表面架橋が均一な表面架橋吸水性樹脂およびその製造方法を提供する。
アクリル酸またはその金属塩を主成分とする吸水性樹脂の部分中和物または完全中和物からなる不定形破砕状粒子を表面架橋した吸水性樹脂から構成される吸水材であって、該吸水材を加圧電圧５００ＶでＡｒイオン放電研磨して測定される該吸水材表面の前記金属原子濃度が、研磨０秒値で０〜１０％であり、研磨１０秒値で２−３５％である。使用する表面架橋吸水性樹脂は、特定粒子径の吸水性樹脂に、水濃度が特定範囲の表面架橋剤で表面架橋することで製造できる。 （もっと読む）

【課題】
澱粉中に微量に存在するリン含有量の定量方法として、通常化学分析法が使われている。この方法を用いる場合、試料を湿式灰化処理する必要があるが、この処理は複雑で長時間を要するため、工場での流れ作業に適用することは困難であった。したがって従来法より簡易かつ迅速なリン含有量の定量方法が必要である。
【解決手段】
リン含有量の定量のために蛍光Ｘ線分析装置を用いる。また、試料を圧縮錠剤化し、空気層の存在による測定誤差を少なくした。 （もっと読む）

【課題】 カーボンナノチューブ集合体を形成する各単層カーボンナノチューブの特性を効率的且つ精度良く測定して解析する。
【解決手段】 バンドル状のカーボンナノチューブ集合体とシクロアミロース溶液とを混合し、超音波処理を行うことで、単層カーボンナノチューブが分散して含まれるカーボンナノチューブ含有溶液を生成する。カーボンナノチューブ含有溶液を濾過してから回転している基板に滴下し、乾燥させることでカーボンナノチューブ薄膜を形成する。カーボンナノチューブ薄膜に均等に分散する単層カーボンナノチューブに対してラマン顕微分光方法を用いて単層カーボンナノチューブの特性を解析する。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線による異物検査とＸ線によるＸ線遮蔽物のヒビや穴の検査との双方が行えるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 被検査物２に異物が混入しているか否かを検査する異物検査モードと被検査物２にヒビ又は穴が存在しているか否かを検査するヒビ穴検査モードとの一方の検査モードを操作部１０により設定し、制御部９は該設定された検査モードに基づき搬送装置１、Ｘ線源３、画像処理部６を制御する。 （もっと読む）

【課題】分析対象の元素を小液滴に濃縮して分析用試料板上で蒸発乾固し、全反射蛍光Ｘ線分析を行なう高感度化に関して、試料板由来のＳｉエネルギーピークを避けるために使用する高温でのガス処理純化を経たアモルファスカーボンウェーハ試料板の清浄度をさらに向上させ、半導体用高純度シリコンウェーハのレベルまで純化することを課題としている。
【解決手段】純化対象のアモルファスカーボンウェーハを三酸化二ホウ素ガラスの熔融液に接触させて、該ウェーハの表面並びに表面近くの浅い層にある分析を妨害する元素を液に吸出させ、冷却後加熱した超純水でリンスして純化し、分析面を疎水性化する。要すれば酸化性処理液で該純化ウェーハを洗浄して表面を一旦親水性化し、これに対して再度前記の熔融液の接触による純化を追加する。 （もっと読む）

【課題】軸方向に分離している線源素子アレイを使用する３次元コンピュータ断層撮影システムにおける軸方向のサンプリングギャップを解決する。
【解決手段】個別のＸ線素子及び検出器を患者又は対象物に対してｚ軸方向に平行移動させる。線源は１回転すると同時に、ｚ軸方向に配置された線源素子同士の間隔に相当する距離だけ軸方向に平行移動する。小さい平行移動動作は、個別の線源の横列位置を通る軸平面が、個別の線源の横列位置と交わる軸平面と区別されることのないように設計される。このことにより、システムのｚ依存と、それに関係するサンプリングの問題を減少させる。 （もっと読む）

【課題】 表面層を備えたサンプルの検査方法及び検査装置を提供する。
【解決手段】 その検査方法はＸ線の平行光線でサンプル２２を照射中に、サンプル２２の第１の反射率スペクトルを取得し、サンプル２２の散漫反射特性を測定するために第１の反射率スペクトルを処理する。Ｘ線の収束光線でサンプル２２を照射中に、サンプル２２の第２の反射率スペクトルが取得される。サンプル２２の表面層の特性を求めるために散漫反射特性を使用して、第２の反射率スペクトルが解析される。 （もっと読む）

