説明

画像形成装置

【課題】画像品質に関わる測定の信頼性を保ち、画像品質を確保する。
【解決手段】実質同等の条件下でパターンセンサを用いた測定を複数回行い、得られた複数の測定値の一部について、基準との差が大きい測定値の重みがそれよりも基準との差が小さい測定値の重みよりも小さくなるように重み付けを調整し、それらの測定値に基づいて結果値を算出する。即ち、基準との差が大きい測定値については、何らかの事情で特異な値が測定された可能性が高く、その測定値を基準との差が小さい測定値と同等の重みで結果値に反映させると、結果値の信頼性が下がってしまうことになる。一方で、基準との差が大きい測定値を除外し結果値に反映させないと、結果値に反映させる測定値が偏って、やはり信頼性が下がる場合がある。そこで、基準との差が大きい測定値については、重みが低くなるように重み付けを調整した上で結果値に反映させることで、結果値の信頼性を確保できる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、画像形成装置に関し、特に光学センサを用いて各種の測定を行う機能を備えた画像形成装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来より画像形成装置として、光学センサを用いて各種の測定を行う機能を備えたものが知られている。具体的には、例えば、光学センサによりベルト上に形成したパターンに照射した光の反射光を受光し、その受光量に応じた出力に基づいて画像の形成位置や濃度のずれを測定し、その結果に応じて画像の補正を行うものがある。また、このような光学センサによって、ベルトに照射した光の反射光を受光したときの出力に基づく測定を行い、光学センサ自体の感度を調整する技術も知られている(特許文献1参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開2008−134333公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
上述のように光学センサを用いて各種の測定を行う際には、例えばベルト表面の傷や汚れなど、様々な原因により測定値がばらつき、そのばらつきによって測定値の信頼性が下がることがある。そして、その信頼性が下がった測定値に基づいて画像に関する補正を行うと画像品質を確保できなくなるおそれがある。一般には、同等の測定を数多く行って、得られた複数の測定値の平均をとれば、信頼性が高い値を得ることができる。しかしながら、信頼性を高めるためには測定を数多く行う必要が生じ、測定に時間がかかるなどの不都合が生じる。
【0005】
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、画像品質に関わる測定の信頼性を保ち、画像品質を確保することが可能な画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記の目的を達成するための手段として、第1の発明に係る画像形成装置は、画像を形成する形成手段と、対象物に光を照射する投光手段及び前記対象物からの光を受光しその受光量に応じた出力を行う受光手段を有する光学センサと、前記光学センサの出力に基づいた測定値を取得するための測定を実質同等の条件下で複数回行う測定手段と、前記測定手段により取得された複数の測定値のうち少なくとも一部の測定値について、基準との差が大きい測定値の重みが基準との差が小さい測定値の重みよりも小さくなるように重み付けを調整し、それらの重み付けが調整された測定値に基づいて結果値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出された結果値を利用して前記形成手段により形成される画像に関する補正を行う補正手段と、を備える。
【0007】
第1の発明によれば、実質同等の条件下で光学センサを用いた測定を複数回行い、得られた複数の測定値の少なくとも一部について、基準との差が大きい測定値の重みがそれよりも基準との差が小さい測定値の重みよりも小さくなるように重み付けを調整し、それらの測定値に基づいて結果値を算出する。即ち、基準との差が大きい測定値については、何らかの事情で特異な値が測定された可能性が高く、その測定値を基準との差が小さい測定値と同等の重みで結果値に反映させると、結果値の信頼性が下がってしまうことになる。一方で、基準との差が大きい測定値を除外し結果値に反映させないと、結果値に反映させる測定値が偏って、やはり信頼性が下がる場合がある。そこで、基準との差が大きい測定値については、重みが低くなるように重み付けを調整した上で結果値に反映させることで、結果値の信頼性を確保することができる。そして、その結果値を利用して形成される画像に関する補正を行うことで、画像品質を確保することができる。
【0008】
第2の発明は、第1の発明において、前記算出手段は、前記測定手段により取得された複数の測定値のうち、規定範囲外の測定値を除外し、前記規定範囲内の測定値のみに基づいて前記結果値を算出する。
