【課題】試料のマイクロ構造の特性についての事前知識も、ピーク位置のモデリングに基づいた算出も必要でない、散乱データにおける収差を補正する方法を記載する。
【解決手段】例では、X線散乱装置は、散乱角2θと、測定X線散乱パターンF_exp(H)のフーリエ変換とに依存する、収差のフーリエ表現F_inst(H,2θ)を用いて、収差補正出力X線パターンを自動的に算出し、出力するよう形成される補正装置を統合化する。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線回折装置において、複数の異なる測定軸を用いて得られた複数のデータを表示することに関して、それら複数のデータを有効に活用できるようにする。
【解決手段】 Ｘ線源から発生したＸ線を試料に照射すると共にその試料で回折したＸ線をＸ線検出器によって検出する測定装置２を備えたＸ線回折装置１である。測定装置２は測定の基準となる測定軸を複数有する。Ｘ線回折装置１は、画像を表示する表示装置４と、その表示装置４に供給する画像データを生成する画像データ生成部７，１１，１３とを有する。この画像データ生成部は、複数の測定軸の個々に関する測定データをＴＡＢ表示と共に個別に表示するための画像データを生成し、さらに、複数のＴＡＢ表示のうちの１つが指示されたときにそのＴＡＢ表示に対応する測定データを画面上に表示するための画像データを生成する。 （もっと読む）

【課題】 不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を短時間で容易に取得することを実現する。
【解決手段】 単色の入射Ｘ線６の光軸、試料４、および二次元位置敏感型検出器７を固定した状態で単色の入射Ｘ線６の波長を変えながら試料表面の被測定領域Ａ全体を照らし、被測定領域Ａ内の異なる部位から出射する回折Ｘ線１０を二次元位置敏感型検出器７の別々の検出素子でそれぞれ区別して検出し、それぞれの波長について、各検出素子が検出した回折Ｘ線強度を各画素値とする二次元の回折Ｘ線画像を形成し、複数の波長値に対する回折Ｘ線画像を一つのセットとして記録する。 （もっと読む）

液体試料を前処理して含有成分を蛍光Ｘ線分析するために用いられる蛍光Ｘ線分析用試料保持具などにおいて、バックグラウンドを抑制するとともに、より大きい強度の蛍光Ｘ線を均一に発生させることにより、検出限界を十分に向上できるものを提供する。液体試料１を前処理して含有成分を蛍光Ｘ線分析するために用いられる試料保持具５であって、輪状の台座２と、その台座２に保持される周辺部３ａおよびＸ線を透過させるための透過部３ｂを有する厚さ１０μｍ未満の疎水性フィルム３と、その疎水性フィルム３の透過部３ｂに貼付された厚さ１μｍ以上１００μｍ以下のシート状の液体吸収材４とを備え、その液体吸収材４ｂに前記液体試料１が滴下されて乾燥されることにより、前記含有成分を保持する。
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【課題】本発明は、小角Ｘ線散乱用途に使用するＸ線ビームのビーム発散を減少させるＸ線ビームを生成する方法及び装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線ビームを焦点に集束させる集束光学系、集束光学系と光学的に結合する第１スリット、第１スリットと光学的に結合する第２スリット、およびＸ線検出器を含み、焦点が検出器の前に配置されるＸ線分析システム。 （もっと読む）

【課題】放射線透過撮像期間中の部品の動きが像の品質にマイナスの影響を及ぼさない程度に大きくないことを保証する方法を提供すること。
【解決手段】物体の放射線透過検査用システムは、物体の一方の側に位置する放射線源（１６）と、物体のもう一方の側に位置する放射線検出器（１８）とを含み、放射線検出器は放射線源（１６）からの放射を受け取るように位置付けされている。少なくとも１つの動きセンサ（４０）、（４２）、（４４）、（４６）が、動きを検出するために、放射線検出器（１８）、放射線源、または物体に関連づけられている。部品の動きの大きさが、予め設定された限界値と比較される。撮像プロセスは、どの動きの大きさも限界値未満であるときに行われる。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線管から出射されたＸ線ビームが試料に到達するまでの光路における強度の減衰を極力小さくすることにより、不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を、実験室や現場で短時間且つ簡単に取得することを可能とするＸ線回折分析技術を提供する。
【解決手段】 固定保持されている試料（１）を照らす入射Ｘ線（８）として所定の元素の特性Ｘ線を発生させるＸ線管（９）が固定保持される位置が、入射Ｘ線（８）が試料（１）の被測定領域（Ａ）全体を照らすことのできる位置であって且つ試料（１）と接触しない範囲で限りなく試料（１）に接近した位置である。 （もっと読む）

