説明

Fターム[2G059BB15]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 測定対象 (10,253) | 製品、半製品 (407)

Fターム[2G059BB15]に分類される特許

81 - 100 / 407


本発明は、穀物用ミル又は飼料用ミル等における生成物流(3)内の穀粒、特に穀粒の成分、品質パラメータ、又は一般的に生成物特性を廉価にNIR測定するため、特に廉価にインラインNIR測定するための装置及び方法に関する。少なくとも一つの測定センサ(1)を用いて、有利には流れ管内を自由に流れる生成物(3)において反射スペクトルが記録され、測定センサから空間的に離れて配置されており、且つスペクトロメータ(12)が組み込まれている評価装置(2)に伝送される。評価装置(2)によって求められた測定値は制御ユニット(24)又は管理システム(22)に伝送あれ、そこにおいてプロセス又はプラントのモニタリング及び/又は制御に使用される。簡単な生成物提示並びに評価装置の多重利用によって、測定箇所毎のコストを従来のNIRシステムに比べて大幅に低減させることができる。
(もっと読む)


【課題】ラマン散乱スペクトルを測定する場合、炭素充填剤を含有する黒色プラスチックに強いレーザ光を照射すると、炭素充填剤の吸収による発熱でプラスチックが溶融し、ラマン散乱スペクトルが測定できないという問題がある。
【解決手段】この発明に係るプラスチックの識別装置は、搬送手段により搬送される破砕混合プラスチックにレーザ光を照射し、該破砕混合プラスチックからの反射光または散乱光を検出素子で検出し、その検出結果に基づいてプラスチックおよびその添加剤の種類を識別するプラスチックの識別装置において、上記破砕混合プラスチックの表面に液体を滴下するように構成したものである。 (もっと読む)


【課題】炭素充填剤を含有する黒色プラスチックに強いレーザ光を照射すると、炭素充填剤の吸収による発熱でプラスチックが溶融し、ラマン散乱スペクトルが測定できない。
【解決手段】搬送手段により搬送される破砕混合プラスチックに同時に複数本のレーザ光を照射し、該破砕混合プラスチックからの反射光または散乱光を検出素子で検出し、その検出結果に基づいてプラスチックおよびその添加剤の種類を識別するプラスチックの識別装置において、上記複数本のレーザ光は、1本のレーザ光を複数本の光ファイバに入射して得られるようにした。 (もっと読む)


【課題】周波数が可変のテラヘルツ波を発生させるテラヘルツ源を被測定物の近傍に移動させて測定することができるテラヘルツイメージング装置を提供する。
【解決手段】テラヘルツイメージング装置100は、センサヘッド部120が本体部110から分離されて複合ケーブル130で接続されており、センサヘッド部120だけを移動させて用いることが可能となっている。本体部110は、2つの波長可変レーザ111、112から出射される異なる波長のレーザ光を光カプラ115で合成し、この合成波を光導波路131を経由してセンサヘッド部120に伝送している。センサヘッド部120は、伝送された合成波をテラヘルツ源121に入射し、合成波のビート成分に相当する周波数のテラヘルツ波を発生する。 (もっと読む)


洗浄製品又はその構成成分の汚れの分散力を定量化する方法であって、本方法は、
a)洗浄製品又はその構成成分を含む溶液を調製する工程と、
b)洗浄製品又はその構成成分の溶液に汚れを加え、混合物を形成する工程と、
c)混合物で阻止された光を測定する工程と、を含む、方法。 (もっと読む)


【課題】正確な分光特性を測定可能な分光測定装置、および分析装置を提供する。
【解決手段】分光測定装置3は、互いに対向する固定基板および可動基板と、可動基板に設けられる変位部と、変位部を初期位置に向かって付勢する連結保持部と、変位部および固定基板にギャップを介して対向配置される反射膜と、ギャップを調整する静電アクチュエーターと、ギャップ間隔を演算するギャップ演算手段823と、反射膜を透過した光の受光量を測定する受光部6と、変位部を予め設定された第一変位位置まで変位させるギャップ制御手段821と、変位部が初期位置に戻る復元過程で、透過光の光量測定、およびギャップの間隔の演算を同時に実施させる測定制御手段825と、を具備した。 (もっと読む)


【課題】識別対象物の形状等(形状、大きさ、厚み等)にかかわらず、重合体の識別が可能な識別装置を得ることを目的としている。
【解決手段】この発明に係る樹脂の識別装置は、搬送手段により搬送される破砕混合樹脂に光を照射し、該破砕混合樹脂からの反射光または散乱光を検出素子で検出し、その検出結果に基づいて樹脂およびその添加剤の種類を識別する樹脂の識別装置において、上記検出結果は、上記検出素子と所定の上記破砕混合樹脂までの距離とが異なることで得られる複数のスペクトルに基づき得られるように構成したものである。 (もっと読む)


