説明

配線基板及びこれを用いたプローブカード

【課題】接続部材が樹脂部材により封止されている場合、配線基板の使用時において、接続部材が第1の絶縁性基体又は第2の絶縁性基体から剥離する可能性がある。
【解決手段】第1の絶縁性基体と、該第1の絶縁性基体の主面上に配設された第1の導電部材と、前記第1の絶縁性基体の前記主面と対向する対向面を有する第2の絶縁性基体と、該第2の絶縁性基体の前記対向面上に配設された第2の導電部材と、前記第1の絶縁性基体と前記第2の絶縁性基体との間に位置する樹脂部材と、前記第1の絶縁性基体と前記第2の絶縁性基体との間に位置し、前記第1の導電部材と前記第2の導電部材とを電気的に接続する接続部材と、を備え、前記樹脂部材が、前記接続部材の表面の少なくとも一部を外部に露出させる開口部を有した配線基板とする。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、電子部品が実装された配線基板やプローブカードに用いられる配線基板に関するものである。
【背景技術】
【0002】
従来から、電子部品が実装された配線基板としては、主面を備えた絶縁性基体(第1の絶縁性基体)と、絶縁性基体の主面上に配設された半導体集積回路チップ(第2の絶縁性基体)と、絶縁性基体と半導体集積回路チップとを電気的に接続する接続部材と、絶縁性基体と半導体集積回路チップとの間に充填された樹脂部材とを備えた配線基板が用いられている(例えば、特許文献1)。
【0003】
このように特許文献1に開示されている配線基板においては、第1の絶縁性基体と半導体集積回路チップとの間に充填された樹脂部材を備えている。そのため、第1の絶縁性基体及び第2の絶縁性基体の熱膨張収縮に伴い第1の絶縁性基体と第2の絶縁性基体との間に生じる熱応力が接続部材に集中することが抑制されている。
【特許文献1】特開2004−335507号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、特許文献1に記載の配線基板においては、接続部材が樹脂部材により封止されている。そのため、配線基板の使用時において、接続部材が第1の絶縁性基体又は第2の絶縁性基体から剥離する可能性がある。これは、配線基板の使用時において、接続部材が加熱されることにより、半田などの接続部材からガスが生じることがあるからである。このとき、接続部材が封止されていると、発生したガスが膨張することにより、接続部材が第1の絶縁性基体又は第2の絶縁性基体から剥離する可能性がある。
【0005】
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、接続部材による接続性の良好な配線基板を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の配線基板は、第1の絶縁性基体と、該第1の絶縁性基体の主面上に配設された第1の導電部材と、前記第1の絶縁性基体の前記主面と対向する対向面を有する第2の絶縁性基体と、該第2の絶縁性基体の前記対向面上に配設された第2の導電部材と、前記第1の絶縁性基体と前記第2の絶縁性基体との間に位置する樹脂部材と、前記第1の絶縁性基体と前記第2の絶縁性基体との間に位置し、前記第1の導電部材と前記第2の導電部材とを電気的に接続する接続部材と、を備えている。そして、前記樹脂部材が、前記接続部材の表面の少なくとも一部を外部に露出させる開口部を有している。
【発明の効果】
【0007】
本発明の配線基板によれば、接続部材の表面の少なくとも一部を外部に露出させるような開口部を樹脂部材が有している。そのため、配線基板の使用時において接続部材からガスが発生した場合であっても、接続部材が第1の絶縁性基体及び第2の絶縁性基体から剥離する可能性を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0008】
以下、本発明の配線基板について図面を用いて詳細に説明する。
【0009】
図1〜3に示すように、本発明の第1の実施形態にかかる配線基板1は、第1の絶縁性基体3と、第1の絶縁性基体3の主面3a上に配設された第1の導電部材5と、第1の絶縁性基体3の主面3aと対向する対向面7aを有する第2の絶縁性基体7と、第2の絶縁性基体7の対向面7a上に配設された第2の導電部材9と、第1の絶縁性基体3と第2の絶縁性基体7との間に位置する樹脂部材11と、第1の絶縁性基体3と第2の絶縁性基体7との間に位置し、第1の導電部材5と第2の導電部材9とを電気的に接続する接続部材13と、を備えている。
【0010】
そして、樹脂部材11が、接続部材13の表面の少なくとも一部を外部に露出させる開口部15を有している。このように、本実施形態にかかる配線基板1においては、樹脂部材11が、接続部材13の表面の少なくとも一部を外部に露出させる開口部15を有していることから、配線基板1の使用時において接続部材13からガスが発生した場合であっても、この開口部15を通して、上記のガスを外部に放出させることができる。そのため、接続部材13が第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7から剥離する可能性を低減することができる。
【0011】
