【課題】 非破壊で、試料中に存在する特定の化学結合状態をもつ元素と、その深さ方向への濃度分布を分析する。
【解決手段】 Ｘ線を試料に照射して、試料から発生する蛍光Ｘ線のＸ線吸収端スペクトルを測定し、吸収端の低エネルギー側に現われるプリエッジピークから、前記試料中に存在する元素の化学結合状態を特定する。そして、プリエッジピークの蛍光強度から、前記化学結合状態が特定された元素の含有濃度を求める。好ましくは、前記Ｘ線を、プリエッジピークの波長において、試料に対して２以上の異なる入射角で照射し、異なる入射角の各々で、プリエッジピークの蛍光強度を測定する。前記異なる入射角でのプリエッジピークの蛍光強度に基づいて、前記化学結合状態が特定された元素の深さ分布を求める。 （もっと読む）

【解決手段】トモグラフィックエネルギー分散型回折撮像装置は、支持体に設置された試料(４)に入射放射線(１、３)を当てるための放射線源と、入射の方向に対して所定の角度で試料(４)を通って伝達された放射線を検出するために設置された検出手段(９、10)とを具えている。検出手段は、エネルギー分散型検出器(９)のアレイとコリメータ(10)のアレイとを具え、各エネルギー分散型検出器(９)はそれに付随したそれぞれのコリメータ(10)を有する。コリメータアレイの各コリメータは、伝達された放射線の方向に沿って間隔が空けられ、中にアパーチャが形成された複数のコリメータ板を具えていてもよい。
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対象物又は患者の関心領域（ＲＯＩ）をリアルタイムで検査するためのコンピュータ断層撮影装置、方法、コンピュータ可読媒体及びプログラムを提供する。関心領域のみが再構成されるときには、放射線源のビーム角をαとして、π＋α未満の円弧に及ぶように放射線源及び検出素子を回転させることで十分である。このスキャン範囲は超短スキャンと呼ばれる。超短スキャンは、より少ないデータを生成する。その結果、画像再構成は速くなり、リアルタイムＣＴに非常に好ましいものとなる。ＣＴデータは更に、超短スキャンの終了部分で検出されたデータが超短スキャンの開始部分で検出されたデータより強く重み付けられるようにして重み付けを行われ得る。
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紫外短パルスレーザ光源１から放出された紫外短パルスレーザ光は、シャッタ２、強度調整素子３、照射位置制御機構４、集光光学系５を介して、試料容器６中に入れられた高分子結晶８に集光照射される。試料容器６は、ステージ７に搭載され、光軸方向をｚ軸として、ｘ−ｙ−ｚ直交座標系でｘ軸、ｙ軸、ｚ軸の３次元方向の移動が可能とされていると共に、ｚ軸の周りに回転可能となっている。高分子結晶８の表面に集光照射された紫外短パルスレーザ光により、高分子結晶の加工が行われる。このようにして、高分子結晶に対して、種々の加工を、低損傷、かつ容易な操作で確実に行うことができる。
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【課題】粒子統計が著しく改善されたＸ線透過回折分析方法および装置の提供。
【解決手段】サンプルを基板に配置する段階、中心部分が平面に沿って延在する帯形Ｘ線ビームをＸ線放射線源により生成する段階、サンプルがビームの経路内となり、サンプルの薄片部がビームによって照射される初期位置に、基板およびサンプルを配置する段階、基板の初期位置に対する基板の以下の運動、すなわち、基板に垂直な回転軸線の周りの回転であって、所定の回転角にわたる基板およびサンプルの回転と、傾斜軸線の周りのビームの中心部分が延在する平面と回転軸線がなす角度として定義される傾斜角にわたる基およびサンプルの傾動であって、第１所定値と第２所定値の間で変化する傾斜角にわたる傾動とを実施する段階、及び基板の運動が実施される時間間隔の間にサンプルを透過し回折されたＸ線放射を前記検出器で検出する段階を含む。 （もっと読む）

経路に沿って移動する荷電粒子源を備えた放射線源を開示する。ビームが衝突すると放射を生成するターゲット材料が、経路に沿って配置されている。ターゲットに衝突する前のビームを偏向させるために磁石が設けられている。この磁石は、時間に対して変化する磁場または定常磁場を生成ことができる。定常磁場は、ビームにかけて空間的に変化する。磁石は電磁石または永久磁石であってよい。或る例では、ビームを偏向させることにより、ビームが複数の軸に沿ってターゲットに衝突する。別の例では、ビームの各部分が異なった形で偏向される。そのため、線源は、走査する対象物を均等な放射線によって照射することができる。荷電粒子は電子または陽子であってよく、また放射はX光線またはガンマ光線放射、または中性子であってよい。このような線源を組み込んだ走査システム、放射の生成方法、および対象物の検査方法も開示している。
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【課題】搬送装置によって縦向状態で搬送されるタイヤを無用に移動させることなく、または向きを変えることなく検査することのできるタイヤの非破壊検査装置を提供する。
【解決手段】タイヤＴＡを縦向状態で搬送する第１の搬送装置１から搬出されるタイヤＴＡを載置台１０に縦向状態で載置するとともに、載置台１０上のタイヤＴＡを回転支持機構２０で支持して回転させ、回転しているタイヤＴＡの透過Ｘ線像を各カメラ４１，４２によって撮像するようにしたので、第１の搬送装置１によって縦向状態で搬送されるタイヤＴＡを無用に移動させることなく、または向きを変えることなく検査することができ、タイヤＴＡを移動させ、または向きを変えるための機構を設けない分だけ装置全体の小型化及び製造コストの低減を図ることができる。 （もっと読む）