【課題】 入射ビームのビーム厚みによる回折Ｘ線像のぼけを低減し、かつ、ダイナミックレンジの大きな画像を再生することにより、明度差のある鮮明なポトグラフ画像を得ること。
【解決手段】 ビーム厚みが経時的に変化した入射Ｘ線ビーム２を測定試料３に入射して回折させ、該回折した回折Ｘ線ビーム４を２次元の回折画像として画素単位で経時的に連続して画像検出部１５０にて検出し、演算処理部２００において、該検出された２次元の回折画像の画素毎に、入射Ｘ線ビーム２の経時的なビーム厚みの変化量Δξに対する回折Ｘ線ビーム４のＸ線強度の明度変化率ΔＭ／Δξを算出し、該２次元の回折画像の算出値である明度変化率ΔＭ／Δξを画素毎に積算し、該積算した積算値マトリックスＩｍをポトグラフ画像として生成する。 （もっと読む）

【課題】 従来よりも高精度に物品の滞留発生を検出することが可能なＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線検査装置１０では、制御コンピュータ２０が、搬入口１１ａ、搬出口１１ｂに配置されたセンサ１７ａ１７ｂ、センサ１８ａ，１８ｂおよびＸ線ラインセンサ１４における商品Ｇの検出タイミングに基づいて、シールドボックス１１内において搬送される商品Ｇの滞留発生の有無を判定する。 （もっと読む）

【課題】 波長分散形Ｘ線分光器（ＷＤＳ）とエネルギー分散形Ｘ線分光器（ＥＤＳ）を同時に装着した装置において、ＷＤＳで検出されたＸ線の波高分布をリアルタイムに得ることを可能とし、ＷＤＳの波高分析器の条件設定を簡単に行えるようにする。
【解決手段】 ＷＤＳのＸ線検出器に接続されている信号処理回路からの出力信号を、ＥＤＳ用として構成されているマルチチャンネルアナライザに入力できるように切換スイッチを設ける。ＷＤＳの信号処理回路の出力を、マルチチャンネンルアナライザに入力するために必要なマッチング処理を行った後、マルチチャンネンルアナライザで波高識別して積算する。波高分布をＥＤＳスペクトル表示装置に表示する。表示された波高分布からＷＤＳの波高分析器の条件を設定すると、ＷＤＳ用として構成されているシングルチャンネルアナライザの条件が自動的に設定される。 （もっと読む）

【課題】検出器に実際に作用するＸ線強度を求めることを簡単に可能にする。
【解決手段】少なくとも１つの検出器要素（３）の検出器出力信号ｘ（ｉ，ｊ）とＸ線放射器（１）の少なくとも１つの予め与えられたＸ線放射器入力値ｙ（ｉ）とから、検出器出力信号に依存する強度関数Ｓ(ｘ（ｉ，ｊ）)の検出器要素に関係した係数ｓ_n（ｊ）およびＸ線放射器入力値に依存する強度関数Ｑ（ｙ（ｉ））のＸ線放射器に関係した係数ｑ_m（ｉ）を計算する計算手段（４）を備え、係数ｓ_n（ｊ），ｑ_m（ｉ）の計算は、係数ｓ_n（ｊ），ｑ_m（ｉ）、検出器出力信号ｘ（ｉ，ｊ）および少なくとも１つのＸ線放射器入力値ｙ（ｉ）を含む連立方程式（４．２）を解くことによって実行可能であり、連立方程式は、検出器出力信号に依存する強度関数Ｓ(ｘ（ｉ，ｊ）)とＸ線放射器入力値に依存する強度関数Ｑ（ｙ（ｉ））との間の関係を作る方程式を含む。 （もっと読む）

短Ｘ線パルスを発生するＸ線装置であって、熱陰極（１２）および陽極（１６）を有するＸ線管（１０）と、Ｘ線パルスを発生するために陽極（１６）に印加される高圧パルスを発生する第１の回路（２２，２０，１８）とを備えたＸ線発生器である。Ｘ線発生器は、Ｘ線放射（３０）の発生には不十分な程度の、Ｘ線管（１０）を余熱する低電圧を陽極（１６）に永続的に印加する第２の回路（２６）を含む。第１の回路は、高圧スイッチ（１８）を介して陽極（１６）に印加され得る高圧コンデンサ（２０）を充電させる高圧電源装置（２２）を有する。第２の回路はマルクス発生器で、永続的に低電圧を発生するとともに、高電圧を発生するマルクス発生器を駆動する電源が１つだけ存在する。このＸ線発生装置は、Ｘ線（３０）によって物体の像を生成する撮像装置（４４，４６）を有する物体検査装置の一部を構成する。
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【課題】Ｘ線光学素子の位置決め精度を緩和でき、可干渉性の低いＸ線源でもＸ線干渉を実現でき、一般用途への実用化が図られるＸ線シアリング干渉計を提供する。
【解決手段】Ｘ線シアリング干渉計は、Ｘ線を分割するＸ線分割光学系１０と、Ｘ線分割光学系１０によって分割されたＸ線を干渉させるＸ線干渉光学系２０などで構成され、Ｘ線分割光学系１０とＸ線干渉光学系２０との間には物体Ｗが配置され、Ｘ線分割光学系１０は、間隔Ｄ１で配置された一対の人工格子１１，１２と、人工格子１２からの回折Ｘ線のうち所望の回折Ｘ線だけをブラッグ回折によって選択する結晶格子１３を含み、Ｘ線干渉光学系２０は、間隔Ｄ２で配置された一対の人工格子２１，２２と、人工格子２２からの回折Ｘ線のうち所望の回折Ｘ線だけをブラッグ回折によって選択する結晶格子２３を含む。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線遮蔽のれんを容易に着脱でき、装着することで検査ボックスの開閉扉を閉めることができ、安全スイッチが作動して検査できるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 装置前面に設けられた開閉扉８を、支軸８ｂを中心に回転して開ける。スイッチ作動片８ａが差込口１１ｃから離れ、安全スイッチ１１が作動停止する。受枠１２ｃに支持されたＸ線遮蔽のれん１２を手前に引き出すと、係合片１２ａが手前に位置し、可動板１１ａがバネ１１ｄに押されて下がり、差込口１１ｃが下方に下がる。Ｘ線遮蔽のれん１２を取り出し洗浄する。再度、Ｘ線遮蔽のれん１２を受枠１２ｃに入れ奥に押し込むと、係合片１２ａが可動板１１ａを上方に押し上げる。差込口１１ｃの奥に検査ボックス５に取付けられた安全スイッチ１１が現れる。開閉扉８を閉じると、スイッチ作動片８ａが差込口１１ｃに挿入され、安全スイッチ１１が作動する。 （もっと読む）

