げられる。
【0035】
テトラカルボン酸二無水物の具体例として、脂肪族テトラカルボン酸二無水物としては、シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−シクロペンタンテトラカルボン酸二無水物、2,3,5,6−シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物、5−(2,5−ジオキソテトラヒドロ−3−フラニル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸二無水物、ビシクロ[2,2,2]オクト−7−エン−2,3,5,6テトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−ブタンテトラカルボン酸二無水物が挙げられる。これらのテトラカルボン酸二無水物は単独あるいは2種以上混合しても用いてもよい。
【0036】
これらのテトラカルボン酸二無水物の中で、ポリイミドの耐熱性や重合速度の観点から、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、4,4’−オキシジフタル酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、が好ましいものとして挙げられる。
【0037】
ポリイミドの製造方法について述べる。本発明に係るポリイミドの製造方法は、公知方法を含め、ポリイミドを製造可能な方法が全て適用できる。中でも、有機溶媒中で反応を行うことが好ましい。このような反応において用いられる溶媒として、例えば、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、1,2−ジメトキシエタン、テトラヒドロフラン、1,3−ジオキサン、1,4−ジオキサン、ジメチルスルホキシド、ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、フェノール、クレゾール、安息香酸エチル、安息香酸ブチル等が挙げられる。これらは単独あるいは2種以上混合して用いられる。
【0038】
この反応における反応原料の濃度は、通常、2質量%〜60質量%、好ましくは30質量%〜50質量%である。
【0039】
反応させる酸二無水物とジアミンとのモル比は、0.8〜1.2の範囲内である。この範囲内の場合、分子量を上げることができ、伸度等にも優れる。好ましくは0.9〜1.1、より好ましくは0.95〜1.05である。
【0040】
ポリイミドの重量平均分子量は、5000以上100000以下であることが好ましい。ここで、重量平均分子量とは、既知の数平均分子量のポリスチレンを標準として、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーによって測定される分子量をいう。重量平均分子量は10000以上60000以下がより好ましく、20000以上50000以下が最も好ましい。重量平均分子量が5000以上100000以下であると樹脂組成物を用いて得られる保護膜の反りが改善され、低反発性、及び耐熱性に優れる。さらに塗工印刷時に所望する膜厚にて滲み無く印刷でき、また、得られた保護膜の伸度等の機械物性が優れる。
【0041】
ポリイミドは、以下のような方法で得られる。まず反応原料を室温で重縮合反応することにより、ポリイミド前駆体が製造される。次に、このポリイミド前駆体を好ましくは100℃〜400℃に加熱してイミド化するか、または無水酢酸等のイミド化剤を用いて化学イミド化することにより、ポリアミド酸に対応する繰り返し単位構造を有するポリイミドが得られる。加熱してイミド化する場合、副生する水を除去するために、共沸剤(好ましくは、トルエンやキシレン)を共存させて、ディーンシュターク型脱水装置を用いて、還流下、脱水を行うことも好ましい。
【0042】
また、80℃〜220℃で反応を行うことにより、ポリイミド前駆体の生成と熱イミド化反応を共に進行させて、ポリイミドを得ることも好ましい。すなわち、ジアミン成分と酸二無水物成分とを有機溶媒中に懸濁または溶解させ、80℃〜220℃の加熱下に反応を行い、ポリイミド前駆体の生成と脱水イミド化とを共に行わせることにより、ポリイミドを得ることも好ましい。
【0043】
また、ポリイミドのポリマー主鎖の末端が、モノアミン誘導体またはカルボン酸誘導体からなる末端封止剤で末端封止されることが好ましい。ポリイミドのポリマー主鎖の末端が封止されることで、貯蔵安定性に優れる。
【0044】
モノアミン誘導体からなる末端封止剤としては、例えば、アニリン、o−トルイジン、m−トルイジン、p−トルイジン、2,3−キシリジン、2,6−キシリジン、3,4−キシリジン、3,5−キシリジン、o−クロロアニリン、m−クロロアニリン、p−クロロアニリン、o−ブロモアニリン、m−ブロモアニリン、p−ブロモアニリン、o−ニトロアニリン、m−ニトロアニリン、p−ニトロアニリン、o−アミノフェノール、m−アミノフェノール、p−アミノフェノール、o−アニシジン、m−アニシジン、p−アニシジン、o−フェネチジン、m−フェネチジン、p−フェネチジン、o−アミノベンズアルデヒド、m−アミノベンズアルデヒド、p−アミノベンズアルデヒド、o−アミノベンゾニトリル、m−アミノベンゾニトリル、p−アミノベンゾニトリル、2−アミノビフェニル、3−アミノビフェニル、4−アミノビフェニル、2−アミノフェニルフェニルエーテル、3−アミノフェニルフェニルエーテル、4−アミノフェニルフェニルエーテル、2−アミノベンゾフェノン、3−アミノベンゾフェノン、4−アミノベンゾフェノン、2−アミノフェニルフェニルスルフィド、3−アミノフェニルフェニルスルフィド、4−アミノフェニルフェニルスルフィド、2−アミノフェニルフェニルスルホン、3−アミノフェニルフェニルスルホン、4−アミノフェニルフェニルスルホン、α−ナフチルアミン、β−ナフチルアミン、1−アミノ−2−ナフトール、5−アミノ−1−ナフトール、2−アミノ−1−ナフトール、4−アミノ−1−ナフトール、5−アミノ−2−ナフトール、7−アミノ−2−ナフトール、8−アミノ−1−ナフトール、8−アミノ−2−ナフトール、1−アミノアントラセン、2−アミノアントラセン、9−アミノアントラセン等の芳香族モノアミンを挙げることができ、この中で好ましくはアニリンの誘導体が使用される。これらは単独でも、2種以上を混合して用いることもできる。
