【課題】 電子プローブマイクロアナライザを用いる地質年代測定と年代マップの表示を効率よく行う。
【解決手段】 （ａ）の分析領域Ｒに設定されているグリッド状の分析点（白丸で示す）と（ｂ）の分析領域に対応した反射電子像（原子番号の高い部分を黒く表示）の位置を対応させた状態が（ｃ）である。（ｄ）の棒グラフは、（ｃ）の直線Ｌ上に位置する分析点Ｌ１〜Ｌ１２における反射電子強度を表す。閾値Ｈ以上の反射電子強度を持つ分析点のみを測定対象とすると、（ｅ）中のＲ１〜Ｒ３は反射電子強度が閾値Ｈ以上の条件を満たす測定対象領域である。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、簡便に粉砕した熱可塑性の廃プラスチックに含まれる有害物質含有量の測定を行い、粉砕した熱可塑性の廃プラスチックの有害物質含有量基準が存在するプラスチック製品への再利用方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は、粉砕した熱可塑性の廃プラスチック中に含まれる微量成分の測定方法であり、
・粉砕した廃プラスチックを均質化する工程（ｂ）、
・均質化した粉砕廃プラスチックより一部を抜き出し、加熱溶融混練して固形粒状物に変換する工程（ｃ）、
・固形粒状物より一部を抜き出し、固形粒状物に含まれる微量成分を分析する工程（ｅ１）、
を有することを特徴とする廃プラスチック中に含まれる微量成分の測定方法である。 （もっと読む）

【課題】高強度化、高導電率化とともに、優れた曲げ加工性を兼備した銅合金を提供することを目的とする。
【解決手段】強度と導電率とのバランスからＮｉ、Ｓｉ、Ｔｉを各々特定量含有する銅合金組織の、５０〜２００ｎｍの特定サイズの析出物の数密度を保証した上で、この範囲のサイズの析出物に含まれるＴｉの平均原子濃度を一定範囲に制御して、一定量のＴｉ含有析出物を存在させ、このＴｉ含有析出物による結晶粒成長抑制のピン止め効果によって、平均結晶粒径を２０μm 以下に微細化させ、前記銅合金に高強度、高導電率および曲げ加工性を兼備させる。 （もっと読む）

【課題】 メッキ被膜の微量成分検査等において、分析目的元素が被膜又は下地のどちらか又は両方に含まれているかを迅速に判別する方法を提供する。
【解決手段】 被膜のみに含まれている分析目的元素から発生する２種類の特性Ｘ線ピーク強度測定値の強度比ｎ（＝Ｂｐ／Ａｐ）及び下地のみに含まれている分析目的元素から発生する２種類の特性Ｘ線ピーク強度測定値の強度比ｍ（＝Ｂｂ／Ａｂ）が被膜の膜厚に応じて変化する関係を表す関係式を用いて、膜厚が既知のとき、膜厚に対応するｎとｍを被膜及び下地について関係式により求め、ｎとｍ及び２種類の特性Ｘ線ピーク強度測定値Ａ（＝Ａｐ+Ａｂ）とＢ＝Ｂｐ+Ｂｂ）とから、ＡとＢを下地に起因する測定強度の推定値（Ａｂ、Ｂｂ）と被膜に起因する測定強度の推定値（Ａｐ、Ｂｐ）にそれぞれ分離して求める。 （もっと読む）

【課題】それぞれ異なる分光結晶を搭載する複数のＸ線分光器を装備し各Ｘ線分光器毎に検出する波長を設定して複数の元素の同時分析を行う波長分散型のＸ線分析装置において、Ｘ線分光器に対する分析対象元素の割り当てを適切に行うことで測定回数を減らしながら正確な測定を行う。
【解決手段】複数の分析対象元素の中で濃度の低い順に、より高い感度での分析が可能な分光結晶と特性Ｘ線の種類の組合せを選択し（Ｓ２、Ｓ３）、選択した分光結晶が装置に装備されているか否か、既に他の分析対象元素に割り当てられているか否か、さらには選択された特性Ｘ線に他の元素の特性Ｘ線の重畳がないかどうか、をそれぞれチェックし（Ｓ４〜Ｓ７）、問題がなければ選択された分光結晶（Ｘ線分光器）に分析対象元素を登録する（Ｓ９）。これを濃度の低い順に繰り返して、全元素をＸ線分光器に割り当てる。 （もっと読む）

原子力発電所の伝熱面の表面から物質の試料を摘出し、試料の高解像度走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光法と、試料の走査透過電子顕微鏡/制限視野電子線回折/スポット分析および元素マッピング分析との少なくとも1つを行うことをも含む、原子力発電所の伝熱面の表面上の堆積物中の結晶を分析する方法。
（もっと読む）

【課題】メッキ中の鉛含有量を容易に検出することができる分析技術を提供する。
【解決手段】金属基材、該金属基材上にメッキされた第１の金属成分と５重量％以下の鉛を含有するメッキ層と有するメッキ標準物質を用いて蛍光Ｘ線分析を行い、検量線を作成する。 （もっと読む）

