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Fターム[2G051CD04]の内容

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Fターム[2G051CD04]に分類される特許

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【課題】透過率が高い導電性透明電極パターンや微細な金属配線のパターンを、インライン検査で行うための検査システムを提供する。
【解決手段】検査ワーク11を第1の方向Xに搬送するワーク搬送装置20と、検査ワーク上に形成されたパターンの光学情報を取得する撮像装置30と、第1の方向と直交する第2の方向Yに撮像装置を移動させる移動装置40と、ワーク搬送装置、撮像装置及び移動装置を制御するとともに、光学情報に基づいてパターンを検査する制御部50と、を有する。 (もっと読む)


【課題】管端部の加工部について、寸法精度と加工面の状態とを共に自動的に検査することができ、しかもインライン化が可能なよう検査装置全体のコンパクト化を可能にした、管端検査装置を提供する。
【解決手段】端部を加工した管2の管端加工部を検査する管端検査装置である。管端加工部の形状を計測するレーザ変位計42と、管端加工部の表面を撮影する撮像装置62と、レーザ変位計42及び撮像装置62を管端加工部の周方向に沿って移動させることにより、レーザ変位計42のレーザビームスポット及び撮像装置62の焦点を管端加工部の周方向に沿って周回させる回転テーブル(周回手段)と、を備える。 (もっと読む)


【課題】細穴であっても、穴壁面の付着物を容易に除去することが可能な穴検査方法及び装置を提供する。
【解決手段】先端に広角レンズ15を備えた挿入シャフト11を穴へ挿入させて、広角レンズ15を通じた画像に基づいて穴壁面を検査する際、挿入シャフト11の外周面に沿って穴の奥に向ってガス噴出機構19によりガスを噴出させる。ガス噴出機構19は、挿入シャフト11の先端側の部分を囲繞し、その内周面と挿入シャフト11の外周面との間に挿入シャフト11の長手方向に延びるガス噴出路Rを形成するガイド13と、ガイド13の内部空間にガスを供給するガス供給部14とから構成される。 (もっと読む)


【課題】スカッフィングを精度よく検出できるとともに、スカッフィングの大きさを定量的に評価できるエンジンボア表面傷の評価方法を提供する。
【解決手段】解析画像データ41を取得して、第一周波数スペクトル42を求める工程S10・S20と、フィルタリングした第一周波数スペクトル42を復元し、二次元凹凸データ45を生成するステップS30〜S50と、二次元凹凸データ45から第二周波数スペクトル46を求めるとともに、スカッフィングW3を検出するステップS60・S70と、二次元凹凸データ45から第三周波数スペクトル47を求めるとともに、フィルタリングした第二周波数スペクトル46を復元するステップS80〜S110と、復元した二次元凹凸データ49よりスカッフィングW3を評価するステップS120〜S150とを行う。 (もっと読む)


【目的】インテグレータレンズによって形成される複数の集光点に起因した光学素子の劣化を回避可能な検査装置を提供することを目的とする。
【構成】パターン検査装置100は、レーザ光を発生する光源103と、レーザ光を入射し、入射されたレーザ光を分割して光源群を形成するインテグレータレンズ206と、インテグレータレンズの入射面の手前に配置され、インテグレータレンズに入射するレーザ光を散乱させる散乱板204と、インテグレータレンズを通過したレーザ光を照明光として用いて、複数の図形パターンが形成された被検査試料におけるパターンの欠陥を検査する検査部150と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】研磨部及び再研磨部の仕上がり具合を簡単な手法で定量的に評価できる金属板の外観評価方法を提供する。
【解決手段】この金属板の外観評価方法では、金属板1の表面のデジタル画像10をスキャナ4によって取得し、デジタル画像10の一部画像11に含まれる各ピクセルのRGB値をグレースケール変換して得られるAc値の波形パターンに基づいて研磨部2及び再研磨部3の外観の可否を判断する。波形パターンを用いることで、研磨部2及び再研磨部3の外観を容易かつ定量的に判断できる。また、この方法では、波形パターンに基づいて、研磨部2及び再研磨部3の研磨方向がスキャナ4の走査方向と一致しているデジタル画像10を判断対象として選別する。この前処理により、外観判断工程で用いる波形パターンのS/N比が向上し、判断精度が高められる。 (もっと読む)


