【課題】表示装置の薄膜トランジスタ基板において、水素プラズマ処理時の水素による影響を低減する。
【解決手段】非晶質ケイ素の膜により形成された非晶質ケイ素層上に形成される銅配線において、第１添加元素として水素化物の生成エネルギーが負の元素、さらに第２添加元素を含む銅を主成分とする合金により形成された銅合金層１０７Ａと、前記銅合金層の上に純銅により形成された純銅層１０７Ｂとを有する薄膜トランジスタ基板を備える。 （もっと読む）

【課題】２つの電極の構造を共通にして構成の簡易化を図るとともに、各電極の接合性を向上させつつ、半導体発光素子の電気的特性の低下を抑制する。
【解決手段】半導体発光素子１は、ｎ型半導体層１４０、発光層１５０、ｐ型半導体層１６０、透明電極１７０、透明電極１７０に形成されるｐ側電極３００、ｎ型半導体層１４０に形成されるｎ側電極４００を備える。ｐ側電極３００は、透明電極１７０に積層されるｐ側接合層３１０およびｐ側ボンディングパッド電極３２０を備え、ｎ側電極４００は、ｎ型半導体層１４０に積層されるｎ側接合層４１０およびｎ側ボンディングパッド電極４２０を備える。ｐ側接合層３１０およびｎ側接合層４１０はＴａＮとＰｔとの混在層で構成され、ｐ側ボンディングパッド電極３２０およびｎ側ボンディングパッド電極４２０はＰｔとＡｕとの積層構造で構成される。 （もっと読む）

【課題】カーボン膜の除去が必要とならず、かつ、十分にコンタクト抵抗を低抵抗化できるようにする。
【解決手段】オーミック電極５を形成するための金属層１５の形成前にレーザ光の吸収効果の高いカーボン層１４を形成しておき、その上に金属層１５を形成してからレーザアニールを行うようにしている。これにより、金属層１５を構成する金属がカーボン層１４を構成する炭素（Ｃ）やｎ⁺型基板１を構成するシリコン（Ｓｉ）または炭素と反応してオーミック電極５が形成されるため、カーボン層１４を除去する必要がない。また、レーザアニール時にカーボン層１４を用いているため、レーザ光の吸収率を高くすることができ、オーミック電極５のコンタクト抵抗の低抵抗化を十分に行うことが可能となる。したがって、カーボン膜１４の除去が必要とならず、かつ、十分にコンタクト抵抗を低抵抗化することが可能となる。 （もっと読む）

集積回路に使用する銅線のための集積回路用相互接続構造およびこれを作る方法が提供される。Ｍｎ、Ｃｒ、またはＶ含有層が、線からの銅の拡散に対しバリアを形成し、それにより、絶縁体の早期絶縁破壊を防ぎ、銅によるトランジスタの劣化を保護する。また、Ｍｎ、Ｃｒ、またはＶ含有層は、銅と絶縁体の間の強い接着を促進し、その結果、製造と使用中のデバイスの機械的健全性を保ち、さらに、デバイスの使用中の銅のエレクトロマイグレーションによる故障を防ぎ、また、環境からの酸素または水による銅の腐食を防ぐ。このような集積回路の形成に関しては、本発明の特定の実施形態により、Ｍｎ、Ｃｒ、Ｖ、またはＣｏを銅表面上に選択的に堆積させ、一方で、絶縁体表面上のＭｎ、Ｃｒ、Ｖ、またはＣｏの堆積を減らす、または防ぎさえもする方法が提供される。また、Ｍｎ、Ｃｒ、またはＶ含有前駆物質およびヨウ素または臭素含有前駆物質を使った銅の触媒堆積も提供される。 （もっと読む）

【課題】所定パターンを有するとともに、表面抵抗率や光透過率等のばらつきが少ない金属酸化膜の形成方法およびそのような金属酸化膜を提供する。
【解決手段】基材上に、所定パターンを有する金属酸化膜の形成方法等であって、基材に対して、金属塩を含有する液状物を塗布して金属塩膜を形成する第１工程と、金属塩膜に対して、所定パターンを設ける第２工程と、金属塩膜に対して、熱酸化処理または所定のプラズマ酸化処理を行い、金属酸化膜とする第３工程と、を含む。 （もっと読む）

半導体デバイスを生産する方法が提供され、この半導体デバイス（５０）は、基板（３０）と、半導体層（３６、３８）と、基板および半導体層から選択された少なくとも１つの要素に隣接する少なくとも１つのメタライゼーション層（５２、７０）とを含み、この方法は、基板および半導体層から選択された少なくとも１つの要素の近くに酸素を含む少なくとも１つのメタライゼーション層を形成するステップを含む。
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【課題】銅配線層の接着性を改善するとともに、銅配線層の抵抗値が大きくなることを抑制する配線構造を提供する。
【解決手段】配線構造１０では、ガラス基板１１上に、チタンからなる接着層１２と、酸化銅からなるバリア層１３と、純銅からなる銅配線層１４とが順に積層されている。接着層１２は、銅配線層１４をガラス基板１１に確実に接着させて、銅配線層１４がガラス基板１１から剥がれるのを防止する。バリア層１３は、配線構造１０を熱処理したときに、接着層１２を構成するチタン原子が銅配線層１４内に拡散しないようにして、銅配線層１４の抵抗値が大きくならないようにする。このため、銅配線層１４は、熱処理された後も、比抵抗を小さな値に保つことができるので、信号の遅延を防止できる。 （もっと読む）

【課題】半導体基板に縦型パワートランジスタが形成され、該半導体基板の主面側と裏面側にそれぞれ電極が形成されてなる半導体装置であって、半導体基板の主面側と裏面側とで残留応力が低くバランスされており、半田接合に際して剥がれや亀裂等の不具合が生じ難い電極構造を有してなる半導体装置を提供する。
【解決手段】主面側の半導体基板１上に保護膜５が形成され、第１下地電極層１４に接続する第１金属電極３０ａが保護膜５に設けられた開口部５ｋを介して外部に露出すると共に、裏面側の半導体基板１上の全面に第２下地電極層１４ｂに接続する第２金属電極３０ｂが形成され、第１金属電極３０ａと第２金属電極３０ｂが、半導体基板１側から外部側に向かって、スパッタにより形成された同じ層数で対応する各層が同じ材料からなる積層構造を有してなる半導体装置１００とする。 （もっと読む）

【課題】Ｃｏをメッキシードとして電解メッキによるＣｕ膜を成膜する場合に、Ｃｏの溶出を抑制してＣｏシード上に均質でかつ密着性の高いＣｕ膜を形成することができる成膜方法を提供すること。
【解決手段】表面にシード層としてