【課題】撮像手段によって撮像された切削溝の状態を正確に判定することができる機能を備えた切削装置を提供する。
【解決手段】チャックテーブルに保持された被加工物を切削するための切削ブレードを備えた切削手段と、光照射器によって切削溝に光を照射して切削溝を撮像する撮像手段と、撮像された切削溝の状態を判定する制御手段と、加工条件を入力する入力手段と、表示手段と、警報手段とを具備する切削装置であって、制御手段は、入力された加工条件および撮像された切削溝の状態に基づいて切削溝が適正か否かを判定する切削溝判定工程と、切削溝が適正でないと判定した場合には、光照射器の光量を所定範囲において調整しつつ適正であると判定したときに光量を修正光量として変更し、光照射器の光量を所定範囲において調整しても切削溝が適正でないと判定した場合には警報手段を作動するとともに表示手段にエラーメッセージを表示する光量学習工程を実行する （もっと読む）

【課題】従来技術と比較して、簡易に形状を測定する。
【解決手段】ビデオカメラ１４によって取得された複数の画像から少なくも２枚以上の画像を選択し、選択された画像間での複数のマーカの距離の和に応じた角度に基づいて、選択された画像のうち少なくとも１つの画像を回転させ、回転された後の選択された画像に含まれる複数のマーカの画像上での位置に基づいて、互いに撮影位置及び撮影方向が異なる左ビデオカメラ及び右ビデオカメラの各々の撮影位置及び撮影方向を推定し、複数個の画像データ、推定された左ビデオカメラ及び右ビデオカメラの各々の撮影位置及び撮影方向に基づいて、複数個の画像データが示す複数の画像の各々の複数のマーカの位置を推測することにより、ホイール１２の少なくとも一部の形状を測定する。 （もっと読む）

【課題】金属や陶磁器などの他、自動車やその部品などの光沢塗装が施されるなどして表面反射の強い計測対象物であっても、パターン光投影による三次元情報の計測を可能にする。
【解決手段】パターン光を計測対象物に直接当たらないように投影するパターン光投影装置１と、パターン光投影装置１により投影されたパターン光を反射して計測対象物Ａに投影する反射板２と、反射板２により反射されたパターン光が投影された計測対象物Ａを撮像して投影パターン画像を取得するカメラ装置３であり、レンズの光軸が反射板２により反射されたパターン光の投影方向と同一でないカメラ装置３と、投影パターン画像から計測対象物Ａの三次元情報を算出するデータ処理装置４とを含む。 （もっと読む）

【課題】本発明は、フォトマスクの特性を検出することができるフォトマスクの特性検出装置およびフォトマスクの特性検出方法を提供する。
【解決手段】被検出体に形成されたパターンの光学像に基づいて検出データを作成する検出データ作成部と、前記パターンに関する参照データを作成する参照データ作成部と、特性の検出対象となるパターンに対応する参照パターンと、前記参照パターンの位置情報と、を前記参照データから抽出する抽出部と、前記参照パターンに基づいて特性を検出する領域を設定するとともに、前記位置情報に基づいて前記検出データから前記特性の検出対象となるパターンを抽出する第１の領域設定部と、前記特性を検出する領域における前記特性の検出対象となるパターンの特性を受光面上に結像された光学像を光電変換することで検出する検出部と、前記検出された特性を集計する集計部と、を備えたことを特徴とするフォトマスクの特性検出装置が提供される。 （もっと読む）

本明細書で開示される主題は、モバイル機器から遠隔の物体までの距離を測定すること、または遠隔の物体のサイズを測定することに関する。
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【課題】 視準校正のための誤差を高精度、容易かつ短時間に確認できるレーザ視準校正システムを提供すること。
【解決手段】 レーザ視準校正システム１は、視準校正のための誤差６９を算出及び表示する。レーザ視準校正システム１は、レーザユニット１０が配設され、レーザ光線の照準を設定するためのレチクル２０ａを有する照準ユニット２０と、レチクル２０ａに対応するレチクル３０ａを有し、レチクル２０ａがレチクル３０ａと同軸上に配設され、レチクル２０ａとレチクル３０ａとによって照準が設定された状態でレーザ光線を受光する受光ユニット３０と、照準が設定された状態で、受光ユニット３０が受光したレーザ光線の受光ユニット３０における受光位置を基に、レーザ光軸の視準校正のための誤差６９を算出し、算出された誤差を表示する算出表示ユニット５０とを有している。 （もっと読む）

