【課題】 試料から軟Ｘ線分光装置に向う軟Ｘ線をできるだけ多く回折格子に入射させて、検出される軟Ｘ線の強度を高めた軟Ｘ線分光装置を提供する。
【解決手段】 入射する軟Ｘ線を回折する回折格子と、回折格子によって回折された軟Ｘ線を検出する検出器とを備える軟Ｘ線分光装置おいて、回折格子に入射する軟Ｘ線の中心光線を挟み、回折格子に垂直で中心光線を含む平面に平行かつ中心光線に垂直な方向の曲率が０の一対のミラーを備えて、回折格子の傍らに向って進む軟Ｘ線を、ミラーによって反射して回折格子に入射させる。 （もっと読む）

【課題】本発明はＸ線分光装置に関し、広い波長範囲でＸ線の分光を再現性よく得ることができるＸ線分光装置を提供することを目的としている。
【解決手段】 試料１１から発生した特性Ｘ線１３を受ける互いにほぼ９０°の角度で配置された２つの分光素子１，２と、該２つの分光素子からの分散光を同時に受けて電気信号に変換する位置敏感検出器１５と、該位置敏感検出器の出力を記憶するメモリと、該メモリに記憶されたデータを読み出して所定の画像処理を行なう画像処理部と、該画像処理部の出力を受けて分光情報を表示する表示部と、を有して構成される。 （もっと読む）

【課題】高次光を除去するための光学フィルタなどの光学素子を光路に着脱可能に挿入するための機構として、専用のアクチュエータやそれを制御する回路やソフトウエア類を設けることをせず、回折格子を回転させるための駆動機構に従動して光学素子を移動させるようにする。
【解決手段】分光器の回折格子１０と一体化され、回折格子１０とともに回転駆動される駆動アーム２０を設ける。光路上に着脱可能に配置される光学素子２８を支持する支持体を従動アーム２２とし、従動アーム２２は回折格子１０の波長走査のための回転範囲外の回転角度範囲において駆動アーム２０と当接する位置に配置され、駆動アーム２０の当接により駆動されて光学素子２８を光路上の位置と光路から外れた位置との間で移動させるように変位可能に構成されている。 （もっと読む）

【課題】測定所要時間を延ばすことなく信号のノイズを低減し、吸光度等の計算値の精度を向上させる。
【解決手段】被測定試料の透過光による試料側測定信号及び参照試料の透過光による参照側測定信号については、セクタ鏡の回転に伴う１サイクル中に得られるデータのみを積算し平均値を算出する。一方、光検出器に光を入射しない暗信号については、複数サイクルに跨って得られるデータを積算し平均値を算出する。暗信号は時間経過に伴う変化が緩慢であるため、複数サイクルに亘る積算を実行しても信号の鈍り等の問題が生じない。３サイクルに亘る暗信号データの積算を行うとノイズは従来の１／√３に下がるため、１サイクルの時間、即ち測定所要時間が従来と同じでも暗信号を除去した測定信号のＳＮ比を改善することができる。 （もっと読む）

【課題】簡便且つ効率良く試料を所望の温度に調節することが可能な分光測定装置を提供すること。
【解決手段】分光測定装置１Ａは、測定対象の試料Ｓから発せられる被測定光を観測するための積分球２０と、試料Ｓが覆われるように試料Ｓの温度を調節するための媒体Ｒを保持すると共に、第２容器部５０ｂが積分球２０内に臨むように位置するデュワ５０と、を備えている。試料Ｓが覆われるように媒体Ｒを保持するデュワ５０を用いることにより、簡便に試料Ｓを所望の温度に調節することができる。第２容器部５０ｂが積分球２０内に臨むように位置することにより、積分球２０の外部環境からの試料Ｓへの影響を抑制しつつ、試料Ｓの温度を媒体Ｒにより調節することができる。したがって、効率良く試料Ｓを所望の温度に調節することもできる。 （もっと読む）