【0009】
第2の発明によれば、取得された複数の測定値のうち、規定範囲外のものを除外し、規定範囲内の測定値のみに基づいて結果値を算出する。即ち、規定範囲から外れた測定値は、明らかな異常値と判断することができるため、そのような値を結果値に反映させないことで、結果値の信頼性を確保することができる。
【0010】
第3の発明は、第2の発明において、前記測定手段は、前記算出手段により前記規定範囲外として除外された測定値が存在する場合に、除外された測定値と同数の測定値を再取得し、前記算出手段は、前記再取得された測定値を含んだ複数の測定値に基づいて結果値を算出する。
【0011】
第3の発明によれば、規定範囲外として除外された測定値と同数の測定値を再取得し、それによって得られた測定値を含んだ複数の測定値に基づいて結果値を算出する。これにより、結果値に反映する測定値の数を減らさずに済むため、結果値の信頼性を確保することができる。
【0012】
第4の発明は、第1から第3のいずれか一つの発明において、前記測定手段により取得された複数の測定値のばらつきが大きい程、次回の測定を実行するまでの間隔が短くなるように設定する間隔設定手段を備える。
【0013】
第4の発明によれば、測定値のばらつきが大きい程、次回の測定を実行するまでの間隔が短くなるように設定する。即ち、測定値のばらつきが大きい場合には、装置が不安定な状態にあって測定により得られる結果値も変化しやすいと考えられる。そこで、測定値のばらつきが大きい程、測定の実行間隔を短くすることで、結果値の信頼性を確保することができる。
【0014】
第5の発明は、第1から第4のいずれか一つの発明において、前記対象物は、着脱可能なベルトであって、前記形成手段は、前記ベルト上にパターンを形成可能であり、前記補正手段は、前記光学センサにより前記パターンの検出を行った結果に基づいて画像に関する補正を行い、さらに、前記算出手段により算出された結果値に従って前記パターンの検出時における前記光学センサの感度を調整する調整手段を備える。
【0015】
第5の発明によれば、光学センサによりベルト上に形成されたパターンを検出し、その検出結果に基づいて形成される画像に関する補正を行い、またベルトを対象物とした測定の結果得られた結果値に基づいてパターン検出時における光学センサの感度調整を行う。即ち、光学センサの感度調整を行うことで、パターン検出の精度を確保でき、そのパターン検出の結果に基づいて補正を行うことで画像品質を確保することができる。
【0016】
第6の発明は、第5の発明において、さらに、前記ベルトの着脱を検知する検知手段を備え、前記測定手段は、前記検知手段により前記ベルトの着脱が検知された場合に、前記測定を実行する。
【0017】
第6の発明によれば、ベルトの着脱が検知された場合に測定を実行し、その測定に基づいて算出された結果値に基づいて光学センサの感度を調整する。即ち、ベルトが別のものに交換された場合には、以前の感度のままでは精度の良いパターンの検出を行うことができない可能性がある。そこで、ベルトの着脱を検知した場合に、光学センサの感度調整を行うことで、パターン検出時の精度を確保することができる。
【発明の効果】
【0018】
本発明によれば、実質同等の条件下で光学センサを用いた測定を複数回行い、得られた複数の測定値の少なくとも一部について、基準との差が大きい測定値の重みがそれよりも基準との差が小さい測定値の重みよりも小さくなるように重み付けを調整し、それらの測定値に基づいて結果値を算出する。即ち、基準との差が大きい測定値については、何らかの事情で特異な値が測定された可能性が高く、その測定値を基準との差が小さい測定値と同等の重みで結果値に反映させると、結果値の信頼性が下がってしまうことになる。一方で、基準との差が大きい測定値を除外し結果値に反映させないと、結果値に反映させる測定値が偏って、やはり信頼性が下がる場合がある。そこで、基準との差が大きい測定値については、重みが低くなるように重み付けを調整した上で結果値に反映させることで、結果値の信頼性を確保することができる。そして、その結果値を利用して形成される画像に関する補正を行うことで、画像品質を確保することができる。
【図面の簡単な説明】
【0019】
【図1】本発明の一実施形態におけるプリンタの概略構成を示す側断面図
【図2】プリンタの電気的構成を概略的に示すブロック図
【図3】パターンセンサの回路構成を示す図
【図4】位置ずれ測定処理の流れを示すフローチャート
【図5】位置ずれ測定用のパターンを示す図
【図6】位置ずれ測定時における受光信号の電圧変化を示すグラフ
【図7】感度調整の流れを示すフローチャート
【図8】投光回路の投光量を定めるPWM値と受光信号のレベル(電圧)との関係を示すグラフ
【発明を実施するための形態】
【0020】
次に本発明の一実施形態について図1から図8を参照して説明する。
【0021】
(プリンタの全体構成)
