【課題】種々の形状の試料に対応した試料ホルダにより、試料より発生する蛍光Ｘ線の強度が最大になるようにＸ線源からの一次Ｘ線の照射位置を自動調整し、常に短時間で高感度、高精度の分析が行える斜入射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】環状の側部１１および底部１３を有する本体１８と、試料載置台１４と、試料載置台１４を支持し、その高さを調整する少なくとも３個の高さ調整具１５を有する試料ホルダ１と、試料ホルダの当接面１０４をセラミックスボール４７に押圧する押圧手段４０と、検出器３７が測定する試料Ｓより発生する蛍光Ｘ線３６の強度に基づき、Ｘ線管位置調整手段５５、分光素子位置調整手段５７および分光素子角度調整手段５８を制御する制御手段５６とを備え、試料Ｓより発生する蛍光Ｘ線３６の強度が最大になるようにＸ線源３からの一次Ｘ線３４の試料Ｓへの照射位置を自動調整する斜入射蛍光Ｘ線分析装置。 （もっと読む）

【課題】試料基板交換時に、操作が簡単で、短時間に試料基板の分析面を検出器の受光面に対し常に一定の面間距離に精度よく設定し、正確で精度の良い分析を行うことができ、かつ安価な全反射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】試料基板１５に１次Ｘ線１４を照射するＸ線源２と、１次Ｘ線が照射される試料基板１５より発生する蛍光Ｘ線１６を検出する検出器１７とを備える全反射蛍光Ｘ線分析装置であって、試料基板１５の分析面１５ａに当接する当接部２７と当接部２７を保持する保持部２６とを有する当接手段２５と、試料基板の分析面１５ａを当接部２７に押圧する押圧手段２０とを備え、試料基板の分析面１５ａと当接手段の保持部２６の試料対向面との間隙を１次Ｘ線１４および試料基板で反射する反射Ｘ線１８のＸ線通路Ｌとする全反射蛍光Ｘ線分析装置。 （もっと読む）

【課題】試料より発生する蛍光Ｘ線の強度が最大になるようにＸ線源からの一次Ｘ線の照射位置および照射角度を自動調整することにより、光学調整の熟練者でなくても、常に短時間で高感度、高精度の分析が行える蛍光Ｘ線分析装置を提供することを目的とする。
【解決手段】蛍光Ｘ線分析装置１は、制御手段２０により制御される各調整手段１９、２２、２３により調整されたＸ線管１１と分光素子１３の位置と角度と装置機構上の対応する位置と角度との差を各オフセット記憶手段２１、２４、２５にオフセットとして記憶し、分析条件設定手段に記憶したオフセットを付与し、試料１６より発生する蛍光Ｘ線１７の強度が最大になるようにＸ線管１１からの一次Ｘ線の試料１６への照射位置および照射角度を自動調整する。 （もっと読む）

【課題】それぞれ異なる分光結晶を搭載する複数のＸ線分光器を装備し各Ｘ線分光器毎に検出する波長を設定して複数の元素の同時分析を行う波長分散型のＸ線分析装置において、Ｘ線分光器に対する分析対象元素の割り当てを適切に行うことで測定回数を減らしながら正確な測定を行う。
【解決手段】複数の分析対象元素の中で濃度の低い順に、より高い感度での分析が可能な分光結晶と特性Ｘ線の種類の組合せを選択し（Ｓ２、Ｓ３）、選択した分光結晶が装置に装備されているか否か、既に他の分析対象元素に割り当てられているか否か、さらには選択された特性Ｘ線に他の元素の特性Ｘ線の重畳がないかどうか、をそれぞれチェックし（Ｓ４〜Ｓ７）、問題がなければ選択された分光結晶（Ｘ線分光器）に分析対象元素を登録する（Ｓ９）。これを濃度の低い順に繰り返して、全元素をＸ線分光器に割り当てる。 （もっと読む）