【課題】 軽元素の分析においてＳＮ比が十分に向上した蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。
【解決手段】 試料１に１次Ｘ線２を照射するＸ線源３と、試料１から発生する２次Ｘ線の通路４に配置され、分析対象の軽元素と同一の軽元素を含む分光素子７と、この分光素子７によって回折された２次Ｘ線４Ｄが入射される検出器１０とを備え、試料１から発生する２次Ｘ線の通路４における試料１と分光素子７との間に、分析対象の蛍光Ｘ線よりも短い波長のＸ線を除去する全反射ミラー５０からなるフィルタ素子５が配置されている。 （もっと読む）

【課題】 効率的に再構成演算を行うことができ、もって再構成演算時間を短縮化することのできるＸ線ＣＴ装置を提供する。
【解決手段】 ＣＴ撮影により得られたＸ線透過データを用いて予備的に再構成演算した被写体Ｗの断層像Ｗ′、もしくは光学カメラ７により回転軸Ｒの方向から撮影した被写体Ｗの外観像上で、任意形状の閉ループＣＬを描画もしくは自動形成する手段を設け、ＣＴ画像再構成演算装置６ではその閉ループＣＬの内側領域を関心領域としてその内側のみの断層像を再構成演算することにより、関心領域の断層像の再構成演算に要する時間を短縮化することを可能とする。 （もっと読む）

【課題】蛍光Ｘ線装置の操作条件変動の影響を回避し、オンラインでの単一相溶液の分析に適用することができ、装置ドリフトによる測定誤差を最小にし、分析すべき溶液中の媒体変動又はガス相の存在についての検出を可能にした分析装置。
【解決手段】励起Ｘ線により溶液を励起し、励起した溶液から放出された分光Ｘ線を分析するための励起及び分析手段（１２、１４）、励起及び分光Ｘ線及び基準Ｘ線に対し透明な領域（１８）を有する溶液受容手段（４、８、１０）、及び溶液に対し外部にある基準素子で、受容手段と一体になっており、前記領域とこの素子との間に前記溶液が存在するような仕方で前記領域に相対して配置され、励起放射線を受けた時、分光Ｘ線とは異なった基準Ｘ線を放出することができ、基準Ｘ線及び分光Ｘ線を分析して前記溶液の分析中に起き易い測定ドリフトを補正することを可能にする、基準素子（６）、を備えた分析装置。 （もっと読む）

【課題】 簡単な構成で、大気圧で分析すべき試料が真空で分析されるのを防止できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】 真空と大気圧に雰囲気が切り替えられる分析チャンバ11内で、試料ホルダ8 に収納された試料3 に１次Ｘ線2 の照射などを行う分析装置本体10と、複数の試料ホルダ8 が載置される試料テーブル21を有し、分析装置本体10に対して試料ホルダ8 の搬出入を行う試料交換機20と、試料テーブル21における試料ホルダ8 の載置場所21a ごとに、試料3 に適用される雰囲気などの分析条件が設定される分析条件設定手段33と、その分析条件に従い分析装置本体10および試料交換機20の動作を制御する制御手段34とを備える。試料テーブル21における試料ホルダ8 の各載置場所21a に、分析チャンバ11内のいずれかの雰囲気が割り当てられており、その割り当て状況が表示手段31または試料テーブル21自体に表示される。 （もっと読む）

本発明は、コンテナーを、特にコンテナーブリッジを用いて荷積みに降ろしされるコンテナーを、無接触に荷役管理し搬送するための移動式多機能型プラットホームに関し、コンテナー（６）を移し替えするためのクレーン装置と、コンテナー（６）のためのプラットホーム（７，３５）と、透視装置（１２，１４，１５）と、シールド（１６，３３）と、プラットホーム（７，３５）の移動手段（９）とを備えている。
本発明は、コンテナー（６）の荷役管理を無接触に行い、コンテナーブリッジ（３）に透視装置を追装備できないような場所であればどこにおいても適用可能である。
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【課題】 表面分析方法及び表面分析装置に関し、補正用の荷電粒子に起因する熱的ダメージを緩和させて本来の試料の素性を反映する分析結果を得る。
【解決手段】 絶縁性或いは半導電性の試料１に一次エネルギー粒子２を照射するとともに、一次エネルギー粒子２の照射或いは二次荷電粒子３の発生に伴う試料１の帯電を、帯電の極性と反対の極性の荷電粒子を照射して補正する際に、試料１が所定温度以下になるように補正用の荷電粒子４の量、エネルギー、或いは、収束度の少なくとも一つを制御する。 （もっと読む）