図1は、本発明の画像形成装置の一例であるプリンタ1の概略構成を示す側断面図である。本プリンタ1は4色(ブラックK、イエローY、マゼンタM、シアンC)のトナーを用いてカラー画像を形成するダイレクトタンデム式のカラープリンタである。以下の説明においては、図1における左側を前方とする。また、図1において、各色間で同一の構成部品については、適宜符号を省略する。
【0022】
プリンタ1は、本体ケーシング2を備えており、その上面には開閉可能なカバー2Aが設けられている。本体ケーシング2内の底部には、複数の用紙3(被記録媒体の一例)を積載可能な供給トレイ4が設けられている。供給トレイ4に積載された用紙3は、給紙ローラ5によりレジストローラ6へ送り出され、レジストローラ6によりベルトユニット11上に搬送される。
【0023】
ベルトユニット11は、前側に配置されたベルト支持ローラ12Aと、後側に配置されたベルト駆動ローラ12Bとの間に、ポリカーボネート等からなる環状のベルト13を張架した構成となっている。ベルト13は、後側のベルト駆動ローラ12Bの回転によって図1の時計周り方向に循環移動し、ベルト13上面に静電吸着された用紙3を後方に搬送する。
【0024】
ベルト13の内側には、後述する各プロセス部19K〜19Cの感光ドラム28とベルト13を挟んで対向する位置に転写ローラ14が設けられている。ベルトユニット11は、本体ケーシング2のカバー2Aを開け、全てのプロセス部19K〜19Cを取り外した状態で、本体ケーシング2に対して着脱可能である。
【0025】
また、ベルト13の下面に対向して、後述する位置ずれ測定時にベルト13上に形成されるパターンの検出などを行うためのパターンセンサ15(光学センサ、検知手段の一例)が設けられている。パターンセンサ15の構成については後述する。さらに、ベルトユニット11の下側には、ベルト13表面に付着したトナーや紙粉等を回収するクリーナ16が設けられている。
【0026】
ベルトユニット11の上方には、4つの露光部17K,17Y,17M,17Cと、4つのプロセス部19K,19Y,19M,19Cとが前後方向に並んで設けられている。露光部17K〜17C、プロセス部19K〜19C及び既述の転写ローラ14は、それぞれ一つずつで一組の画像形成部20K,20Y,20M,20C(形成手段の一例)を構成しており、プリンタ1全体では、ブラック、イエロー、マゼンタ、シアンの各色に対応した4組の画像形成部20K,20Y,20M,20Cが設けられている。
【0027】
各露光部17K〜17Cは、カバー2Aの下面に支持されており、その下端部に複数のLEDが一列に並んで設けられたLEDヘッド18を備えている。露光部17K〜17Cは、それぞれ画像データに基づいて発光制御され、LEDヘッド18から対応する感光ドラム28の表面に一ライン毎に光を走査する。
【0028】
各プロセス部19K〜19Cは、カートリッジフレーム21と、このカートリッジフレーム21に対し着脱可能に装着される現像カートリッジ22とを備えている。カバー2Aを開放すると、各露光部17K〜17Cがカバー2Aと共に上方に退避して、各プロセス部19K〜19Cが本体ケーシング2に対して個別に着脱可能となる。
【0029】
各現像カートリッジ22は、トナー(現像剤の一例)を収容するトナー収容部23を備え、その下側に供給ローラ24、現像ローラ25、層厚規制ブレード26等を備えている。トナー収容部23から放出されたトナーは、供給ローラ24により現像ローラ25上に供給され、両ローラ24,25間で正に摩擦帯電される。現像ローラ25上のトナーは、層厚規制ブレード26により薄層となり、さらに摩擦帯電される。
【0030】
カートリッジフレーム21の下部には、表面が正帯電性の感光層によって覆われた感光ドラム28と、スコロトロン型の帯電器29とが設けられている。感光ドラム28の表面は、帯電器29により正帯電され、その正帯電された部分が露光部17K〜17Cの走査により露光されて静電潜像が形成される。そして、その静電潜像に現像ローラ25からトナーが供給されることで、感光ドラム28上にトナー像(現像剤像)が形成される。
【0031】
各感光ドラム28上に担持されたトナー像は、ベルト13上の用紙3が、感光ドラム28と転写ローラ14との間の各転写位置を通る間に、転写ローラ14に印加される負極性の転写電圧によって用紙3に順次転写される。トナー像が転写された用紙3は、定着器31によってトナー像の熱定着が行われた後、カバー2Aの上面に排出される。
【0032】
(プリンタの電気的構成)
図2は、プリンタ1の電気的構成を概略的に示すブロック図である。
【0033】
プリンタ1は、同図に示すように、CPU40、ROM41、RAM42、NVRAM(不揮発性メモリ)43、ネットワークインターフェイス44を備え、これらに既述の画像形成部20K〜20C、パターンセンサ15が接続され、さらに表示部45、操作部46、カバーセンサ47などが接続されている。
【0034】
