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Fターム[2G001AA01]の内容

Fターム[2G001AA01]に分類される特許

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【課題】 物品を収納して搬送される箱の角部や側縁部あるいは物品の周縁部が繰り返して接触することによるX線漏洩防止部材の磨耗を防止すると共に、箱や物品がX線漏洩防止部材を押し退けてスムーズに通過することができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】 シールドボックス内の搬入口及び搬出口に垂設されて、該搬入口及び搬出口を覆うX線遮蔽部31を、左右両端及び略中央の柔軟部材35…35と略中央の柔軟部材35の左右両側に隣接する金属部材36,36とで構成する。その場合、前記金属部材36,36を、上面が開口する箱Yに物品を収納した商品Gの前方角部が接触したり両側縁部が摺接したりする箇所に配設する。また、柔軟部材35には、鉛を含有するゴム材料を、金属部材36には、ゴム材料より若干厚みの薄いステンレス鋼を使用する。 (もっと読む)


【課題】 遠くに離れた位置にあるX線源から検査対象物にマルチキャピラリX線レンズを介してX線を照射しようとした場合に、マルチキャピラリX線レンズのコストが非常に高くなりX線の減衰も問題となる。
【解決手段】 二本の点/平行型のマルチキャピラリX線レンズ2、3の平行端2b、3bを間に空間を挟んで対向させ、且つ光軸を一致させて配置する。第1X線レンズ2の点焦点F1をX線源の位置に合わせると、X線源から放出されるX線は大きな立体角で以て各キャピラリ内に取り込まれ平行化されて平行端2bから出射する。この出射X線は平行線束に近いため、その大部分が第2X線レンズ3の平行端3bに達して各キャピラリ内に取り込まれる。そして第2X線レンズ3の集束端3aから出射して点焦点F2に照射される。 (もっと読む)


X線及びガンマ線の分光光子線量測定のための本発明の方法では、測定されるパルス波高分布によって処理される。ルーチンの場合には線量率測定は十分な精度で、しかし高い測定繰り返し周波数で行われる。より詳細な分析の場合にはできるだけ最良のエネルギ分解能及び線量率の放射性核種への割り当ての可能性によって処理される。これら二つの測定モードの選択は改善された測定をその都度の測定課題に適合することを可能にする。本発明の方法は2つの要求を1つのシステムにおいて組み合わせる。すなわち比較的良好なエネルギ分解能及び線量成分を個々の核種に割り当てる可能性を有する動作と高い反復レートで線量率が迅速かつ十分に精確に求めなければならないケースとを組み合わせる。両方の場合において様々な線量測定パラメータ又は臓器線量を算定する可能性が存在する。
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X線断層撮影及び/又はトモシンセシス装置2は、検査物体6の走査・透過用X線を生成するためのX線源を備えた位置を固定されたX線管と、透過シーケンスの間検査物体6を位置を固定して配置しておくための位置を固定された検査物体用支持体8と、検査物体6の透過後のX線を検出するための位置を固定されたX線検出器10とを有する。この発明によるX線検出器10は、ほぼ平坦な検出面を有し、検出面12の寸法は、X線源と検査物体6の間隔及び検査物体6とX線検出器10の間隔を考慮して、走査の間X線が物体6を透過した後常に検出面12上に当たるように選定される。
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【課題】 コンベアを容易に引き出すことができ、清掃性及びメンテナンス性に優れたX線検査装置を提供する。
【解決手段】 本体フレーム(2)と、搬送経路(R)の側方へのX線の漏洩を防止するX線漏洩防止カバー(3)と、それを回動支持する回転軸(21)と、を備え、X線漏洩防止カバー(3)及び回転軸(21)の最下端部を、コンベア(41)を検査領域(F)外へ移動する移動手段(43)を有する搬送機構(4)の最上端部よりも上方に位置させたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 石炭中の無機鉱物の化学形態を推定するために、NMR法を利用して、高炉などの冶金炉やボイラーなどの燃焼炉で広く使用される石炭中の無機鉱物の化学形態を迅速かつ簡便に推定する方法を提供する。
【解決手段】 予め各銘柄を代表する複数種の石炭について、該石炭中に存在する各無機鉱物の化学形態を27Al−NMRスペクトル測定法により特定するともに、該石炭中のAl量およびSi量を成分分析法により測定し、該石炭中のAl量およびSi量と無機鉱物の化学形態との関係を示す無機鉱物推定マップを作成した後、評価対象である石炭について、該石炭中のAl量およびSi量を成分分析法により測定し、該石炭中のAl量およびSi量から前記無機鉱物推定マップに基づいて、該石炭中に存在する無機鉱物の化学形態を推定することを特徴とする石炭中の無機鉱物の化学形態の推定方法。 (もっと読む)