【課題】 計測時間中に発生する超伝導X線分析装置の動作点の変動に起因するエネルギースペクトルの半値幅の増大を抑え、高いエネルギー分解能を有する超伝導Ｘ線分析装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 波高分析装置から出力されるエネルギースペクトルを有限時間間隔で複数回測定し保存する記憶装置と、エネルギースペクトルの各ピーク位置をシフト補正して加算するシフト補正加算処理装置を設けることとした （もっと読む）

【課題】単結晶の外部幾何構成に関係なく、結晶配向の決定および配向固定における精度の向上を確実にする。
【解決手段】単結晶１の固定はサファイアまたは炭化ケイ素などのきわめて硬い材料を用いて正確におこなう。結晶格子の配向を決定するために単結晶が回転テーブル２上に調整可能に位置決めされ、回転テーブルの少なくとも１回転中に、複数のｘ線反射Ｒに基づき、結晶格子の配向が決定される。単結晶の固定および基準方向に向けられた支持材における固締を行う前に、基準方向としての回転テーブルの軸（Ｘ−Ｘ）に対する格子面ＮＥの法線の決定された角度を参照して、結晶格子の配向が実現される。 （もっと読む）

【課題】蛋白質結晶のＸ線結晶解析を行うに当たり、蛋白質結晶を崩壊させることなく、かつ該結晶を結晶母液のない状態で凍結させる。
【解決手段】一方の端部に内径５０〜１０００μｍの環状突起体を備えたキャピラリーに母液を含む結晶をすくい取り、母液を吸引除去すると同時に結晶を凍結し、環状突起を屈曲し、Ｘ線結晶回折測定を行う。 （もっと読む）

本発明は、UMPキナーゼの結晶構造、ならびにUMPキナーゼの阻害薬およびアロステリックモジュレーターをスクリーニング、同定および設計するためのコンピューター支援法に関する。 （もっと読む）

【目的】本発明の目的は、毛髪又は体毛に含まれる元素の含有量を測定して、この元素含有量が健常人では一定であるという恒常性（ホメオスタシー）に着目し、この恒常性からの変動により体調の診断を行って、食生活の改善やガンのスクリーニングをする方法を提供することである。
【構成】本発明の体調診断方法は、毛髪又は体毛の任意部位に含まれる元素の含有量を測定して体調の診断を行うことができる。体調は日々変化しているが自覚することは少ないから、この体調の変化を客観的に数値化して表すことが望まれる。毛髪又は体毛は固形物であるので取扱が容易で、元素の含有量を分析するには最適で、定期的に、大量の診断を行うことができる。毛髪又は体毛による体調診断は、その毛根を分析すれば現在の、任意部位を分析すればその過去時の元素含有量を測定できるので、極めて有効な体調診断方法である。 （もっと読む）

【課題】 試料２である半導体基板上のハフニウム含有膜に、不純物として含まれる鉄、銅などの遷移金属を、正確に分析すること。
【解決手段】 イリジウムを含む陽極１１を持つＸ線管１０から発生したＸ線３の中からの分光手段１３によって選択分離したＩｒ−Ｌα線４を、試料２のハフニウム膜上で全反射する方向で照射し、全反射方向以外の方向５に発生した蛍光Ｘ線を、検出器２０で検出する。これによってＦｅ−Ｋα線が検出されるだけでなく、Ｃｕ−Ｋ線の検出の妨害となるＨｆ−Ｌα線の発生を抑制し、Ｒａｍａｎ散乱の上端エネルギーを小さく移動させて、Ｃｕ−Ｋ線との重なりを解消することができる。 （もっと読む）