ROM41には、後述する位置ずれ測定処理など、プリンタ1の各種動作を実行するためのプログラムが記憶されており、CPU40(測定手段、算出手段、補正手段、間隔設定手段、調整手段の一例)は、ROM41から読み出したプログラムに従って、その処理結果をRAM42またはNVRAM43に記憶させながら各部の制御を行う。ネットワークインターフェイス44は、通信回線を介して外部のコンピュータ(図示せず)等に接続され、これにより相互のデータ通信が可能となっている。
【0035】
表示部45は、液晶ディスプレイやランプ等を備え、各種の設定画面や装置の動作状態等を表示することが可能である。操作部46は、複数のボタンを備え、ユーザにより各種の入力操作が可能である。カバーセンサ47は、カバー2Aの開閉状態に応じた検知信号を出力する。
【0036】
(パターンセンサ)
図3は、パターンセンサ15の回路構成を示す図である。パターンセンサ15は、同図に示すように、ベルト13に向けて光を照射する投光素子51を有する投光回路15Aと、ベルト13からの反射光を受光する受光素子54を有する受光回路15Bと、受光回路15Bからの出力を基準レベルと比較する比較回路15Cとを備えている。
【0037】
投光回路15Aは、LEDからなる投光素子51のカソード側をPWM信号平滑回路52に接続し、アノード側を電源ラインVccに接続した構成となっている。CPU40は、PWM信号平滑回路52にPWM信号(制御信号)を与えるとともに、そのPWM信号のPWM値(デューティ比)を変化させることで投光素子51に流れる電流を調整し、投光回路15Aの投光量を調整する。
【0038】
受光回路15Bは、フォトトランジスタからなる受光素子54のエミッタ側を接地し、コレクタ側を、抵抗55を介して電源ラインVccに接続した構成となっている。受光素子54のコレクタからは、ベルト13からの反射光の受光量に応じたレベル(電圧値)の受光信号S1が、ローパスフィルタ56を介して比較回路15Cに与えられる。ローパスフィルタ56は、例えばCRフィルタやLCフィルタであり、受光信号S1に含まれるスパイクノイズ等を低減する。
【0039】
比較回路15Cは、オペアンプ58、抵抗59,60、可変抵抗61を備えて構成されている。オペアンプ58の負入力端子には、ローパスフィルタ56の出力が接続されている。オペアンプ58の出力端子は、プルアップ抵抗59を介して電源ラインVccに接続されると共に、CPU40に接続されている。オペアンプ58の正入力端子には、抵抗60,61からなる分圧回路の分圧電圧が、基準レベルとして与えられている。CPU40は、可変抵抗61の抵抗値を変更することで、基準レベルを設定することができる。このような構成により、オペアンプ58は、負入力端子に入力される受光信号S1のレベルと、基準レベルとを比較し、その比較結果に応じた二値化信号S2をCPU40に出力する。
【0040】
(位置ずれ測定処理)
図4は、位置ずれ測定処理の流れを示すフローチャートであり、図5は、位置ずれ測定用のパターンPを示す図である。また、図6は、位置ずれ測定時における受光信号S1の電圧変化を示すグラフである。
【0041】
この位置ずれ測定処理は、各色の画像形成位置のずれを測定するものであり、印刷時には、この測定の結果に基づいて画像形成位置の補正が行われる。位置ずれ測定処理は、例えば、電源投入直後や、カバーセンサ47によりカバー2Aが開閉されたことを検知した場合、若しくは前回の位置ずれ測定から所定の時間が経過するか、または所定枚数の印刷を行った場合など、所定の条件が満たされた場合にCPU40の制御により実行される。
【0042】
CPU40は、図4に示す位置ずれ測定処理を開始すると、まずNVRAM43に記憶されたパターンセンサ15の感度調整に関する情報を参照し、前回の感度調整が正常に行われたかを判断する(S101)。そして、前回の感度調整で何らかのエラーが起きた場合、若しくは感度調整が1度も行われていない場合には、正常に行われていないと判断し(S101:No)、感度調整を実行する(S102)。後述するように、この感度調整では、パターンPの測定を行う際のパターンセンサ15の感度を適正に設定するための感度設定値(PWM値)を求めて、その値をNVRAM43上に記憶する。
【0043】
また、前回の感度調整が正常に行われた場合(S101:Yes)には、前回の感度調整からの印刷枚数が設定された枚数Zに至ったかを判断する(S103)。後述のようにこの枚数Zは、感度調整の実行間隔を定める値として前回の感度調整の際に設定されたものである。前回の感度調整からの印刷枚数が枚数Zに至った場合(S103:Yes)には、S102に進み感度調整を実行する。前回の感度調整からの印刷枚数が設定された枚数Zに満たない場合(S103:No)には、さらに前回の感度調整後にベルトユニット11の交換が行われたかを判断する(S104)。
【0044】
