【課題】未知サンプルを測定するのに用いられる分光計と同様の分解能及び効率である基準物質からのスペクトルを測定するのに用いられる分光計を提供する。
【解決手段】Ｘ線放射特性を用いた物質同定方法が提供される。監視されるＸ線放射特性を表すＸ線データは、入射エネルギービームに応答して試料から得られる。同様に、複数の物質の組成データを含むデータセットが得られる。試料物質はデータセット内に含まれる。組成データを用いてデータセット内の物質の各々について予測Ｘ線データが計算される。取得Ｘ線データと予測Ｘ線データとが比較され、この比較に基づいて試料物質の可能性のある素性が判定される。 （もっと読む）

【課題】 管設備へＸ線を放射するシステムを提供する。
【解決手段】 管路などの検査に用いられる移動式放射線透過写真装置は、移動運搬車両に連結された連接型空中ブームを備える。空中ブームの遠位端に、ピボットマウントが回転可能に連結される。スライドレールを有するプラットフォームが、ピボットマウントに動作可能に連結される。マウント固定具が、クレードルに回転可能にマウントされ、クレードルはプラットフォームのスライドレールに連結される。管路の外表面又は他の物体に放射線を照射するために、放射線源と放射線検出器とが、固定具の、直径に沿って対向する側面にマウントされる。管路に対して走査装置を粗く位置決めするために、第１の位置決め手段が設けられる。管路に対して走査装置を微細に位置決めするために、第２の位置決め手段が設けられる。第２の位置決め手段は、放射線源が管路に放射線を照射しているときに、遠隔場所から操作することが可能である。第１及び第２の位置決め手段は、走査装置を位置決めするための複数の自由度を与える。 （もっと読む）

【課題】 土壌中の有害物質の分析において、溶出法に極めて近似する測定結果を得られるとともに、簡易的かつ迅速に分析が可能な土壌有害物質含有量分析方法を提供する。
【解決手段】 土壌有害物質含有量分析方法においては、前分析工程として、採取された土壌を試料として蛍光Ｘ線分析により有害物質の含有量を分析する。溶出工程として、試料とされた土壌から有害物質を溶出するように前記土壌に水系溶媒を加えて混合した後に固液分離する。後分析工程として、固液分離されたうちの固体成分を試料として蛍光Ｘ線分析法により有害物質の含有量を分析する。溶出量算出工程として、前記前分析工程で分析された有害物質の含有量から後分析工程で分析された有害物質の含有量を減算し、溶出された有害物質の含有量を算出する。 （もっと読む）

【課題】コンピュータ断層撮影装置について、装置停止時間に応じた条件による適切なエージング運転を自動的に行えるようにする。
【解決手段】コンピュータ断層撮影装置は、装置立上げ時に徐々に所望の設定電圧まで昇圧させるエージング運転を自動的に行わせる自動エージング部９を備えており、その自動エージング部は、入力された次回の撮像予定に基づいて装置停止時間を算出する停止期間算出部１７、および停止期間算出部で求めた装置停止時間に応じたエージング条件を設定するエージング条件設定部１８を含んでいる。 （もっと読む）

被検査物検査システムは、透過経路に沿って光子を出力するための光子源と透過経路を完全に通り抜けるように被検査物を平行移動させるためのコンベアを含む。通過する被検査物との相互作用に応じて透過経路から散乱する光子を検出するために、放射線検出器は透過経路に対してオフセットして配置される。コントローラは、被検査物内に存在する第一の物質を検出された散乱光子から決定する。 （もっと読む）