一つの位相格子(G1)と一つの振幅格子(G2)だけを備えたX線干渉計構成を開示する。この干渉計は、標準的なX線管を用いて位相コントラスト画像を得るために使用することができる。更に、この新形式の干渉計は、個別の副放射線源の配列から成る放射線源を使用することができる。副放射線源の各々は、個々には干渉性であるが、他の副放射線源とは互いに非干渉性である。放射線源の近くにスリットの配列、即ち、追加的な振幅格子(GO)を配置することによって、副放射線源の配列を作り出すことができる。そのような構成により、空間的又は時間的コヒーレンスを提供しない放射線源を備えた本形式の干渉計を使用することが可能となる。そのため、この構成は、より大きな放射線源を検出器から近い距離に配置した形で使用することができ、その結果フラックス密度が向上され、それにより照射時間が短縮される。このことは、多く(数百)の視野角により物体の画像を取得する必要の有る断層撮影法に関して特に重要である。
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【課題】 結晶面に対応した複数の回折X線を同時に検出して、膜内の複数の結晶構造を迅速にかつ同時に特定すること。
【解決手段】 測定用媒体2を固定設置し、かつ、膜の表面に対する放射光X線11の入射角度を所定の角度に制限した状態にして、放射光X線11を入射させ、膜内の結晶面に対応して発生した複数の回折X線21を全て同時に検出し、検出された複数の回折X線21の強度を評価して測定用媒体2内に存在する複数の結晶構造を同時に特定する。 (もっと読む)


【課題】 蛍光X線分析装置において、試料の位置合わせを容易にかつ正確に実現することにある。
【解決手段】 蛍光X線分析装置1は、試料が搭載される試料ステージ5を有する筐体4と、筐体4内に配置され試料にX線を照射するX線管8と、筐体4内に配置され試料からの蛍光X線を検出する検出器11と、筐体4内に配置され試料にレーザー光を照射するレーザー9とを備えている。 (もっと読む)


【課題】情報を予め入力しておくことなく、検査が必要な領域のみを検査対象として有効に異物を検出できる異物検出装置を提供する。
【解決手段】被検査物のそれぞれには記録素子としてのICタグが付与されている。このICタグには、検査画像4中においてICタグの像43が存在することになる領域51を示す情報が、あらかじめ記録される。異物検出装置では、この情報が読み出され、ICタグの像43が存在する領域51が検査画像4から除外される。そして、領域51以外の検査画像4の領域に基づいて、被検査物に異物が存在するか否かが判断される。これにより、検出対象から除外すべき領域の情報を異物検出装置に検査前に入力しておかなくても、検査が必要な領域のみを検査対象として有効に異物を検出できる。 (もっと読む)


2次元X線散乱カメラは、線源、光学素子、検出器、及び一対のコリメーション・ブロックを含む。線源は、光学素子によって試料の方へ反射されるX線ビームを放出する。検出器は試料からの散乱を検出し、一対のコリメーション・ブロックは、ビームを視準するために光学素子と検出器との間に設置される。1つのブロックの底面は他のブロックの上面と実質的に平行であり、これらのブロックは、旋回軸線の周りでビームに対して回転可能である。ビームがコリメーション・ブロックによってどのように視準されるかに関係なく、システムは、検出器の位置において主ビーム軸の周りに対称的な2次元ビームを形成する。したがって、システムはスミアを除去し、高分解能及び低Qminでの異方性小角散乱に使用することができる。
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【課題】 高感度で小型化が容易であり、しかも放射線損傷が少ない一次元イメージセンサを提供する。
【解決手段】 基本構成として、被検体(不図示)を透過した放射線1(電磁波あるいは放射線)の入射する方向に延在するシンチレータ2を備えている。そして、放射線1の入射する方向に対しほぼ直交する方向であって上記シンチレータ2の下部に配置された光学素子3と、該光学素子3の更に下部に配置された二次元受光素子4とを有する。これ等は、好ましくはスリット状の開口部5を有する遮蔽体6に覆われている。上記開口部5の所定の箇所にはシンチレータ2で発生するシンチレーション光の遮光膜7が取り付けられる。そして、二次元受光素子4の光電変換で生成した電気信号の出力を外部に伝送するケーブル8、電気回路9が取り付けられる。 (もっと読む)


【課題】単結晶試料の結晶方位を容易かつ高精度に調整可能なX線回折装置を提供する。
【解決手段】単結晶基板10を傾斜補正治具20を用いて試料固定台1に固定する。傾斜補正治具20は、単結晶基板10の格子面11の結晶方位12と表面10Sとのなす傾斜角αに対応した傾斜面21を有しており、結晶方位12と支持面1Sにおける法線方位1Pとが互いに平行になる。これにより、あおり角と回転角とをそれぞれ独立して最適化することができ、入射X線2Aおよび回折X線3Aの各方向に対して結晶方位12を正確かつ容易に調整し、単結晶基板10の格子面11におけるX線回折パターンを高精度に測定することができる。 (もっと読む)


