説明

Fターム[2G051BB02]の内容

光学的手段による材料の調査の特殊な応用 (70,229) | 照明用光学系 (5,008) | 特定の配置、方向 (2,004) | 複数対称配置 (237)

Fターム[2G051BB02]に分類される特許

221 - 237 / 237


【課題】 個人差、個人の状態差の影響を受けることなく、色むらの有無、程度などを精度よく検査する。
【解決手段】 モアレを除去できるように集光光学系34の焦点を調節して撮像装置35により基板31を撮像し、撮像データに基づいて色むらの有無、程度などを検査する。 (もっと読む)


糸(9)を光学走査するための装置(1)は、第1スペクトル領域で糸(9)を光学走査するための第1光学走査手段(21、3)と、第1スペクトル領域とは異なる第2スペクトル領域で糸(9)を光学走査するための第2光学走査手段(22、3)とを含む。第1光学走査手段(21、3)および第2光学走査手段(22、3)は、第1スペクトル領域で反射し、ただし第2スペクトル領域では反射しない背景(4)の前に配置される。したがって、本発明は、明色背景(4)を用いた測定と暗色背景(4)を用いた測定の利点を一本化する。したがって、糸の明色の異物も暗色の異物も確実に認識することができ、異なる異物は相互に区別することができる。 (もっと読む)


【課題】不規則な切削加工痕が存在する表面でも、鋳巣や圧痕などの表面欠陥の安定的な検出を可能にすること。
【解決手段】 ワークの加工面である検査平面5に対して垂直に配設される面照明1としての同軸的に配設された中心面照明11と環状面照明12と、前記ワークの検査平面5によって反射した反射光を受光するレンズ2および該レンズ2が受光した反射光により撮像される前記ワークの検査平面5の画像の位置にCCD素子30が配設されるカメラ3を配置した検査ヘッド4と、ロボット6と、画像処理装置7と、ロボットコントローラ8と、制御装置9と、面照明の明るさを調節可能な電源10とから成り、前記ワークの検査平面5における加工痕を消すために前記ワークの検査平面の欠陥以外の部分を撮像する前記CCD素子30が飽和気味になるように、レンズの絞りとカメラの露光時間と面照明の明るさが調整される欠陥検査装置および欠陥検査方法。 (もっと読む)


【課題】液晶基板などの大型基板の外観検査用投光装置において、装置の高さを押さえ、小型化を図る。
【解決手段】本発明の外観検査用投光装置は、照明光源と、この照明光源からの光を被検査部材に向けて反射させる反射光学系と、この反射光学系の反射光路に配置される集光光学系と、を具備し、前記集光光学系は少なくとも2分割され、これら分割された各集光光学系からの照明光束により前記被検査部材の全面を照射可能とした。 (もっと読む)


表面に関する情報を検出する装置は、表面についての2次元情報を取得するように配置される第1の複数の光学要素と、表面についての表面凹凸形状情報を取得するように配置される第2の複数の光学要素とを備え、第1の複数の光学要素、および、第2の複数の光学要素は、単一センサアレイの少なくとも部分的に重ならない部分に、2次元情報および表面凹凸形状情報を同時に提供するように配置される。
(もっと読む)


【課題】可視画像から精度よくひび割れを検出することのできる検出方法及び装置を提供せんとするものである。
【解決手段】本発明にあっては、物体表面を照らす光源2の角度を変化させながら複数枚の画像を撮影し、各画像の同一測定対象部位の画素値を比較することによってひび割れHであるか否かを判定するようにしている。
ひび割れHである場合には、同一の測定対象部位であれば光源2の角度が異なっても同一の画素値が得られる。これに対して、黒い汚れや影等である場合は、同一測定対象部位についての画素値が光源2の角度によって異なる。従って、異なる角度から照射した同一測定対象部位についての画素値を比較することにより、真実のひび割れか、汚れや影であるかの判断が高精度に可能である。 (もっと読む)


