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Fターム[4K030KA34]の内容

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Fターム[4K030KA34]に分類される特許

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【課題】異物による成膜不良を抑制し、良好な成膜を実現するプラズマCVD成膜装置を提供する。
【解決手段】長尺の基材100を連続的に搬送しながら、基材100上に連続的に成膜するプラズマCVD装置1であって、基材100の裏面100bと接しながら基材100が巻き掛けられる成膜ロールと、成膜ロールに対向して配置される対向電極と、成膜ロールおよび対向電極に接続されるプラズマ発生用電源51と、基材100を搬送する搬送ロール21,22,23、24と、を有し、成膜ロールは、第1成膜ロール31と、第1成膜ロール31に対し基材100の搬送方向の下流側に設けられる第2成膜ロール32と、を含み、搬送ロールは、第1成膜ロール31の下流側において、裏面100b側にのみ設けられていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】プラズマCVD成膜を良好に行うために適切な位置で静電気除去を行うことができるプラズマCVD成膜装置を提供する。
【解決手段】長尺の基材100を連続的に搬送しながら、該基材100上に連続的に成膜するプラズマCVD成膜装置1において、基材100を巻き掛けて搬送する第1成膜ロール61と、第1成膜ロール61と対向して配置された第2成膜ロール62と、第1成膜ロール61に巻き掛けた基材100の第2成膜ロール62に面する面を基材の成膜面100aとして、成膜面100aに帯電する静電気を除去する静電気除去装置と、を備え、第1成膜ロール61と第2成膜ロール62との間隙は、成膜面100a上にプラズマCVD成膜を行う成膜空間であり、静電気除去装置は、成膜空間に対し、基材100の搬送方向の上流側に設けられた第1静電気除去装置81を含む。 (もっと読む)


【課題】優れた基材とガスバリア層との密着性を有し、インラインでの処理が可能な高い生産能率のガスバリア性フィルムの製造方法を提供する。
【解決手段】基材100上に中間密着層101とガスバリア層102とを形成したガスバリア性フィルムの製造方法であって、基材が走行する金属ロール電極と、対向電極としてS・N極一対以上の磁石を設置した接地電極とを備え、両電極間の最短距離を特定範囲としたRIE処理装置を用い、前記電極間に、酸化用ガスを含む処理ガスと、気化した有機シリコン化合物を導入して、処理空間内の圧力を0.5〜20Paとして、30kHz以上4MHz以下の高周波を、特定値以上となるように印加し、基材表面に厚さ3nm以上の中間密着層を形成する工程と、中間密着層面上にガスバリア層を形成する工程とを具備する製造方法。 (もっと読む)


【課題】ターゲットが磁性体・非磁性体であるに関わらず、ターゲット上に均一な平行磁場分布を形成し、均一なエロージョンが得られ、ターゲットの広幅化やスパッタ薄膜形成速度向上あるいはCVD成膜速度向上の効果が得られる放電電極及び放電方法を提供する。
【解決手段】平板ターゲットを有する放電電極において、前記平板ターゲットの表面側の両側縁に沿うように設けられ、前記平板ターゲットを隔てて対向する磁性体と、該磁性体を隔てて前記平板ターゲットの反対側に前記磁性体と組み合わせて設けられ前記平板ターゲットを隔てて異極性の関係であるターゲット上部磁石を有することを特徴とする放電電極。 (もっと読む)


【課題】被処理材のプラズマダメージを低減できるプラズマ雰囲気下で、被処理材上に成膜原料を効率的に成膜できる成膜方法及び成膜装置を提供することにある。特にガスバリア膜の成膜方法及び成膜装置を提供する。
【解決手段】プラズマ雰囲気下でイオン化した成膜原料を被処理材1上に堆積させる成膜方法であって、磁力線2が被処理材1の成膜面3から離れる方向9に向く磁場環境を形成し、その磁場環境で被処理材1の成膜面3に成膜原料を堆積させる。このときの磁力線2の向きは、磁石のN極からS極に向かう磁力線の向きであって、プラズマを構成する荷電粒子4を成膜面3から離れる方向9にはね返す向きである。そうした磁力線2は、永久磁石又は電磁石のN極を成膜原料が供給される側に近い側に配置し、S極を遠い側に配置する等して実現できる。 (もっと読む)


【課題】 均一で高密度且つ大面積のプラズマを安定的に生成することが可能であるプラズマ発生源及びプラズマ発生装置、並びにこのプラズマ発生装置を利用した成膜装置、エッチング装置、アッシング装置、表面処理装置を提供すること。
【解決手段】 絶縁体上方に配置された電極及び磁石と、前記電極に接続された交流電源を備えており、前記電極は、対向配置された一対の櫛型状電極からなり、
前記一対の櫛型状電極は、櫛歯状部が互いに平行に且つ交互に配置され、該櫛歯状部間に前記磁石が配置されており、前記電極からの電界と前記磁石からの磁界によりプラズマ生成用ガスをプラズマ化することを特徴とする磁場付容量結合プラズマ発生源とする。 (もっと読む)