【0045】
カルボン酸誘導体からなる末端封止剤としては、主に無水カルボン酸誘導体が挙げられ、無水フタル酸、2,3−ベンゾフェノンジカルボン酸無水物、3,4−ベンゾフェノンジカルボン酸無水物、2,3−ジカルボキシフェニルフェニルエーテル無水物、3,4−ジカルボキシフェニルフェニルエーテル無水物、2,3−ビフェニルジカルボン酸無水物、3,4−ビフェニルジカルボン酸無水物、2,3−ジカルボキシフェニルフェニルスルホン無水物、3,4−ジカルボキシフェニルフェニルスルホン無水物、2,3−ジカルボキシフェニルフェニルスルフィド無水物、3,4−ジカルボキシフェニルフェニルスルフィド無水物、1,2−ナフタレンジカルボン酸無水物、2,3−ナフタレンジカルボン酸無水物、1,8−ナフタレンジカルボン酸無水物、1,2−アントラセンジカルボン酸無水物、2,3−アントラセンジカルボン酸無水物、1,9−アントラセンジカルボン酸無水物等の芳香族ジカルボン酸無水物が挙げられる。これらの芳香族ジカルボン酸無水物の中で、好ましくは無水フタル酸が使用される。これらは単独でも、2種以上を混合して用いることもできる。
【0046】
得られたポリイミドは、脱溶剤することなく、そのまま、あるいはさらに必要な溶剤、添加剤等を配合して本発明に係る樹脂組成物とすることができる。
【0047】
(B)熱架橋性官能基を有する化合物
熱架橋性官能基を有する化合物は熱架橋性官能基を有していれば特に限定はないが、中でも、トリアジン系化合物、ベンゾオキサジン化合物、及びブロックイソシアネート化合物からなる群から選択される少なくとも1つの化合物が好ましい。
【0048】
トリアジン系化合物としては、メラミンおよび下記一般式(2)または下記一般式(3)で表される化合物、メラミン類およびシアヌル酸メラミン類などが好ましい。
【0049】
【化4】

(式(2)中、X、Y、Zはそれぞれ水素原子、酸素原子、硫黄原子または窒素原子を示す。R16〜R21は、それぞれ水素原子、炭素数1から炭素数5のアルキル基またはエーテル基であって、X、Y、Zが水素原子の場合は、水素原子は置換基を有さないため、R16〜R21は存在しない。)
【0050】
【化5】

(式(3)中、R22〜R24、それぞれ水素原子、炭素数1から炭素数5のアルキル基またはエーテル基を示す。)
【0051】
上記一般式(2)で表される化合物の具体例としては、メラミン、ヘキサメチロ−ルメラミン、ヘキサブチロ−ルメラミン、トリアジンチオールジオール、部分メチロ−ル化メラミンおよびそのアルキル化体、テトラメチロ−ルベンゾグアナミン、部分メチロ−ル化ベンゾグアナミンおよびそのアルキル化体等を挙げることができる。上記一般式(3)で表される化合物の具体例としては、イソシアヌル酸、トリメチルイソシアネート、トリエチルイソシアネート、トリス(2−ヒドロキシエチル)イソシアヌレート、トリ(nープロピル)イソシアヌレート、ジエチルイソシアヌレート、メチルイソシアヌレートなどが挙げられる。
【0052】
メラミン類としては、メラミン誘導体、メラミンと類似の構造を有する化合物およびメラミンの縮合物等が挙げられる。メラミン類の具体例としては、例えば、メチロール化メラミン、アンメリド、アンメリン、ホルモグアナミン、グアニルメラミン、シアノメラミン、アリールグアナミン、メラム、メレム、メロン等が挙げられる。
【0053】
シアヌル酸メラミン類としては、シアヌル酸とメラミン類との等モル反応物が挙げられる。また、シアヌル酸メラミン類中のアミノ基または水酸基のいくつかが、他の置換基で置換されていてもよい。このうちシアヌル酸メラミンは、例えば、シアヌル酸の水溶液とメラミンの水溶液とを混合し、90℃〜100℃で撹拌下反応させ、生成した沈殿を濾過することによって得ることができ、白色の固体であり、市販品をそのまま、またはこれを微粉末状に粉砕して使用できる。
【0054】
これら熱架橋性官能基を有する化合物は混合して用いることもできる。中でも、分散性が良好であるという点でメラミン・イソシアヌル酸付加物が好ましい。単体で用いる場合は、トリアジンチオールジオール、トリス(2−ヒドロキシエチル)イソシアヌレートが分散性が良好である。
【0055】
ベンゾオキサジン化合物は、下記一般式(4)で表されるベンゾオキサジン環を有する化合物である。
【0056】
【化6】

(式(4)中、R25は、炭素数1〜炭素数12の鎖状アルキル基、炭素数3〜炭素数8の環状アルキル基、フェニル基、または炭素数1〜炭素数12の鎖状アルキル基、若しくはハロゲンで置換されたフェニル基である。また、酸素原子が結合している芳香環中の炭素原子の、オルト位とパラ位の少なくとも一方の炭素原子には、水素が結合している。)
【0057】
R25のうち、炭素数1〜炭素数12の鎖状アルキル基の例としては、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、t−ブチル基が挙げられ、炭素数3〜8の環状アルキル基の例としては、シクロペンチル基、シクロヘキシル基が挙げられる。また、炭素数1〜12の鎖状アルキル基、若しくはハロゲンで置換されたフェニル基としては、o−メチルフェニル基、m−メチルフェニル基、p−メチルフェニル基、o−エチルフェニル基、m−エチルフェニル基、p−エチルフェニル基、o−t−ブチルフェニル基、m−t−ブチルフェニル基、p−t−ブチルフェニル基、o−クロロフェニル基、o−ブロモフェニル基などを挙げることができる。これらの中でも、良好な取り扱い性を与えることから、R11は、メチル基、エチル基、プロピル基、フェニル基、o−メチルフェニル基がさらに好ましい。
