【課題】 ３次元以上の画像データの歪み情報を出力させることのできる展開画像投影方法、展開画像投影プログラム、展開画像投影装置を提供する。
【解決手段】 展開画像作成時に投射する仮想光線の位置と基準となる仮想光線の位置との差に応じて歪み量を算出し（ステップＳ１−１０）、その仮想光線に歪み量に応じた色付けをし（ステップＳ１−１５）、その色付けされた仮想光線を投射して展開画像データＤ１を生成する（ステップＳ１−２０）。そして、同じ仮想光線を投射して透視投影画像データＤ２を生成し（ステップＳ１−２５）、それら展開画像データＤ１及び透視投影画像データＤ２を後処理することにより（ステップＳ１−３０）、展開画像ＵＰ及び透視投影画像ＯＰをモニタに出力する（ステップＳ１−３５）。 （もっと読む）

【課題】 ワーク厚さに対する直線性の良好な等価厚画像濃度データが得られる濃度データ変換方法および装置を実現し、体積や質量等の測定精度が高いＸ線検査システムを提供する。
【解決手段】 ワークＷのＸ線透過量に対応するＸ線画像濃度データＰからワークＷの厚さに対応する等価厚画像濃度データＱ（Ｐ）への変換処理を施す方法であって、Ｘ線画像における背景の濃度値Ｐ_０と、Ｘ線画像における前景の代表濃度Ｐ_１と、等価厚画像の最大濃度Ｑmaxとをそれぞれ設定し、変換処理を、次式〔１〕により実行し、
Ｑ（Ｐ）＝［｛ｌｎ（Ｐ_０）−ｌｎ（Ｐ）｝／｛ｌｎ（Ｐ_０）−ｌｎ（Ｐ_１）｝］^γ・Ｑmax ・・・〔１〕
等価厚画像の濃度データＱ（Ｐ）の直線性を確保するよう式〔１〕中の補正指数値γを調整する。 （もっと読む）

本発明は、病原体、細菌、癌細胞および他の異常なヒトおよび動物の細胞の迅速な同定を達成する。一実施形態では、本発明のシステムは、病原体、細菌および他の異常な細胞の試料の画像を得て処理する第一のサブシステムと、この画像を受容し、高度画像セグメンテーションを用いてこの画像の特定の特徴を切り離し、次いで、パターン認識プロセスを用いることによってこの病原体、細菌および他の異常な細胞を迅速かつ正確に同定し、ここでこのオリジナル画像のセグメント分けまたは切り離された特徴を既知の参照画像と比較する第二のサブシステムとを含む。
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不活性ガス雰囲気にある試料を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、分光室は不活性ガスで置換しないですむとともに試料室と連通せず、かつ十分な強度の２次Ｘ線を得ることができ、さらに隔壁が長寿命である装置を提供する。試料４が収納される試料室１と、試料４に１次Ｘ線６を照射するＸ線源７が収納され、前記試料室１と連通する照射室２と、試料４から発生する２次Ｘ線８を分光して検出する検出手段９が収納される分光室３と、前記照射室２と分光室３とを仕切るように配置されて前記２次Ｘ線８を通過させる隔壁１０とを備え、前記試料室１および照射室２が不活性ガスで置換されるとともに、前記分光室３が真空排気される。
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【課題】回路パターンの検査において、３次元Ｘ線ＣＴ装置を用いることで、欠陥部位を特定するこができ、かつその検査時間を高速に実現する方法を提供する。
【解決手段】回路基板を透過した透過Ｘ線像を用いて被検体の断層画像を生成する３次元Ｘ線ＣＴ検査装置であって、被検体にＸ線を照射する手段１２１と、被検体を透過したＸ線を計測する手段１２４と、Ｘ線計測手段により計測したＸ線データを用いて前記被検体の断層画像の３次元画像再構成を行う手段１５１と、断層画像から回路パターンの位置を決定し、決定した回路パターンの位置から、基板近似面を決定する手段１５２と、決定した基板近似面から、検査領域を決定する手段１５３と、前記決定した検査領域に対して検査を行う。 （もっと読む）

【課題】 複数種類の検査結果を同時に見易く表示することのできる物品検査システムを提供する。
【解決手段】 ワークＷに対応する所定の物理量を特定してその物理量を表わす測定信号を出力する物理量測定部１３と、ワークＷについての所定の品質検査を実行してその品質検査の結果を表わす検査結果信号を出力する品質検査部１５とを備えた物品検査システムであり、更に、測定信号および検査結果信号に基づいて、測定信号で表わされる物理量および検査結果信号で表わされる品質検査結果を含む検査結果情報を、表示画面上の時間軸方向に各ワークＷの測定順に並べて表示する表示部２１を備える。 （もっと読む）

