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Fターム[2G052AC21]の内容

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Fターム[2G052AC21]に分類される特許

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【課題】採油時及び分析時に絶縁油に空気がふれないように、確実且つ容易にすることができる採油装置及び方法を提供する。
【解決手段】OFケーブル1の接続箱2から絶縁油を採取する採油装置10であって、接続箱2の採油口を開閉するコネクタ3に着脱可能に装着され、油密状態でコネクタ3に開閉動作をさせる開閉治具20と、開閉治具20にホース11、12で接続されたガス分析用容器30と、ガス分析用容器30にホース13、14で接続され、ガス分析用容器30から送られた絶縁油を貯留する特性試験用容器32と、ガス分析用容器30と開閉治具20との間のホース11、12を閉塞又は開放する油留め金具40と、ガス分析用容器30と特性試験用容器32との間のホース13、14を閉塞又は開放する油留め金具40と を備える。 (もっと読む)


【課題】 微量の発生ガスを効率よく捕集する。
【解決手段】 チャンバー内部を、予め、発生ガスの沸点よりも高い沸点を有する有機ガスに暴露してから、発生ガスの捕集を行う。 (もっと読む)


【課題】電解質等の多成分セラミックスの組成を、迅速性をもって高精度で分析可能な分析方法を提供する。
【解決手段】多成分のセラミックスの成分分析による評価方法において、第一の工程と第二の工程からなり、第一の工程は微量の電解質のアルカリ,アルカリ土類金属,遷移金属,希土類元素と電極の白金属を含む材料の試料を採取し、酸分解して溶液化することであり、第二の工程は電解質の多成分をICPプラズマ発光分析法により逐次一斉分析し定量分析して組成を評価するものである。 (もっと読む)


【課題】空気中を浮遊して沈降する粒子径の大きい粒子の計測を正確に連続して、かつ定時的に、計測の精度にバラツキがなく計測することができる粒子計測装置と粒子計測方法を提供する。
【解決手段】空気中を浮遊して沈降する粒子を捕集面に捕集する捕集工程と、捕集面に捕集された前記粒子を撮像する撮像工程と、粒子の計測を行う計測工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】構造は簡素でしかも採取ビンの破損を防ぐことができ、また、採取ビンが破損したとしてもそのことを容易に把握できる採取ビン運搬容器を提供することである。
【解決手段】電気機器の絶縁油に含まれるPCBを分析するために絶縁油が封入された採取ビン15は格納部11に格納され、格納部11の上部は蓋12で覆われる。格納部11は、仕切り板14により格子状に区分され、採取ビン15を1個ずつ格納するための複数の格納空間が形成され、採取ビン15を格納部11内に整列して格納する。また、格納部11の底部及び蓋12の内側に緩衝材13が配置され、採取ビン15と接触して採取ビン15を弾力を持って保持する。 (もっと読む)


【課題】パーティクルの抽出ばらつきが少ない被検査物の清浄度検査装置を提供する。
【解決手段】超音波発振器25を備えた超音波発生槽20に超音波を伝播する第1の液30が収容されている。パーティクル抽出容器21には、超純水等の高純度の第2の液40と被検査物50が収容されている。電源装置26をオンにし、超音波発振器25を発振させる。超音波発振器25の発振が開始してから第1の時間が経過したのち、第2の液40と被検査物50が入っているパーティクル抽出容器21を液面30aの上方から第1の液30に挿入する。超音波発振器25は超音波を発生させ続ける。そして第2の時間が経過したのち、第2の液40に含まれているパーティクルの量を計測する。 (もっと読む)


【課題】銅を含有する基材上に、金含有めっき層が形成された試料から金含有めっき層を効率よく回収し、更には金含有めっき層をより正確に分析する。
【解決手段】銅を含有する基材上に、金含有めっき層が形成された試料を、硝酸と過酸化水素とを含有する第1水溶液と接触させて前記基材のみを溶解した後、前記金含有めっき層を回収し、金含有めっき層を定量分析する。 (もっと読む)


【課題】ガスの組成分析を行うにあたり、サンプル流量調整用のマスフローコントローラ内部における水分の凝縮を抑制するとともに、マスフローコントローラの構造に起因する分析計の応答遅れを抑制することにより、組成分析の精度を向上させる。
【解決手段】ガス組成分析装置10は、分析対象となるガスをサンプリングするサンプリング手段(バルブ12等)と、このサンプリング手段でサンプリングしたサンプルガスの流量を調整するマスフローコントローラ13と、マスフローコントローラ13で流量を調整したサンプルガスの組成分析を行う組成分析手段14と、を備え、さらに、サンプリング手段でサンプリングされマスフローコントローラ13に導入されるサンプルガスに希釈ガスを供給してサンプルガスを希釈する希釈手段(希釈ガス用のマスフローコントローラ15等)を備える。 (もっと読む)