臓器表面のモデリングは、コンピュータ支援教育で使用される定評のある方法であるが、画像ベースの医療診断や臨床的介入でも使用される方法である。本発明の一実施形態によると、関心対象の多次元データセットからマルチサーフェスモデルを構成する方法を提供する。この方法は、単連結ベーシック２次元多様体サーフェスメッシュを連結し、マルチサーフェスモデルを構成する。本発明の一態様によると、この求められるモデルは非２次元多様体メッシュであってもよい。

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【課題】 正確なマスク領域を自動的に設定し、缶等の縁部分に存在する異物を正確に検出することが可能なＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線検査装置１０では、画像形成部３１ａによって作成されたＸ線画像について、内部領域設定部３１ｂが缶の縁部分よりも内側の領域を設定する。この領域に対して、拡張領域設定部３１ｃが領域の外側に接するようにして半径３ｍｍの円を周回させてこの外接円の中心の軌跡を境界とする拡張領域を設定し、縮小領域設定部３１ｄがこの拡張領域の内側に接するようにして同じ半径の円を周回させてこの内接円の中心の軌跡を境界とする縮小領域を設定する。マスク領域設定部３１ｅが縮小領域の境界より外側をマスク領域として設定し、検査領域設定部３１ｆにおいて設定されたマスク領域よりも内側の検査領域について、第１異物検出部３１ｇが異物混入の検査を行う。 （もっと読む）

【課題】 被検査体中の添付品の位置に拘らず添付品が異物として検出されることを防止することができるＸ線異物検出装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線異物検出装置のコンピュータは、被検査体を透過したＸ線量に基づいて生成されたＸ線画像のうち被検査体中の添付品に対応する添付品領域３１ａ及び添付品領域３１ａ以外の添付品外領域３１ｂを分割するための分割閾値を設定し、Ｘ線画像の画素の濃度及び分割閾値に基づいて添付品領域３１ａ及び添付品外領域３１ｂを分割し、分割した添付品外領域３１ｂのＸ線画像に対してＸ線画像の画素の濃度及び所定の閾値に基づいて異物の有無を判断する。 （もっと読む）

【課題】 物理量測定結果をそれに対応するＸ線画像と関連付けた測定結果の把握容易な表示を行なうことができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線源２と、Ｘ線検出部４と、データ処理部６と、表示部２０とを備えたＸ線検査装置において、Ｘ線検出部４からの検出情報のうち一部を抽出して少なくともＸ線画像の背景に相当する部分を除いた物理量測定領域のＸ線画像をデータ処理部６のＸ線画像生成部１１に生成させる領域抽出処理部８と、この領域抽出処理部８で抽出された検出情報に基づいてワークＷの大きさ又は質量に対応する物理量を算出する質量算出部１３と、物理量測定領域のＸ線画像と質量算出部１３で算出された物理量を示すグラフ表示要素とを関連付けて表示部２０に表示させる表示データ生成部１５とを設ける。 （もっと読む）

本発明の１つの実施形態によれば、計器からのデータを分析するための方法が開示される。計器によって生成された生データは、ユーザによって生成された構成データと共に、コーリング・モデル内にパッケージングされる。生データは、たとえば、光電子分光法データを分析した場合の特定の運動エネルギーを有するカウントを含むことができる。構成データは、測定されている構造体の組成及び構成に基づいてユーザによって選択される幾つかのパラメータを含むことができる。コーリング・モデルは、計器と、所望の結果をユーザに戻すためのアルゴリズムを生成するためのエンジンとの間のインターフェースとして役立つことができる。エンジンは、次に、アルゴリズム、並びにユーザによって指定された結果を生成し、コーリング・モデルはその結果をユーザに戻す。これは、既知のアルゴリズム及び関数を用いて、特定の被測定試料及び構造体に対して特定のアルゴリズム及び結果を生成することを可能にする。 （もっと読む）

【課題】 光電子顕微鏡内において、基板表面に直接吸着するガスと、先ず他の媒体に吸着した後に基板表面に移動供給されるガスとの反応を観察できる光電子顕微鏡用ガス反応観察試料を提供する。
【解決手段】 光電子顕微鏡内で基板の表面に吸着したガスの反応を観察するための試料であって、基板の表面に、開口を持ち該開口を除く基板全面を覆う外周薄膜と、該開口に内接し上記基板表面のガス反応領域を露出する反応窓を持つ環状の内周薄膜とを備え、電気陰性度の大きさが、基板＞内周薄膜＞外周薄膜の順であることを特徴とする。典型的には、上記基板は貴金属から成り、上記外周薄膜および上記内周薄膜は酸化物から成る。 （もっと読む）

