【課題】 各種計測装置において検出された検出信号をA/D変換して得られるデジタル検出信号のノイズ成分を除去する。
【解決手段】 検出信号値の増減を検出し、検出信号値が予め設定された回数連続増加又は減少しているか否かに基づき、前後の検出信号値の差分値を予め設定された数で除した圧縮値を直前に出力された処理後出力値に加算するか、上記検出信号値をそのまま出力するかを判断して実行する構成とすることにより、ノイズ成分のみを低減することが可能となる。より処理精度を向上させるために、差分値と所定の閾値とを比較する構成とすることもできる。 （もっと読む）

【目的】 本発明は、農作物中の重金属元素含有量を簡易に検定する方法を提供するもので、農作物の品質調査、及び農用地の土壌汚染調査を実施する際の化学分析分野で活用するものである。
【解決手段】
本発明は農作物中重金属の簡易分析方法において、農作物を灰化させることで分析の阻害となるマトリクス効果を減少させ、かつ試料中に含まれるカドミウム等の重金属類の相対濃度を高めることで、蛍光Ｘ線分析装置によって農作物中の重金属元素含有量を分析可能とするものである。 （もっと読む）

【課題】 各種のトポグラフィとロッキングカーブ測定法が一台の装置で可能なＸ線単結晶評価装置を提供する。
【解決手段】 単結晶試料ＳＭを保持してＸ線発生装置３０から出射されるＸ線を照射して回折Ｘ線を生じるＸ線回折部２０と、Ｘ線回折部において試料で回折したＸ線を受光するＸ線検出部１００とを備えたＸ線単結晶評価装置は、Ｘ線発生装置から出射して単結晶試料に照射される光路部４０の一部に、結晶コリメータ４７が選択的に挿入可能なコリメータ４５を備え、かつ、Ｘ線検出部は、Ｘ線ＴＶ１１０とシンチレーションカウンタ（ＳＣ）１２０とを備えており、このＳＣは移動可能で、その移動位置によってアナライザ結晶１２１が挿入可能である。 （もっと読む）

本発明の一態様に従って、検出器は、或る閾値を超える光子に対してその数をカウントする多数の小さい画素で構成される検出素子を有し、この検出器の位置におけるエネルギー分布の再構成が最尤解析を用いて実行される。故に、再構成手法は測定における冗長性を使用し、それに従ってポアソン統計を処理する。
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【課題】原子スケールの空間分解能により元素を同定することを可能にする。
【解決手段】測定対象に対してビーム径が１ｍｍよりも小径な高輝度単色Ｘ線を照射するＸ線照射手段と、上記測定対象に対向して配置される探針と、上記探針を介してトンネル電流を検出して処理する処理手段と、測定対象と上記探針と上記測定対象に対する高輝度単色Ｘ線の入射位置とを相対的に移動するための走査手段とを備える走査型プローブ顕微鏡とを有する。 （もっと読む）

【課題】 結晶構造に関するより多くの情報を効率的に取得することのできる結晶評価装置および結晶評価方法を提供する。
【解決手段】 本発明にかかる結晶評価装置１００は、試料３２を載置するための試料台１０と、前記試料台１０に載置された試料３２にＸ線を照射するためのＸ線源１２と、前記試料３２に照射されることにより生じた回折Ｘ線を検出するＸ線検出部１４と、前記試料３２にレーザ光を照射するためのレーザ光源１６と、前記レーザ光を偏光する第１の偏光子３４と、前記試料に照射されることにより散乱したラマン散乱光を偏光する第２の偏光子３６と、前記第２の偏光子で偏光されたラマン散乱光を分光する分光器１８と、前記分光器が分光したスペクトルの強度を検出する光検出部２０と、を含む。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線の吸収が少ない被検査体の透視画像の画質を向上させる。
【解決手段】 Ｘ線管１で発生したＸ線４をベルトコンベア５で運ばれてくる被検査体７に照射してラインセンサ３により透過Ｘ線を検出し透過像を得る。この透過像から被検査体７内部に存在する異物を検出する。Ｘ線管１とラインセンサ３の間に内部を真空としたケース２を配置すると、Ｘ線４はこのケース２内を通過するから、このケース２を通過する間ではＸ線４が空気によって吸収されることがない。これによりＸ線管１で発生したＸ線のうち、とくに波長の長い低エネルギーのＸ線が減衰することなく被検査体７に到達することになる。したがって、高エネルギーＸ線では透視画像にコントラストが付かず、低エネルギーＸ線で検査することが適当な種類の被検査体に対しても効果的に異物検出を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】 線源変動を測定するための被検体に遮られることのない検出器すなわち比較検出器が無い場合でも、交流電源に同期した変動のような比較的速い線源変動の影響を緩和できる放射線検査装置及び放射線検査方法を提供する。
【解決手段】 放射線源１１に対向して複数チャンネルを有する放射線検出器１２を配置し、この複数チャンネルそれぞれで時系列で検出される被検体の透過データを時間ごとにチャンネル間で平均してから時間方向に高周波通過処理して時間ごとの比較データを求め、透過データに対し時間ごとにこの比較データを減算あるいは除算して補正された透過データを得るように構成されたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】コンベヤに沿って移動し、検査される物品に対する望ましくない動きを実質的に防ぐコンベヤと組み合わされる撮像技術を使用する、新規で比類のない検査装置を提供すること。
【解決手段】移動している物品内にある対象物を検査するための撮像検査装置であって、この撮像検査装置は、対象物を有する物品を前記撮像検査装置内の検査場所を通して移動経路に沿って運搬するためのコンベヤと、枠組構造体と、前記枠組に配置された複数の撮像検査器と、処理分析組立体とを有したこと。 （もっと読む）