【課題】分離手段および半導体ガスセンサが設けられた測定流路にキャリアガスを流通させ、測定流路に試料ガスを供給して半導体ガスセンサで各成分を検知する際、試料ガスの供給時に検出流路におけるガス流量の変動を抑制して半導体ガスセンサの検知出力のベースラインに乱れが生じることを抑制し、正確な測定を行うガス成分分析装置を提供する。
【解決手段】分離手段および半導体ガスセンサを有すると共に始端側からキャリアガスが供給される測定流路と、測定流路に試料ガスを供給する供給手段と、供給手段による測定流路への試料ガスの供給を阻止する供給停止状態および前記供給手段による測定流路への試料ガスの供給を許容する供給状態とを切り替える切替手段とを備え、測定流路に、半導体ガスセンサ出力を安定化させる所定量のキャリアガスを貯留するバッファ手段を設ける。 (もっと読む)


【課題】昇温加圧履歴を受けた材料からの化学物質放散量が測定可能な気体測定用装置を提供する。
【解決手段】気体が流出入する気体入口2aと気体出口2bと被測定物10を加圧するための相対する加圧面の表面性状に差異を設けた昇温加圧手段1を備えた前処理容器2と、前処理容器2の後流側に配置された気体入口3aと気体出口3bを備えた空洞型容器3と、前処理容器2の気体入口側上流に配置した気体供給手段4と、気体供給手段4と前処理容器2の間に配置した流量制御手段5及び気体浄化手段6と、気体供給手段4と空洞型容器3の間に配置した流量制御手段7及び気体浄化手段8を備える構成とすることにより、昇温加圧過程を経た被測定物10からの放散ガスを捕集することができる。 (もっと読む)


【課題】任意温度や任意雰囲気に置かれた材料に光照射して放散される化学物質放散量が測定可能な気体測定用装置を提供する。
【解決手段】被測定物5を設置するガス拡散容器1と、被測定物に光を照射する光照射手段2と、遮光手段3と、被測定物温度を制御する温度制御手段4と、ガス拡散容器1にガス供給するガス供給手段6と、供給ガスを流量制御する流量制御手段7とガス捕集手段8を備える構成とすることにより、雰囲気や温度および供給気体流量などを変化させ光照射した時の被測定物5からの放散ガスを捕集することができる。 (もっと読む)


【課題】正確な分析結果が得られる気体を捕集可能な気体捕集装置を提供する。
【解決手段】気体捕集装置1は、第1のチャンバ11と第1のチャンバ11を囲む第2のチャンバ12とを有する装置本体2と、第1のチャンバ11の内部空間11aから気体を捕集するための捕集管34と、を備える。捕集管34の一端部は、第1及び第2のチャンバ11の貫通孔24a,24bと筒状部材40とを介して第1のチャンバ11の内部空間11aに挿入される。捕集管34の一端部の端面は、内部空間11aにおいて第1のチャンバ11の貫通孔24aから突出している。 (もっと読む)


本発明は、変圧器などの、油を含有する電気的装置における過熱点の実際の温度を測定するための方法に関する。電気的装置は、予め決められた変更可能な運転条件において運転する。この方法は、油中に存在し溶解可能である一又はそれより多い化学的化合物又はトレーサーを使用することを含む。各トレーサーは、溶解性気体などの残留物を形成するために、所与の温度において転化することが可能である。油中の残留物の存在のために、運転者は、いずれの予め決められた運転条件において過熱点に到達するかを決定し、そこから所与の条件について過熱点を誘導することができる。使用する異なる化合物としては、ジアゾ化合物、カルボニル金属、染料、顔料、液晶、又はアルブミンが挙げられる。また、この方法は、市販の装置の品質を確認し、その寿命を見積もるために使用することができる。 (もっと読む)


【課題】試料全面からのものではなく、試料表面の特定部分からの吸着物,含有物の評価を容易にできるようにする。
【解決手段】図2(a)のような酸化膜付きシリコンウエハを用い、その表面に図2(b)のように例えばアセトンを滴下する。その際、アセトンが塗布されなかった箇所の裏面に、例えばAl膜パターンを図2(c)のように成膜し、このような試料を試料ホルダ(上部電極)にセットして真空排気を行ない、熱酸化膜とSiの浅い層が残るようSiのドライエッチングを施す。その後、この裏面エッチングを施した試料をサンプリング室へ搬送し、剛性のある針でつついて脱落させ、エッチング穴の直下に配置した石英の試料皿で“アセトンが付いていないであろう特定部”をキャッチし、この試料皿を分析室に搬入した後、脱離ガス分析を行なう。 (もっと読む)