製品フロー(F)における製品を画像化するための画像化システムおよび方法であって、システムは、製品フローにおける製品を、第1および第2の異なる波長または異なる波長範囲の照明で照射するための照明ユニットと、各ラインアレイ検出器(17a、17b)が複数の画素素子を備え、製品フローの幅全体にわたるラインとして延在し、一方のラインが他方のラインの下流側にあり、それによって、第1のラインアレイ検出器の画素素子を通過する製品が第2のラインアレイ検出器の対応する画素素子を通過する第1および第2のラインアレイ検出器を備える、製品フローにおける製品からの反射照明を検出するための検出ユニット(15)と、第1および第2の照明光源をトリガして製品フローの流速に対応する走査速度で順次に点滅させるための制御ユニットと、第1および第2のラインアレイ検出器の画素ラインを連続して読み取り、各照明波長または各照明波長範囲における製品の画像を構築するための画像処理ユニットとを備える。 (もっと読む)


第1の層と第2の層との間の境界面の特性を求めるシステムは、試料に電磁放射線を出力する送信器と、試料によって反射された電磁放射線又は試料を透過した電磁放射線を受け取る受信器と、データ収集デバイスとを含む。データ収集デバイスは、試料から反射された電磁放射線又は試料を透過した電磁放射線をデジタル化して波形データを生成するように構成され、波形データは、試料から反射された放射線又は試料を透過した放射線を表し、第1の大きさ、第2の大きさ及び第3の大きさを有する。求めるべき材料特性は、一般に、第1の層と第2の層との間の接着強度である。
(もっと読む)


【課題】肌理のある面の特性、特に光学的特性を決定するための装置の方法および装置。
【解決手段】被検査面上に放射線を照射する工程と、面上に照射され、面で反射した放射線の少なくとも一部を、面に入射した放射線の位置分解評価を可能にする検出装置を用いて検出する工程と、検出された放射線から、面の肌理を特徴付ける第1の特徴値(P)を決定する工程と、検出された放射線から、面のさらなる光学的特性を特徴付ける第2の特徴値(ΔE)を決定する工程と、第1の特徴値(P)および第2の特徴値(ΔE)に基づいて結果値(ΔI)を決定する工程と、を含む特定の肌理のある面の特性を決定するための方法。 (もっと読む)


【課題】周期的に変わる光信号強度に対して積分型光検出器によりリアルタイムで測定したとき、その波形を分析する従来の方法における演算式の複雑性、読み出し時間に対する近似補正、積分時間の制限的可変性などの問題を改善する。
【解決手段】振幅が一定の時間周期で変わる光に対し、積分型光検出器を使用して前記周期の間、一定の時間間隔で露光量Sjを測定したとき、前記光の強度波形の正規化されたフーリエ係数α’2n,β’2nを、前記測定された露光量Sjに関する等式に対して離散フーリエ変換を行う。任意の積分時間と特定の読み出し時間に対して完全に補正された露光量計算法と、離散フーリエ変換とを使用することにより、近似なく正規化されたフーリエ係数を求める。 (もっと読む)


【課題】複屈折ファイバの外観を測定する。
【解決手段】偏光された光で複屈折ファイバを照射し、偏光された光のIR内部反射光成分、ER外部反射光成分、及び、D拡散光成分を生み出し、前記照らされた複屈折ファイバからの光を観測するステップと、前記観測された光のO個の偏光状態を生成するステップと、前記観測された偏光のX個の画像を形成するステップと、ここで、各画像は情報(N、O、IR、ER、D)を備えており、i=1、2・・・n、且つ、n≧4であり、前記X個の画像の各画素における明暗度(intensity)Iを測定するステップと、X個の画像のi番目の画像から、i番目の内部反射光成分、i番目の外部反射光成分、及び、i番目の拡散光成分を抽出するステップとを備えている。 (もっと読む)


【課題】全酸素濃度13ppm以下の清浄鋼の溶製にあたり、真空脱ガス処理時間の延長あるいは温度低下によるトラブルなく、安定して13ppm以下の清浄鋼の製造が可能とする、清浄鋼の溶製方法を提供する。
【解決手段】スラグ精錬処理中に、溶鋼から試料を採取し、スラグ精錬処理終了前に、その試料における全酸素濃度を全酸素迅速分析方法により測定し、その測定結果を基にスラグの塩基度を調整し、真空脱ガス処理前の全酸素濃度を18ppm以下に制御する。 (もっと読む)


一実施形態は、物体を識別するための特徴を持つ区別できる構造を含む人工物体に関し、物体は、物体が可視光の下で観察可能であるようなサイズを有し、特徴は、物体の中または上に埋め込まれ、特徴のサイズは、可視光の下で観察可能でないようなサイズであり、特徴は、特徴から生じる属性を含み、属性は、特徴を定義する。
(もっと読む)