【課題】 被検査物を管理領域内のＸ線検査位置を通過させ、その間にＸ線検査するＸ線検査設備において、長尺の敷地を必要とせず、遮蔽扉が軽量化され、運転手の移動距離も少なくかつ監視要員数も削減できるＸ線検査設備を提供する。
【解決手段】 遮蔽壁６で囲まれ、入側遮蔽扉５ａと出側遮蔽扉５ｂとを有する管理領域３を有し、前記管理領域３に搬入された被検査物が、前記管理領域３内のＸ線検査位置１８を移動する間にＸ線検査されるＸ線検査設備１において、前記被検査物が前記入側遮蔽扉５ａを介して前記管理領域３内に搬入される搬入方向と、前記被検査物が前記出側遮蔽扉５ｂを介して前記管理領域３外に搬出される搬出方向との少なくとも一方が、前記被検査物が前記Ｘ線検査位置１８を移動する方向と異なる直線上にある。 （もっと読む）

【課題】 基底面内転位などの、面内方向に配向した転位線を有する結晶欠陥を、簡易な装置構成により高い分解能で撮影可能なＸ線トポグラフによる結晶欠陥の撮影方法を提供する。
【解決手段】 Ｘ線源から放射されたＸ線を４結晶コリメータを通過させることによって、分解能に異方性がある入射Ｘ線を生成し、面内に６回対称反射または４回対称反射を有する単結晶試料について、その等価な回折面のうち、結晶欠陥の転位線の方向と、入射Ｘ線における発散角が小さい方向とが成す角度がより垂直に近い回折面からのＸ線回折像を撮影する。さらに、４結晶コリメータを、入射Ｘ線の方向を軸として傾斜させた配置とすることによって、入射Ｘ線における発散角が小さい方向を傾斜させて単結晶試料へ入射Ｘ線を入射させ、これにより、結晶欠陥の転位線の方向と、入射Ｘ線における分解能が高い方向とが成す角度をさらに垂直に近づけてトポグラフ撮影を行う。 （もっと読む）

【課題】放射電子顕微鏡技術の分野において、絶縁物試料を観察した際に生じる試料表面
の帯電や電位歪みを抑制し、鮮明な電子像を得て正確なエネルギースペクトルを得るため
の手法と、それを応用した放射電子顕微鏡の提供。
【解決手段】試料台に設置した絶縁物試料に励起光を照射し、試料表面から放出された光
電子又は二次電子を投影型電子光学系により結像させて試料表面を観察する方法において
、試料面上に強電場又は強磁場が印加された状態で、励起光と同時に、中和電子ビームを
結像光軸上から試料表面に垂直に照射することを特徴とする絶縁物試料表面を観察する方
法。 （もっと読む）

【課題】試料最表面に存在する極めて薄い薄膜や極めて急峻な傾きを持つ不純物分布であっても正しい深さ方向分布に解析する。
【解決手段】スパッタリング初期における深さ方向へのスパッタ率変化に基づいて補正するとともに（Ｓ４）、補正された深さ方向分布の深さ軸を伸張させ（Ｓ５）、深さ軸を伸張させられた深さ方向分布に対し、深さ方向分布を２ⁿ個のデータ点で構成し、かつ、各データ間の距離を等間隔にデータ補間し（Ｓ６）、データ補間した深さ方向分布のデータ点間距離およびデータ数に合わせて、Ｓ３で抽出した深さ方向分解能関数パラメータを用いて深さ方向分解能関数の分布データを作成し（Ｓ７）、作成された深さ方向分解能関数分布データと補間により求めた深さ方向分布とに基づいてデコンボリューション解析し（Ｓ８）、デコンボリューション解析されたデータの伸張されている深さ軸を実際の深さ軸に戻す（Ｓ９）。 （もっと読む）