【課題】 検査タイヤ11の内部欠陥を検査する際、誤検出を避けながら検出精度を向上させる。
【解決手段】 検査タイヤ11の側壁部21を同心円状をした複数のリング状領域に区画する一方、回転中の検査タイヤ11の各リング状領域を透過してきた放射線の画像データに対し検出手段40によりしきい値処理を行うようにしたので、前述のしきい値を各リング状領域毎に異なる最適値に設定することができ、これにより、内部欠陥を誤検出および検出ミスの双方を防止しながら検出することができる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、２方位のみの測定で結晶格子面傾斜角を精度よく測定することを目的とする。
【解決手段】ペンシル状Ｘ線ビームを含む面であるδ回転面に沿って回折点を通るδ回転軸と直交し、被検体である結晶の被検査面に略垂直なｚ軸と略同軸に設定されたφ回転軸回りにＸ線源、Ｘ線検出器及びδ駆動部を一体でφ回転させてδ回転面を所定角度に設定し該所定角度でδ回転を行ったときのＸ線検出器のピーク出力を与えるδ回転量の読み値から結晶の格子面法線の前記φ回転軸に対する傾斜角を計算するデータ処理部と、試験用結晶片をλ回転可能に保持しそのλ回転軸が上記ｚ軸と平行になるよう試験用結晶片３１をｚ駆動部９に取付ける治具３３とを有し、上記データ処理部は上記λ回転の１８０度異なる２つの位置に対する上記試験用結晶片３１の上記傾斜角のそれぞれの計算値から上記ｚ軸の上記φ軸に対する設定誤差を計算する。 （もっと読む）

【課題】金属帯上に塗布されるワックスの付着量を短時間で正確に測定することを可能としたワックス付着量測定方法を提供する。
【解決手段】本発明のワックス付着量測定方法は、ワックスが付着された金属帯を、500〜950℃の温度で熱処理し、該熱処理前後の金属帯上の炭素量の差からワックスの付着量を求めることを特徴とする。さらに、蛍光Ｘ線分析法を用いて、熱処理前後の金属帯上の炭素量の差を求めることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】未知の被検体に対しても、管電圧と管電流を容易に設定できるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線管１１と、このＸ線管１１の管電圧と管電流とを制御するＸ線制御部１５と、被検体２１を透過したＸ線２２を検出するＸ線検出器１２とを有するＸ線検査装置１において、Ｘ線検出器１２で検出した被検体の透過画像からこの透過画像のコントラストとノイズとの比であるコントラスト対ノイズ比を算出し、このコントラスト対ノイズ比に基づいてＸ線管１１の管電圧及び管電流の最適な値を求めてＸ線制御部１５に出力する自動管電圧管電流設定部１３ｂとを有する。 （もっと読む）

Ｘ線回折測定操作中、円弧状軌跡でヘッドを移動させる共通の駆動アセンブリを有するベース・ユニットに取り外し可能に接続されるモジュラー式Ｘ線ヘッドを含んでいるオープン・ビーム式Ｘ線回折システム及び方法が提供される。ヘッドは、行われることになっている測定操作の要求による異なる性能基準に合わせられ得る。この目的のために、ヘッドの１つは、例えば、管状部品の内側のような、そうしないと表面に接近するのが難しい測定をするのに適合している極小ヘッドであり得る。改良された正確性と速さに関する駆動アセンブリの向上が、また、開示される。 （もっと読む）

【課題】高品質な３次元データを高速に収集できるＴＲ方式コンピュータ断層撮影装置を提供する。
【解決手段】ＴＲ方式コンピュータ断層撮影装置１０における放射線検出部４０は、Ｘ線ビーム２１Ｃと対向する位置に配置され、Ｘ線ビーム２１Ｃが通過して射出される側の射出側面Ｌであって撮影面Ｐに沿った位置に凹部４１Ａを有するチャンネルコリメータ４１と、射出側面Ｌと対向する位置に配置され、凹部４１Ａと係合する平面状の列セパレータ４２と、列セパレータ４２の両面に個別に設けられたシンチレータブロック４４Ａ，４４Ｂと、シンチレータブロック４４Ａ，４４Ｂに個別に取り付けられた光検出素子列４５Ａ，４５Ｂとを備える。 （もっと読む）

この単色Ｘ線源は、ある元素を有する放出原子を含む材料からなるターゲットを特に含み、前記原子は、電子線照射によって必須的に前記原子のＫ層に位置する電子が励起される。前記材料は、通常固体状態であり、前記放出原子に束縛される、１つまたは複数の元素を表す構造化原子を用いて結合され、前記構造化原子は、前記放出原子によって放出される前記Ｘ線において２．３μｍ^−１以下の吸収係数を有する。前記構造化原子の原子番号は、前記放出原子の原子番号より小さい。
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