【0058】
ベンゾオキサジン化合物としては、例えば下記一般式(5)で表されるものが好ましく用いられる。
【0059】
【化7】

(式(5)中、R26は炭素数1から炭素数5の2価の有機基である。)
【0060】
中でも、R26は、下記式群(6)で表される2価の有機基のいずれかであることが好ましい。
【化8】

【0061】
ベンゾオキサジン化合物は、モノマーのみからなるものでも良いし、数分子が重合してオリゴマー状態となっていても良い。また、異なる構造を有するベンゾオキサジン化合物を同時に用いても良い。具体的には、ビスフェノールベンゾオキサジンが好ましく用いられる。
【0062】
ブロックイソシアネートとは、分子内に2個以上のイソシアネ−ト基を有するイソシアネ−トにブロック剤を反応させることにより得られる化合物である。イソシアネ−トとしては、1,6−ヘキサンジイソシアネ−ト、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネ−ト、2,4−トリレンジイソシアネ−ト、2,6−トリレンジイソシアネ−ト、キシリレンジイソシアネ−ト、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート、4,4’−水酸化ジイソシアネ−ト、イソホロンジイソシアネ−ト、1,5−ナフタレンジイソシアネ−ト、4,4−ジフェニルジイソシアネ−ト、1,3―ビス(イソシアネートメチル)シクロヘキサン、フェニレン1,4−ジイソシアネ−ト、フェニレン2,6−ジイソシアネ−ト、1,3,6−ヘキサメチレントリイソシアネ−ト、又はヘキサメチレンジイソシアネートなどが挙げられる。ブロック剤としては、アルコ−ル類、フェノ−ル類、ε−カプロラクタム、オキシム類、活性メチレン類、メルカプタン類、アミン類、イミド類、酸アミド類、イミダゾ−ル類、尿素類、カルバミン酸塩類、イミン類、又は亜硫酸塩類、などが用いられる。
【0063】
上記ブロックイソシアネート化合物のより具体的な製品としては、例えば、ヘキサメチレンジイソシアネート(以下、「HDI」とも言う。)系ブロックイソシアネートである、旭化成ケミカルズ社製の商品名デュラネート17B−60PX、TPA−B80E、TPA−B80X、MF−B60X、E402−B80T、ME20−B80S、MF−K60X、K6000が用いられる。また、三井化学ポリウレタン社製品としては、商品名タケネートB−882Nや、トリレンジイソシアネート系ブロックイソシアネートである商品名タケネートB−830や、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネ−ト系ブロックイソシアネートである商品名タケネートB−815N、1,3―ビス(イソシアネートメチル)シクロヘキサン系ブロックイソシアネートであるタケネートB−846Nが用いられる。また、日本ポリウレタン工業社製の商品名コロネートAP−M、2503、2515、2507、2513、又はミリオネートMS−50などが挙げられ、これらを単独で又は2種類以上を組み合わせて使用できる。
【0064】
200℃以下での低温硬化性を発現させる為には、上述の硬化温度の低いHDI系のブロックイソシアネートを用いるのが好ましい。
【0065】
熱架橋性官能基を有する化合物はポリイミド前駆体100質量部に対して、5質量部〜40質量部の範囲で含有する。5質量部〜40質量部の範囲であれば、はんだ耐熱性、非反り性、屈曲性を損ねることがなく好ましい。中でも、10質量部以上であれば架橋密度の面から特に好ましく、20質量部以下であれば反りと反発性の面から特に好ましい。
【0066】
(C)樹脂組成物
樹脂組成物は、ポリイミド100質量部に対して熱架橋性官能基を有する化合物を1質量部〜40質量部の範囲で含有することが好ましい。1質量部〜40質量部の範囲であれば、耐熱性(はんだ耐熱性)、低反り性、屈曲性を損ねることがなく好ましい。中でも、5質量部以上であれば架橋密度の面から特に好ましく、20質量部以下であれば反りと反発性の面から特に好ましい。
【0067】
樹脂組成物は、(A)ポリイミド、(B)熱架橋性官能基を有する化合物に加え、更に有機溶媒を含有してもよい。有機溶媒に溶解した状態でワニスとして好ましく使用することができる。このような有機溶媒としては、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリドン等のアミド溶媒、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン等のラクトン溶媒、ジメチルスルホキシド、ジエチルスルホキシド、ヘキサメチルスルホキシド等の含硫黄系溶媒、クレゾール、フェノール等のフェノール系溶媒、ジエチレングリコールジメチルエーテル(ジグライム)、トリエチレングリコールジメチルエーテル(トリグライム)、テトラグライム、ジオキサン、テトラヒドロフラン、安息香酸ブチル、安息香酸エチル、安息香酸メチル等のエーテル溶媒が挙げられる。また、これらを単独で使用しても複数併用しても良い。特に、高沸点と低吸水性の点から、γ−ブチロラクトン、トリグライム、安息香ブチル、安息香酸エチルを好ましく使用できる。
【0068】
樹脂組成物は、(A)ポリイミド、(B)熱架橋性官能基を有する化合物に加え、更に難燃剤を含有してもよい。難燃剤の種類は特に限定はないが、含ハロゲン化合物、含リン化合物及び無機難燃剤等が挙げられる。これらの難燃剤を一種用いてもよいし、二種以上を混合して使用してもよい。
【0069】
難燃剤の添加量は、特に限定されることがなく、用いる難燃剤の種類に応じて適宜に変更さればよい。一般的に、ポリイミドの含有量を基準として、ポリイミド100質量部に対し、5質量部から50質量部の範囲で用いられることが好ましい。
【0070】
上記難燃剤が含ハロゲン化合物としては、塩素を含む有機化合物と臭素を含む化合物等が挙げられる。具体的には、ペンタブロモジフェニルエーテル、オクタブロモジフェニルエーテル、デカブロモジフェニルエーテル、テトラブロモビスフェノールA、ヘキサブロモシクロドデカンテトラブロモビスフェノールA等が挙げられる。
