【課題】誰でも容易、且つ確実にしかも微小試料を損傷することなく捕集し、そのまま試料を効率よく冷凍でき、Ｘ線構造解析などに悪影響を及ぼすことがない、構造が簡単な捕集具を提供すること。
【解決手段】グリップの先端部にループを設けた微小試料捕集具であって、ループ内に、エレクトロンスピニング法により、１００〜２００ｎｍの微細径の合成繊維からなる網状物を形成した微小試料捕集具、その製造方法および該微小試料捕集具を用いた微小結晶構造解析方法。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線検査装置における管電圧と管電流の設定を容易にする。
【解決手段】管電圧Ｖと管電流Ｉが印加されてＸ線を発生するＸ線管１と、被検体６を透過したＸ線を撮像する撮像手段３と、撮像手段３で得られた撮像画像を表示する画像表示手段１５とを有するＸ線検査装置において、撮像画像３と相関関係のある明るさ情報Ｌを管電圧Ｖと管電流Ｉに対応させて表示する明るさ表示手段１５と、明るさ表示手段１５により表示された所望の明るさ情報Ｌを選択することにより、その明るさ情報Ｌに対応した管電圧Ｖと管電流Ｉを指令する指令手段１８と、指令手段１８により指令された管電圧Ｖ０と管電流Ｉ０をＸ線管１に印加する印加手段２とを備える。 （もっと読む）

【課題】フラットパネルＸ線検出器の欠陥画像を正しく補正し、欠陥のない画像として表示する。
【解決手段】 フラットパネルＸ線検出器では線状につながった線欠陥が生じる場合があり、さらにその線欠陥に隣接するラインに一目では欠陥とわかりづらい不確かな欠陥ラインが存在する場合がある。その不確かな欠陥ラインを欠陥かどうか判定するために、不確かな欠陥ラインの平均輝度と、隣接する複数の正常画素からなるラインの平均輝度とを比較して欠陥かどうかを判定する。 （もっと読む）

【課題】 個々の被検査物の検査データを確実に識別可能に記憶保存し、確実に抽出することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 搬送方向に所定間隔に配された複数の搬送領域にそれぞれ、視覚により識別可能でかつ他領域とでは表示内容が異なる搬送位置識別表示部１１ｂを設ける一方、被検査物Ｗの検査毎に被検査物Ｗの目視可能な固有識別情報およびその近傍の搬送位置識別表示部１１ｂを含む被検査物Ｗ毎の外観可視画像Ｐａを撮像するＣＣＤカメラ１６と、検査毎に、Ｘ線画像Ｐｘを搬送位置識別表示部１１ｂの表示内容を含む画像として作成するＸ線画像作成手段２６と、外観可視画像Ｐａを検査時刻情報に対応するファイル名の画像ファイルとして出力する第１の画像出力手段３１と、Ｘ線画像を検査時刻情報に対応するファイル名の画像ファイルとして出力する第２の画像出力手段３２とを備える。 （もっと読む）

【課題】位置合わせ治具の観察面のピンホールから光を出すことにより，ピンホールの観察を容易にする。
【解決手段】位置合わせ治具１０は，複数の回転軸（ω軸５２とφ軸５４）を有する試料回転装置に着脱可能に取り付けることができる。この位置合わせ治具１０は，ω軸５２とφ軸５４の交点と観察装置の視野の基準点とを位置合わせするのに用いる。位置合わせ治具１０は本体１２と装着部１８と観察面１１を備えている。観察面１１にはピンホール２４が形成されている。本体１２に取り付けた光源３６からの光は，反射ミラー４０で反射してから，ピンホール２４を通って観察面１１の外部に出て行く。 （もっと読む）

【課題】 蓄積した検査データを識別子情報の判読の難易に関わらず確実に抽出することができるＸ線検査方法、システムおよび装置を提供する。
【解決手段】 被検査物Ｗの各部Ｘ線透過量に基づいてその被検査物の状態を判定するとともにＸ線画像を作成するＸ線検査方法であって、外観識別可能でＸ線画像上に識別可能に写し出される識別子情報を各被検査物Ｗに付加する識別情報付加工程と、識別子情報が付加された各被検査物ＷにＸ線を照射し、被検査物の各部Ｘ線透過量を検出する検出工程と、被検査物Ｗの各部Ｘ線透過量に基づいて被検査物Ｗ中における異物の有無を判定する状態判定工程と、被検査物Ｗの各部Ｘ線透過量に基づいて識別子情報の表示内容を含むＸ線画像を生成するＸ線画像生成工程とを含んでいる。 （もっと読む）