【課題】光2次非線形性を有する薄膜の複屈折率と非線形光学定数比を実験的に同時に決定する方法を提案する。
【解決手段】実験測定曲線としてのSH−MF比曲線を、1つの光2次非線形性薄膜から得られる2種類のSH−MF曲線を構成する各入射角に対応する測定データ間の比として算出する。次に、実験測定曲線としてのSH−MF比曲線とこれに対応する理論関数式との近似演算処理を実行し、理論関数式の2つの未知パラメータの値を決定する。この後、2つの未知パラメータについて決定された値を出力する。 (もっと読む)


【課題】液晶表示装置に用いられる液晶部材のコントラストに与える影響を正確かつ安定的に評価すること。
【解決手段】液晶表示装置の偏光板の間に配置される液晶部材の偏光解消度測定方法であって、2枚の測定用偏光板と、測定対象である上記液晶部材とを準備し、上記2枚の測定用偏光板を直交ニコルの関係となるように配置して測定した透過光量をT90、前記2枚の測定用偏光板の間に液晶部材を配置して、測定した透過光量をH90、上記2枚の測定用偏光板を平行ニコルの関係に配置して測定した透過光量をT0、前記2枚の測定用偏光板の間に液晶部材を配置して、測定した透過光量をH0とし、得られた透過光量H90、H0、T90およびT0を用いて、下記式(1)により偏光解消度を求めることを特徴とする液晶部材の偏光解消度測定方法。偏光解消度=1−(((H0−H90)×(T0+T90))/((H0+H90)×(T0−T90)))(1) (もっと読む)


【課題】面の機械的な測定を行うことなく、面、特に肌理のある面を客観的に評価する。
【解決手段】被検査面(10)上に放射線を照射する工程と、面(10)上に照射され、面(10)で反射した放射線の少なくとも一部による画像を受ける工程と、記録画像の位置分解評価および画像を特徴付ける少なくとも1つの値(K)の決定を行う工程と、を含む肌理のある面(10)の光学的検査のための方法であって、面を特徴付けるパラメータ(G)は、特徴値(K)を使用しながらおよび面の(既知または決定された)少なくとも1つのさらなる特性(E)を使用しながらに決定されることを特徴とする方法。 (もっと読む)


【課題】検出すべき物体について高い搬送速度で質の高い識別を提供する
【解決手段】移動する物体3を光学的に検出するための方法であって、物体3を照らすことを有し、その照らすことは、異なる強度および/またはパルス期間を有する光パルスL1,L2、および、光学的に検出可能な二次作用を物体3中に誘起する第2の光SLで行われ、ライン毎に組織されたモノクロームの光学エリアセンサー5での異なる照明のもとで物体3の像を撮ることを有し、各像から、異なる照明があるような、少なくともそのような数のラインZ5,Z15..Z55を読み出して一時的に保存することを有し、撮られた像からのラインZ5,Z15..Z55を順次結合して結合ラインK1−K6を形成することを有し、互いに結合されるラインZ5,Z15..Z55は、ラインピッチdまたはその倍数をそれぞれ有し、かつ、結合ラインK1−K6を、結合された全体像11へと組み立てる。 (もっと読む)


【課題】
密封容器(103)を評価する方法および装置を提供する。
【解決手段】
上記容器の外部から上記容器に向けて狭帯域レーザ光源(101)から光が放射される。上記容器内で散乱された上記光の吸収信号(105)が測定され、上記光が散乱されて上記密封容器内を伝わるとき上記吸収は上記少なくとも一つのガスによって生じる。測定は上記容器の外部で行なわれるため、上記評価は上記容器に関して非侵入的である。上記測定された吸収信号に基づいて上記密封容器内の所定の予想されるガス組成および/または上記少なくとも一つのガスの濃度からの偏差が存在するかどうかが判断される。それゆえ、上記ガスに対する上記容器の密封性が検出される。 (もっと読む)


【課題】試料上で注目領域に存在する目的物質を高い信頼度で同定する。
【解決手段】測定者は可視光による試料の表面観察画像を画面上で確認し、注目領域を選択指示する(S4)。すると、注目領域に含まれる測定点において測定された赤外吸収スペクトルに現れる吸収ピークが抽出され(S5)、吸収ピーク毎にそのピークが観測される測定点の2次元分布が取得される(S6)。そのあと、各ピークの2次元分布毎に注目領域との分布の相関係数が計算される(S7)。そして、注目領域内の各測定点における赤外吸収スペクトル中の各吸収ピークに対し相関係数に応じた重み付けを行った上で、該スペクトルと既知物質のスペクトルとのマッチングを実施して、各測定点に存在する物質を同定する(S8)。 (もっと読む)


81 - 100 / 407