【0071】
上記難燃剤が含リン化合物としては、ホスファゼン、ホスフィン、ホスフィンオキサイド、リン酸エステル、及び亜リン酸エステル等のリン化合物が揚げられる。特にポリイミド組成物との相溶性の面から、ホスファゼン、ホスファイオキサイド、またはリン酸エステルが好ましく用いられる。
【0072】
上記難燃剤が無機難燃剤としては、アンチモン化合物と金属水酸化物等が挙げられる。アンチモン化合物として、三酸化アンチモンと五酸化アンチモンが挙げられる。アンチモン化合物と上記含ハロゲン化合物との併用で、プラスチックの熱分解温度域で、酸化アンチモンが難燃剤からハロゲン原子を引き抜いてハロゲン化アンチモンを生成するため、相乗的に難燃性を上げることができる。金属水酸化物として、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム等が挙げられる。
【0073】
無機難燃剤を用いた場合、有機溶媒に溶解しないため、その粉末の粒径は100μm以下が好ましい。粉末の粒径は100μm以下であれば、ポリイミド組成物に混入しやすく、硬化後の樹脂の透明性を損ねることなく好ましい。更に難燃性を上げるためには、粉末の粒径は50μm以下が好ましく、10μm以下は特に好ましい。
【0074】
塗工膜にする時、その塗工方式に応じて粘度とチクソトロピーの調整を行う。必要に応じて、フィラーやチクソトロピー性付与剤を添加して用いることも可能である。また、公知の消泡剤やレベリング剤等の添加剤を加えることも可能である。
【0075】
樹脂組成物を用いた膜形成は、公知のスクリーン印刷、又は、精密ディスペンス法によりフレキシブルプリント回路基板や半導体ウエハー表面に印刷することができる。
【0076】
樹脂組成物は、ポリイミドのイミド化反応が150℃〜220℃で十分に達成される。このため、コーティング膜厚にもよるが、オーブンあるいはホットプレートにより最高温度は150℃〜220℃の範囲とし、5分間〜100分間、空気あるいは窒素等の不活性雰囲気下で加熱することで脱溶媒される。処理時間の全体に亘って一定の温度であっても良く、徐々に昇温させながら行うこともできる。
【0077】
樹脂組成物は、熱硬化させることにより優れた耐熱性を示すので、半導体素子の表面硬化膜、層間絶縁膜、ボンディングシート、又はプリント配線板用保護絶縁膜として有用であり、種々の電子部品に適用される。また、電子回路を有するプリント回路基板の表面保護膜として、樹脂組成物は好適に使用することができる。例えば、フレキシブルなプリント回路基板として、エスパネックスM(新日鉄化学社製)(絶縁層の厚さ25μm、導体層は銅箔F2−WS(18μm))を用い、この回路基板上の一部に樹脂組成物を塗布する。そして、塗布しなかった部分に電解ニッケル−金メッキを施すことで用いられる。表面保護膜は、良好な絶縁特性を発揮する。
【0078】
また、エスパネックスM(新日鉄化学社製)(絶縁層の厚さ25μm、導体層は銅箔F2−WS(18μm))の両面銅張板を用いて、両面部品実装回路基板を作成し、この回路基板の部品実装部以外に樹脂組成物を塗布、硬化して、樹脂組成物を表面保護膜として用いても、良好な絶縁特性を発揮する。ここで、表面保護膜の膜厚は1μm〜50μmであることが好ましい。膜厚は1μm以上では取り扱いが容易であり、50μm以下では折り曲げやすく組み込みが容易となる。ポリイミド前駆体の製造方法について述べる。ポリイミド前駆体の製造方法は、公知の方法を含め、ポリイミド前駆体を製造可能な方法が全て適用できる。
【0079】
以下、本発明の硬化を明確にするために実施した実施例及び比較例によって本発明を詳細に説明する。なお、本発明は以下の実施例及び比較例によって何ら限定されるものではない。
【0080】
(硬化膜の作製)
硬化膜は、以下のように作製した。基板として東レ・デュポン社製のカプトン(登録商標)100ENを用い、その片面に樹脂組成物をバーコーターで基板に塗工し、室温で5分間〜10分間レベリングを実施した。次に、熱風オーブンにて120℃、30分間加熱し、次いで、180℃、60分間加熱して乾燥硬化した。乾燥硬化後の膜厚は、約20μmであった。作製した硬化膜は、試料として以下の試験に用いた。
【0081】
(イミド化率の測定)
イミド化率は、IR法で求めた。1480cm‐1近傍のベンゼン環に基づくピークを基準とし、1380cm‐1近傍のイミド環生成に基づくピークの吸光度と基準ピークの吸光度との比からイミド化率を求めた。イミド化率の測定においては、それぞれのピーク前後でピークの谷と谷を結ぶように適宜ベースラインを引き、それぞれのピークからそのベースラインへ降ろした線とベースラインとの交点からピークまでの高さをそれぞれの吸光度とした。イミド化率は、上記のように測定した吸光度を用い、以下のように算出した。樹脂をそれぞれの組成で50℃にて合成し、80℃で乾燥した際の樹脂の1480cm‐1における吸光度をA1、1380cm‐1の吸光度をB1とした。また、大気雰囲気で220℃、60分間熱処理した際の樹脂の1480cm‐1における吸光度をA2、1380cm‐1の吸光度をB2とし、任意の温度における1480cm‐1の吸光度をA3、1380cm‐1の吸光度をB3とした場合、任意の温度におけるイミド化率Cは、220℃、60分間熱処理時のイミド化率を100として、イミド化率C=((B3/A3―B1/A1)/(B2/A2―B1/A1))×100(%)の式で算出した。
【0082】
(反り評価)
反り評価は、以下のように実施した。23℃、湿度50%の環境下にて、上記試料を5cm×5cmに切断し、中央部に対する角の浮き上がった距離を反りとして測定した。反りが10mm以下であるものは良好で○、5mm以下であるものは更に良好で◎、10mmを超えるものは不良で×とした。
【0083】
(反発性評価)