原子力発電所の伝熱面の表面から物質の試料を摘出し、試料の高解像度走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光法と、試料の走査透過電子顕微鏡/制限視野電子線回折/スポット分析および元素マッピング分析との少なくとも1つを行うことをも含む、原子力発電所の伝熱面の表面上の堆積物中の結晶を分析する方法。
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【課題】 ミクロ分析データキューブのスペクトルミクロ分析及び統計学的分析を遂行する方法、並びにこのような方法を実施するための装置及びシステムを提供する。
【解決手段】 スペクトルミクロ分析を遂行するためのシステムは、データ収集の進行中に分析結果を与える。試料におけるピクセルからスペクトルが収集されるにつれて、このシステムは、スペクトルを周期的に分析して、提案される試料成分を表す基礎的スペクトルを統計学的に導出し（Ａ）、この導出されたスペクトルは、変化する割合で合成されて、各ピクセルにおいて測定されたスペクトルを（少なくとも近似的に）生じさせる。次いで、同じ優勢な提案される成分を有し、及び／又は提案される成分の少なくともほぼ同じ割合を含むピクセルは、それらの測定されたスペクトルを合成（即ち、加算又は平均化）することができる（Ｃ、Ｄ）。次いで、これらのスペクトルは、基準ライブラリーを経て相互参照され、実際に存在する成分を識別することができる（Ｅ）。前記分析中に、前記測定されたスペクトルは、好ましくは、その測定されたスペクトルを構成するエネルギーチャンネル／インターバルの数を減少することにより及び／又は隣接ピクセルの測定されたスペクトルを合成することにより凝縮されて、データキューブのサイズを減少すると共に、分析結果を促進させる（Ｇ）。 （もっと読む）

【課題】 ＡＥＳを用いて異なる化学状態の混在する試料を分析する方法を提供する。
【解決手段】 ＦｅＯ（２価）とＦｅ_２Ｏ_３（３価）を標準試料、Ｆｅ_３Ｏ_４を被験試料として、ＦｅＯとＦｅ_２Ｏ_３の標準スペクトルを用いて、Ｆｅ_３Ｏ_４からのスペクトルに対して最小二乗法のフィッティング計算による波形分離計算を行う。convolution曲線は、最もよいフィッティング結果を与えるときの、ＦｅＯとＦｅ_２Ｏ_３の標準スペクトルに各々係数を乗じて合成されたスペクトルである。このときのＦｅＯとＦｅ_２Ｏ_３の係数に基づいて、Ｆｅ_３Ｏ_４中の２価と３価の鉄原子の存在比率を求めることができる。 （もっと読む）

【課題】試料中の６価クロムの有無を精度良く検出することが可能な技術を提供する。
【解決手段】試料１と、６価クロムと反応する試薬を含む有機酸溶液２とを所定時間接触させる。そして、測定基板６の表面上に有機酸溶液２を載置する。次に、有機酸溶液２を乾燥させる。その後、評価基板６の表面を分析して、試料１中における６価クロムの有無を判定する。試料１中に６価クロムが含まれる場合、有機酸溶液２を乾燥させた後の測定基板６の表面上には６価クロムと試料との反応物４が存在することから、測定基板６の表面を分析することによって、当該反応物４を分析することができる。６価クロムと試薬との反応物４を分析することによって、試料中における６価クロムの有無を高精度に検出することができる。 （もっと読む）

【課題】鋼材の流通管理を円滑にし、異材の流出や混入の防止を容易にしたチェックシステムを提供する。
【解決手段】携帯Ｘ線分析装置（１）に識別ラベルの読取装置（２）を併設したもの、データを入力したコンピュータ（３）、出力をコンピュータに送るためのコンバータ（４）、およびコンピュータの判定した結果を掲示する電光掲示板（５）でチェック装置を構成する。出荷に当たり、対象となる鋼材に、あらかじめ溶解番号などのデータを表示した識別ラベルを貼るとともに、その溶解番号に対応したレードル値と、同一性の判定基準値とをコンピュータに入力しておく。携帯Ｘ線分析装置で鋼材の合金組成を測定するとともに、識別ラベルを読み込み、得られた分析値と溶解番号とをコンピュータに送り、判定基準値を利用して同一性を判定し、その結果を、必要な指示とともに出荷現場の電光掲示板に掲示する。入庫の場合は、規格値をコンピュータに入力しておき、同一性の判定基準値を利用して分析値と規格値との同一性を判定する。 （もっと読む）