【課題】所望の温度に冷却した状態の試料を測定する場合でも、結露の発生を防ぐことが可能な分光測定装置を提供すること。
【解決手段】分光測定装置は、測定対象の試料Ｓが内部に配置され、試料Ｓから発せられる被測定光を観測する積分球２０と、試料Ｓを冷却するための冷媒Ｒを保持すると共に、少なくとも一部が積分球２０内に臨むように位置するデュワ５０とを備えている。冷媒Ｒから発生したガスは、ガス導入路として機能する所定の間隙Ｇ１〜Ｇ６及び支持台６１に形成された複数の連通路６４を通って、積分球２０内に導入される。積分球２０内に導入されたガスは、積分球２０内の水分を吸収し、積分球２０内の温度を低下させ、デュワ５０の第２容器部５０ｂにおける積分球２０内に露出している部分に結露が生じるのを防ぐ。 （もっと読む）

【課題】ノイズの出方が波長によって異なる場合であってもノイズが適切に除去される分光データ処理装置を提供する。
【解決手段】分光データVからのノイズの除去にあたっては、一の光の強弱に関する値V(i)に着目し、閾値THL,THUによって決まる範囲THL〜THUから、差値V(i)-T(i)が外れるか否かを判定する。続いて、外れると判定した場合は、光の強弱に関する値V(i)にノイズが重畳しているとみなして、光の強弱に関する値V(i)を基準値T(i)により近い値V'(i)に置換する。この処理を光の強弱に関する値V(1),V(2),…,V(m)の全部に対して行うことにより、ノイズを除去した分光データV'が得られる。閾値THL,THUは、波長区分W(1),W(2),…,W(n)ごとに独立している。 （もっと読む）

【課題】検出部への光量が低減することがなく、測定の感度の低下を回避し、高精度の測定ができる積分球及び測光装置を提供する。
【解決手段】測定対象光源１００の特性を測定する測光装置１に使用される積分球２であって、測定対象光源１００からの光が入射する入射部開口２２と、積分球２の内壁面２１で拡散された拡散光が検出部３へと出射する検出部開口２３とを有する積分球２において、フッ素樹脂の固体ブロックを使用して、内部が球面状の中空とされる積分球ブロック２を作製し、積分球ブロック２の外周囲は、２０入射開口２２及び検出部開口２３を除いて反射板５で囲包する。 （もっと読む）

【課題】非線形ラマン散乱光測定装置において、被検体を構成する複数種類の分子を分析する際の測定速度を高める。
【解決手段】光走査部１０により、ポンプ光Ｌｐと被検体１を分析するための互いに異なる波長を持つ空間的に分離された複数の光成分Ｓｐ（ｋ）を有するストークス光Ｌｓとを被検体１上へ走査して、空間的に分離された各光成分Ｓｐ（ｋ）それぞれを被検体１の各検出位置Ｒ（ｉ，ｊ）へポンプ光Ｌｐと同時に照射する。スペクトル測定部６０により、その照射を受けた各検出位置Ｒ（ｉ，ｊ）それぞれから各光成分Ｓｐ（ｋ）の照射毎に発せられた非線形ラマン散乱光Ｌｃ（ｉ，ｊ、ｋ）それぞれのスペクトルを得る。 （もっと読む）

本発明は、可変振幅及び／又はピーク間持続時間を有する複数の比較的高い電流及び高い勾配のピークを含む第１の変調部分と、変調ピークを実質的に持たない比較的低い電流及び低い勾配の第２の変調部分とを含む電流波形を有する発光分光測定（ＯＥＳ）のためのスパークを発生させるスパーク発生器を提供する。好ましくは、スパークは、２つ又はそれよりも多くのプログラマブル電流源から発生される。本発明はまた、スパーク発生器を備える発光分光計と、スパーク発生器を用いた発光分光測定の方法とを提供する。 （もっと読む）