ここで、ベルトユニット11が交換されたかを判断するには、例えば、ユーザが操作部46からベルトユニット11の交換に関する情報を入力し、その情報に基づいて判断しても良く、あるいはベルトユニット11の有無を検知する専用のセンサ(検知手段の一例、図示せず)を設け、その出力に基づいて判断しても良い。また、ベルトユニット11専用のセンサを設けずに、例えばプロセス部19K〜19Cの着脱を検知するセンサ(検知手段の一例、図示せず)により全てのプロセス部19K〜19Cの着脱が検知された場合に、ベルトユニット11が交換されたとみなしても良い。さらに、カバーセンサ47によりカバー2Aの開放が検知されたときに、パターンセンサ15によりベルト13面に光を照射したときの二値化信号S2が所定期間以上ローとなる(ベルトユニット11が外されたため、ベルト13からの反射光を受光しない状態と推定される)ことをもって、ベルトユニット11が交換されたと判断しても良い。
【0045】
ベルトユニット11が交換(あるいは着脱)されると、ベルト13表面の反射率が変化してパターンセンサ15の感度に影響を与える可能性がある。そこで、CPU40は、前回の感度調整からベルトユニット11の交換が行われたと判断した場合(S104:Yes)には、S102に進んで感度調整を行う。前回の感度調整からベルトユニット11の交換が行われていないと判断した場合(S104:No)には、感度調整を実行しない。
【0046】
次に、CPU40は、各画像形成部20K〜20Cによりベルト13上に位置ずれ測定用のパターンPを形成する(S105)。このパターンPは、図5に示すように、主走査方向に細長い各色のマーク65K,65Y,65M,65Cから構成され、ブラック、イエロー、マゼンタ、シアンの順に並んだ4つのマーク65K〜65Cを一組として、複数組のマーク65K〜65Cを副走査方向に間隔を開けて、例えばベルト13の全周にわたって配置したものである。隣り合うマーク65K〜65Cの間隔は、各マーク65K〜65Cが位置ずれのない理想位置に形成された場合に等しくなる。そしてCPU40は、各組のマーク65K〜65Cについて、各マーク65K〜65Cがパターンセンサ15の検出位置を通過するタイミングをパターンセンサ15からの信号により測定する(S106)。
【0047】
ここで、図6は、パターンPの測定時における受光信号S1の時間変化の一例を示している。同図に示すように、受光信号S1のレベルは、ベルト13表面からの反射光を受光したとき(Bで示す箇所)に高く、各マーク65K〜65Cからの反射光を受光したとき(Mk,My,Mm,Mcで示す箇所)に低くなる。なお、ここでは、受光回路15Bの電源ラインVccに加えられる電圧を3.3Vとしており、ベルト13からの反射光を受光したときの受光信号S1のレベルは、飽和レベル付近(3.0Vを超える程度を飽和レベルとする)となる。CPU40は、ベルト13表面からの反射光に対応するレベルとマーク65K〜65Cからの反射光に対応するレベルとの中間のレベルを基準レベルTH(例えば1.6V)としてオペアンプ58に与える。
【0048】
CPU40は、二値化信号S2が各マーク65K〜65Cに対応する箇所(Mk〜Mc)でハイからローに切り替わるタイミングに基づいて各マーク65K〜65Cの位置を測定する。そして、その結果に基づいてブラックのマーク65Kを基準とする他の色(補正色という)のマーク65Y,65M,65Cの副走査方向の位置ずれ量を求める。続いて、各補正色の位置ずれ量について、全組の平均値をそれぞれ算出し、この平均値の位置ずれを打ち消すための新たな補正値を算出し、その値でNVRAM43に記憶される各補正色の位置ずれ補正値を更新して(S107)、この位置ずれ測定処理を終了する。
【0049】
CPU40は、印刷を行う際に、上述のようにしてNVRAM43に記憶された位置ずれ補正値に基づいて、例えば各露光部17K〜17Cによる走査開始タイミングを調整すること等により、副走査方向における各色間の画像形成位置のずれを補正する。
【0050】
(感度調整)
図7は、感度調整の流れを示すフローチャートであり、図8は、投光回路15Aの投光量を定めるPWM値と受光信号S1のレベル(電圧)との関係を示すグラフである。
【0051】
上述したパターンPの測定の際には、パターンセンサ15の感度が適正に設定されていないと、マーク65K〜65Cの位置を精度良く検出することができなくなる。そこで、この感度調整では、パターンPの測定時におけるパターンセンサ15の感度を適正にするための設定を行う。より具体的には、ベルト13表面からの反射光を受光したときの受光信号S1のレベルが飽和レベル付近(3.0V付近)に達するように、投光回路15Aの投光量を調整するための感度設定値(PWM値)を測定によって求める。なお、このように、ベルト13表面からの反射光を受光したときの受光信号S1のレベル(B)が飽和レベル付近となることで、ベルト13表面の傷などによるノイズの影響を抑えることができる。
【0052】
図8は、投光回路15Aの投光量を定めるPWM値と受光信号S1のレベル(電圧)との関係を示すグラフである。同図に示すように、PWM値と受光信号S1のレベルとの関係はある範囲(同図のP1からPdを含む範囲)内でほぼ線形性を有すると考えられる。この感度調整では、受光信号S1のレベルが3.0VになるときのPWM値Pdに相当する値を求めることを目標とする。