反発性は、23℃、湿度50%の環境下にて、保護膜を積層した側を内向きに折り曲げて並行板で挟み、並行板間に掛ける荷重を加えて行き、1分後、屈曲半径R=0.5mmで維持した際の荷重を測定して評価した。カプトン(登録商標)100EN基板のみの場合の荷重に対して、荷重増加が10%以下の場合は良好で○、5%以下の場合は更に良好で◎、10%を超えて反発力が高まった場合は不良で×とした。
【0084】
(ガラス転移温度(Tg)、弾性率の測定試料の作製)
基板として、銅箔(18μm)(F2−WS 古河サーキットフォイル社製)を使用し、この基板の上に、上記と同様に保護膜を形成した。得られた積層体を塩化第二鉄水溶液(40ボーメ、鶴見曹達社製)に浸漬して、エッチングを行い、保護膜層のみを得た。エッチング後、温度23℃、湿度50%で一昼夜静置した後、ガラス転移温度と弾性率の測定を行った。
【0085】
(ガラス転移温度測定)
ガラス転移温度(Tg)は、熱・応力・歪測定装置(TMA/SS6100、セイコーインスツルメントナノテクノロジー社製)を用いて、窒素雰囲気下(流速250cc/min)、測定範囲30℃〜200℃の条件で測定した。
【0086】
(弾性率測定)
上記の保護層のみの試料を5mm×100mmに切り出し、試験片とした。得られた試験片を引っ張り試験機(RTG−1210/エー・アンド・デイ社製)にて測定し、弾性率を求めた。
【0087】
(貯蔵安定性)
貯蔵安定性の評価として、重量平均分子量(Mw)の変化、及び粘度の変化を測定した。樹脂組成物を配合した後、−20℃の冷凍庫で1ヶ月保管後、重量平均分子量(Mw)の変化が10%以下の場合は良好で○、10%超える場合は不良で×とし、粘度の変化が10%以下の場合は良好で○、10%を超える場合は不良で×とした。
【0088】
(重量平均分子量測定)
重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)を用い、下記の条件により測定した。溶媒としてN、N−ジメチルホルムアミド(和光純薬工業社製、高速液体クロマトグラフ用)を用い、測定前に24.8mmol/Lの臭化リチウム一水和物(和光純薬工業社製、純度99.5%)及び63.2mmol/Lのリン酸(和光純薬工業社製、高速液体クロマトグラフ用)を加えたものを使用した。また、重量平均分子量を算出するための検量線は、スタンダードポリスチレン(東ソー社製)を用いて作成した。
カラム:TSK−GEL SUPER HM−H(東ソー社製)
流速:1.0mL/分
カラム温度:40℃
ポンプ:PU−2080Plus(JASCO社製)
検出器:RI−2031Plus(RI:示差屈折計、JASCO社製)
UV―2075Plus(UV−VIS:紫外可視吸光計、JASCO社製)
【0089】
(粘度測定)
粘度測定は、B型粘度計(東機産業社製、RE−85R)を用いて実施した。測定温度23℃、回転数2.5rpmの測定条件下において、粘度を測定した。
【0090】
(耐熱性評価)
耐熱性は、3cm×3cmに切断した試料をハンダ浴に260℃で60秒間浸漬する試験を実施して評価した。JPCA−BM02規格に準じ、50倍の実体顕微鏡で観察し、膜表面に膨れ・焦げ等の異常は見られない場合は○、ある場合は×とした。なお、ここでの膨れは上記のハンダ浴フロートをした後、硬化膜の表面に5μm以上の盛り上がりを指す。
【0091】
(難燃性評価)
両面塗工したサンプルを、200mm×50mmに切断し、長さ200mm、直径12.7mmの筒状に巻き、これを用いて難燃性の評価尺度として、米国UL規格のUL−94に規定されている垂直燃焼試験に従って評価を行った。
【0092】
[ポリイミドの合成例1]
三口セパラブルフラスコに窒素導入管、温度計、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取り付けた。氷水浴0℃で、ジェファーミンXTJ−542(ハンツマン社製、重量平均分子量1000)40g、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB)16.665g、γ−ブチロラクトン(GBL)60g、安息香酸エチル(BAEE)60g、トルエン20g、γ−バレロラクトン1.2g、ピリジン1.8gを入れ、均一になるまで攪拌した。さらに、3,3’,4,4’−ジフェニルエーテルテトラカルボン酸二無水物(ODPA)15.51g、及び3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物(DSDA)17.9gを少しずつ添加した。0.5時間攪拌した後、170℃まで昇温し、5時間加熱した後、アニリン0.57gを加え、室温まで冷却した。反応中、副生する水は、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を用い、トルエンとの共沸により還流下脱水した。副生水を抜いた後、還流を止め、トルエンを全抜きした。次に生成物を5μmのフィルターで加圧ろ過することでポリイミドワニスを得た。
【0093】
[ポリイミドの合成例2]
三口セパラブルフラスコに窒素導入管、温度計、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取り付けた。氷水浴0℃で、ジェファーミンED−600(ハンツマン社製、重量平均分子量600)36g、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB)10.817g、γ−ブチロラクトン(GBL)60g、安息香酸エチル(BAEE)60g、トルエン20g、γ−バレロラクトン1.2g、ピリジン1.8gを入れ、均一になるまで攪拌した。さらに、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物(BTDA)16.11g、及び3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物(DSDA)17.9gを少しずつ添加した。0.5時間攪拌した後、170℃まで昇温し、5時間加熱した後、室温まで冷却した。反応中、副生する水は、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を用いて、トルエンとの共沸により還流下脱水した。副生水を抜いた後、還流を止め、トルエンを全抜きした。次に生成物を5μmのフィルターで加圧ろ過することでポリイミドワニスを得た。