【課題】圧力が結晶多形に及ぼす影響をスクリーニングする方法を提供すること。
【解決手段】アモルファス状の対象化合物の懸濁液を加圧処理もしくは減圧処理する工程を含むことを特徴とする対象化合物の結晶多形のスクリーニング方法。 （もっと読む）

【課題】 試料からの微弱な散乱光を、超小角領域まで精度よく検出できる光散乱測定装置を提供する。
【解決手段】 レーザー光源１１と、レーザー光源１１からの光を集光する第１のレンズ１２と、ピンホールｄを有するピンホール板１３と、第１のレンズ１２からピンホールｄを介して入射した光を平行光にする第２のレンズ１４と、第２のレンズ１４から入射した平行光を検出器１７の検出面に備えられたビームストッパー１６で焦点を結ぶように集光する第３のレンズ１５とを設ける。また、ピンホールｄとビームストッパー１６とを光学的に共役な位置に配置する。 （もっと読む）

【課題】鋼板の表面から、サブミクロンから数ミクロンのオーダーの深さ方向分解能で、固溶Ｓｉ濃度を評価できる評価方法を提供する。
【解決手段】鋼板表面から特定の深さ位置の面を露出させ、該露出面にＸ線または電子線を照射して、前記露出面から発生するＳｉの特性Ｘ線のスペクトル形状を測定し、該測定されたスペクトル形状に対して標準試料によるスペクトル形状を基準とした波形分離を実施して、全Ｓｉ量に対する化合物状態のＳｉと固溶Ｓｉの含有比率を算出し、前記露出面における全Ｓｉ濃度の測定値に、前記固溶Ｓｉの含有濃度比率を乗じることによって、前記露出面における固溶Ｓｉ濃度を算出する。 （もっと読む）

【課題】 結晶構造に関するより多くの情報を効率的に取得することのできる結晶評価装置および結晶評価方法を提供する。
【解決手段】 本発明にかかる結晶評価装置１００は、試料を載置するための試料台１０と、前記試料台１０に載置された試料３２にＸ線を照射するためのＸ線源１２と、前記試料３２に照射されることにより生じた回折Ｘ線を検出するＸ線検出部１４と、前記試料３２にレーザ光を照射するためのレーザ光源１６と、前記試料３２に照射されることにより散乱したラマン散乱光を分光する分光器１８と、前記分光器１８が分光したスペクトルの強度を検出する光検出部２０と、を含む。 （もっと読む）

【課題】磁歪と磁化とを、試料の同領域で観測する。
【解決手段】Ｘ線回折法による磁歪計測の手法とＸ線磁気回折法とを新たに組み合わせることで、磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に観測できる便利な手法を開発した。この手法は、試料の同領域についての磁場内での回折光強度の相対変化δを磁場上昇時および磁場下降時のそれぞれで計測して、それらから磁場Ｈに対し反対称な成分δ_Ａと対称な成分δ_Ｓとを求め、対称な成分δ_Ｓに基づき試料の前記領域の磁歪係数λ₁₀₀を求めるとともに、反対称な成分δ_Ａと対称な成分δ_Ｓとを再合成して得られる量Ｒ’_ａに基づき試料の前記領域の相対磁化Ｍ/Ｍ_Ｓを求めるものである。内部モードの磁歪係数値が外部モードの磁歪係数値に一致する条件を使えば、機器の較正等に都合のよい方法である。 （もっと読む）