より簡易な装置構成で、透過画像を自由な拡大率で表示させることができ、しかも操作性に優れた透過撮影装置を提供することを目的とする。 線源３ａ及び放射線検出体を設け、これら線源３ａ及び放射線検出体の間に試料を取り付ける試料テーブル４を設け、透過撮影した画像を表示装置に表示可能とする。線源３ａ及び放射線検出体と試料テーブル４との間の相対座標を変更可能なテーブル駆動機構６を設ける。放射線検出体にはフラットパネルＸ線検出器５を使用し、撮影した単位画像を複数個合成して合成画像を表示すると共に座標データを付与する。合成画像上又はその一部をなす画像上に位置及び範囲の変更可能な撮影選択枠を表示し、座標データと撮影選択枠との比較により相対座標を求める。この相対座標に基づいてテーブル駆動装置６を制御することにより試料テーブル４の相対座標を変更し、撮影選択枠内の選択画像を拡大表示させる。
（もっと読む）

【課題】 試料からのＸ線を効率的に超伝導Ｘ線検器に入射でき、かつ光軸や焦点調整が容易に実施できる超伝導Ｘ線検出装置を提供する。
【解決手段】 冷凍手段となる希釈冷凍機２と、冷却される冷却ヘッド５と、冷却ヘッド５に固定された超伝導Ｘ線検出器１とからなる超伝導Ｘ線検出装置において、超伝導Ｘ線検出器１の近傍に設けられたＸ線入射部の４Ｋ輻射熱シールド６の内壁にＸ線集光手段としてポリキャピラリー１２を接合する構造にした。 （もっと読む）

【課題】高精度かつ高速な半田ボール接合不良検査方法を提供する。
【解決手段】ＢＧＡパッケージとプリント基板１０３との接合部の外観検査時に、当該プリント基板に塗布されるクリーム半田部に対して該ＢＧＡパッケージの半田ボール１０４により接合する際のプリント基板１０３との接合部分のＸ線検査方法において、３次元画像データを再構成して生成された３次元画像データよりＸ線透過率を利用して半田ボール部位の画像データを抽出し、その抽出した半田ボール部位における画像データの特徴量を抽出し、当該抽出した特徴量により半田ボール１０４とプリント基板１０３の接合状態の良否を判定する。 （もっと読む）

簡易な構成で２以上の異なる視点からの透過撮影画像を得ることの可能な透過撮影装置を提供することを目的とする。 ターゲット２ａから放射線を照射する線源装置２と放射線検出体とを設け、これらターゲット２及び放射線検出体の間に試料を取り付ける試料テーブルを設ける。放射線検出体の検出面の中心部Ｐがこの中心部Ｐとターゲット２ａとを結ぶ基準軸Ｌ１，Ｌ２にほぼ直交するように放射線検出体及びターゲット２ａを配置する。放射線検出体が一対の第一、第二放射線検出体３，４よりなり、第一放射線検出体３はターゲット２ａに対して駆動機構により遠近移動可能で且つ第二放射線検出体４よりもターゲット２ａから離隔配置可能とする。線源装置２のターゲット２ａが陰極２ｂに傾斜状に対向し、陰極２ｂを第二放射線検出体４側に配向するように線源装置２と第一、第二放射線検出体３，４を配置する。
（もっと読む）

【課題】基板面の近似平面を決定することで、断層画像の画像再構成処理において、被検体の状態に関係なく、最小限の画像再構成領域を設定するＸ線ＣＴ検査装置を提供する。
【解決手段】電子基板に搭載される被検体を透過した透過Ｘ線像を用いて被検体の断層画像を生成するＸ線ＣＴ検査装置であって、被検体にＸ線を照射する手段１２６と、前記被検体を透過したＸ線を計測する手段１２５と、Ｘ線計測手段１２５により計測したＸ線データを用いて被検体の断層画像の画像再構成を行う手段１５２と、電子基板上の被検体の表面形状データ（高さ位置）を計測する手段１２１と、電子基板内の異なる２領域以上の表面形状データから、断層画像の基準面となる基板近似平面を決定する手段１５３と、を備え、決定した基板近似平面を基準に、画像再構成手段１５２により画像化する領域を決定する。 （もっと読む）

【課題】半導体基板を処理する方法及び装置、特に、半導体基板の処理に用いるための計測ツールを提供する。
【解決手段】本発明の１つの態様により、半導体基板を処理するための半導体基板処理装置及び方法が提供される。本方法は、表面と各形態が第１の座標系の第１のそれぞれの点でこの表面上に位置決めされたこの表面上の複数の形態とを有する半導体基板を準備する段階と、第２の座標系の第２のそれぞれの点で各形態の位置をプロットする段階と、第１及び第２の座標系の間の変換を発生させる段階とを含むことができる。変換を発生させる段階は、第１及び第２の座標系の間のオフセットを計算する段階する段階を含むことができる。オフセットを計算する段階は、第１の座標系の基準点と第２の座標系の基準点の間のオフセット距離を計算する段階、及び第１の座標系の軸線と第２の座標系の軸線の間のオフセット角度を計算する段階を含むことができる。 （もっと読む）

