説明

研削装置

【課題】 ホイールマウントに研削屑が固着することのない研削装置を提供することである。
【解決手段】 被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を研削する研削砥石が環状に配設された研削ホイールを回転可能に支持する研削手段と、被加工物と該研削砥石とに研削水を供給する研削水供給手段とを備えた研削装置であって、該研削手段は、回転駆動されるスピンドルの先端に固定された該研削ホイールが着脱自在に装着されるホイールマウントを含み、該研削ホイールが着脱自在に装着される該ホイールマウントの装着面にはDLCがコーティングされていることを特徴とする。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体ウエーハ等の被加工物を研削する研削装置に関する。
【背景技術】
【0002】
IC、LSI等の数多くのデバイスが表面に形成され、且つ個々のデバイスが分割予定ライン(ストリート)によって区画された半導体ウエーハは、研削装置によって裏面が研削されて所定の厚みに加工された後、ダイシング装置によって分割予定ラインを切削して個々のデバイスに分割され、分割されたデバイスは携帯電話、パソコン等の電気機器に利用される。
【0003】
研削装置は、ウエーハを保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたウエーハを研削する研削砥石が環状に配設された研削ホイールを回転可能に支持するホイールマウントを有する研削手段と、ウエーハと研削砥石とに研削水を供給する研削水供給手段を備えており、ウエーハを所望の厚みに研削することができる(例えば、実開平7−31268号公報参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】実開平7−31268号公報
【特許文献2】特開2003−68690号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、従来の研削装置では、ホイールマウントと研削ホイールとの接触部に研削屑が混入した泥水のような研削水が浸入して固化し強固に付着することから、研削ホイールをホイールマウントから取り外すことが比較的困難になるという問題がある。
【0006】
また、研削ホイールが装着されるホイールマウントの装着面には、研削屑が石膏のように固着して新たな研削ホイールを装着する際の妨げとなるという問題がある。
【0007】
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ホイールマウントに研削屑が固着することのない研削装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明によると、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を研削する研削砥石が環状に配設された研削ホイールを回転可能に支持する研削手段と、被加工物と該研削砥石とに研削水を供給する研削水供給手段とを備えた研削装置であって、該研削手段は、回転駆動されるスピンドルの先端に固定された該研削ホイールが着脱自在に装着されるホイールマウントを含み、該研削ホイールが着脱自在に装着される該ホイールマウントの装着面にはDLCがコーティングされていることを特徴とする研削装置が提供される。
【発明の効果】
【0009】
本発明によると、ホイールマウントの装着面にDLCをコーティングしたので、研削屑がホイールマウントの装着面に付着して固化することがなく、研削ホイールをホイールマウントから容易に取り外すことができる。
【0010】
また、研削屑がホイールマウントの装着面に付着したとしてもウエス等で容易に除去できるので、新たな研削ホイールの装着の妨げとなる研削屑がホイールマウントの装着面に付着して固化することがなく、研削ホイールを容易に装着することができる。
【図面の簡単な説明】
【0011】
【図1】半導体ウエーハの表面側斜視図である。
【図2】表面に保護テープが貼着された半導体ウエーハの裏面側斜視図である。
【図3】研削装置の斜視図である。
【図4】ホイールマウント及びホイールマウントに装着される研削ホイールの分解斜視図である。
【図5】ホイールマウントの底面側斜視図である。
【図6】ホイールマウント及びホイールマウントに装着された研削ホイールの縦断面図である。
【図7】研削時におけるチャックテーブルと研削ホイールとの位置関係を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【0012】
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1は所定の厚さに加工される前の半導体ウエーハの斜視図である。図1に示す半導体ウエーハ11は、例えば厚さが700μmのシリコンウエーハからなっており、表面11aに複数のストリート13が格子状に形成されているとともに、該複数のストリート13によって区画された複数の領域にIC、LSI等のデバイス15が形成されている。
【0013】
このように構成されたシリコンウエーハ11は、デバイス15が形成されているデバイス領域17と、デバイス領域17を囲繞する外周余剰領域19を備えている。また、シリコンウエーハ11の外周には、シリコンウエーハの結晶方位を示すマークとしてのノッチ21が形成されている。
【0014】
シリコンウエーハ11の表面11aには、保護テープ貼着工程により保護テープ23が貼着される。したがって、シリコンウエーハ11の表面11aは保護テープ23によって保護され、図2に示すように裏面11bが露出する形態となる。
【0015】
以下、このように構成されたシリコンウエーハ11の裏面11bを所定厚さに研削する研削装置2を図3を参照にして説明する。研削装置2のハウジング4は、水平ハウジング部分6と、垂直ハウジング部分8から構成される。
【0016】
垂直ハウジング部分8には上下方向に伸びる一対のガイドレール12、14が固定されている。この一対のガイドレール12、14に沿って研削手段(研削ユニット)16が上下方向に移動可能に装着されている。研削ユニット16は支持部20を介して一対のガイドレール12、14に沿って上下方向に移動する移動基台18に取り付けられている。