【課題】鋼材の流通管理を円滑にし、異材の流出や混入の防止を容易にしたチェックシステムを提供する。
【解決手段】携帯Ｘ線分析装置（１）に識別ラベルの読取装置（２）を併設したもの、データを入力したコンピュータ（３）、出力をコンピュータに送るためのコンバータ（４）、およびコンピュータの判定した結果を掲示する電光掲示板（５）でチェック装置を構成する。出荷に当たり、対象となる鋼材に、あらかじめ溶解番号などのデータを表示した識別ラベルを貼るとともに、その溶解番号に対応したレードル値と、同一性の判定基準値とをコンピュータに入力しておく。携帯Ｘ線分析装置で鋼材の合金組成を測定するとともに、識別ラベルを読み込み、得られた分析値と溶解番号とをコンピュータに送り、判定基準値を利用して同一性を判定し、その結果を、必要な指示とともに出荷現場の電光掲示板に掲示する。入庫の場合は、規格値をコンピュータに入力しておき、同一性の判定基準値を利用して分析値と規格値との同一性を判定する。 （もっと読む）

【課題】成分表に示された試料の物質を構成する元素の種類及び濃度に虚偽申告がないか
または異物質の混入がないかを自動的であって容易かつ正確に検出し、検査者に認識させ
、検査を工数及びコストを削減して行える検査装置を用いた検査方法を提供する。
【解決手段】試料に１次Ｘ線を照射する１次Ｘ線照射ステップＳ２と、２次Ｘ線を検出器
により検出する２次Ｘ線検出ステップＳ３と、２次Ｘ線から検出元素の種類及び濃度を元
素検出部により検出する元素検出ステップＳ４と、基準元素の種類及び濃度と検出元素の
種類及び濃度とを比較し一致するか判定部により判定する判定ステップＳ５と、基準元素
の種類及び濃度と検出元素の種類及び濃度とが異なる場合、警告部により警告を発する警
告ステップＳ７とを具備したことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】試料の種類及び濃度を検出しながら、外観では判断できない装置自体の性能上の
異常を、自動的かつ即座に検出することにより、より正確な試料の検査を行うことができ
る検査装置、該検査装置を用いた検査方法を提供する。
【解決手段】試料３を構成する第１の元素の種類及び濃度を検出するＸＲＦ装置１００に
おいて、試料３と、第１の元素とは異なる、種類及び濃度が既知な第２の元素から構成さ
れた基準部材４とに、１次Ｘ線２０を照射するＸ線管１と、１次Ｘ線２０の照射により、
試料３から発生する第１の元素特有の第１の２次Ｘ線２１を検出するとともに、基準部材
４から発生する第２の元素特有の第２の２次Ｘ線２２を検出する検出器５とを具備し、基
準部材４は、１次Ｘ線２０の光路上に設けられていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】各種材料、製品、部品よりなる被検体に、ＲｏＨＳ指令で規制対象となっている六価クロムが検出される可能性があるクロメート膜が存在する可能性の有無を、非破壊で迅速に検査・判定することが可能となる有害材料判定方法および装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線で励起した特性Ｘ線を用いてクロムの有無を検査し、クロムを検出した場合に、クロムがある特性値以下であり、アルミニウムがある特性値以上、銅がある特性値以上、亜鉛がある特性値以上、およびニッケルがある特性値以上の少なくともいずれか一つの条件が充足された場合に、クロメート膜が存在する可能性があると判定する。 （もっと読む）

【課題】基材上のメッキ膜中の検査対象元素の有無の判定や定量を可能にする標準メッキ膜試料およびこの試料を用いた新規なメッキ膜の検査技術を提供する。
【解決手段】プラスチック基材上にメッキ膜を形成した後、このメッキ膜に対し化学的および物理的損傷を実質的に与えない方法でプラスチック基材を除去して標準メッキ膜試料を得る。この標準メッキ膜試料から求めた検査対象元素の濃度と、標準メッキ膜試料から蛍光Ｘ線分析法により求めた検査対象元素の特性Ｘ線強度とから、標準メッキ膜試料中の検査対象元素の濃度と特性Ｘ線強度との関係を求め、基体上メッキ膜中の検査対象元素についての特性Ｘ線強度から、この関係を用いて、基体上メッキ膜中の検査対象元素の濃度を求める。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、微小ビームで励起した蛍光X線を用いて、実装はんだおよびプリント板実装部品に、規制対象となっている鉛が含まれるか否かを検査・判定するためのインテリジェント化された分析装置及び方法を提供することを目的とする。
【解決手段】上記課題は、Ｘ線で励起した特性Ｘ線による元素マッピングを用いて電子部品に含有される特定物質を分析する分析装置であって、特定物質を構成する任意の元素に関し、エネルギーの異なる２種類以上の特性Ｘ線を用いることによって、第一の元素と第二の元素とが共存を示す分布を２種類以上取得する共存分布取得手段と、前記２種類以上の分布の差分を取得する差分分布取得手段と、前記差分を示す分布によって前記電子部品の部品内部における前記第一の元素と第二の元素の存在を判定する内部共存元素判定手段とを有する分析装置によって達成される。 （もっと読む）