【課題】マルチコアプロセッサ12を用いても画像処理の処理性能をスケーラブルに向上させることが可能な欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】表面にパターンが形成された試料を撮像する撮像手段と、撮像手段で撮像された画像データを、複数の画像ブロックに分割する分割手段4bと、複数の画像ブロックに対してパターンの欠陥を検出する欠陥検出処理を並列に行う並列処理手段5とを備え、並列処理手段5には複数のコア13、14を有するマルチコアプロセッサ12を複数使用する。マルチコアプロセッサ12毎に、画像ブロックの欠陥検出処理が行われる。複数のコア13、14は、画像ブロックの欠陥検出処理を行う演算コア13と、画像ブロックを分割手段4bから受信する制御コア14とを有し、演算コア13が欠陥検出処理を行う画像ブロックは、制御コア14を介して用意される。 (もっと読む)


【課題】検査精度の向上を図ることのできる基板検査装置を提供する。
【解決手段】基板検査装置は、実装エリア内のクリームハンダ4及びレジスト膜5の表面の三次元計測を行うと共に、各クリームハンダ4の最高点の位置情報を基に算出した所定の平面を第1仮想基準面K1として設定し、さらに当該第1仮想基準面K1をベース基板2の表面2aに直交する方向に沿って所定位置まで降下させ、第2仮想基準面K2として設定する。そして、当該第2仮想基準面K2からの各クリームハンダ4の突出量を算出し、これを基に当該クリームハンダ4の印刷状態の良否を判定する。 (もっと読む)


【課題】 印刷と同期したリアルタイムな印刷物の検品システムにおいて、精度とパフォーマンスを両立した画像位置合わせ手段が求められる
【解決手段】 印刷原稿の複数の紙端を検知して斜行角度を計測する。位置ズレ補正のために、印刷データの印刷内容と、その印刷物の撮像データから特徴点を抽出し、特徴点同士のフィッティング処理を行うことで線形ズレ量を見積もる。その際、斜行角度を参照することでフィッティング処理時間の高速化を実現する。 (もっと読む)


【課題】検査走査終了時にレビューを完了した欠陥の数を増加させることを目的とする。
【解決手段】本発明は、被検査物と検査光学系とを第1方向に相対移動させると同時に、前記検査光学系を用いて前記被検査物を撮像して第1欠陥を検出する第1欠陥検出工程と、前記被検査物と前記検査光学系とを前記第1方向と直交する第2方向に相対移動させると同時に、前記被検査物と前記検査光学系とを前記第1方向と反対方向に相対移動させる移動工程と、レビュー光学系を用いて前記第1欠陥を撮像して第2欠陥を検出する第2欠陥検出工程と、を有し、前記第1欠陥検出工程と同時に前記第2欠陥検出工程を実施し、前記移動工程と同時に前記第2欠陥検出工程を実施することを特徴とする欠陥検出方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】試料に実在する欠陥に起因する輝度変化を、各種ノイズから分離して検出できる検査装置を実現する。
【解決手段】本発明では、試料表面上に主走査方向に整列した複数個の走査スポットを形成し、試料表面の同一の部位を、主走査方向に整列したn個の走査スポットにより所定の時間間隔で順次走査する。n個の走査スポットからの反射ビームをそれぞれ光検出素子により受光する。信号処理装置は、n個の光検出素子から出力される輝度信号中に、所定の閾値を超えると共に互いに時間的又は位置的に対応する輝度変化が存在する場合、試料上に欠陥が存在するものと判定する。本発明によれば、試料表面上に形成された欠陥に起因する輝度変化は、光源ノイズや光検出器の熱雑音から分離して検出されるので、疑似欠陥が増大することなく、欠陥の検出感度を高く設定することが可能になる。 (もっと読む)


【課題】撮像対象物のサイズに影響されることなく、高分解能で撮像対象物を撮像する。
【解決手段】複数のラインカメラモジュール110を備え、複数のラインカメラモジュール110の各々は、ラインセンサ121を含むラインカメラ120と、ラインセンサ121の長手方向に対して交差する方向であって、かつラインカメラ120の側方に配置され、ラインカメラ120の撮像領域に光を投影する照明装置130とを有し、隣接するラインカメラモジュール110との間でラインセンサ121の撮像領域が長手方向に連続するよう、ラインセンサ121の長手方向に対して交差する方向において、隣接するラインカメラモジュール110と重なり合いを有するように配置されている。 (もっと読む)


【課題】印刷検査によって取得される印刷状態計測情報に基づいて印刷不良の原因解析を合理的且つ容易に行うことができる印刷状態不良原因の解析装置および解析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】印刷検査装置M2による印刷検査において基板3のランドに印刷されたペーストの平面形状における面積値の正規の印刷面積に対する比率を示す面積率を複数のランドのそれぞれについて求めた面積率計測データ23aを、解析用データ作成プログラム23bに規定された所定の処理アルゴリズムにしたがってデータ処理して、基板に印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析するための解析用データを作成し、作成された解析用データを予め設定された不良原因特定用のデータテーブル23eと対比して印刷状態の不良原因を特定する。 (もっと読む)