本発明は、包装機械に用いられるセンサ装置であって、包装機械（１８）の少なくとも１つの搬送手段（２１，３２）が設けられており、該搬送手段（２１，３２）が、包装しかつセンシングしたい少なくとも一種類の材料（１９）を包装機械（１８）の種々異なるステーション（１〜１２）に運動させるようになっている形式のものに関する。本発明によれば、少なくとも１つのＸ線源（３３）と検出器（３７）とが、Ｘ線源（３３）と検出器（３７）との間に位置するセンシングしたい材料（１９）を透視するために設けられている。
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【課題】平面型検出器の構成が可能でありかつ信号処理用電子回路装置を配置するための十分な空間が検出面の近くに存在する検出器モジュールを提供する。
【解決手段】検出素子のアレイ１０およびプリント回路基板１１を有する検出器モジュール８において、プリント回路基板１１は、検出素子のアレイ１０を収容するための第１の範囲１４と、第１の範囲１４に対して相対的に曲げられた少なくとも１つの第２の範囲１２，１３とを含むＵ字形もしくはＬ字形にされ、検出器モジュール８は垂直構成にされる。この構成によって、隣接して配置された多数の検出器モジュール８に基づく平面型検出器が実現される。 （もっと読む）

【課題】 多数の検査対象品を高速に検査することが困難であった。
【解決手段】 Ｘ線によって検査対象を検査するにあたり、Ｘ線源から所定の立体角の範囲にＸ線を出力し、平面的に配置された複数の検査対象品を上記Ｘ線の出力範囲内で平面的に移動させ、同平面移動工程による上記検査対象品の位置の変更を行いながら、上記立体角に含まれる位置であるとともに上記平面に対して垂直な軸を中心にした複数の回転位置において、上記軸に対して傾斜した検出面をもつ検出器でＸ線画像を取得し、上記複数の回転位置におけるＸ線画像から同じ検査対象品の透過像を抽出し、抽出した透過像に基づいて検査対象品の再構成演算を実行し、検査対象品の検査を行う。 （もっと読む）

【課題】半田接続部の不良を確実に検査できるＸ線検査装置及びＸ線検査方法を提供すること。
【解決手段】プリント基板１０はプリント基板側半田４ｂ、プリント基板側ランド６、基材５、プリント基板側レジスト７などを備え、プリント基板側ランド６に対して間隔を隔ててプリント基板側レジスト７が設けられる構造である。また、回路素子２０は、インターポーザ１のプリント基板側半田４ｂに対応する位置に形成される回路素子側ランド２、その回路素子側ランド２上に形成される回路素子側半田４ａ（半田ボール）などを備える。そして、この回路素子２０をプリント基板１０に実装した状態において、透過型の３次元Ｘ線検査装置を用いてプリント基板側ランド６及びプリント基板側ランド６の周辺の水平断層画像を作成して半田接続部の検査を行う。 （もっと読む）

【課題】 干渉縞を確実に防止することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 天板１の長手方向Ｈ_HにＸ線グリッド４が往復移動しながら被検体の撮像を行う場合、駆動部５がＸ線グリッド４を回転させることで、そのＸ線グリッド４を天板１の短手方向Ｈ_Vにも往復移動可能になるようにする。つまり、長手方向Ｈ_Hに沿って金属ピース４ａの縞目が配置されるようにＸ線グリッド４に配設しつつ、長手方向Ｈ_HにＸ線グリッド４が往復移動しながら撮像すると、画像中の干渉縞を防止する。一方、短手方向Ｈ_Vに沿って金属ピース４ａの縞目が配置されるようにＸ線グリッド４を駆動部５によって長手方向Ｈ_Hから短手方向Ｈ_Vに回転させて往復移動させることで、短手方向Ｈ_Vに往復移動させた場合においても、干渉縞を確実に防止することができる。 （もっと読む）

【課題】適正な量子検出効率と高ＳＮ比を維持し、患者へのＸ線照射線量を抑制したデジタル放射線像形成組立体を得る。
【解決手段】高適合性画像形成組立体は、入射放射線を受けかつ対応する光信号を放出するように構成された単体蛍光体フィルム１０、単体蛍光体フィルム１０に結合される電子装置１２、着脱可能な電子強化層１４で構成する。電子装置１２は、単体蛍光体フィルム１０から光信号を受信しかつ画像形成信号を生成する。単体蛍光体フィルム１０は、シリコーン結合剤内に分散されたＸ線蛍光体粒子を含む。単体蛍光体フィルム１０の厚さは、１ｍｍより薄く、要件に応じて変える。 （もっと読む）