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Fターム[4G077GA05]の内容

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Fターム[4G077GA05]に分類される特許

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【課題】半導体材料から成るインゴットブロックの機械的欠陥を検出にあたり、あらゆる種類の半導体材料に適用可能であり、空隙を有する半導体ウェハを早期に分別可能にする。
【解決手段】厚さ1cm〜100cmのインゴットブロック1における平坦面6が、流体状結合媒体3を介して結合された超音波ヘッド2により走査される。超音波ヘッド2は各測定点x,yごとに、インゴットブロック1の平坦面6に向けて超音波パルス8を発生し、インゴットブロック1から発せられた超音波パルスのエコーを時間に依存して記録する。平坦面6のエコー9と、この面とは反対側の平坦面7のエコー11と、場合によっては生じる別のエコー10が検出され、この別のエコー10から、インゴットブロック1における機械的欠陥4のポジションx,y,zが求められる。 (もっと読む)


【課題】パーフェクト領域に存在するRIE欠陥を熱処理によって低減することができる、シリコンウェーハの製造方法を提供する。
【解決手段】先ず酸素濃度が1.2×1018atoms/cm3(旧ASTM)未満であるシリコン単結晶インゴットを引上げる。次に、このインゴットから切出されかつ反応性イオンエッチング法によるRIE欠陥密度が1×104〜1×1010個/cm3である領域を含むシリコンウェーハについて、水素および/またはアルゴンガス雰囲気下で900〜1000℃まで2〜5℃/分の範囲内の第1の昇温速度で加熱し、1000℃を越え1200℃以下の範囲内の所定温度まで2℃/分以下の範囲内の第2の昇温速度で加熱し、更に上記所定温度で5〜180分間保持する熱処理を行うことにより、表面からの深さ2〜10μmの範囲内の所定の深さにおける反応性イオンエッチング法によるRIE欠陥密度を1×104個/cm3以下とする。 (もっと読む)


【課題】酸素析出物の非常に少ないシリコン単結晶を育成する方法を提供する。
【解決手段】CZ法により育成されたCOP及び転位クラスタを含まないシリコン単結晶インゴットから評価用試料を切り出し、as-grown状態の評価用試料にRIEを施した場合に、酸化シリコンを含む欠陥を起因とした突起物が評価用試料の表面に形成されない条件で、シリコン単結晶インゴットの引き上げを行う。RIEを行うと、微小酸素析出物をも検出可能であることから、RIEによる評価で突起物が形成されない条件にて引き上げを行うことにより、微小酸素析出物を含まないシリコン単結晶を育成することが可能となる。このため、IGBTのように、ウェーハのバルクの品質に影響されるデバイス用の高品質なシリコン単結晶を提供することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】単離GRP94リガンド結合ドメインポリペプチド、その三次元結晶構造、およびそれを用いたHsp90タンパク質のモジュレーターの設計方法を提供する。
【解決手段】実質的に純粋な結晶であるGRP94リガンド結合ドメインポリペプチド、及び該結晶化ポリペプチドの作成方法。また、Hsp90タンパク質のモジュレーターを決定する方法、GRP94ポリペプチドの活性を選択的にモジュレートするモジュレーターを設計する方法、及びGRP94モジュレーターを同定する方法。更に1つのHsp90ポリペプチドの生物学的活性をGRP94と比較して選択的にモジュレートするHsp90モジュレーターを同定する方法。 (もっと読む)


【課題】OSF(Oxidation Induced Stacking Fault)領域の位置や広さを指標とすることなく引き上げ速度の制御方向を判断することによって、後続の引き上げの速度プロファイルをフィードバック調整する方法を提供する。
【解決手段】CZ法によってCOP及び転位クラスタを含まないシリコン単結晶インゴット20を育成し、シリコン単結晶インゴット20からシリコンウェーハを切り出し、as-grown状態のシリコンウェーハに対して反応性イオンエッチングを施すことにより、酸化シリコンを含むgrown-in欠陥をエッチング面上の突起として顕在化させる。顕在化した突起発生領域に基づいて、後続の育成工程における育成条件をフィードバック調整する。これにより、欠陥を顕在化させるための熱処理を行うことなく、より直近のバッチに対してフィードバックすることができる。 (もっと読む)


【課題】予め実験的に求めていたパラメーターにより結晶欠陥の密度やサイズを予測する手法を提供する。
【解決手段】シリコン単結晶中における結晶欠陥のサイズおよび密度を予測する結晶欠陥状態予測方法であって、
実験データを解析し関連する物理パラメーターを抽出し、その物理パラメーターについてデータベースを構築する工程と、
前記データベースのデータを用いて、結晶欠陥のサイズおよび密度を算出する工程と、
を有するとともに、
前記データベースが、結晶欠陥の密度およびサイズに大きく影響を与える独立要素と、
該独立要素に従属する従属要素としての結晶欠陥のサイズ分布中における最大サイズと最小サイズとを有してなる。 (もっと読む)