器具から放射される透過性放射線により照射される表面から一定距離における周囲放射線レベルを減少するための、放射線遮蔽物およびそのための方法が、本出願において開示される。この遮蔽物は、照射される表面に当接する上記器具の端部に取り付けられる。この遮蔽物は、透過性放射線の伝搬方向に対して実質的に横方向にある面内に配置されており、かつその照射される表面に対して実質的に近接している、減弱物質製プラテンを有する。
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【課題】
Ｘ線異物検査装置において、被検査物品が転倒しないようなＸ線漏洩防護のれんと、被検査物の形状が変わると記憶されたデータに基づき、自動的にのれんの角度と高さを変えることができるＸ線漏洩防護のれん装置提供すること。
【解決手段】
Ｘ線漏洩防護のれんは、被検査物を搬送するコンベアの中心線において左右対称に屈曲可能な支持板によりのれん装置連結用支持枠から懸垂支持されており、Ｘ線漏洩防護のれんのＶ字形角度を変更することができる駆動装置と、前記Ｘ線漏洩防護のれんを上下に移動させることができる駆動装置とを備え、被検査物品が変更になったとき予め記憶されているデータにより変更になった被検査物に最適なＸ線漏洩防護のれんの角度や高さを変更する。 （もっと読む）

【課題】 ＦＰ法で試料の組成を分析する蛍光Ｘ線分析装置などにおいて、非測定元素を多く含み、その原子番号を特定できない種々の試料についてより広い適用範囲で十分正確に分析できるものを提供する。
【解決手段】 仮定した元素の濃度に基づいて、試料13中の各元素から発生する２次Ｘ線4 の理論強度を計算し、その理論強度と検出手段9 で測定した測定強度とが合致するように、仮定した元素の濃度を最適化計算して、試料13における元素の濃度を算出する算出手段10を備え、その算出手段10が、蛍光Ｘ線4 を測定しない非測定元素については、複数の非測定元素の濃度を仮定するとともに、試料中の非測定元素から発生する２次Ｘ線に代えて、濃度を仮定する非測定元素と少なくとも同数の１次Ｘ線の散乱線を用い、用いる１次Ｘ線の散乱線に、試料で散乱される前の波長が相異なる散乱線を含める。 （もっと読む）

【課題】 検出手段に可とうケーブルを固定的に接続した状態で主走査を行うことができる断層撮影装置を提供する。
【解決手段】 回転テーブル３７の保持棒３７ａに回転型リニア軸受け１０４を介して保持されるＦＰＤ支持部材１０３は、保持枠１０１と当接することで、回転型リニア軸受け１０４を中心とした回転が規制される。このため、ＦＰＤ６は、断層軸と平行な軸周りに断層軸Ｂ周りに平行に移動する。したがって、ＦＰＤ６に可とうケーブル１１１を固定的に接続した状態で主走査を行うことができる。なお、ＦＰＤ支持部材１０３の前面に設けられたステッピングモータが、ＦＰＤ６を回転させる。これにより、ＦＰＤ６の検出面を、回転陽極Ｘ線管５の照射源位置と結ばれる照射軸と直交させることができる。 （もっと読む）

【課題】 硬組織についてより精密な評価を行なうことを可能とする配向性の分析方法を提供することにある。
【解決手段】 本発明の硬組織の配向性の分析方法は、Bragg角度がa軸、ｃ軸の配向性を判断できるようにX線の入射方向と硬組織の試料表面との角度を設定し、かつ、前記ｃ軸の配向性の場合に、前記角度を2θ＝26°前後に設定するとともに、試料揺動を行う条件下で、X線で硬組織における結晶の配向性の評価を、前記a軸、c軸、及びそれ以外の方向に対する回折強度を比較することにより行うことを特徴とする。 （もっと読む）