【課題】プラズマシステムのためのプラズマ点火装置を
提供する。
【解決手段】装置300は、内側にチャンネルを定める槽310、および槽310に隣接し、前記チャンネルの隣接部分に沿った方向の寸法Dを有する少なくとも一つの容量結合された点火電極330を備える。少なくとも一つの点火電極330の寸法の全長Dは、槽310のチャンネルの長さの10%より大きい。点火電極330は、前記チャンネルの中の気体に電場を印加して、気体のプラズマ放電を開始させる。 (もっと読む)


本発明は、チャンバ内で磁界を生成するためのコイル構造を備える真空処理チャンバに関するものであり、コイル構造は少なくとも1つの第1の部分コイルと第2の部分コイルとを含んでおり、第1の部分コイルと第2の部分コイルは、第1のコイルの少なくともそれぞれ1つの部分区域が第2のコイルの部分区域の形状を実質的に引き継ぐように、断面で見て相並んで特に1つの平面に位置しており、第2の部分区域に対する第1の部分区域の間隔は少なくとも場合により小さいほうの部分コイルの断面よりも小さいオーダーである。
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【課題】高硬度で緻密な炭素膜を均一な厚みで形成することが可能な炭素膜の形成方法を提供する。
【解決手段】減圧された成膜室101内に炭素を含む原料の気体Gを導入し、この原料の気体Gを、通電により加熱されたフィラメント状のカソード電極104と、その周囲に設けられたアノード電極105との間で放電によりイオン化し、このイオン化した気体を基板Dの表面に加速照射するときに、マグネット109によって成膜室101内の励起空間に磁場を印加すると共に、この励起空間の周囲に配置されたマグネット109を周方向に回転させながら、炭素膜の形成を行う。 (もっと読む)


【課題】周方向全体に渡ってカスプ磁場によるプラズマの閉じこめ効果を高めることでプラズマ処理の均一性を高める。
【解決手段】減圧された処理室内に処理ガスのプラズマを生成することにより基板に対して所定の処理を施すプラズマ処理装置であって,処理室の周囲に沿って上下に離間して設けられた2つのマグネットリング210,220を有し,各マグネットリングは内周面にその周方向に沿って2個ずつ交互に極性が逆になる順序で同じように配列された多数のセグメント212,222を有する磁場形成部200を備え,磁場形成部は,下部マグネットリング220を上部マグネットリング210に対して周方向にずらして配置することで上下の磁極配置をずらしたものである。 (もっと読む)


プロセスチャンバと、プロセスチャンバへの前駆体ガス入口と、送出口と、プロセスチャンバ内に配置されたプラズマ源とを備える、材料を移動する基材上に蒸着するPECVD装置が提供される。プラズマ源は、1つ以上の負グロー領域と、1つ以上の陽光柱とを生成する。少なくとも1つの陽光柱は、基材に向かって配置される。プラズマ源、および前駆体ガス入り口は、互いにおよび基材に対して関連して配置され、それにより前駆体ガスは基材に隣接した陽光柱内に注入される。装置は、前駆体ガスを、負グロー領域から離れて陽光柱内に導くように提供される。
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【課題】本発明における課題は、大面積にわたり均一な高密度プラズマを低圧力で形成することのできるプラズマ処理装置を提供することにある。
【解決手段】本発明では、処理基板と対向するプラズマ発生室の電極に円筒型の電極を使用し,大気側にポイントカスプ磁場を発生する磁場発生装置を配置する。または円筒状の電極の一端を閉じて,閉じた箇所の外側に永久磁石をリング状に磁極の向きが交互になり,かつ同心円になるように配置する。 (もっと読む)


【課題】多数枚の基板に、均一な膜厚で成膜することができる熱処理装置を提供する。
【解決手段】熱処理装置10は、ウエハ14にSiC膜を成長させることを可能とする処理室44と、ウエハ14を縦方向に複数略水平に支持し、処理室44内でウエハ14を支持するボート30と、処理室44内に設けられた発熱体と、反応ガスを供給するガス供給ノズル60と、を有し、発熱体は、処理室44内でボート30の少なくとも一部を覆うサセプタ48と、このサセプタ48とボート30との間に設けられたサセプタウォール160とを有する。 (もっと読む)


【課題】均一な成膜を行うことができるDCアークプラズマCVD装置を提供する。
【解決手段】DCアークプラズマCVD装置1は、プラズマガン4及び陽極部5と、反応容器3と、を備え、プラズマガン4及び陽極部5は、プラズマPを発生させ、反応容器3は、プラズマガン4及び陽極部5が互いに対向するように取り付けられると共に発生させたプラズマPをその内部で囲うように設けられた反応室6と、反応室6に隣接しその内部に基板2が配置される成膜室7と、を含んでいる。反応室6と成膜室7との間の対向壁部8cには、プラズマPによって活性化させた原料ガスが通過する孔が複数形成され、反応室6の壁部8は、絶縁体で構成されている。このDCアークプラズマCVD装置1によれば、反応室6の壁部8に電流が流れ込んで放電空間内の電流密度が不均一になるのを抑制でき、成膜速度のばらつきを防止できる。 (もっと読む)