【課題】 数μmから数十μm程度の大きさの軟磁性フェライト粒子は、レーザーコピーで使用されるキャリア粉、電波吸収体や圧粉磁芯といった用途に需要がある。しかしこの大きさの軟磁性フェライトは、粉砕法で作製するには小さすぎ、成長法で作製するには大きすぎる。また、粉体の形状も一定にできなかった。
【解決手段】 材料となるフェライトと塩化鉄を混合し、900℃以上1300℃以下で焼成することで、フェライトが液相の塩化鉄中で結晶成長し、数十μmの大きさの八面体の粒子を得る。 (もっと読む)


【課題】本発明によれば、結晶性が向上したIII族窒化物半導体積層構造体を生産性良く得ることができる。
【解決手段】サファイア基板表面に、シード層として、縦断面TEM(透過型電子顕微鏡)写真の200nm観察視野において結晶粒界が観察されないAlN結晶膜を形成させ、ついでIII族窒化物半導体からなる、下地層、n型半導体層、発光層およびp型半導体層を積層してなるIII族窒化物半導体積層構造体を反応炉を用いて製造するに際し、少なくとも下地層を成膜したIII族窒化物半導体積層構造体ウエハーを反応炉から取り出し、ついで次の成膜を別の反応炉で行なう。 (もっと読む)


【課題】デバイス配線パターンの微細化に伴い特に問題視されるデバイス熱処理工程で発生するスリップ転位を抑制し、パターンずれを防止するために効果的なBMDの密度とサイズを有するシリコンウェーハとその製造方法を提供する。
【解決手段】シリコンウェーハであって、酸素析出物を析出させる析出熱処理前後における酸素濃度変化量をΔO(atoms/cm)(JEIDA)、RIE法によって検出される酸素析出物の密度をD(個/cm)とした時に、ΔO/(D×10)≦5、かつD≧1×1010の関係を満たすものであることを特徴とするシリコンウェーハ。 (もっと読む)


【課題】ゲート酸化膜の厚さが数nmと薄い場合であってもGOIの劣化がないシリコン単結晶ウェーハとその製造方法、並びにGOI劣化がないことをTDDB法などに比べて容易に評価することのできる評価方法を提供する。
【解決手段】少なくとも、シリコン単結晶インゴットを準備する工程と、シリコン単結晶インゴットをスライスしてスライス基板を複数枚作製する工程と、複数枚のスライス基板に、ラッピング・エッチング・研磨のうち少なくとも1つを行って複数枚の基板に加工する加工工程と、複数枚の基板から少なくとも1枚を抜き取る工程と、抜き取り工程で抜き取った基板の表面粗さをAFMで測定し、波長20nm〜50nmに対応する周波数X帯の振幅(強度)yを求めて合否を判定する工程と、判定が合格の場合は次工程へ送り、不合格の場合は再加工を行う工程と、を含む。 (もっと読む)


ナノ体積マイクロキャピラリー結晶化システムは、従来の凍結保護用の結晶取り出し、もしくは内部で成長するタンパク質結晶のその場X線回折研究を可能にする結晶カードにおける、結晶化条件のナノリットル体積スクリーニングを可能にする。本システムは、結晶化反応混液の調合を結晶化実験の準備と統合させる。本システムは、結晶化相空間を効率的に利用するための結晶化実験における勾配スクリーニング、或いは1つの包括的ハイブリッド結晶化トライアルを実行するためのスパースマトリックスおよび勾配スクリーニングの組み合わせのいずれかを研究者が選択することを可能にする。
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【課題】 創薬において重要であるインフルエンザ菌(Haemophilus influenzae)ペニシリン結合タンパク質(PBP)3トランスペプチダーゼドメインの結晶、及び、立体構造情報を提供することを目的とする。
【解決手段】 インフルエンザ菌(Haemophilus influenzae)ペニシリン結合タンパク質(PBP)3のトランスペプチダーゼドメインを調製し、高品質の結晶、及び、その製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】ドープされた炭素によってデバイス製造工程等における熱処理時にドナーが発生しても、所望の抵抗率を有するシリコン単結晶ウェーハとすることのできるシリコン単結晶の育成方法及び該シリコン単結晶から作製されたシリコンエピタキシャルウェーハの製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン単結晶の育成方法であって、チョクラルスキー法によって炭素及び抵抗調整用ドーパントをドーピングしてシリコン単結晶を育成する際に、炭素ドープに伴って発生する抵抗率のシフト量を予め計算し、前記抵抗調整用ドーパントのドープ量を前記シフト分に応じて調整することを特徴とするシリコン単結晶の育成方法。 (もっと読む)