【課題】 タイヤの内部構造、例えば、スチールコードのトレッド踏面に沿った方向の変形や挙動を、実使用状態に近い状態で観察することを可能とする。
【解決手段】 負荷荷重機構１４でタイヤ１２をベルト機構３４のベルト部材４０に押し付け、Ｘ線を出射する放射線源２０をリム３０の軸心に配置し、Ｘ線透過画像を得る放射線検出器２２をベルト部材４０の下方に配置する。この状態でＸ線を照射することで、荷重の負荷されたタイヤ１２のトレッド内部の構造、例えば、スチールコードの観察を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】非破壊分析を用いたテストピースの自動欠陥認証において、誤った検出を少なくし信頼性を高める。
【解決手段】Ｘ線管と、検出器と、Ｘ線検査ユニットのビーム経路にテストピースを位置決めするための機械マニピュレータとを備えたＸ線検査ユニットにおいて、テストピースの位置決め画像を理想的な参照画像と正確に一致するようにすべく、回転軸、回転角及び変位ベクトルを計算し、回転軸、回転角及び変位ベクトルの値を機械マニピュレータに中継すると共に、テストピースをこれらの値に対応する位置に移動させ、この位置において、Ｘ線参照画像と比較するために提供されるテストピースの比較画像を、Ｘ線検査ユニットにおけるＸ線によって作成する。 （もっと読む）

本発明の一実施形態に従えば、基板上の単層もしくは多層構造体における１以上の層の厚さを決定するために、光電子分光法が使用される。この厚さは、光子が衝突したときに当該構造体により放出される二つの光電子種、または他の原子特異的な特徴的電子種の強度を測定することによって決定されてよい。層の厚さに依存する予測強度関数が、各光電子種について決定される。二つの予測強度関数の比が定式化され、構造体の層の厚さを決定するために、この比が反復される。一実施形態に従えば、当該層の厚さを決定するために、一つの層からの二つの光電子種が測定されてよい。もう一つの実施形態に従えば、層の厚さを決定するために、異なる層または基板からの二つの光電子種が測定されてよい。 （もっと読む）

不活性ガス雰囲気にある試料を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、分光室は不活性ガスで置換しないですむとともに試料室と連通せず、かつ十分な強度の２次Ｘ線を得ることができ、さらに隔壁が長寿命である装置を提供する。試料４が収納される試料室１と、試料４に１次Ｘ線６を照射するＸ線源７が収納され、前記試料室１と連通する照射室２と、試料４から発生する２次Ｘ線８を分光して検出する検出手段９が収納される分光室３と、前記照射室２と分光室３とを仕切るように配置されて前記２次Ｘ線８を通過させる隔壁１０とを備え、前記試料室１および照射室２が不活性ガスで置換されるとともに、前記分光室３が真空排気される。
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【課題】回路パターンの検査において、３次元Ｘ線ＣＴ装置を用いることで、欠陥部位を特定するこができ、かつその検査時間を高速に実現する方法を提供する。
【解決手段】回路基板を透過した透過Ｘ線像を用いて被検体の断層画像を生成する３次元Ｘ線ＣＴ検査装置であって、被検体にＸ線を照射する手段１２１と、被検体を透過したＸ線を計測する手段１２４と、Ｘ線計測手段により計測したＸ線データを用いて前記被検体の断層画像の３次元画像再構成を行う手段１５１と、断層画像から回路パターンの位置を決定し、決定した回路パターンの位置から、基板近似面を決定する手段１５２と、決定した基板近似面から、検査領域を決定する手段１５３と、前記決定した検査領域に対して検査を行う。 （もっと読む）

【課題】 複数種類の検査結果を同時に見易く表示することのできる物品検査システムを提供する。
【解決手段】 ワークＷに対応する所定の物理量を特定してその物理量を表わす測定信号を出力する物理量測定部１３と、ワークＷについての所定の品質検査を実行してその品質検査の結果を表わす検査結果信号を出力する品質検査部１５とを備えた物品検査システムであり、更に、測定信号および検査結果信号に基づいて、測定信号で表わされる物理量および検査結果信号で表わされる品質検査結果を含む検査結果情報を、表示画面上の時間軸方向に各ワークＷの測定順に並べて表示する表示部２１を備える。 （もっと読む）

【課題】 ワークを検査しながらのゼロ点補正を可能にし、温度ドリフト等による精度のばらつきを低減させることのできるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線画像に基づいてワークの体積を測定するＸ線検査装置であって、その処理ユニット６が、各透過領域のＸ線画像濃度データから透過領域の等価厚画像の濃度データへの変換処理を施すデータ変換処理部６２と、等価厚画像の濃度データに基づいて複数の透過領域におけるワークの体積を測定する体積測定部６３と、Ｘ線透過量相当のデータを処理して、ワークにＸ線が照射されるときの背景の等価厚をゼロとするようＸ線画像濃度データをゼロ点補正するゼロ点補正部６１とを含み、ゼロ点補正部６１が、ワークの体積を測定する周期に応じてゼロ点補正を実行する。 （もっと読む）