【課題】
非破壊検査による検査・試験パスの短縮を図り例えば薬剤開発期間の短縮、しいては製造・品質の安定化を図った分子構造複合同定装置を提供することにある。
【解決手段】
本発明は、被検試料載置板１６に載置された同じ被検試料１７に対して０．５ｍｍ以下の直径に制限したＸ線ビームと赤外線・可視光・紫外線の何れか一つあるいは複数の波長ビームを照射する照射光学系（１，１２；２，２２，１１）と、前記被検試料から得られるＸ線回折パターン及び前記被検試料から放出される反射光又は散乱光を検出する検出光学系（９；１１，３，５）とを備え、前記被検試料から同時または連続して少なくともＸ線回折スペクトル及び可視光による反射光像を検査できるように構成した分子構造複合同定装置である。 （もっと読む）

【課題】被検査液体中に含まれている重金属イオンを簡単に定性分析および定量分析が可能な分析方法を提供することにある。
【解決手段】 被検査液体を、重金属イオン吸着剤を充填したケースに通し、被検査液体中に含まれている重金属陽イオンや重金属陰イオンなどの重金属イオンを重金属イオン吸着剤に吸着させ、重金属イオンが吸着した上記吸着剤を乾燥することなくケースごと蛍光Ｘ線分析装置にかけて、被検査液体中の重金属イオンの種類および含有量を分析する。 （もっと読む）

Ｘ線光学装置は、光学装置と、Ｘ線ビームの一部を選択的に遮る調整可能なアパーチャとを含む。調整可能なアパーチャは、光学装置と試料との間に配置され、光学装置と一体化されるか、又は光学装置に近接して配置される。調整可能なアパーチャにより、ユーザがＸ線の収束を容易かつ効果的に調整できるようになる。このようにすることで、可能性のある測定をすべて考慮した最大収束を有する光学装置を使用し、アパーチャを調整して特定の測定に合わせた収束を選択することにより、Ｘ線光学装置の光束及び解像度を最適化することができる。
（もっと読む）

【課題】残砂を容易かつ確実に検出することが可能な中子、中子の残砂の検出方法及び中子の残砂の検出装置を提供する。
【解決手段】残砂検出装置１に、シリンダヘッド１５の表面に紫外線、Ｘ線または電子線を照射する照射手段２と、蛍光砂１２が発する可視光または紫外線を検出する検出手段３と、を具備し、蛍光体を被覆した蛍光砂１２を少なくとも一部に含む中子１０をシリンダヘッド１５から除去した後に、シリンダヘッド１５の表面に残留した蛍光砂１２を検出する。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線を用いることにより被検体の寸法や形状によらず内部構造の観察や内部欠陥等を検出することができ、被検体を回転させる簡素な構造で装置を小型化することができる汎用性、取扱い性に優れるＸ線ステレオ透視装置の提供。
【解決手段】Ｘ線源と、被検体を回動自在に保持する角度設定機構と、被検体を挟んでＸ線源に対向配置され被検体の透過画像を検出する平面状のイメージセンサと、イメージセンサで検出した透過画像をステレオ表示する表示器と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線検査装置で行う検査の精度・分解能を高く保ちながら検査時間を短縮する。
【解決手段】被検査物５の３次元画像データをモニタ画面３２ａに被検査物５の仮想３次元画像を表示するデータ読込みステップを有する。モニタ画面３２ａに指示用ポインタを表示するポインタ表示ステップを有する。仮想３次元画像上の検査位置に基づいて目標検査位置データを生成する位置データ生成ステップを有する。前記検査位置に対して指定した検査方向に基づいて目標検査方向データを生成する検査方向データ生成ステップを有する。前記検査位置に対して指定した検査時の分解能から分解能データを生成する分解能データ生成ステップを有する。前記位置データ生成ステップで指定可能な検査範囲を被検査物５の内部を含む全体とした。 （もっと読む）

ｘ線回折を利用した走査方法が開示される。この方法は、容器内の特定の物質によって回折されたｘ線を検出するよう光導電体ｘ線変換層を有するフラットパネル検出器を用いて交通センターで容器内に特定の物質があるかどうかを検査する段階を有する。回折ｘ線は、例えば波長分散回折及びエネルギ分散回折により種々の仕方で特性決定できる。
（もっと読む）

荷物検査等の従来の物質識別では、荷物の減衰係数は、荷物内の物質を確認するよう使用される。しかしながら結果が不明瞭なのは、危険物質と非危険物質が同一の減衰係数を有することが頻繁にあるためである。本発明によれば、方法及び装置が与えられ、荷物内に危険物質があるか否かをよりよく判断するよう、ＣＴ及び干渉性散乱コンピュータ・トモグラフィ（ＣＳＣＴ）から得られた情報を組み合わせる。故に、本発明によれば、荷物の減衰係数及び回析パターンは、荷物が不審であるか否かを判断するよう使用される。
（もっと読む）