【課題】センサ全体を大型化することなく、単一のセンサ素子で異なる波長帯を有する複数の紫外線を検出すること。
【解決手段】紫外線センサ１は、基板２と、この基板２上に形成され、第１の波長を有する第１の紫外線により抵抗値が変化する第１の感応膜３と、前記基板２上に形成され、前記第１の波長と異なる第２の波長を有する第２の紫外線により抵抗値が変化する第２の感応膜５と、前記第１及び第２の感応膜３，５にそれぞれ形成された第１及び第２の個別電極６，７と、前記第１及び第２の感応膜３，５に跨って形成された共通電極８と、を備え、前記第１及び第２の個別電極６，７と前記共通電極８との間における抵抗値または電流値の変化を検出する。 （もっと読む）

【課題】透過または反射スペクトルが測定可能であり、上述の制約を受けない波長分光装置を提供する。
【解決手段】本発明は、基板上に、スペーサ膜によって離間された２つのミラーで構成されるフィルタ・セルＣＦを備え、該フィルタ・セルが複数の干渉フィルタで構成される波長分光装置に関する。さらに、上記装置は複数の放射源を備える放射セルＣＥをさらに備え、上記放射源が各々上記干渉フィルタの１つと関連付けられる。
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【課題】全ポートの波長情報を瞬時に特定してモニタすることができ、構造が簡単で小型の波長モニタ装置を提供する。
【解決手段】波長モニタ装置１０は、共通ポート(COM port)および入出力ポート（１^stport〜９^thport）と、各ポートからの入射光をコリメート光にするコリメータ１１〜２０と、回折格子２１と、回折格子２１で分光された光を集光する集光レンズ２２と、使用帯域の波長（λ１〜λ４５）の光を透過する波長選択特性を有するフィルタ２４と、フィルタ２４をそれぞれ透過した光を受ける二次元ＣＣＤアレイ２５と、を備える。二次元ＣＣＤアレイ２５の出力信号に基づき、各ポートからどのような波長の光が入射されたかを、複数の画素の列番号と行番号からなるアドレスにより瞬時に特定してモニタすることができる。 （もっと読む）

【課題】簡便に持ち運びできるように小型化でき、蛍光画像情報と形状画像情報とを両方検出可能にするとともに、測定対象物の温度上昇を防止できる分光イメージング装置を提供する。
【解決手段】２次元分光センサ３０には、半導体光電変換素子が２次元アレイ状に並べられている。測定対象となる試料プレパラート３１に半導体発光素子３２から白色光を照射して、試料からの透過光を検出して、試料の構造や形状に関する可視画像を取得する。他方、半導体発光素子３２から励起光を試料プレパラート３１に照射して、試料からの蛍光を検出して、蛍光画像を取得する。上記可視画像及び蛍光画像を得るために、半導体光電変換素子は、光電変換領域の深さ方向の幅又は位置を変化させることで分光を行っている。 （もっと読む）

【課題】 非常に良好な像質と小歪曲を有する小型のイメージング分光計を提案すること、及び良好な像質と、ゼロでない前方距離を有する冷却イメージセンサの使用に特に適合するように入射スリット及び／又はセンサを位置決めするためのより大きい柔軟性とを与えるイメージング分光計を提供すること。
【解決手段】 本発明はＸ方向に伸びる入射口（１）と、出射口と、凹面支持体上に線集合を備える回折格子（４）と、レンズ（２）を備える光学系とを備えるダイソン型イメージング分光計に関し、前記レンズは平面の第１面（８）と凸の第２面（３）を備え、前記レンズの前記凸面と前記回折格子の前記凹面は同心であり、前記光学系は、前記入射口から来る入射光ビームを受け、それを前記回折格子に向け、前記回折格子により回折されたビームを受け、前記回折されたビームのスペクトル像を前記出射口の平面（７）内に形成するように構成され、前記スペクトル像は前記入射口の像の延長方向Ｘ’に空間分解されように構成される。本発明によれば、回折格子（４）は非平行かつ不等間隔の線集合を備え、かつ／あるいは回折格子の支持体は、改良された像質と非常に小さい歪曲の入射口の像を出射平面内に形成するために非球面である。 （もっと読む）