【課題】 互いに対向配置されたX線源とX線検出器の間に、テープ状の検査対象物を長手方向に給送して一定の範囲ごとに合否判定を行う自動X線検査装置において、何らかの原因により判定動作が異常終了した場合でも、それまでに得られた判定結果を無駄にすることなく、異常終了に対応する位置から確実に判定動作を再開することのできる自動X線検査装置を提供する。
【解決手段】 給送装置1による検査対象物Wの給送位置を刻々と検出する給送位置検出手段5を設けるとともに、検査対象物Wの一定の範囲の合否判定ごとにその判定動作が正常に終了したか否かを判別し、異常終了と判別した場合には給送を停止するとともに、給送位置検出手段5の出力に基づいて、その判定に供したX線透過データを取り込んだ検査対象物Wの給送位置を特定して、その位置から運転を再開することにより、中断前後の判定結果を確実に連続させることを可能とする。 (もっと読む)


【課題】X線CTデータのような空間離散データによる内部欠陥検査について、より高精度な検査を行えるようにする。
【解決手段】空間離散的な要素で対象物の空間的な形状・構造を記述する空間離散データに基づいて対象物における内部欠陥を検査する内部欠陥検査方法について、要素を複数の含むサイズの第1の検出領域を空間離散データに設定する処理102、欠陥検出対象とする第1の検出領域を抽出する処理104、抽出された欠陥検出対象の第1の検出領域の特徴量を計測する処理105、欠陥検出対象の第1の検出領域を細分化した第2の検出領域を第1の検出領域に設定する処理106、第2の検出領域の特徴量を計測する処理107、第1、第2の各検出領域の特徴量を用いて実際の欠陥と擬似的な欠陥を判別するための欠陥判別基準を設定する処理198、および欠陥判別基準に基づいて欠陥を検出する処理109を含むものとしている。 (もっと読む)


【課題】 物品の端部に存在する異物の検出を高精度に行うことが可能なX線検査装置を提供する。
【解決手段】 X線検査装置10は、搬送中の商品Gに対して斜め方向からX線を照射し、このX線の透過光を検出して作成される2次元のX線画像に基づいて異物検査を行うX線検査装置であって、分割領域設定部31bが、X線画像に含まれる商品Gに相当する縁領域Gbを複数の領域(各分割領域Gb1〜Gb4)に分割し、検出レベル設定部31cが、各分割領域Gb1〜Gb4について適正な検出レベルを設定して異物検査を行う。 (もっと読む)


【課題】コンテナー内に提供された骨セメント材料の硬化を監視する装置を提供する。
【解決手段】本発明の装置は、放射線がコンテナー(2)内のセメントに向けられる放射源(6,8)と、コンテナー(2)内のセメントを通過した放射源(6,8)からの放射線を検出するため、および、検出された放射線の強度に基づく信号を生み出すための、センサー(10)と、を含んでいる。データプロセッサは、セメントが硬化するときの放射源(6,8)からの放射線に対するコンテナー(2)内のセメントの不透明度の変化に起因する、センサー(10)によって検出された放射線の強度の変化、を監視するために用いられる。 (もっと読む)


【課題】 低いエネルギーのX線(電磁波)を照射して検査を行う場合でも、高感度でX線(電磁波)を検出し、高解像度の画像を作成して高精度な検査を実施することが可能な電磁波検査装置を提供する。
【解決手段】 X線検査装置10では、基板31と、フォトダイオード32と、蛍光体33とを有しており、X線照射器13側からみて、フォトダイオード32、蛍光体33の順に配置されている。 (もっと読む)


【課題】 化合物の結晶粒を確実に識別して、その構造解析を容易に行うことができる化合物の観察方法及び該方法に用いる着色溶液を提供すること。
【解決手段】 X線回折実験において、試料である化合物の結晶画像を撮影し、撮影した画像により結晶を観察しながら試料のX線照射位置決め作業を行うに際し、結晶を着色溶液6に入れた後、結晶を着色溶液6とともにすくい上げて固化し、結晶に透過光を照射して結晶画像を撮影するようにした。 (もっと読む)


【課題】コンテナー内に提供された骨セメント材料の硬化を監視する装置を提供する。
【解決手段】コンテナー内に提供された骨セメント材料の硬化を監視する装置は、骨セメント材料の温度に基づくコンテナー内のある種類のセメント材料が硬化するのに要する時間に関連するデータが記憶されたメモリ装置を含む。データプロセッサは、セメント材料の温度に関連するデータ、および、硬化の程度に関連するメモリ装置内のデータ、に基づいて、セメント材料が硬化するのに要する時間を計算するのに用いられる。出力装置は、コンテナー内のセメント材料の硬化の程度に関連する、データプロセッサからのデータ用に、設けられている。 (もっと読む)


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