【0053】
CPU40は、図7に示す感度調整処理を開始すると、カウンタiに1をセットし(S201)、続いてカウンタiが規定回数(例えば3)に達したかを判断する(S202)。そして、以下に示すようにPWM値の測定を行うことで測定値Si(i回目の測定値)を求める(S203)。ここで、目標とするPWM値Pdを求めるには、例えば、比較回路15Cの基準レベルを3.0Vに設定した状態で、投光回路15Aに供給するPWM値を徐々に変化させ、二値化信号S2の値がハイからローになるときのPWM値を測定する方法もある。しかしながら、3.0Vは飽和レベルに近いため、この方法では測定の精度を出しにくい。そこで以下に示す手順により測定を行う。
【0054】
この測定では、CPU40は、ベルト13を駆動させた状態で、投光回路15Aに供給するPWM値を徐々に増加させることで、ベルト13面に照射する光の光量を徐々に上げる。そして、比較回路15Cの基準レベルとして第1基準値V1(例えば1.0V)をセットし、受光信号S1のレベルが第1基準値V1に到達したときのPWM値P1を求める。ここで、受光信号S1は実際には絶えず上下に変動することから、CPU40は、PWM値を増加させる度に二値化信号S2の値のサンプリングを所定回数行い、ハイとローの値の割合が例えば50パーセントを超えた時のPWM値を第1基準値V1に到達したときのPWM値P1とする。
【0055】
続いて、CPU40は、比較回路15Cの基準レベルとして第2基準値V2(V1<V2、例えば2.5V)をセットし、受光信号S1のレベルが第2基準値V2に到達したときのPWM値P2を同様に求める。そして、PWM値と受光信号S1のレベルとの線形性に基づいた次式により、受光信号S1が3.0V(次式ではVdで示す)のときのPWM値Pdを求める。
Pd=P2+(P2−P1)(V2−V1)/(Vd−V2)
こうして求めたPdをi回目の測定により取得された測定値Siとする(1回目の測定値をS1、n回目の測定値をSnのように示す)。
【0056】
続いて、CPU40は、カウンタiに1を加え(S204)、S201に戻り、同様の測定をカウンタiが規定回数に至るまで繰り返す。そして、測定回数が規定回数nに至った場合(S202:Yes)には、測定値S1〜Snの平均値Saを算出する(S205)。ここでは、例えば測定値S1〜Snの相加平均を平均値Saとし、規定回数nが3であれば、Sa=(S1+S2+S3)/3になる。
【0057】
次に、CPU40は、測定値S1〜Snの標準偏差Sdを算出する(S206)。なお、標準偏差Sdは、測定値のばらつきを示す値であり、次式により求められる。
Sd=√((Σ(Si−Sa))/n)
【0058】
続いて、CPU40は、次回の感度調整を行うまでの印刷枚数Zを設定する(S207)。ここでは、次式のように標準偏差Sdに基づいて印刷枚数Zを求め、その値をNVRAM43に記憶する。
Z=M/Sd(Mは定数)
これにより、測定値のばらつきが大きい程、次回の感度調整を実行するまでの間隔が短くなるように設定される。
【0059】
次にCPU40は、(Si−Sa)の絶対値の最大値(SiはS1〜Sn)が第1規定値X1以下であるかを調べる(S208)。そして、第1規定値X1以下でない場合、即ちある測定値Siが規定範囲外である場合には、その測定値Siの値を削除し(S209)、その測定値Siを取得するための測定(S203と同様の測定)を再度行う(S210)。例えば85,75,110という測定値が得られた場合に、測定値が110のとき(Si−Sa)の絶対値の最大値が第1規定値X1より大きくなる場合には、その測定値110を削除して、再度測定をやり直し、得られた測定値を測定値110と置き換える。そして、S205に戻り、平均値Sa及び標準偏差Sdを再測定された測定値Siを含めて再度算出し、次回の感度調整を行うまでの印刷枚数Zを再設定する。S205〜S210の処理は、全ての測定値が規定範囲内になるまで繰り返される。
【0060】
CPU40は、(Si−Sa)の絶対値の最大値がX1以下である場合、即ち全ての測定値が規定範囲内である場合には、続いて(Si−Sa)の絶対値の最大値が第2規定値X2(X2<X1)以下であるかを調べる(S211)。(Si−Sa)の絶対値の最大値がX2以下である場合(S211:Yes)、平均値Saを感度設定値(結果値)としてNVRAM43に記憶する(S212)。これによりパターンPの測定を行う際に、パターンセンサ15の感度(投光回路15AのPWM値)が感度設定値に従って適正な設定される。
【0061】
また、CPU40は、(Si−Sa)の絶対値の最大値が第2規定値X2以下でない場合には、以下に示すように各測定値S1〜Snの重み付けを調整した上で各測定値に基づいて感度設定値(結果値)を求め、NVRAM43に記憶する(S213)。ここでは、例えば、各測定値S1〜Snにそれぞれ重み付け係数をかけるとともに、(Si−Sa)の絶対値が最大となる測定値Siの重み付け係数を他の測定値よりも小さな値とした上で、それらの値の例えば相加平均を求める。