磁界が存在する中でのプラズマ堆積プロセスにより薄膜を形成する方法。前駆体が、堆積チャンバに配送され、活性化され、プラズマを形成する。プラズマは、磁界が在る時に開始され得るか、又は、開始後に磁界に曝され得る。プラズマは、前駆体から誘導されるイオン種と中性種とを含む。磁界は、プラズマを操作して、イオン種の濃度の低減と中性種の濃度の増加に影響を与える。続いて、薄膜材料は、その結果得られる中性種濃縮堆積媒体から形成される。本方法により、欠陥濃度が低い薄膜材料を形成することができる。一実施形態では、薄膜材料は、光起電力材料であり、欠陥の抑制により、光起電力効率が高められることになる。 (もっと読む)


【課題】誘電体窓の撓み等に起因した隙間が発生するのを防止できるマイクロ波プラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】マイクロ波プラズマ処理装置の誘電体窓12と誘電体板22との間を1〜600Torr(1.3332×102〜7.9993×104Pa)の範囲の負圧にする。誘電体板22を誘電体窓12に押し付け、誘電体窓12の撓みに合わせて誘電体板22を撓ませることができるので、誘電体板22とスロット板23との間、又はスロット板23と誘電体窓12との間に隙間が発生するのを防止することができる。大気圧が直接誘電体窓12にかからなくなるので、誘電体窓12の撓みも低減する。 (もっと読む)


【課題】 被処理物が陰極とされる構成のプラズマCVD装置において、プラズマを安定化させると共に、従来よりも成膜レートを向上させる。
【解決手段】 本発明に係るプラズマCVD装置10によれば、接地電位に接続された真空槽12の内壁が陽極とされ、被処理物16が陰極とされ、これら両者間にパルス電力Epが供給されることで、当該両者間にプラズマが発生する。そして、このプラズマを用いたCVD法によって、被処理物16の表面にDLC膜が生成される。ただし、DLC膜が陽極としての真空槽12の内壁に付着することで、当該真空槽12の内壁の陽極としての機能が低下することが懸念される。この真空槽12の内壁に代わって、アノード電極40が陽極として機能することで、プラズマが安定化される。また、真空槽12内に磁界Eが印加されることで、プラズマ密度が増大し、DLC膜の成膜レートが向上する。 (もっと読む)


【課題】高硬度で緻密な炭素膜を形成することを可能とし、更なる薄膜化が可能な炭素膜の形成方法を提供する。
【解決手段】減圧した成膜室101内に炭素を含む原料の気体Gを導入し、この気体Gを高周波プラズマによりイオン化し、このイオンを用いて基板Dの両表面に炭素膜を形成する炭素膜の形成方法であって、高周波プラズマにより原料の気体Gをイオン化するプラズマ空間106と、イオンを加速させる加速空間108とが連続する成膜室101内において、基板Dを加速空間108内に配置し、この状態で加速していないイオン又は加速されたイオンを用いて、基板Dの両表面に炭素膜を形成する第1の工程と、第1の工程の後に、第1の工程時よりも反応圧力を下げた状態で、第1の工程時よりも加速度を高めたイオンを用いて、基板Dの両表面に炭素膜を形成する第2の工程とを含む。 (もっと読む)


本発明による大面積プラズマ処理装置は、複数の相互接続した基本共鳴メッシュ(M1,M2,M3)を有する少なくとも1つの平面アンテナを有する。各メッシュ(M1,M2,M3)は、少なくとも2つの導電性脚部(1,2)及び少なくとも2つのキャパシタ(5,6)を有する。高周波発生装置は、前記アンテナを該アンテナの共鳴周波数のうちの1つにまで励起する。処理チャンバは前記アンテナ(A)に近接して設けられる。前記アンテナ(A)は、明確に定められた空間構造を有する電磁場パターンを発生させる。これにより前記プラズマの励起を顕著に制御することが可能となる。
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【課題】 プラズマプロセッシングにおいて簡易かつ低コストで高周波放電の開始を容易にして放電を安定に維持すること。
【解決手段】 チャンバ10の天井部において、周辺プラズマ領域PSBの上方(好ましくはシャワーヘッド38の周囲)には、環状または同心状に延在する磁場形成機構66が設けられている。この磁場形成機構66において、外側セグメント磁石Miの下面(N極)から出た磁力線Biは、直下の周辺プラズマ領域PSB内に降りてから放物線を描くように上方へUターンして内側セグメント磁石miの下面(S極)に達する。隣の磁場形成ユニット[Mi+1,mi+1]においても、上記磁場形成ユニット[Mi,mi]から円周方向に所定の角度間隔だけ離れた位置で、上記と同様のループを有する磁力線Bi+1が形成される。 (もっと読む)


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