【0017】
研削ユニット16は、支持部20に取り付けられたスピンドルハウジング22と、スピンドルハウジング22中に回転可能に収容されたスピンドル24と、スピンドル24を回転駆動するサーボモータ26を含んでいる。
【0018】
図4乃至図7に示されるように、スピンドル24の先端部にはホイールマウント28が固定されており、このホイールマウント28には研削ホイール30が螺子31で装着されている。
【0019】
即ち、図4に示したホイールマウント28の装着穴29中に螺子31を挿入し、螺子31を研削ホイール30の螺子穴33に螺合することにより、研削ホイール30はホイールマウント28に装着される。図5に示すように、ホイールマウント28の研削ホイール装着面28aにはDLC(ダイアモンド ライク カーボン)45がコーティングされている。
【0020】
図4に示すように、研削ホイール30は環状基台32の自由端部に粒径0.3〜1.0μmのダイアモンド砥粒をビトリファイドボンド等で固めた複数の研削砥石34が固着されて構成されている。
【0021】
研削手段(研削ユニット)16にはホース36を介して研削水が供給される。好ましくは、研削水としては純水が使用される。図6に示すように、ホイールマウント28にはスピンドル24に形成された研削水供給穴38に連通した空間39、複数の研削水供給孔40及び環状溝41が形成されている。一方、研削ホイール30には、ホイールマウント28の環状溝41に連通する環状溝42及び複数の研削水供給孔43が形成されている。
【0022】
ホース36から供給された研削水は、スピンドル24に形成された研削水供給穴38、ホイールマウント28に形成された空間39、研削水供給孔40、環状溝41、更に研削ホイール30に形成された環状溝42、複数の研削水供給孔43を介して、研削砥石34とチャックテーブル50に保持されたウエーハ11に供給される。
【0023】
再び図3を参照すると、研削装置2は、研削ユニット16を一対の案内レール12,14に沿って上下方向に移動する研削ユニット送り機構44を備えている。研削ユニット送り機構44は、ボール螺子46と、ボール螺子46の一端部に固定されたパルスモータ48から構成される。パルスモータ48をパルス駆動すると、ボール螺子46が回転し、移動基台18の内部に固定されたボール螺子46のナットを介して移動基台18が上下方向に移動される。
【0024】
50は研削すべきウエーハ11を吸引保持するチャックテーブルであり、図示しないチャックテーブル移動機構によりY軸方向に移動可能に構成されている。即ち、チャックテーブル50は図示したウエーハ搬入・搬出位置と、研削ホイール30に対向する研削位置との間でY軸方向に移動される。52、54は蛇腹である。
【0025】
このように構成された研削装置2の研削作業について以下に説明する。保護テープ23を下にしてチャックテーブル50に吸引保持されたウエーハ11が図7に示す研削位置に位置づけられると、チャックテーブル50を矢印a方向に例えば300rpmで回転しつつ、研削ホイール32をチャックテーブル50と同一方向に、即ち矢印b方向に例えば6000rpmで回転させるとともに、研削ユニット送り機構44を作動して研削砥石34をウエーハ11の裏面11bに接触させる。
【0026】
そして、研削ホイール30を所定の研削送り速度(例えば3〜5μm/秒)で下方に所定量研削送りして、ウエーハ11の研削を実施する。図示しない接触式の厚み測定ゲージによってウエーハの厚みを測定しながらウエーハを所望の厚み、例えば100μmに仕上げる。
【0027】
ウエーハ11の研削時には、ホース36から供給された研削水が研削ホイール30の研削水供給孔43から流れ出て研削が遂行される。このとき、研削水中にウエーハ11の研削屑が混入した廃液が、研削ホイール30の遠心力により研削砥石34の間の隙間を通して外部に流出するが、一部の廃液は研削ホイール30の内部に逆流してホイールマウント28とホイールマウント28に装着された研削ホイール30との間の隙間に入り込むことになる。
【0028】
この隙間に入り込んだ研削屑が混入した廃液が固化してホイールマウント28の装着面28aに付着する。本実施形態では、ホイールマウント28の装着面28aにDLC(ダイアモンド ライク カーボン)45がコーティングされているため、ウエス等で装着面28aを拭うことにより付着した研削屑を容易に除去することができ、従来のように研削屑が石膏のようにホイールマウント28の装着面28aに固着することがない。
【0029】
よって、研削ホイール30をホイールマウント28から容易に取り外すことができ、更にホイールマウント28の装着面28aに研削屑が固着することがないので、新たな研削ホイール30の装着を容易に行うことができる。
【符号の説明】
【0030】
2 研削装置
11 半導体ウエーハ
16 研削ユニット
28 ホイールマウント
28a 装着面
30 研削ホイール
32 環状基台
34 研削砥石
45 DLC

【特許請求の範囲】
【請求項1】
被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を研削する研削砥石が環状に配設された研削ホイールを回転可能に支持する研削手段と、被加工物と該研削砥石とに研削水を供給する研削水供給手段とを備えた研削装置であって、
該研削手段は、回転駆動されるスピンドルの先端に固定された該研削ホイールが着脱自在に装着されるホイールマウントを含み、該研削ホイールが着脱自在に装着される該ホイールマウントの装着面にはDLCがコーティングされていることを特徴とする研削装置。

【図1】
image rotate

【図2】
image rotate

【図3】
image rotate

【図4】
image rotate

【図5】
image rotate

【図6】
image rotate

【図7】
image rotate


【公開番号】特開2011−143495(P2011−143495A)
【公開日】平成23年7月28日(2011.7.28)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−5143(P2010−5143)
【出願日】平成22年1月13日(2010.1.13)
【出願人】(000134051)株式会社ディスコ (2,397)
【Fターム(参考)】