【課題】微量試料で迅速かつ経済的に多種類の結晶化条件で結晶化を行うことができ、かつ微量試料であっても2ヶ月以上の長期間にわたって結晶析出を観察することのできる結晶の観察方法を提供する。
【解決手段】複数の結晶化区画32及び該結晶化区画32それぞれを区分する凹部34が設けられたマイクロプレート24と、結晶化区画32に対応する位置に、蛋白質結晶化剤を含有する複数の結晶化剤保持部16を有するマイクロアレイ18とを備えた蛋白質結晶化装置を用いて、マイクロアレイ18を支持体20に収納し、該支持体20とマイクロプレート24とを重ね合わせる組み立て工程と、前記組み立て工程の後に、前記凹部に水を充填する水充填工程と、前記水充填工程の後に、析出した結晶をマイクロプレート越しに観察する観察工程とを含む結晶の観察方法。 (もっと読む)


【課題】IGF−1の結晶とその生産方法、さらにIGF−1間接アゴニストを同定する方法を提供する。
【解決手段】IGF−1を含む水溶液を、沈殿剤を含むリザーバ液と混合し、生成した混合物を結晶化、場合によっては再結晶化を行い分離する、IGF−1の結晶化方法。さらに、結合タンパク質IGFBP−1又はIGFBP−3のIGF−1に対する結合の阻害レベルのスタンダードとして、界面活性剤を使用し、また構造に基づく薬剤設計のため、間接アゴニストの候補が結合するIGF−1の結合ポケットの座標を使用して、IGF−1間接アゴニストを同定する方法。 (もっと読む)


ごくわずかな揮発で一致溶融する化合物から結晶を成長させる方法を提供する。1又はそれ以上の結晶試料の組成を測定する。結晶組成の一致状態からの偏差を求める。初期溶融物組成及び原料物質組成の偏差に対する補正を決定する。この組成の補正を使用して結晶を成長させ、表面弾性基板製造のための再現性のある材料を生み出す。 (もっと読む)


【課題】種結晶を用いた昇華システムにおいて形成された結晶の欠陥レベルが低く、より大きく、高品質のSiC単結晶ウェハを製造する方法を提供する。
【解決手段】少なくとも約100mmの直径と、約25cm−2未満のマイクロパイプ密度とを有し、また、3C、4H、6H、2Hおよび15Rポリタイプからなる群から選択されるポリタイプを有するSiC単結晶ウェハ。なお、マイクロパイプ密度は、表面上にある全マイクロパイプの総数を、ウェハの表面積で割ったものを表す。 (もっと読む)


【課題】コンピュータシミュレーションによって得られる酸素析出物(BMD)の挙動を、赤外線トモグラフ法で得られる画像イメージで表示することによって、BMDの挙動を直感的、視覚的に理解することを可能にする方法を提供する。
【解決手段】あらかじめコンピュータシミュレーションによって準備される、半導体単結晶中の酸素析出物の密度の情報をコンピュータに入力する入力処理と、この密度に対して、表示装置の表示領域に相当する体積を乗ずることにより、表示領域中の酸素析出物の個数を算出する個数算出処理と、乱数を用いて、個数分の前記表示領域中の酸素析出物の位置座標を生成する座標生成処理と、位置座標に応じて、表示装置に表示領域中の酸素析出物を画像として表示する出力処理を有することを特徴とするコンピュータを用いた半導体単結晶中の酸素析出物を画像化して表示する方法。 (もっと読む)


【課題】より大きい生物学的高分子またはその凝集体等の標的物質の結晶化において高スループットスクリーニングを実施するための方法およびミクロ流体構造を提供する。
【解決手段】標的物質の結晶化の高スループットスクリーニングが、標的物質の溶液を、微細製作された流体デバイスの複数のチャンバ9102a、9102b内に同時に導入することによって達成される。次いで、この微細製作された流体デバイスは、チャンバ9102a、9102b内の溶液条件を変更するように操作され、それによって、多数の結晶化環境を同時に提供する。標的物質を結晶化するためのシステムの1実施形態は、一定容積の標的物質の溶液を含むように構成された微細製作チャンバを備えるエラストマーブロック、およびチャンバと流体連絡した微細製作フローチャネル、一定容積の結晶化剤をチャンバ内に導入するフローチャネルを備える。 (もっと読む)


単結晶体の結晶方位を解析する工程と、前記単結晶体の選択された結晶方向と前記単結晶体の第1の主外面の面に沿う結晶方向の投影との間の方位差角を計算する工程とを有する、単結晶体の結晶方位を変化させる方法が開示される。前記方法は、前記第1の主外面の少なくとも一部から材料を除去して前記方位差角を変化させる工程をさらに有する。
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