【課題】反射防止フィルムの欠陥検出を自動的に行うこと。
【解決手段】反射防止フィルム20の欠陥を検出する装置であって、所定の検査位置に配置された被検体である反射防止フィルム20にコヒーレントな検査光aを照射する光源部1と、検査光aが被検体で反射してなる反射光bを、検査光aの偏光方向と同一方向に偏光してなるP偏光成分と、P偏光成分と直交する方向に偏光してなるS偏光成分とに分離する偏光ビームスプリッタ15と、P偏光成分およびS偏光成分の強度と、良品の反射防止フィルムから得られるP偏光成分およびS偏光成分の強度との差が、それぞれ予め定めた第1および第2の閾値を超えている場合には被検体に欠陥有りと判定し、それぞれ第1および第2の閾値以内である場合には被検体に欠陥無しと判定する欠陥検出部23とを備える。 (もっと読む)


【課題】高密度実装基板における半田フィレットの良否判定を高精度に行うことのできる技術を提供する。
【解決手段】基板検査装置は、まず第1ロジックに従って、検査画像から青系色の第1画素領域を抽出し、第1画素領域がもつ特徴量が第1判定条件を満足するか判定する。次に、基板検査装置は、第2ロジックに従って、検査画像から赤系色の第2画素領域を抽出し、第2画素領域がもつ特徴量が第2判定条件を満足するか判定する。そして、第1ロジックおよび第2ロジックの判定結果が共に真の場合に検査対象部品を良品と判定する。 (もっと読む)


【課題】基板検査装置に用いられるパラメータを自動生成可能な技術を提供する。
【解決手段】パラメータ設定装置が、対象画像の各画素の色を対象点として、除外画像の各画素の色を除外点として、それぞれ色空間(色ヒストグラム)にマッピングする。そして、色空間を分割する色範囲であって、そこに含まれる対象点の数と除外点の数の差(度数合計値)が最大となるような色範囲を求め、求められた色範囲を基板検査で用いられる色条件(色パラメータ)として設定する。これにより、検査用のパラメータの1つである色条件が自動的に生成される。 (もっと読む)


【課題】
すり板側面のみが摩耗しておりすり板上面が摩耗していない場合、その部分のエッジを測定しすり板の厚さにすると、すり板の幅方向に連続して摩耗している本来求めたいすり板の厚さと異なってしまう。
【解決手段】
平滑化処理を行い、すり板側面のみが摩耗しておりすり板上面が摩耗していないすり板のエッジは検出しないようにし、その後、検出したすり板のエッジ上部とエッジ下部の輝度を測定し、輝度差が所定値以内の場合に荒損と判定する機能を設けた。 (もっと読む)


【課題】 部品の抽出結果が適切であるか否かを簡単かつ正確に把握できるようにする。
【解決手段】 濃度変化の方向を示す角度データ(エッジコード)について、4つの角度範囲にそれぞれ赤、緑、青、白の色彩を割り当てる。部品実装状態の検査のためにエッジコードによるモデル(マッチングモデル)を登録すると、所定の基準基板の画像から生成したエッジコード画像をこのマッチングモデルにより照合し、部品に対応する画像領域を抽出する。さらに、処理対象の画像上のエッジコードをそれぞれ割り当てられた色彩に置き換えたカラー画像を生成して表示するとともに、このカラー画像上にマッチングモデルにより抽出された画像領域を着色表示する。さらにこの表示の隣には、前記マッチングモデルの各エッジコードを色彩に置き換えた画像(表示用モデル)を表示する。 (もっと読む)


【課題】 表示装置の製造方法において基板上に被着された材料の全ての欠陥を自動的に検出できる検査方法及びそれに使用する検査装置、この検査方法を適用する表示装置の製造方法、前記検査方法において画像データを個々の表示セルに相当するデータに分割する画像処理方法及びそれに使用する画像処理装置を提供する。
【解決手段】 カラーフィルタが形成された基板の画像データ21について、各位置の階調を垂直方向に加算して水平方向の位置に対応した階調加算プロファイル22を求める。同様に、垂直方向の階調加算プロファイル23を求める。次に、階調加算プロファイル22及び23の各位置について、表示セル11の設計長さに相当する範囲の標準偏差を算出し、標準偏差プロファイルを求める。そして、標準偏差プロファイルの極小値を各表示セルの座標として、画像データを表示セル毎のデータに分割し、表示セル毎に欠陥判定を行う。 (もっと読む)