【0094】
[ポリイミドの合成例3]
三口セパラブルフラスコに窒素導入管、温度計、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取り付けた。氷水浴0℃で、ジェファーミンXTJ−542(ハンツマン社製、重量平均分子量1000)40g、γ−ブチロラクトン(GBL)60g、安息香酸エチル(BAEE)60g、トルエン20g、γ−バレロラクトン12g、ピリジン18gを入れ、均一になるまで攪拌した。さらに、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物(BTDA)18.365g、及び3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物(DSDA)14.32gを少しずつ添加した。0.5時間攪拌した後、170℃まで昇温し、4時間加熱した。反応中、副生する水は、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を用いて、トルエンとの共沸により還流下脱水した。副生水を抜いた後、還流を止めてトルエンを全抜きした。系を60℃まで冷却した後、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB)17.54gを添加した。5時間後、無水フタル酸0.889gを加え、室温まで冷却した。次に生成物を5μmのフィルターで加圧ろ過することでポリイミドワニスを得た。
【0095】
[ポリイミドの合成例4]
三口セパラブルフラスコに窒素導入管、温度計、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取り付けた。氷水浴0℃で、ジェファーミンXTJ−542(ハンツマン社製、重量平均分子量1000)40g、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB)14.033g、γ−ブチロラクトン(GBL)60g、安息香酸エチル(BAEE)60g、トルエン20g、γ−バレロラクトン12g、ピリジン18gを入れ、均一になるまで攪拌した。さらに、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物(BTDA)18.365g、及び3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物(DSDA)14.32gを少しずつ添加した。0.5時間攪拌した後、170℃まで昇温し、4時間加熱した。反応中、副生する水は、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を用いて、トルエンとの共沸により還流下脱水した。副生水を抜いた後、還流を止め、トルエンを全抜きした。系を60℃まで冷却した後、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB)3.508gを添加した。5時間後、無水フタル酸0.889gを加え、室温まで冷却した。次に生成物を5μmのフィルターで加圧ろ過することでポリイミドワニスを得た。
【0096】
[ポリイミドの合成例5]
三口セパラブルフラスコに窒素導入管、温度計、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取り付けた。氷水浴0℃で、ジェファーミンED−600(ハンツマン社製、重量平均分子量600)36g、γ−ブチロラクトン(GBL)60g、安息香酸エチル(BAEE)60g、トルエン20g、γ−バレロラクトン12g、ピリジン18gを入れ、均一になるまで攪拌した。さらに、3,3’,4,4’−ジフェニルエーテルテトラカルボン酸二無水物(ODPA)29.469gを少しずつ添加した。0.5時間攪拌した後、170℃まで昇温し、4時間加熱した。反応中、副生する水は、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を用いて、トルエンとの共沸により還流下脱水した。副生水を抜いた後、還流を止め、トルエンを全抜きした。系を60℃まで冷却した後、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB)11.694gを添加した。5時間後、無水フタル酸0.889gを加え、室温まで冷却した。次に生成物を5μmのフィルターで加圧ろ過することでポリイミドワニスを得た。
【0097】
[ポリイミドの合成例6]
三口セパラブルフラスコに窒素導入管、温度計、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取り付けた。氷水浴0℃で、ジェファーミンXTJ−542(ハンツマン社製、重量平均分子量1000)25g、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB)18.419g、γ−ブチロラクトン(GBL)60g、安息香酸エチル(BAEE)60g、トルエン20g、γ−バレロラクトン12g、ピリジン18gを入れ、均一になるまで攪拌した。さらに、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物(BTDA)18.365g、及び3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物(DSDA)14.32gを少しずつ添加した。0.5時間攪拌した後、170℃まで昇温し、4時間加熱した。反応中、副生する水は、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を用いて、トルエンとの共沸により還流下脱水した。副生水を抜いた後、還流を止め、トルエンを全抜きした。系を60℃まで冷却した後、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB)3.508gを添加した。5時間後、無水フタル酸0.889gを加え、室温まで冷却した。次に生成物を5μmのフィルターで加圧ろ過することでポリイミドワニスを得た。