【課題】イオンミリング法によるSiP型半導体パッケージでの断面試料を作成するために光学顕微鏡では観察できない試料内部構造中の所望の断面を正確に得ることができる断面作成方法及び作成システムを提供する。
【解決手段】不透明な半導体パッケージを加工して、当該半導体パッケージの所望の部位の断面を作成する断面試料作成方法において、試料内部観察手段により半導体パッケージの内部観察画像を取得する試料内部取得工程と、試料表面観察手段により半導体パッケージの表面観察画像を取得する表面画像取得工程と、内部観察画像と表面観察画像とを表示部に表示する画像表示工程と、表示部に内部観察画像と表面観察画像とを表示させて、イオンミリングによる半導体パッケージの断面加工を行う断面加工工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】デバイス等の不良原因となる数μmの微小異物を採取し、コンタミレスでS/Nの良好な質量分析を行うことを目的とする。
【解決手段】微小試料加熱プローブは、径の異なる2つの部材よりなる試料保持部と、支持部と、端子部と、からなる。試料保持部は、そのごく一部に加熱機構を有し、分析対象の微小試料の極近傍のみが局所的に加熱されることを特徴とする。よって、プローブにコンタミ成分が付着した場合でも、それらは加熱されないためにノイズが発生せず、非常にS/Nのよい分析が可能となる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、気体、液体中や基板上の固形物の微小試料の分析に際して、赤外分光分析を行った後に熱分解ガスクロマトグラフィー分析を行うことができるサンプリングシートを提供することを目的とする。
【解決手段】赤外分光分析に用いるサンプリングシート(2)であって、前記シート(2)が赤外透過材料からなり、少なくとも、静電気発生装置(6)を備えた伝達部(5)に接続した2つの支持体(3、4)で支えられ、前記サンプリングシート(2)が900℃以下の所定温度で熱分解せず、また繊維状あるいは多孔質状であり、さらに赤外分光分析に用いた後に熱分解ガスクロマトグラフィー分析に用いることができることを特徴とする微小試料のサンプリングシートである。 (もっと読む)


【課題】電気機器の動作に伴うVOCの発生を調べるには、電気機器に電力や制御信号を供給する必要がある。電力や制御信号を供給するためには化学物質測定チャンバーに孔を開ける必要があるが、単に孔を開けた場合、この孔から大気が流入し、測定精度が低下するという課題がある。また、テフロン(登録商標)テープを巻きつけ、ケーブルとの間の気密性を確保する方法では、テープの巻き方により機密性の良否が発生し、再現性の高い測定を行うことが困難となる課題がある。
【解決手段】PFAを用いてなるフィルムバック11と、フィルムバック11内部にジェル状物質を用いた変形体12が充填されるケーブルサポート108を介して電力や制御信号を供給するケーブル106を通す。ケーブルサポート108を変形させることで化学物質測定チャンバーとケーブル106との間の間隙を塞ぎ、密閉する。 (もっと読む)


【課題】微細に加工された半導体デバイス内の所望の箇所の3次元的構造を観
察するための電子顕微鏡用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法を提供する。
【解決手段】試料片10の加工にダイサーを用い、試料片上の観察対象となる
部分を突起状に削り出す加工に集束イオンビーム加工を用い、試料片10を1軸
全方向傾斜試料ホルダに、突起11の中心軸と試料傾斜軸Zを一致させて固定し
、高角に散乱された電子で結像したTEM像を投影像として用い、再構成を行う
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【課題】 ボンディング界面に形成された金属間化合物を直接X線回折により同定するための試料の調整方法を提供する。
【解決手段】 ボンディング済みの金属細線と下地パッド金属との間において、ボンディングされた金属細線を物理的な力で剥離して露出した剥離面に、表面から内部に向かって断続的にArイオンビームを照射してイオンエッチングし、順次新しい観察面を露出させてX線回折試料とする。金属細線と下地パッド金属とを物理的な力で剥離するに際し、ボンディングパッド上にボンディング済みのボンディングワイヤを含むように中空の容器を立て、該中空の容器内に熱硬化性樹脂を流し込み、熱硬化性樹脂を硬化させて金属細線を樹脂で保護した後に、物理的な力で剥離することが好ましい。 (もっと読む)


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