【課題】 撮像装置で撮像した物体の位置計測用の基本標識を識別用の識別標識と混同することなく位置計測を行うことができる位置計測システム、位置計測用演算装置およびプログラムを提供する。
【解決手段】 位置計測システムは、平面上に幾何学的形状として四角形を形成する位置関係の分かっている４つの基本標識ａ１，ｂ１，ｃ１，ｄ１および平面上に配置される識別標識ａ２を有する物体１と、２次元撮像素子２を有する撮像装置３と、撮像装置３により撮像した基本標識および識別標識の画像情報から得られた直線上の４点を利用して複比を計算し、計算した複比に基づいて４つの基本標識ａ１，ｂ１，ｃ１，ｄ１を識別し、識別した４つの基本標識ａ１，ｂ１，ｃ１，ｄ１の位置情報に基づいて物体１の３次元位置および角度の少なくとも一方を求める演算を行う演算装置４とを備える。 （もっと読む）

【課題】ケーブル長さを正確かつ容易に計測できるようにする。
【解決手段】ケーブル計測管理装置１００は、ケーブルドラム９から引き出されたケーブル２を支持するケーブル支えユニット１５−１、１５−２と、ケーブル支えユニット１５−１、１５−２により支持されたケーブルの表面に光を照射し、その反射光を撮像面に結像させることにより該ケーブル表面の画像を撮像し、連続位置で撮像された画像間の相関をもとにケーブル２の長さを計測するケーブル計測ユニット１３とを具備する。 （もっと読む）

【課題】 原液中のフロックの凝集状態を撮影して、凝集剤の添加量及び凝集剤撹拌機の回転数を調整する汚泥処理装置及び汚泥処理方法を提供する。
【解決手段】 凝集フロックを撮像する撮像部１１と、凝集フロックの画像の輝度信号を電気信号に変換し、電気信号から画像を２値化し、２値画像を生成する変換部１２と、２値画像に表示された凝集フロック面積を算出する算出部１３と、凝集フロック測定面積と凝集フロック基準面積とを比較する比較部１４と、比較結果に応じて、凝集剤供給ポンプ２９及び凝集剤撹拌機２１の回転数を制御する制御部１５と、比較結果に応じて、警報を発する出力部１６とを備え、算出部１３は、予め同一の凝集剤添加率において複数回分の凝集フロック面積を算出し、複数回分の凝集フロック面積の平均値である凝集フロック平均面積を算出し、凝集フロック平均面積に基づいて凝集フロック基準面積を算出する。 （もっと読む）

【課題】対象物の撮影画像に基づいて指定した目的像を対象物に投影する投影システムにおいて、撮影手段と投影手段との光軸差から生じる投影像と目的像とのずれを補正する処理を迅速に行う。
【解決手段】プロジェクタ１０の原像面上にて、目的像を構成する注目点Ｘに対応する原像対応点Ｗを探索する際の探索範囲を、注目点Ｘそれぞれに対応してビデオカメラ８及びプロジェクタ１０に関するエピポーラ幾何により定まる原像面におけるエピポーラ線Ｌpのうち一部区間に限定する。 （もっと読む）

【課題】 膜厚を測定するフィルムに光を照射し、その反射光または透過光のスペクトルからパワースペクトルを求めて膜厚を算出する膜厚測定装置では、ポリプロピレンやポリエチレン等ヘイズが大きい材質ではかけ離れた測定値が頻繁に得られるので測定が困難であり、またフィルムの傾きやしわによって測定値のばらつきが大きくなるので、オンライン膜厚計として用いることが困難であったという課題を解決する。
【解決手段】 パワースペクトルのピーク高さ、ピーク面積、反射率などの測定品質を算出し、この測定品質と閾値を比較して測定の有効、無効を判断して、有効なときのみ膜厚測定値を外部に出力するようにした。かけ離れた測定値を除去することができるので、測定の信頼性が高まり、また従来測定が困難であったポリエチレン等の膜厚が測定できる。 （もっと読む）