【0098】
[ポリイミドの合成例7]
三口セパラブルフラスコに窒素導入管、温度計、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取り付けた。氷水浴0℃で、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB)27.774g、γ−ブチロラクトン(GBL)60g、安息香酸エチル(BAEE)60g、トルエン20g、γ−バレロラクトン12g、ピリジン18gを入れ、均一になるまで攪拌した。さらに、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物(BTDA)16.111gと、3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物(DSDA)17.9gを少しずつ添加した。0.5時間攪拌した後、170℃まで昇温し、5時間加熱した後、アニリン0.57gを加え、室温まで冷却した。反応中、副生する水は、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を用いて、トルエンとの共沸により還流下脱水した。副生水を抜いた後、還流を止め、トルエンを全抜きした。次に生成物を5μmのフィルターで加圧ろ過することでポリイミドワニスを得た。
【0099】
[実施例1]
ポリイミドの合成例1で得られたポリイミド100質量部に、熱架橋性官能基を有する化合物(以降、「熱架橋剤」とする)としてビスフェノールベンゾオキサジン(Bis−F:Bis−Fタイプベンゾオキサジン 小西化学工業社製)を15質量部加えた。難燃剤として、水酸化マグネシウム(平均二次粒子径1.0μm、タテホ化学工業社製)を40質量部加え、ポリイミドが30質量%になるよう樹脂組成物を調合した。硬化膜を作成し、その評価を行った。
【0100】
[実施例2]
ポリイミドの合成例1で得られたポリイミド100質量部に、熱架橋剤としてメチロール化メラミン(Mw390:ニカラックMW−390 三和ケミカル社製)を20質量部加えた。難燃剤として、水酸化マグネシウム(平均二次粒子径1.0μm、タテホ化学工業社製)を40質量部加え、ポリイミドが30質量%になるよう樹脂組成物を調合した。硬化膜を作成し、その評価を行った。
【0101】
[実施例3]
ポリイミドの合成例1で得られたポリイミド100質量部に、熱架橋剤としてヘキサメチレンジイソシアネートのブロックポリイソシアネート(TPA−B:デュラネートTPA−B80E 旭化成ケミカルズ社製)を20質量部加えた。難燃剤として、水酸化マグネシウム(平均二次粒子径1.0μm、タテホ化学工業社製)を40質量部加え、ポリイミドが30質量%になるよう樹脂組成物を調合した。硬化膜を作成し、その評価を行った。
【0102】
[実施例4]
ポリイミドの合成例2で得られたポリイミド100質量部に、熱架橋性官能基を有する化合物(以降、「熱架橋剤」とする)としてビスフェノールベンゾオキサジン(Bis−F:Bis−Fタイプベンゾオキサジン 小西化学工業社製)を15質量部加えた。難燃剤として、水酸化マグネシウム(平均二次粒子径1.0μm、タテホ化学工業社製)を40質量部加え、ポリイミドが30質量%になるよう樹脂組成物を調合した。硬化膜を作成し、その評価を行った。
【0103】
[実施例5]
ポリイミドの合成例3で得られたポリイミド100質量部に、熱架橋性官能基を有する化合物(以降、「熱架橋剤」とする)としてビスフェノールベンゾオキサジン(Bis−F:Bis−Fタイプベンゾオキサジン 小西化学工業社製)を10質量部加えた。難燃剤として、水酸化マグネシウム(平均二次粒子径1.0μm、タテホ化学工業社製)を40質量部加え、ポリイミドが30質量%になるよう樹脂組成物を調合した。硬化膜を作成し、その評価を行った。
【0104】
[実施例6]
ポリイミドの合成例4で得られたポリイミド100質量部に、熱架橋性官能基を有する化合物(以降、「熱架橋剤」とする)としてビスフェノールベンゾオキサジン(Bis−F:Bis−Fタイプベンゾオキサジン 小西化学工業社製)を20質量部加えた。難燃剤として、水酸化マグネシウム(平均二次粒子径1.0μm、タテホ化学工業社製)を40質量部加え、ポリイミドが30質量%になるよう樹脂組成物を調合した。硬化膜を作成し、その評価を行った。
【0105】
[実施例7]
ポリイミドの合成例5で得られたポリイミド100質量部に、熱架橋性官能基を有する化合物(以降、「熱架橋剤」とする)としてビスフェノールベンゾオキサジン(Bis−F:Bis−Fタイプベンゾオキサジン 小西化学工業社製)を10質量部加えた。難燃剤として、水酸化マグネシウム(平均二次粒子径1.0μm、タテホ化学工業社製)を40質量部加え、ポリイミドが30質量%になるよう樹脂組成物を調合した。硬化膜を作成し、その評価を行った。
【0106】
[実施例8]
ポリイミドの合成例6で得られたポリイミド100質量部に、熱架橋性官能基を有する化合物(以降、「熱架橋剤」とする)としてビスフェノールベンゾオキサジン(Bis−F:Bis−Fタイプベンゾオキサジン 小西化学工業社製)を25質量部加え、ポリイミドが30質量%になるよう樹脂組成物を調合した。硬化膜を作成し、その評価を行った。
【0107】
[比較例1]