本実施形態における第1の絶縁性基体3は、主面3aを備えている。第1の絶縁性基体3としては、絶縁性の良好な部材を用いればよい。具体的には、セラミックス部材及び樹脂を用いることができる。
【0012】
また、本実施形態の配線基板1は、第1の絶縁性基体3に埋設されたビア導体17及び金属層19を備えている。ビア導体17及び金属層19は第1の導電部材5と電気的に接続されている。ビア導体17及び金属層19としては、電気伝導性の良好な部材を用いればよい。具体的には、Sn,Ag,Au及びCuのような金属導体を用いることができる。特に、W,Mo及びMnのような融点の高い金属導体を用いることが好ましい。
【0013】
本実施形態における第1の導電部材5は、第1の絶縁性基体3の主面3a上に配設されている。第1の導電部材5は、ビア導体17及び金属層19と電気的に接続されており、これらを介して第1の絶縁性基体3の裏面側へ配線回路を引き出すことができる。第1の導電部材5としては、ビア導体17及び金属層19と同様に電気伝導性の良好な部材を用いることができる。具体的には、Sn,Ag,Au及びCuのような金属導体を用いることができる。特に、W,Mo及びMnのような融点の高い金属導体を用いることが好ましい。
【0014】
本実施形態における第2の絶縁性基体7は、第1の絶縁性基体3と対向するように配設されている。このとき第1の絶縁性基体3と対向する面を対抗面としている。第2の絶縁性基体7としては、第1の絶縁性基体3と同様に電気絶縁性の良好な部材を用いればよい。具体的には、セラミックス部材及び樹脂を用いることができる。
【0015】
また、本実施形態における第2の絶縁性基体7には、第1の絶縁性基体3と同様に、ビア導体17及び金属層19が埋設されている。第2の絶縁性基体7に埋設されたビア導体17及び金属層19は第2の導電部材9と電気的に接続されている。
【0016】
本実施形態における第2の導電部材9は、第2の絶縁性基体7の対向面7a上に配設されている。第2の導電部材9としては、ビア導体17及び金属層19と同様に電気伝導性の良好な部材を用いることができる。具体的には、Sn,Ag,Au及びCuのような金属導体を用いることができる。特に、W,Mo及びMnのような融点の高い金属導体を用いることが好ましい。
【0017】
本実施形態における接続部材13は、第1の絶縁性基体3と第2の絶縁性基体7との間に位置するとともに第1の導電部材5と第2の導電部材9とを電気的に接続している。接続部材13としては、導電性が良好であると同時に第1の導電部材5及び第2の導電部材9と接合性のよい部材を用いることが好ましい。具体的には、半田を用いることが好ましい。
【0018】
本実施形態における樹脂部材11は、第1の絶縁性基体3と第2の絶縁性基体7との間に位置している。このような樹脂部材11を備えていることにより、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の熱膨張収縮に伴い第1の絶縁性基体3と第2の絶縁性基体7との間に生じる熱応力が接続部材13に集中することを抑制している。
【0019】
さらに本実施形態における樹脂部材11は、接続部材13の表面の少なくとも一部を外部に露出させる開口部15を有している。開口部15の形状は接続部材13の表面の少なくとも一部を外部に露出させるように形成されていれば特に限定されるものではないが、円筒状であることが好ましい。これにより、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の熱膨張により開口部15が塞がれにくくなる。結果として、接続部材13から生じるガスを安定して外部に放出させることができる。
【0020】
第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7は側面に近い部分よりも中心に近い部分で大きく熱膨張する。そのため、開口部15は、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の側面に近い部分における径よりも接続部材13に近い部分における径が大きいことが好ましい。このような場合には、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の熱膨張により開口部15が塞がれにくくなる。結果として、接続部材13から生じるガスを安定して外部に放出させることができる。
【0021】
また、本実施形態における配線基板1は、接続部材13を複数備え、樹脂部材11が、隣り合う接続部材13の一方から他方にかけて開口する空孔21を有している。このように、隣り合う接続部材13の一方から他方にかけて開口する空孔21を樹脂部材11が有していることにより、一部の接続部材13からガスが発生した場合であっても、この空孔21を通じてガスを拡散させることができる。また、接続部材13に熱応力が加わり、一部の開口部15が潰れてしまった場合であっても、空孔21を通じて別の開口部15から上記のガスを放出させることができる。結果として、接続部材13から発生したガスが、一部の接続部材13の周囲に溜まることを抑制できる。
【0022】