【課題】構造の異なる新たなセンサに変更した場合でも変更前のセンサ用基準データを利用して印刷物を検査する。
【解決手段】ラインセンサによって計測したデータ上に、ポイントセンサによる検査領域の計測を再現する領域を設定し、設定された領域に含まれる画素値を重み係数によって変換して検査データを生成し、当該検査データをポイントセンサ基準データと比較して印刷物検査を行う。検査に利用する重み係数は、基準媒体をラインセンサによって計測したデータとポイントセンサ基準データとが所定の類似性を満たすように、投受光される光や、投受光素子の取り付け状態を考慮して決定される。重み係数の決定と当該重み係数を用いた印刷物評価とを同じ印刷物検査装置によって行う。 (もっと読む)


【課題】周期性のあるパターンを持つ被検査体のムラ欠陥を検出する場合に、映り込みの判別を短時間に行うことが出来、さらに大面積の被検査体の検査時間を短縮する検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】基板を載置して搬送する搬送手段と、基板を照明する第一の照明手段と第二の照明手段と、第一の照明手段の照明角度を変化させる第一の照明角度変化手段と、第二の照明手段の照明角度を変化させる第二の照明角度変化手段と、第一の照明手段によって照明された基板を撮像する第一の撮像手段と、第二の照明手段によって照明された基板を撮像する第二の撮像手段と、第一の撮像手段及び第二の撮像手段によって得られた画像を処理する画像処理部と、前記搬送手段と、第一と第二の照明手段と、第一と第二の照明角度変化手段と、第一の撮像手段及び第二の撮像手段と、を制御する制御部と、を備えたことを特徴とする検査装置。 (もっと読む)


【課題】回折光や散乱光等の外乱による影響を受けにくく、パターンの微細化に十分対応できる基板検査装置及びマスク検査装置を実現する。
【解決手段】本発明による基板検査装置は、検査データの取得と対物レンズ(8)の焦点データ信号の取得を並行して行う。検査中に対物レンズの光軸方向の位置を制御するオートフォーカス装置は、焦点誤差信号を出力する焦点誤差検出手段(40)と、対物レンズ位置信号又は焦点誤差信号が加算された対物レンズ位置信号により構成される焦点データ信号を用いて対物レンズの光軸方向の位置を制御する焦点制御信号を走査ラインごとに生成する焦点制御信号生成手段(60)とを有する。iを正の整数とした場合に、i番目の走査ラインの走査により取得した焦点データ信号を用いて生成された焦点制御信号は、(i+2m)番目の走査ラインを走査するときの焦点制御信号として用いられる。 (もっと読む)


【課題】貼り合わせた2つの基板層のいずれかに検査光の透過しない部分があっても、貼り合わせ界面に発生し得る微小空洞を検査することのできる基板検査装置を提供することである。
【解決手段】基板100の表面に対して斜めに入射するように検査光を帯状に照射する光源ユニット30と、前記検査光により前記基板の表面に形成される帯状照明領域を挟んで光源ユニット30と逆側の所定位置に配置されるラインセンサカメラ20とを有し、照明ユニット30及びラインセンサカメラ20と基板100とが相対移動している際にラインセンサカメラ20から出力される映像信号に基づいて基板画像情報を生成し、基板画像情報に基づいて基板100の第1基板層101と第2基板層102との界面に生じ得る微小空洞についての検査結果情報を生成する構成となる。 (もっと読む)


【課題】ドライフィルムが積層された基板の蛍光イメージと散乱光イメージ、そして反射光イメージをさらに検出して、露光工程で発生する様々な欠陥を容易に検出できるようにしたパターン欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】光を生成して出射する光源11と、光源11から出射される光を基板20にスキャンするスキャンミラー14と、基板20で蛍光された蛍光イメージを検出する蛍光イメージ検出部17と、基板20で散乱された散乱光イメージを検出する散乱光イメージ検出部19と、を含むものである。 (もっと読む)


【課題】 ケーブルの周りを一周にわたって簡単に、かつ短時間で点検できる装置を提供する。
【解決手段】 この装置は、ケーブル21が通される通路を有するフレーム部材11と、フレーム部材11の長手方向の両端に形成され通路に連続する開口10の中心に向けて突出するように設けられ、通路を通されたケーブル21の外表面に当接して、フレーム部材11をケーブル21に支持するとともに、フレーム部材11をケーブル21の長さ方向へ移動させることが可能な走行支持手段12と、フレーム部材11に、ケーブル21と周方向に対向して取り付けられる複数の撮影手段14とを含む。 (もっと読む)


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