【課題】検査時における照明光の光量を安定させた表面検査装置を提供する。
【解決手段】表面検査装置１は、照明部が、ランプハウス６１からの光のうち所定の波長領域の光を透過させるバンドパスフィルターが設けられた波長選択機構７０，７５を有し、当該バンドパスフィルターを透過して得られた所定の波長領域の光を照明光として被検基板１０の表面に照射するように構成されており、紫外光を遮断するＵＶカットフィルター６５がランプハウス６１と波長選択機構７０，７５との間の光路上に挿抜可能に設けられ、非検査時にＵＶカットフィルターが光路上に挿入され、また前記ＵＶカットフィルターの保持基板に「(1)熱線吸収膜(2)熱線反射膜及び熱線吸収膜の積層膜(3)熱線吸収膜及び熱伝導性膜の積層膜(4)熱線反射膜及び熱伝導性膜の積層膜(5)熱線反射膜、熱線吸収膜及び熱伝導性膜の積層膜の」うちのいずれかが設けられている。 （もっと読む）

【課題】安価な撮像装置を用いてタイヤ表面歪みの変化を測定できるタイヤ解析システムおよびタイヤ解析方法を提供すること。
【解決手段】このタイヤ解析システム１は、所定の試験条件を入力したときのタイヤ形状の変化やタイヤ表面歪みの変化を測定することによりタイヤの挙動解析を行うシステムである。このタイヤ解析システム１は、タイヤ表面の一部にタイヤ周方向に沿って配列された複数の解析用格子面Ｓを相互に異なる方向から同時に撮像する複数のカメラ３１、３１と、これらのカメラ３１、３１から取得した画像データに基づき解析用格子面Ｓの三次元座標を算出すると共にこの三次元座標に基づきタイヤ表面歪みの変化を算出する処理装置４とを備えている。そして、タイヤ１０が回転して解析用格子面Ｓが所定の撮像位置に来たときに、カメラ３１、３１が解析用格子面Ｓを撮像している。 （もっと読む）

【課題】比較的大きな被測定物に対しても高精度な測定が可能となるプロジェクター式測定装置を提供すること。
【解決手段】プロジェクター式測定装置１は、載置台１０と、照明部１６と、被測定物５を画像として所定倍率で光学的に取得する画像取得部２１と、画像取得部２１から出力される取得画像データに基づいて投写画像データとして出力して制御する画像制御部３１と、光源から射出される光束を、投写画像データに基づいて光変調素子により変調し、投写用光学像に変換して出力する光学変換部５１と、投写用光学像を所定倍率で投写する投写光学部５２と、投写用光学像が投写されて投写画像を形成すると共に、所定倍率で作成された基本形状図シート６を載置するスクリーン４０と、投写画像と基本形状図シート６との変位を変位データとして取得する変位取得部３６と、変位データに基づいて変位量を算出する変位量算出部３７と、を備える。 （もっと読む）

【課題】高スループットかつ高精度な膜測定を安価で容易に行なう膜測定方法を得ること。
【解決手段】第１の基板上に形成されたサンプル膜Ａに光を照射して膜質測定した場合の膜質情報３Ａと、第２の基板上に形成されサンプル膜Ａと同じ種類の膜材であるサンプル膜Ｂに光を照射して膜質測定した場合の膜質情報３Ｂと、を比較し、膜質測定結果の差が所定値よりも小さくなる波長の光を、膜厚測定に用いる波長領域の光として選択し、サンプル膜Ａ，Ｂと同じ種類の膜材である測定対象膜に、選択した波長領域の光を照射して、測定対象膜の膜厚を測定する。 （もっと読む）