また、本実施形態のように、接続部材13と樹脂部材11とが離隔していることが好ましい。接続部材13と樹脂部材11とが接している場合、接続部材13から発生したガスにより、接続部材13と樹脂部材11の界面に大きな応力が加わる。しかしながら、接続部材13と樹脂部材11とが離隔している場合には、上記の応力が加わることがないので、接続部材13及び樹脂部材11に加わる応力を小さくすることができる。
【0023】
次に、本発明の第2の実施形態にかかる配線基板について説明する。
【0024】
図4に示すように、本実施形態にかかる配線基板1は、第1の実施形態にかかる配線基板1と比較して、第1の絶縁性基体3の主面3aに対して平行な断面において樹脂部材11を断面視した場合に、空孔21の幅L1が、開口部15の幅L2よりも大きい。
【0025】
既に示したように、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7は側面に近い部分よりも中心に近い部分で大きく熱膨張する。本実施形態にかかる配線基板1のように、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の側面に近い部分に位置する開口部15の幅L2よりも、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の中心に近い部分に位置する空孔21の幅L1が大きいことにより、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の熱膨張により開口部15及び空孔21が塞がれにくくなる。結果として、接続部材13から生じるガスを安定して外部に放出させることができる。
【0026】
特に、第1の絶縁性基体3の主面3aに対して平行な断面において樹脂部材11を断面視した場合に、第1の絶縁性基体3の中心に近い部分に位置する空孔21の幅が、第1の絶縁性基体3の中心から遠い部分に位置する空孔21の幅よりも大きいことが好ましい。第1の絶縁性基体3の側面から遠く、第1の絶縁性基体3の中心に近い部分に位置する空孔21ほど幅が大きいことにより、各空孔21が第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の熱膨張により塞がれる可能性をより小さくすることができるからである。
【0027】
次に、本発明の第3の実施形態にかかる配線基板について説明する。
【0028】
図5に示すように、本実施形態にかかる配線基板1は、第1の実施形態にかかる配線基板1と比較して、第1の絶縁性基体3の主面3aに対して垂直な断面において樹脂部材11を断面視した場合に、空孔21の幅L1が、開口部15の幅L2よりも大きい。
【0029】
既に示したように、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7は側面に近い部分よりも中心に近い部分で大きく熱膨張する。本実施形態にかかる配線基板1のように、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7は側面に近い部分に位置する開口部15の幅L2よりも、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の中心に近い部分に位置する空孔21の幅L1が大きいことにより、第2の実施形態と同様に、第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の熱膨張により開口部15及び空孔21が塞がれにくくなる。結果として、接続部材13から生じるガスを安定して外部に放出させることができる。
【0030】
特に、第1の絶縁性基体3の主面3aに対して垂直な断面において樹脂部材11を断面視した場合に、第1の絶縁性基体3の中心に近い部分に位置する空孔21の幅が、第1の絶縁性基体3の中心から遠い部分に位置する空孔21の幅よりも大きいことが好ましい。第1の絶縁性基体3の側面から遠く、第1の絶縁性基体3の中心に近い部分に位置する空孔21ほど幅が大きいことにより、各空孔21が第1の絶縁性基体3及び第2の絶縁性基体7の熱膨張により塞がれる可能性をより小さくすることができるからである。
【0031】
次に、本発明の第4の実施形態にかかる配線基板について説明する。
【0032】
図6に示すように、本実施形態にかかる配線基板1においては、第2の絶縁性基体7として電子部品23が用いられている。本実施形態のように、電子部品23と第1の絶縁性基体3との接続部分において、樹脂部材11が、接続部材13の表面の少なくとも一部を外部に露出させる開口部15を有していることにより、第1の絶縁性基体3と電子部品23の接続性を良好なものとすることができる。
【0033】
本実施形態における電子部品23としては、例えば、半導体素子や半導体集積回路チップを用いることができる。また、本実施形態においては、第2の絶縁性基体7として1つの電子部品23が、第1の絶縁性基体3の主面3a上に配設されているが、特にこれに限定されるものではない。例えば、第2の絶縁性基体7として複数の電子部品23を第1の絶縁性基体3の主面3a上に配設してもよい。
【0034】
また、本実施形態にかかる配線基板1を電子回路部品の一部として用いる場合、セラミックスなどからなる絶縁性パッケージを用いて、本実施形態にかかる配線基板1をこの絶縁性パッケージ内に封止することが好ましい。つまり、言い換えれば、本実施形態にかかる配線基板1と、この配線基板1が内部に封止された絶縁性パッケージとを備えた電子部品回路とすることが好ましい。