【課題】 検査対象とすべき最適な断層像を特定することが困難であり、結果として高精度の検査を行うことができなかった。
【解決手段】 Ｘ線によって検査対象を検査するにあたり、Ｘ線を基板上の検査対象品に照射して異なる位置に配設した検出器によって撮影した複数のＸ線画像を取得し、上記複数のＸ線画像に基づいて再構成演算を実行し、当該再構成演算によって得られた再構成情報に含まれる上記基板の配線パターンの情報に基づいて上記検査対象品の良否を判定するための検査位置を決定し、良否判定を行う。 （もっと読む）

【課題】 供給される物品を簡素化された構成で精度よく検査することができ、しかも装置外部へのＸ線の漏洩を効果的に防止することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 上下に対向配置されたＸ線源とＸ線検出器２３とを収容するシールドボックス２１の上流側縦壁２１ａの上流側に、Ｘ線の透過距離が短くなるように、物品搬送経路を横断する断面内で幅寸法より高さ寸法ｈ０の方が大きい物品Ｍの姿勢を変更して、幅寸法より高さ寸法ｈ１の方が小さい姿勢とする第１姿勢変更ユニット１０を備える。そして、シールドボックス２１の上下流縦壁２１ａ，２１ｂにそれぞれ形成した物品通過口２１ａ′，２１ｂ′を、前記第１姿勢変更ユニット１０による姿勢変更前の物品Ｍの高さ寸法ｈ０より低い寸法に設定する。 （もっと読む）

【課題】 フローハンダ付けプロセスにおいてハンダ槽を管理するための蛍光Ｘ線分析法による溶融ハンダ材料の組成の定量分析を、より迅速かつより簡便な操作にて行うために有用な方法の提供。
【解決手段】 所定の材料製のサンプリングカップを用いて、その温度をハンダ浴の温度と実質的に同じにし、溶融状態のハンダ材料を所定量だけ汲み出し、ハンダ材料が溶融状態にある間に放熱プレート上へ所定の条件にて落下及び固化させて供試材を作製することを含む方法である。 （もっと読む）

【課題】
Ｘ線検出で所望の測定感度を維持しつつ、Ｘ線ＣＴ装置による撮影画像の品質向上を可能とする。
【解決手段】
本発明のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線を被試験体に出射するＸ線発生手段と、被試験体を透過したＸ線を検出する複数のＸ線センサと、複数のＸ線センサの出力信号を処理するＸ線センサ信号処理回路とを備え、Ｘ線センサを分極効果を有する半導体センサとし、エネルギー分布が硬質化されたＸ線が半導体センサに入射するよう構成する。或いは、Ｘ線を被試験体に出射し、被試験体を透過したＸ線を分極効果を有する半導体センサで検出する方法で、エネルギー分布が硬質化されたＸ線を用い、Ｘ線を半導体センサで検出する。 （もっと読む）

【課題】気相分解−全反射蛍光Ｘ線法における分析精度、感度を高める。
【解決手段】複数の波長を用いた気相分解−全反射蛍光Ｘ線分析において、あらかじめ校正用試料の乾燥痕に対して求められた複数の内標準元素の定量値の相関関係である感度校正直線を利用することによって、被測定試料の乾燥痕中に添加される内部標準用元素を１種類とした場合においても、高い精度で被測定試料の乾燥痕中の元素の定量分析を可能とするものである。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線ＣＴ装置の分解能以下の密度変化についても有効な分析を行えるようにする。
【解決手段】密度分析の単位となる密度分析領域を撮像データ上に所定の状態で配置する密度分析領域配置処理、設定・配置した各密度分析領域について実測平均密度と実測標準偏差を求める密度計測処理、各密度分析領域を順次着目領域とし、着目領域の周囲における密度分析領域である複数の参照領域それぞれの実測平均密度から得られる周辺平均密度から着目領域の推測平均密度を求めるとともに、複数の参照領域それぞれの実測標準偏差から着目領域の推測標準偏差を求める推測処理、および実測平均密度と推測平均密度の差分を実測−推測差分として求めるとともに、実測−推測差分を推測標準偏差と比較し、この比較から参照領域に対する着目領域の密度変化確率を求める密度変化算出処理を含むものとしている。 （もっと読む）

【課題】 断層像の画素等量長を正確に求めることができ、もって断層像上で被写体各部の実寸法を正確に知ることのできる放射線断層撮影装置を提供する。
【解決手段】 回転テーブル３上に被写体Ｗを搭載して回転軸Ｒに直交する平面上で移動させる移動ステージ４を設け、その移動ステージ４により被写体Ｗを既知距離だけ移動させる前後でそれぞれＣＴ撮影してそれぞれ再構成した断層像の画面上での各位置情報と、前記した既知距離とから、画素等量長を算出する演算手段１３を設けることにより、ＳＯＤとＳＩＤを用いて画素等量長を算出する従来の装置に比して、算出精度を大幅に向上させることを可能とする。 （もっと読む）