【課題】装置本体に出し入れ可能に設けられた巻尺により測定した測定値を精度よく読み取ることが可能な巻尺読取装置を提供する。
【解決手段】本発明の巻尺読取装置１００は、巻尺２００の測尺２２０に付された目盛りおよび目盛り文字を撮像する撮像部１６０と、撮像画像から目盛り文字および目盛り文字に対応する目盛り線を認識する目盛認識部１７２と、撮像画像に基づいて、撮像画像内における基準位置から目盛り文字に対応する目盛り線までの画像内距離を算出する画像内距離算出部１７４と、撮像画像中から認識された目盛り文字、画像内距離、および撮像画像と読み取り位置との位置関係に基づいて、巻尺の測定値を算出する測定値算出部１７６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】対象物のステレオ視によって対象物の位置を計測するに際し、量子化誤差を軽減することができる位置計測システム及び位置計測方法を提供する。
【解決手段】位置計測システム１では、対象物Ｔのステレオ視において２台のカメラの視線領域が重なる重複領域に対象物Ｔの真値（真の座標）が存在することに鑑み、カメラ２_１〜２_４の位置関係が第１の位置関係である場合の第１の重複領域ＤＲ１、当該位置関係が第２の位置関係である場合の第２の重複領域ＤＲ２、及び当該位置関係が第３の位置関係である場合の第３の重複領域ＤＲ３を取得し、重複領域ＤＲ１〜ＤＲ３が重なる領域にて対象物Ｔの位置を算出する。これにより、重複領域のそれぞれから、重複領域が重なる領域へと、対象物Ｔの真値が存在する領域が狭められる。 （もっと読む）

【課題】車体に特有に発生する混合検出を防止することができるセンシング誤判定防止方法の提供を目的とする。
【解決手段】センシング誤判定防止装置１０は、車体１１上の２ヶ所のエリア（エリア１とエリア２）を撮像するカメラ１２と、このカメラ１２で撮像された画像に基づいて演算し判定を行う演算・判定部１３と、結果を表示するモニター１４とを備える。
【効果】２ヶ所以上のエリアを撮像して、その撮像した結果に基づいてセンサの判定に誤りがあるかどうかを判断するようにした。従って、車体に特有に発生する混合検出を防止することができるセンシング誤判定防止方法を提供することができる。 （もっと読む）

【課題】被測定膜の厚さを簡便に測定可能とするレーザ変位計を提供する。
【解決手段】レーザ変位計は、波長可変レーザ光源１１と、軸上色収差光学系１３と、被測定膜ＳＡの表面及び裏面にて反射されたレーザ光を軸上色収差光学系１３を介して受光してレーザ光の被測定膜ＳＡの表面及び裏面上での結像状態を検出する光検出部１４と、波長可変レーザ光源を制御して出力されるレーザ光の波長を変化させる制御部２１とを備える。制御部２１は、光検出部１４により被測定膜ＳＡの表面及び裏面上でのレーザ光の合焦が検出された場合におけるレーザ光の波長に基づき被測定膜ＳＡの表面位置ｈｓ及び仮の裏面位置ｈｂｄを求め、表面位置ｈｓ及び仮の裏面位置ｈｂｄから被測定膜ＳＡの仮の厚さＴｄを特定する。制御部２１は、被測定膜ＳＡの膜種、仮の裏面位置ｈｂｄ、仮の厚さＴｄに基づき被測定膜ＳＡの真の厚さを特定する。 （もっと読む）

【課題】 撮影による画像の取得から正射投影画像の作成までを簡易化し、正射投影画像を精度良く作成する画像処理方法、装置およびプログラムを提供する。
【解決手段】 本発明は、所定間隔で離れた二つの標点を持つ被写体が対象面上に配置された状態で対象面を撮影機器によって撮影した画像の情報、撮影条件に関する情報および撮影機器の光学特性に関する情報を取得する情報取得工程と、撮影条件に関する情報および撮影機器の光学特性に関する情報から射影変換式を定めた上で、被写体における二つの標点間の距離情報を考慮して射影変換式を決定する要素を調整し、調整された射影変換式に基づき、撮影画像を正射投影画像に変換する画像変換工程とを備える。 （もっと読む）