【課題】面状に光照射に対する正反射光を入射させるイメージセンサの撮像特性に応じて微細に塗面を検査し得る塗面検査装置を提供する。
【解決手段】検査対象塗面を面状に光照射する面光源10と、検査対象塗面での正反射光を入射させるイメージセンサとしてのアバランシェ増倍型撮像カメラ21と、その画像信号のレベル変化を検出する画像処理により、塗面の欠陥の有無を検査する画像処理装置20とを備える。面光源10が、それぞれの光軸が円弧中心点に一致するように、円弧状に配列された複数個の発光ダイオードを奥行き方向へ配列した前記発光ダイオード群による光源と、この光源に円弧中心点の前方で対面し、かつこの円弧中心点を焦点とするフレネルレンズとを備えると共に、このフレネルレンズが、円弧状配列の複数個の発光ダイオードのそれぞれの光軸を含む光軸面に沿って焦点を通過する各発光ダイオードの照射光を光軸面に沿って平行に出射させる。
(もっと読む)


【課題】物品の所定の位置に発生する不良を確実に検出することができる不良検査方法及びその装置を提供する。
【解決手段】物品2の被検査面の所定位置に発生する線状に延びる窪み部11を不良としてその有無を検査する不良検査方法であって、被検査面を撮像する第1撮像工程と第2撮像工程とを設ける。第2撮像工程に先立って、被検査面の中心を通る垂線を軸とした物品2の回転角度を検出する角度検出工程を行い、次いで、窪み部の長手方向に交差する光の照射方向を算出する照射方向算出工程を行う。第2撮像工程においては、照射方向算出工程によって算出された方向から被検査面に向かって傾斜する指向性を有する光を照射する光照射工程を行う。第2撮像工程の後に、第2撮像工程による画像から不良が発生する領域を抽出して検査画像を生成する検査画像生成工程を行い、次いで、検査画像から不良の有無を判定する判定工程を行う。 (もっと読む)


【課題】 印刷回路基板の微細パターンを検査するための照明装置と、これを具備する自動光学検査システムおよびこれの検査方法を提供する。
【解決手段】 本発明の自動光学検査システムに具備される照明装置は、印刷回路基板パターンの平面部分を中心に反射光を出力する少なくとも一つの第1光源と、第1光源から反射光を受けて印刷回路基板に出力し、印刷回路基板から反射された光を受けてイメージセンサに出力するビームスプリッタと、印刷回路基板パターンのエッジ部分を中心に反射光を出力する少なくとも一つの第2光源および、第2光源から反射光を受けて集光して出力する集光レンズを具備し、印刷回路基板の微細パターンの映像獲得時、光の明るさおよび均一度を向上させる。 (もっと読む)


【課題】
赤外LED、赤色LED及び緑色LEDを複数個所定パターンで配置した光源を使用することにより、輝度調整や交換頻度を低減させてメンテナンス作業を簡単かつコスト安価に行うことができる農産物の外観検査装置を提供する。
【解決手段】
照明手段から搬送手段上の検査位置にある農産物に光を照射した状態で撮像手段を用いて農産物を撮像し、その撮像データからIR値による農産物の輪郭切り出しを行うと共に、切り出した輪郭内の少なくともR、Gの各値から農産物の外観を計測する農産物の外観計測装置であって、照明手段は、赤外LED、赤色LED及び緑色LEDが一組として所定の配列で複数組み合わされていることを特徴とする。照明手段の各色LEDは、マトリックス状もしくは千鳥状に配列され、検査位置で各色LEDの全てが一括して点灯・消灯される。 (もっと読む)


【解決手段】 繊維機械に供給される縫い糸又は織り糸(F)の2次元分析を含む、光学式分析装置であって、少なくとも1個の発光素子(3、4)と、少なくとも1個の受光素子(5)とを備える。発光素子(3、4)は、受光素子(5)により検知される前に、糸(F)に当たる光信号を発生し、受光素子の検知に基づいて、発光素子(3、4)と受光素子(5)間での、移動、停止、寸法的な欠陥又はその他の寸法的な特徴等の、糸(F)の特徴を明らかにする。光信号が、糸(F)と関係を持った後で、光信号により照射を受け、糸ガイドとして機能する、光透過手段(6)を介在させる。 (もっと読む)


221 - 237 / 237