【課題】より短時間かつ高精度にスペクトルを測定可能な光学特性測定装置および光学特性測定方法を提供する。
【解決手段】処理装置は、補正領域で検出された信号強度に基づいて、補正値を算出する（ステップＳ２０４）。続いて、処理装置は、ステップＳ２０２において取得された検出領域で検出された測定スペクトルに含まれる各成分値から、ステップＳ２０４において算出した補正値を減じることで補正測定スペクトルを算出する（ステップＳ２０６）。ここで、検出領域は分光器からの光の入射面に対応する領域であり、補正領域は分光器で分光された光が入射しない領域である。 （もっと読む）

ハイパースペクトルおよびマルチスペクトル撮像のための装置および方法について述べる。具体的には、画像マッピング分光計システム、使用方法、および製造方法を示す。概して、画像マッピング分光計は、画像マッピングフィールドユニットと、スペクトル分離ユニットと、選択的撮像素子とを含む。画像マッピング分光計を、光学試料のスペクトル撮像に使用してもよい。ある実施例では、画像マッピング分光計の画像マッピングフィールドユニットを、表面成形ダイヤモンドツールを用いて製造できる。
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【課題】蛍光物質を含む複数の試料を走査し、各試料の光学特性を、短時間で正確に測定できる光学特性測定装置を提供する。
【解決手段】照明部２、３と、放射光１ａの分光分布を測定する分光部５と、試料の光学特性を算出する演算制御部６とを備えた光学特性測定装置１０であって、照明光２ａおよび３ａは、蛍光物質の励起光の励起波長域と蛍光波長域との相対分光分布において、互いに異なる分光分布を有し、分光部は、放射光の異なる波長成分を受光する複数の受光素子を有し、受光素子ごとに異なる位相で受光した各波長成分を積分して読み出す電荷蓄積型センサアレイを備え、センサアレイは、各受光素子が受光した各波長成分を積分して読み出す動作を繰り返し複数回行い、演算制御部は、試料に照明光３ａを照射する期間が、蛍光の波長成分を受光する各受光素子の積分期間内であるように、照明光２ａ、３ａの照射を制御することで試料１の光学特性を測定する。 （もっと読む）

【課題】各チャネルの信号光の強度だけでなく、信号光の波長およびノイズ光の強度についても監視が可能な光波長多重信号監視装置および方法を提供する。
【解決手段】Ｍ本の入力導波路とＮ本の出力導波路を備えるアレイ導波路回折格子（ＡＷＧ）において、出力導波路は、各透過波長がΔλ間隔になるように配置されており、入力導波路は、各透過波長がΔλ＋ｕ間隔になるように配置される。このとき、ｊ番目（ｊ＝１，２，・・・，Ｍ）番目の入力導波路から、ｉ＋Ｍ−ｊ番目（ｉ＝１，２，・・・，Ｎ−Ｍ＋１）の出力導波路への透過波長は、順次ｕずつシフトする。この特性を利用し、ＡＷＧの入力導波路を切り替えながら所定の出力導波路へ出力される光強度を検出すれば、所定の透過バンド幅を透過する光強度を、順次透過中心波長をシフトしながら検出することになる。これにより、各チャネルの信号光の強度だけでなく、光強度スペクトルを測定することができる。 （もっと読む）

分光計の検出器の温度値を求めるための分光法の構造及び方法。オプトエレクトロニクス検出器における温度変動を補償するために、サーマル温度センサによって検出器温度を検出することが知られている。検出器と温度センサの間の有限距離に基づき、温度検出の精度が限定される。本発明により、検出器温度を高い精度と少ないコストで判定可能にすることが意図される。入射光をスペクトル分解する手段、及び分割された光のスペクトル領域をスペクトル分解検出するための光検出器に加えて、当該スペクトル領域の部分領域を検出するための第２の光検出器が参照検出器として設けられ、参照検出器の感度は実質的に温度非依存性である。これら両方の検出器の信号の比率は、参照検出器の感度の温度非依存性に基づき、第１の検出器の相対的な温度を表す高度に正確な目安となり、少ないコストで求めることができる。

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