【目的】
本発明は、溶液中に含まれる元素を蛍光X線分析法で高精度に定量分析する手法を提供し、飲料の品質管理や、河川水や湖・沼水、地下水などの陸水に関しての環境評価等の化学分析分野で活用するものであり、実験室内で高精度溶液分析を実施する溶液試料中の元素濃度を簡便にスクリーニングする手法としても利用可能である。
【構成】
疎水剤を塗布した有機高分子膜上に溶液試料を滴下・乾固させて、その残渣を蛍光X線分析法によって分析することで、溶液中の元素の濃度を定量分析する方法であり、標準溶液を前述した方法で調整・分析し、X線強度と濃度との相関関係を明らかにすることで、定量の下限と精度の検証を行う構成。 （もっと読む）

【課題】 プラスチック中の微量カドミウムの量を正確に測定できるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 Ｒｈターゲットを有するＸ線管５と、プラスチック試料４間に、Ｘ線フィルタ６が配置されている。第１Ｘ線フィルタ６ａはジルコニウムからなり、第２Ｘ線フィルタ６ｂは銅からなり、第３Ｘ線フィルタ６ｃはモリブデンからなる。第１フィルタ６ａの厚さは１００μｍ程度、第２フィルタ６ｂの厚さは２００μｍ程度、第３フィルタ６ｃの厚さは４０μｍ程度である。 （もっと読む）

【課題】水溶液中に存在する微量元素の濃度分析を、蛍光Ｘ線分析装置を使用し、簡便に比較的高いレベルの精度で行うことができる水溶液中の微量元素分析方法の提供。
【解決手段】微量元素を含む水溶液１を吸着材２ともに煮沸容器３に入れ、これを加熱して水分を蒸発させ、水分蒸発後に残った煮沸容器内の吸着材を含む固形成分５を微粉状又は粒状にすりつぶし、得られた粉状又は粒状試料中の微量元素の含有量を、蛍光Ｘ線分析装置９を用いて計測する。 （もっと読む）

本発明は、次のような校正用の標準セットに関する。すなわちこの標準セットは、少なくとも３つの校正標準を含み、これらの校正標準は、元素Ｃｄ、Ｃｒ、Ｐｂ、ＨｇおよびＢｒを含む熱可塑性ポリマーからなる成形体から構成される。この場合、これら３つの校正標準のいずれにおいても、ＣｒとＰｂとＨｇとＢｒとＣｄの比が異なる。本発明は、これら校正標準を製造する方法と、Ｘ線蛍光分析のためにこれら校正標準を使用することにも関する。 （もっと読む）

【解決手段】基板に重ねられた材料の層の積重ねにおける１つの層の元素組成の面密度を確立するための方法及びコンピュータプログラムソフトウェア製品である。入射する透過性放射線は、１又は複数の元素のそれぞれに関連した複数の線の特性蛍光Ｘ線放射を励起する。連続する元素の特性蛍光の強度比に関する方程式の自己一致した解によって、連続した層の面密度が決定される。 （もっと読む）

【課題】
従来の有害元素分析法では、たとえばＸＲＦは、その精度（誤差３０％〜５０％）に問題があり、判定が困難な場合がある。また、Ｘ線のエネルギーが低いことから、その測定領域は固体試料表面の数十μｍに限定されることが問題である。それを解消するために試料を冷凍，粉砕等により一様化し、粉体状態で測定することがなされているが、その時点で非破壊の状態ではなくなる。また時間もそれだけかかる。
【解決手段】
本発明はＤＴ中性子発生管内に、二次元的に配列されたα線検出器アレイを備え、中性子発生管外部に、二次元的あるいは三次元的に複数の区画に分けられた試料収納部を備え、さらにα線・γ線同時計数回路，データ収集装置を備えている。α線検出器アレイのそれぞれの個別検出器は試料収納部の各区画と１対１に対応するように配置されている。 （もっと読む）

【課題】 強度の弱いＸ線を試料に照射できるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 試料４を照射する１次Ｘ線の強度が強すぎる場合、メッシュ７がＸ線管５と試料４の間に配置される。Ｘ線管５からの１次Ｘ線１５は、メッシュ７で吸収されて遮断される。すなわち、メッシュ７の金７ｃは全波長領域にわたってＸ線吸収係数が高い材料なので、１次Ｘ線１５はその金７ｃで吸収されて遮断される。メッシュ７の開口７ｄを通過した１次Ｘ線１５’が試料４を照射する。このように、Ｘ線管５からの１次Ｘ線はメッシュ７によりその強度が弱められて試料４を照射する。 （もっと読む）