認証システム、装置および方法は、ナノ結晶材料を含む識別マーキングを認証する。マーキングの１または複数の特性が確認され、測定プロファイルが提供される。測定プロファイルを参照プロファイルの閉集合の少なくとも１つのメンバーと比較する。各参照プロファイルは１または複数の特性の予め決められた値を有する。各参照プロファイルは集合内でユニークである。少なくとも１つの参照プロファイルはナノ結晶形態のインジケータ材料の特徴を示し、バルク形態の同じインジケータ材料の特徴は示さない。
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【課題】 オペレータの勘や経験に頼ることなく、現在の透視位置を直感的に確実に把握することができ、また、一連の簡単な操作により透視位置の設定や倍率変更、加えて回転ないしは傾動を含むマニピュレータ制御を行うことのできるＸ線透視装置を提供する。
【解決手段】 ステージ３上の被写体Ｗを撮影する光学カメラ３０を設け、その光学カメラ３０による被写体Ｗの外観像Ｗｏ上でマーカーＭを移動させ、かつ、その移動による指令内容を透視位置の変更／透視範囲（倍率）の変更、加えて回転角度および傾動角度の変更のいずれかに設定する入力手段２６を設け、その入力手段の操作によるマーカーの移動により指定された透視位置・透視範囲（倍率）・回転角度・傾動角度が得られるように、ステージ３等を自動的に駆動制御することで、現在の透視位置を直感的に把握し、簡単な操作により被写体Ｗ上の意図する位置の意図する倍率のＸ線透視像を得ることを可能とする。 （もっと読む）

【課題】ＣＴ装置について、冷却装置を簡易なものとしても、周囲温度変化にかかわらず高画質な断層像を長時間にわたって得ることを可能とする。
【解決手段】被検体を透過した放射線を検出する検出装置を備えるとともに、検出装置への入射放射線を制限するコリメータを備えたＣＴ装置について、ポストコリメータ６の検出装置側の端面６ｆと検出装置７における検出器ホルダ２２のコリメータ側の端面２２ｆの間に、ポストコリメータと検出装置を熱伝導的に分離する分離空隙３１を設け、かつその分離空隙を密閉状態にしている。 （もっと読む）

【課題】 放射線遮蔽機能を備えた専用の検査室内に設置することが不要な導入コストの安いＣＴ装置を提供する。
【解決手段】 本発明によるＣＴ装置は、被検体を載置する載置台と、被検体へ向けて放射線を照射する放射線発生装置と、被検体を透過した放射線を検知する放射線検出装置と、放射線検出装置からの信号を処理して被検体の断面像を再構成する断面像再構成手段と、載置台、放射線発生装置及び放射線検出装置を支持するとともに、これら載置台、放射線発生装置及び放射線検出装置を包囲して放射線発生装置から発せられた放射線を外部へ漏らさないように遮蔽する放射線遮蔽ハウジングとを有する構成とした。 （もっと読む）

【課題】 再構成処理を高速に行うことができる断層撮影装置を提供する。
【解決手段】 ＦＰＤ６の検出面には、交差する２軸方向である行（ｕ軸）と列（ｖ軸）に沿って検出素子ｄが配列されている。主走査の際、常にｕ軸が体軸Ａと平行にとなるように、ＦＰＤ６を断層軸Ｂ周りに移動させる。これにより、再構成処理において、仮想した３次元格子群Ｋのうち、体軸Ａ方向に並ぶ１列分の各格子点（点ｅを含む）を通過したＸ線が検出面と交わる投影点ｆの集合は、ｕ軸と平行になる。よって、１列分の格子点に逆投影すべき投影データの全ては、投影点ｆの集合が挟まれる２つのラインの検出素子ｄから得られる検出信号のみから求めることができる。このように、投影データを求めるために必要な検出信号の量を少なくすることができ、再構成処理を高速に行うことができる。 （もっと読む）

Ｘ線断層撮影及び／又はトモシンセシス装置２は、検査物体６の走査・透過用Ｘ線を生成するためのＸ線源を備えた位置を固定されたＸ線管と、透過シーケンスの間検査物体６を位置を固定して配置しておくための位置を固定された検査物体用支持体８と、検査物体６の透過後のＸ線を検出するための位置を固定されたＸ線検出器１０とを有する。この発明によるＸ線検出器１０は、ほぼ平坦な検出面を有し、検出面１２の寸法は、Ｘ線源と検査物体６の間隔及び検査物体６とＸ線検出器１０の間隔を考慮して、走査の間Ｘ線が物体６を透過した後常に検出面１２上に当たるように選定される。
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