【課題】試料の種類及び濃度を検出しながら、外観では判断できない装置自体の性能上の
異常を、自動的かつ即座に検出することにより、より正確な試料の検査を行うことができ
る検査装置、該検査装置を用いた検査方法を提供する。
【解決手段】試料３を構成する第１の元素の種類及び濃度を検出するＸＲＦ装置１００に
おいて、試料３と、第１の元素とは異なる、種類及び濃度が既知な第２の元素から構成さ
れた基準部材４とに、１次Ｘ線２０を照射するＸ線管１と、１次Ｘ線２０の照射により、
試料３から発生する第１の元素特有の第１の２次Ｘ線２１を検出するとともに、基準部材
４から発生する第２の元素特有の第２の２次Ｘ線２２を検出する検出器５とを具備し、基
準部材４は、１次Ｘ線２０の光路上に設けられていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】各種材料、製品、部品よりなる被検体に、ＲｏＨＳ指令で規制対象となっている六価クロムが検出される可能性があるクロメート膜が存在する可能性の有無を、非破壊で迅速に検査・判定することが可能となる有害材料判定方法および装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線で励起した特性Ｘ線を用いてクロムの有無を検査し、クロムを検出した場合に、クロムがある特性値以下であり、アルミニウムがある特性値以上、銅がある特性値以上、亜鉛がある特性値以上、およびニッケルがある特性値以上の少なくともいずれか一つの条件が充足された場合に、クロメート膜が存在する可能性があると判定する。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で６価クロムを定量分析できる蛍光Ｘ線分析装置などを提供する。
【解決手段】Ｘ線源４、発散スリット１１、分光素子６、受光スリット２０、検出器８、分光素子６と受光スリット２０および検出器８とを連動させる連動手段１０、ならびに、検出器８の測定結果に基づいて定量分析を行う定量分析手段１８を備えた走査型蛍光Ｘ線分析装置である。定量分析手段１８が、Ｃr −Ｋα線２２において強度が最大となるピーク分光角が６価クロムの含有率対クロム全体の含有率の比に応じて変化することに基づいて、６価クロムの含有率を算出する。発散スリット１１、分光素子６、受光スリット２０および検出器８の組合せとして分解能が相異なる複数の検出手段２３を備え、ピーク分光角の変化を検出する際に、クロム全体の含有率または強度を求める際に選択される検出手段２３Ａよりも分解能が高い検出手段２３Ｂが選択される。 （もっと読む）

本発明は、次のような校正用の標準セットに関する。すなわちこの標準セットは、少なくとも３つの校正標準を含み、これらの校正標準は、元素Ｃｄ、Ｃｒ、Ｐｂ、ＨｇおよびＢｒを含む熱可塑性ポリマーからなる成形体から構成される。この場合、これら３つの校正標準のいずれにおいても、ＣｒとＰｂとＨｇとＢｒとＣｄの比が異なる。本発明は、これら校正標準を製造する方法と、Ｘ線蛍光分析のためにこれら校正標準を使用することにも関する。 （もっと読む）

【課題】水溶液中に存在する微量元素の濃度分析を、蛍光Ｘ線分析装置を使用し、簡便に比較的高いレベルの精度で行うことができる水溶液中の微量元素分析方法の提供。
【解決手段】微量元素を含む水溶液１を吸着材２ともに煮沸容器３に入れ、これを加熱して水分を蒸発させ、水分蒸発後に残った煮沸容器内の吸着材を含む固形成分５を微粉状又は粒状にすりつぶし、得られた粉状又は粒状試料中の微量元素の含有量を、蛍光Ｘ線分析装置９を用いて計測する。 （もっと読む）