【0062】
例えば、測定値が(80,80,90)の3つであり、測定値(90)について、(Si−Sa)の絶対値の最大値が第2規定値X2以下でないとすると、測定値(90)の重み付け係数を0.3、他の測定値の重み付け係数を1として、次式のように求めた値を感度設定値(結果値)とする。
(80×1+80×1+90×0.3)/(1+1+0.3)=81.3
【0063】
ここで、上記各測定値の重み付けを調整しない場合、即ち平均値Saを求めると、
(80×1+80×1+90×1)/(1+1+1)=83.3
となる。上記のような測定値(平均との差が第2規定値X2より大きくなる測定値)は、ベルト13の傷や汚れ等により特異な値が測定された可能性が高い。そのため、特に取得した測定値の数が少ない場合には、こうした特異な測定値(基準との差が大きい測定値)を含んだ複数の測定値から重み付けを調整しないで結果値を求めた場合、その特異な測定値のために結果値が大きく偏ってしまう(本実施形態では、測定値が大きくなる方向に偏る)ことがある。一方で、この特異な測定値を結果値(感度設定値)から除去すると、ベルト13表面のうち傷や汚れがなく比較的反射率の高い部分だけを抽出して結果値を求めることになり、やはり結果値が偏ってしまう(測定値が低くなる方向に偏る)可能性が高い。
【0064】
そこで、上述のように特異な測定値に対しては重み付けを低減させた上で、各測定値に基づいて結果値を求めることにより、ベルト13の傷や汚れの影響がある程度反映された値が得られ、測定値の数が比較的少なくても、ベルト13の平均的な表面状態に基づいて求められた値に近い値が得られる可能性が高い。従って、このような結果値をパターンセンサ15に対する感度設定値とすることで、パターンPの測定時の精度を確保し、ひいては画像品質を確保することができる。
【0065】
(本実施形態の効果)
以上のように本実施形態によれば、実質同等の条件下でパターンセンサ15を用いた測定を複数回行い、得られた複数の測定値の少なくとも一部について、基準との差が大きい測定値の重みがそれよりも基準との差が小さい測定値の重みよりも小さくなるように重み付けを調整し、それらの測定値に基づいて結果値を算出する。即ち、基準との差が大きい測定値については、何らかの事情で特異な値が測定された可能性が高く、その測定値を基準との差が小さい測定値と同等の重みで結果値に反映させると、結果値の信頼性が下がってしまうことになる。一方で、基準との差が大きい測定値を除外し結果値に反映させないと、結果値に反映させる測定値が偏って、やはり信頼性が下がる場合がある。そこで、基準との差が大きい測定値については、重みが低くなるように重み付けを調整した上で結果値に反映させることで、結果値の信頼性を確保することができる。そして、その結果値を利用して形成される画像に関する補正を行うことで、画像品質を確保することができる。また、本実施形態によれば、測定の回数が比較的少なくて済むので測定に要する時間やトナーの消費等を抑えることができる。
【0066】
また、取得された複数の測定値のうち、規定範囲外のものを除外し、規定範囲内の測定値のみに基づいて結果値を算出する。即ち、規定範囲から外れた測定値は、明らかな異常値と判断することができるため、そのような値を結果値に反映させないことで、結果値の信頼性を確保することができる。
【0067】
また、規定範囲外として除外された測定値と同数の測定値を再取得し、それによって得られた測定値を含んだ複数の測定値に基づいて結果値を算出する。これにより、結果値に反映する測定値の数を減らさずに済むため、結果値の信頼性を確保することができる。
【0068】
また、測定値のばらつきが大きい程、次回の測定を実行するまでの間隔が短くなるように設定する。即ち、測定値のばらつきが大きい場合には、装置が不安定な状態にあって測定により得られる結果値も変化しやすいと考えられる。そこで、測定値のばらつきが大きい程、測定の実行間隔を短くすることで、結果値の信頼性を確保することができる。
【0069】
また、パターンセンサ15によりベルト13上に形成されたパターンPを検出し、その検出結果に基づいて形成される画像に関する補正を行い、またベルト13を対象物とした測定の結果得られた結果値に基づいてパターン検出時におけるパターンセンサ15の感度調整を行う。即ち、パターンセンサ15の感度調整を行うことで、パターン検出の精度を確保でき、そのパターン検出の結果に基づいて補正を行うことで画像品質を確保することができる。
【0070】
また、ベルト13の着脱が検知された場合に測定を実行し、その測定に基づいて算出された結果値に基づいてパターンセンサ15の感度を調整する。即ち、ベルト13が別のものに交換された場合には、以前の感度のままでは精度の良いパターンの検出を行うことができない可能性がある。そこで、ベルト13の着脱を検知した場合に、パターンセンサ15の感度調整を行うことで、パターン検出時の精度を確保することができる。
【0071】
<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