【課題】 高分解能のマイクロ蛍光Ｘ線測定を実行するための、改善された方法およびシステムを提供する。
【解決手段】 試料の表面に適用された材料を試験する方法は、既知のビーム幅および強度断面を有する励起ビームを試料の領域に方向付けることを包含する。励起ビームに応答して領域から放射された蛍光Ｘ線の強度が測定される。測定された蛍光Ｘ線強度および励起ビームの強度断面に応答して、ビーム幅よりも微細な空間分解能で、領域内の材料の分布が概算される。 （もっと読む）

【課題】 ＦＰ法で試料の組成や面積密度を分析する蛍光Ｘ線分析装置などにおいて、種々の試料について、簡便にしかもジオメトリ効果を十分現実に則し加味して理論強度を計算し、十分正確に定量分析できるものを提供する。
【解決手段】 仮定した組成に基づいて、試料13中の各元素から発生する２次Ｘ線6 の理論強度を計算し、その理論強度と検出手段9 で測定した測定強度を理論強度スケールに換算した換算測定強度とが一致するように、仮定した組成を逐次近似的に修正計算して、試料13の組成を算出する算出手段10とを備え、その算出手段10が、理論強度を計算するにあたり、試料13の大きさ、ならびに試料表面13a の各位置に照射される１次Ｘ線2 の強度および入射角φをパラメータとして、光路ごとに２次Ｘ線6 の理論強度をシミュレーション計算する。 （もっと読む）

【課題】
サブnmから数10nmの厚さの表面結晶層、あるいは、薄膜結晶の結晶構造、結晶ドメインサイズ、および、方位の異なる複数の結晶ドメインが存在する場合のドメインの割合を迅速に解析するための装置である。
【解決手段】
試料の表面とX線のなす角を制御する入射角変更機構、その機構の高さを調節する台、試料の高さを調節する台、２次元検出器、２次元検出器用の支持台、および試料ホルダから構成される超微細構造体のX線迅速構造解析装置。 （もっと読む）

【課題】 アナターゼ型結晶とルチル型結晶が不均一に混合共存する酸化チタン試料の混合比分布画像を得る方法を提供する。
【解決手段】 単色の入射Ｘ線で酸化チタン試料表面の被測定領域全体を照らし、各部位からの回折Ｘ線を二次元位置敏感型検出器で区別して検出して強度分布画像を形成する。単色の入射Ｘ線の波長を変えてアナターゼ型結晶の所定の格子面とルチル型結晶の所定の格子面での強度分布画像を取得し、それらを割り算して換算した混合比分布画像を形成する。 （もっと読む）

【目的】 本発明は、農作物中の重金属元素含有量を簡易に検定する方法を提供するもので、農作物の品質調査、及び農用地の土壌汚染調査を実施する際の化学分析分野で活用するものである。
【解決手段】
本発明は農作物中重金属の簡易分析方法において、農作物を灰化させることで分析の阻害となるマトリクス効果を減少させ、かつ試料中に含まれるカドミウム等の重金属類の相対濃度を高めることで、蛍光Ｘ線分析装置によって農作物中の重金属元素含有量を分析可能とするものである。 （もっと読む）

【課題】 各種のトポグラフィとロッキングカーブ測定法が一台の装置で可能なＸ線単結晶評価装置を提供する。
【解決手段】 単結晶試料ＳＭを保持してＸ線発生装置３０から出射されるＸ線を照射して回折Ｘ線を生じるＸ線回折部２０と、Ｘ線回折部において試料で回折したＸ線を受光するＸ線検出部１００とを備えたＸ線単結晶評価装置は、Ｘ線発生装置から出射して単結晶試料に照射される光路部４０の一部に、結晶コリメータ４７が選択的に挿入可能なコリメータ４５を備え、かつ、Ｘ線検出部は、Ｘ線ＴＶ１１０とシンチレーションカウンタ（ＳＣ）１２０とを備えており、このＳＣは移動可能で、その移動位置によってアナライザ結晶１２１が挿入可能である。 （もっと読む）

本発明の一態様に従って、検出器は、或る閾値を超える光子に対してその数をカウントする多数の小さい画素で構成される検出素子を有し、この検出器の位置におけるエネルギー分布の再構成が最尤解析を用いて実行される。故に、再構成手法は測定における冗長性を使用し、それに従ってポアソン統計を処理する。
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