【課題】合金化溶融亜鉛めっき鋼板における組成が深さ方向に不均一なめっき被膜の付着量および組成を十分正確に分析できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】所定の入射角φで試料１に１次Ｘ線６を照射するＸ線源７と、所定の取り出し角α，βで試料１から発生する蛍光Ｘ線８の強度を測定する検出手段９とを備え、前記入射角φと取り出し角α，βの組合せにおいて少なくとも一方が相異なる２つの組合せで蛍光Ｘ線８の強度を測定し、蛍光Ｘ線８の強度が測定対象膜の付着量を増大させたときの上限値の９９％となる付着量で示される測定深さについて、前記２つの組合せでの測定深さがいずれも前記めっき被膜３の付着量よりも大きくなるように、各組合せにおける入射角φおよび取り出し角α，βが設定されている。 （もっと読む）

基材を識別するために、Ｘ線蛍光分光法を用いて試料を分析し、電子部品および電子組立品における６価クロムを測定する。確認された基材に基づき、様々な抽出および分析の手順から手順を選択し、選択した手順を用いて６価クロムを試料から抽出する。抽出された６価クロムを１，５−ジフェニルカルバジドと反応させ、各種類の識別された基材に対し独自の校正曲線を用いて、紫外分光法を用いて測定する。測定された６価クロムの量に基づき、試料の単位面積の関数として６価クロムの濃度を算出する。
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【解決手段】基板に重ねられた材料の層の積重ねにおける１つの層の元素組成の面密度を確立するための方法及びコンピュータプログラムソフトウェア製品である。入射する透過性放射線は、１又は複数の元素のそれぞれに関連した複数の線の特性蛍光Ｘ線放射を励起する。連続する元素の特性蛍光の強度比に関する方程式の自己一致した解によって、連続した層の面密度が決定される。 （もっと読む）

【課題】
マイクロチップを用いて複数元素を同時に高感度に分析できるようにする。
【解決手段】
マイクロチップ１は、基板３０と、基板３０の内部に形成された流路２３と、基板３０の平坦な表面の一部からなり、流路２３の出口が開口９ｃとして形成され、その開口９ｃから溢れ出た測定対象液が基板３０の平坦な表面にとどまって分析試料となる分析部１０とを備えている。このマイクロチップ１を使用して、分析部１０に測定対象液を分析試料として溢れ出させ、好ましくは分析試料を乾燥させた後、１次Ｘ線を全反射の条件で入射させて蛍光Ｘ線を検出する。 （もっと読む）

【課題】 判定対象物に含まれる特定物質のＸ線分析において、処理にかかる時間の短縮化、さらには作業工程の簡易化や判定対象物の処理量の向上を図る。
【解決手段】 判定対象物１０６における特定物質の含有を判定する方法において、判定対象物１０６にＸ線を照射し、判定対象物１０６のスペクトルを測定する測定工程（Ｓ３）と、判定対象物１０６のスペクトルと、判定対象物１０６に応じて予め記憶されている基準スペクトルと、における特定物質の成分を比較し、判定対象物１０６に特定物質が所定の値以上含まれるか否かを判定する判定工程（Ｓ４）とを備える。 （もっと読む）

【解決手段】 本発明は物品のラベル付け、検出、および管理するための方法、およびその装置を提供する。本発明の方法は物品のラベルを定義する工程を含む。前記ラベルは、前記物品の少なくとも１つの固有の化学元素および／または付加的化学元素を有し、ラベル付けされたデータを含有するデータベースを提供する工程と、物品により送信される信号を検出して検出データを生成し、前記データを前記データベース内のデータと比較する工程と、前記比較テストにしたがって、検出される物品が前記ラベル付けされた物品であるか否かを決定する工程と、前記データベース内の前記物品の少なくとも１つのメッセージを読み込む工程とを有する。本発明の物品ラベル付けおよび検出ソリューションは、識別、物品ラベル付け、別の物品との交換の防止、ロジスティック管理、統計分析、資産の保護、および責任所在の追跡など様々な分野の社会経済的管理および経営管理に使用可能なものである。 （もっと読む）