(1)上記測定値からの結果値の算出方法などは一例であり、主旨に沿った範囲で適宜変更することができる。
【0072】
(2)上記実施形態では、画像に関する補正として副走査方向の画像形成位置のずれを測定し補正するものを示したが、これに限らず、例えば、主走査方向の画像形成位置のずれを測定し補正しても良く、あるいは画像形成濃度のずれを測定し補正しても良い。
(3)上記実施形態では、感度調整の実行間隔を印刷枚数に基づいて判断するものを示したが、例えば、前回の感度調整からの時間に基づいて判断しても良い。
【0073】
(4)上記実施形態では、本発明を直接転写タンデム方式のカラーLEDプリンタに適用した例を示したが、これに限らず、本発明は、例えば中間転写方式や、4サイクル方式など他の方式の画像形成装置に適用することができる。また、本発明は、カラーの画像形成装置のみならず、モノクロの画像形成装置にも適用することができる。
(5)上記実施形態では、感度調整を行う際に投光素子の投光量を調整するものを示したが、本発明によれば、例えば、受光回路に可変抵抗(デジタルポテンショメータ)を組み込み、その抵抗値をCPUから出力される信号値に応じて変更させることで受光側の感度(受光信号の増幅率)を調整する構成としても良い。
【0074】
(6)上記実施形態では、感度調整の際の測定値の重み付けを調整するものを示したが、本発明によれば、例えば、ベルトやその他の部材に形成したパターンを測定し、その測定値の重み付けを調整した上で画像形成位置のずれや濃度のずれを算出し、その結果に基づいて位置ずれや濃度の補正を行っても良い。
【符号の説明】
【0075】
1…プリンタ(画像形成装置)
13…ベルト(対象物)
15…パターンセンサ(光学センサ、検知手段)
20K,20Y,20M,20C…画像形成部(形成手段)
40…CPU(測定手段、算出手段、補正手段、間隔設定手段、調整手段)

【特許請求の範囲】
【請求項1】
画像を形成する形成手段と、
対象物に光を照射する投光手段及び前記対象物からの光を受光しその受光量に応じた出力を行う受光手段を有する光学センサと、
前記光学センサの出力に基づいた測定値を取得するための測定を実質同等の条件下で複数回行う測定手段と、
前記測定手段により取得された複数の測定値のうち少なくとも一部の測定値について、基準との差が大きい測定値の重みが基準との差が小さい測定値の重みよりも小さくなるように重み付けを調整し、それらの重み付けが調整された測定値に基づいて結果値を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された結果値を利用して前記形成手段により形成される画像に関する補正を行う補正手段と、
を備える画像形成装置。
【請求項2】
請求項1に記載の画像形成装置において、
前記算出手段は、前記測定手段により取得された複数の測定値のうち、規定範囲外の測定値を除外し、前記規定範囲内の測定値のみに基づいて前記結果値を算出する。
【請求項3】
請求項2に記載の画像形成装置において、
前記測定手段は、前記算出手段により前記規定範囲外として除外された測定値が存在する場合に、除外された測定値と同数の測定値を再取得し、
前記算出手段は、前記再取得された測定値を含んだ複数の測定値に基づいて結果値を算出する。
【請求項4】
請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の画像形成装置において、
前記測定手段により取得された複数の測定値のばらつきが大きい程、次回の測定を実行するまでの間隔が短くなるように設定する間隔設定手段を備える。
【請求項5】
請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の画像形成装置において、
前記対象物は、着脱可能なベルトであって、
前記形成手段は、前記ベルト上にパターンを形成可能であり、
前記補正手段は、前記光学センサにより前記パターンの検出を行った結果に基づいて画像に関する補正を行い、
さらに、前記算出手段により算出された結果値に従って前記パターンの検出時における前記光学センサの感度を調整する調整手段を備える。
【請求項6】
請求項5に記載の画像形成装置において、
さらに、前記ベルトの着脱を検知する検知手段を備え、
前記測定手段は、前記検知手段により前記ベルトの着脱が検知された場合に、前記測定を実行する。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【公開番号】特開2010−175820(P2010−175820A)
【公開日】平成22年8月12日(2010.8.12)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2009−18229(P2009−18229)
【出願日】平成21年1月29日(2009.1.29)
【出願人】(000005267)ブラザー工業株式会社 (13,856)
【Fターム(参考)】