【0035】
これにより、接続部材13が外気に触れて腐食してしまう可能性を小さくできるからである。このとき、配線基板1は、絶縁体パッケージ内に真空封止される、或いは、窒素や乾燥空気とともに絶縁体パッケージ内に封入されることがより好ましい。
【0036】
次に、本発明の一実施形態にかかるプローブカードについて説明する。
【0037】
図7に示すように、本実施形態にかかるプローブカード25は、上記の実施形態に代表される配線基板1と、配線基板1の一方の端面上に配設された測定電極27と、測定電極27上に配設された測定端子29と、他方の端面上に配設された接続端子31と、を備えている。
【0038】
本実施形態のプローブカード25においては、被測定物である半導体素子の端子をプローブカード25の測定端子29に電気的に接続し、半導体素子に通電する。ここで、通電するとは、単に電圧を印加する場合だけでなく、半導体素子に信号を入力することも意図している。そして、接続端子31を介して取り出した出力を測定して期待値と比較することで半導体素子の良否を判定することができる。
【0039】
なお、本発明は、上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更を行うことは何ら差し支えない。
【図面の簡単な説明】
【0040】
【図1】本発明の第1の実施形態にかかる配線基板を示す斜視図である。
【図2】図1に示す配線基板の断面図である。
【図3】図2に示す配線基板の領域Aの拡大断面図である。
【図4】本発明の第2の実施形態にかかる配線基板における第1の絶縁性基体の主面に対して垂直な断面の拡大断面図である。
【図5】本発明の第3の実施形態にかかる配線基板における第1の絶縁性基体の主面に対して平行であって樹脂部材を含む断面の拡大断面図である。
【図6】本発明の第4の実施形態にかかる配線基板の断面図である。
【図7】本発明の一実施形態にかかるプローブカードを示す断面図である。
【符号の説明】
【0041】
1・・・配線基板
3・・・第1の絶縁性基体
3a・・・主面
5・・・第1の導電部材
7・・・第2の絶縁性基体
7a・・・対向面
9・・・第2の導電部材
11・・・樹脂部材
13・・・接続部材
15・・・開口部
17・・・ビア導体
19・・・金属層
21・・・空孔
23・・・電子部品
25・・・プローブカード
27・・・測定電極
29・・・測定端子
31・・・接続端子

【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1の絶縁性基体と、
該第1の絶縁性基体の主面上に配設された第1の導電部材と、
前記第1の絶縁性基体の前記主面と対向する対向面を有する第2の絶縁性基体と、
該第2の絶縁性基体の前記対向面上に配設された第2の導電部材と、
前記第1の絶縁性基体と前記第2の絶縁性基体との間に位置する樹脂部材と、
前記第1の絶縁性基体と前記第2の絶縁性基体との間に位置し、前記第1の導電部材と前記第2の導電部材とを電気的に接続する接続部材と、を備えた配線基板であって、
前記樹脂部材は、前記接続部材の表面の少なくとも一部を外部に露出させる開口部を有することを特徴とする配線基板。
【請求項2】
前記接続部材を複数備え、前記樹脂部材が、隣り合う前記接続部材の一方から他方にかけて開口する空孔を有することを特徴とする請求項1に記載の配線基板。
【請求項3】
前記第1の絶縁性基体の前記主面に対して平行な断面において前記樹脂部材を断面視した場合に、前記空孔の幅が、前記開口部の幅よりも大きいことを特徴とする請求項2に記載の配線基板。
【請求項4】
前記第1の絶縁性基体の前記主面に対して平行な断面において前記樹脂部材を断面視した場合に、前記第1の絶縁性基体の中心に近い部分に位置する前記空孔の幅が、前記第1の絶縁性基体の中心から遠い部分に位置する前記空孔の幅よりも大きいことを特徴とする請求項3に記載の配線基板。
【請求項5】
前記第1の絶縁性基体の前記主面に対して垂直な断面において前記樹脂部材を断面視した場合に、前記空孔の幅が、前記開口部の幅よりも大きいことを特徴とする請求項2に記載の配線基板。
【請求項6】
前記第1の絶縁性基体の前記主面に対して垂直な断面において前記樹脂部材を断面視した場合に、前記第1の絶縁性基体の中心に近い部分に位置する前記空孔の幅が、前記第1の絶縁性基体の中心から遠い部分に位置する前記空孔の幅よりも大きいことを特徴とする請求項5に記載の配線基板。
【請求項7】
請求項1に記載の配線基板と、該配線基板の一方の端面上に配設された測定端子と、前記配線基板の他方の端面上に配設された接続端子と、を備えたプローブカード。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【公開番号】特開2010−129731(P2010−129731A)
【公開日】平成22年6月10日(2010.6.10)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−302012(P2008−302012)
【出願日】平成20年11月27日(2008.11.27)
【出願人】(000006633)京セラ株式会社 (13,660)
【Fターム(参考)】