ポリイミドの合成例7で得られたポリイミド100質量部に、熱架橋性官能基を有する化合物(以降、「熱架橋剤」とする)としてビスフェノールベンゾオキサジン(Bis−F:Bis−Fタイプベンゾオキサジン 小西化学工業社製)を10質量部加えた。難燃剤として、水酸化マグネシウム(平均二次粒子径1.0μm、タテホ化学工業社製)を40質量部加え、ポリイミドが30質量%になるよう樹脂組成物を調合した。硬化膜を作成し、その評価を行った。
【0108】
[比較例2]
熱架橋剤を未添加以外、他の配合等は実施例1と同様に評価を行った。
【0109】
[比較例3]
熱架橋剤の種類をエポキシにする以外、他の配合等は実施例1と同様に評価を行った。なお、表1において、エポキシとは、1,4−ブタンジオールジグリシジルエーテルである。実施例1〜実施例8と比較例1〜比較例3の結果を表1に示す。
【0110】
(プリント回路基板の表面保護膜の評価)
フレキシブルプリント配線板の基材として、エスパネックスM(新日鉄化学社製)(絶縁層の厚さ25μm、導体層として、銅箔F2−WS(18μm))を使用し、ライン/スペース:30μm/30μm、50μm/50μm、100μm/100μm、200μm/200μmの櫛形配線板を作成した。この回路基板上の一部に実施例1の樹脂組成物を塗布し、塗布しなかった部分にニッケルの厚さ約5μm、金の厚さ約0.05μmの電解ニッケル−金メッキを施した。マイクロ蛍光X線分析の結果、樹脂組成物を塗工した部分へのメッキの潜り込みは20μm未満であった。また、抵抗計により回路間の絶縁状態は良好であることを確認した。さらに、櫛形配線板の櫛形部にインクを印刷し、信頼性試験として、DC50V、85℃、湿度85%の条件下で1000時間放置しながら抵抗を測定した。その結果、いずれも終始10Ωを越える抵抗を保持し、良好な結果が得られた。
【0111】
また、エスパネックスM(新日鉄化学社製)(絶縁層の厚さ25μm、導体層は銅箔F2−WS(18μm))の両面銅張板を用いて、直径100μmの炭酸ガスレーザービアを作成し、銅メッキ後に両面部品実装回路基板を作成した。この回路基板の部品実装部以外に樹脂組成物を塗布し、未塗布部に部品をハンダペーストにて固定した後に260℃のIRリフロー炉により部品実装したが、インク表面、回路部に異常は見られなかった。また、部品非実装部を180度に屈曲させ電子機器に組み込んだが、85℃、湿度85%、DC50Vの環境下で1000時間以上良好に稼働した。
【0112】
【表1】

【0113】
表1に示すように、ポリオオキシアルキルエーテル基を有するポリイミドと熱架橋剤とを含む場合、反り、反発性、耐熱性、難燃性を満足した。さらに、イミド化率が0.4以上であれば、良好な貯蔵安定性を示すことが分かった。一方、ポリイミド構造内アルキルエーテル基を有しない場合、または本発明に係る熱架橋剤を含まない場合は、反り、反発性、耐熱剤性、難燃性の諸特性のバランスが取れなかった。
【産業上の利用可能性】
【0114】
本発明は、半導体素子の表面保護膜、層間絶縁膜、ボンディングシート、プリント配線板用保護絶縁膜として有用な耐熱性樹脂組成物、及び前記耐熱性樹脂組成物を用いた回路基板、電子部品などに適用できる。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
熱硬化後のガラス転移温度が50℃〜120℃、弾性率が0.3GPa〜1.4GPaであって、はんだ浴に260℃にて60秒間浸漬した際、膨れ・焦げがないことを満たし、UL−94規格でVTM−1以上の難燃性を有することを特徴とする樹脂組成物。
【請求項2】
1ヶ月保管後、重量平均分子量Mwの変化が10%以下であることを特徴とする請求項1に記載の樹脂組成物。
【請求項3】
ポリイミド前駆体と、熱架橋性官能基を有する化合物と、を含む樹脂組成物であって、前記ポリイミド前駆体が、一般式(1)で表される少なくとも1種のアルキルエーテル基を有するジアミン成分を必須成分として含んでなるポリイミド前駆体を含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の樹脂組成物。
【化1】

(式(1)中、R1、R2、R3、R4、及びR5は炭素数1〜炭素数5のアルキレン基を表し、R6、R7、R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14及びR15は水素原子または炭素数1〜炭素数5のアルキル基を表し、m、n、及びqは1〜20の整数を表す。)
【請求項4】
熱架橋性官能基を有する化合物が、トリアジン化合物、ベンゾオキサジン化合物、及びブロックイソシアネート化合物からなる群から選択された少なくとも1つの化合物であることを特徴とする請求項3に記載の樹脂組成物。
【請求項5】
全ジアミンに対する上記一般式(1)で表されるジアミンの含有量が25モル%〜60モル%であることを特徴とする請求項3又は請求項4に記載の樹脂組成物。
【請求項6】
前記ポリイミド100質量部に対して、前記熱架橋性官能基を有する化合物を5質量部〜40質量部の範囲で含有することを特徴とする請求項3から請求項5のいずれかに記載の樹脂組成物。
【請求項7】
難燃剤を含むことを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の樹脂組成物。
【請求項8】
請求項1から請求項7のいずれかに記載の樹脂組成物からなることを特徴とするプリント回路基板の保護膜形成用材料。
【請求項9】
請求項1から請求項7のいずれかに記載の樹脂組成物を熱硬化して得られたことを特徴とする硬化物。
【請求項10】
配線を有する基材と、前記基材の表面を被覆する請求項9に記載の硬化物と、備えたことを特徴とする回路基板。

【公開番号】特開2011−157502(P2011−157502A)
【公開日】平成23年8月18日(2011.8.18)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−21289(P2010−21289)
【出願日】平成22年2月2日(2010.2.2)
【出願人】(309002329)旭化成イーマテリアルズ株式会社 (771)
【Fターム(参考)】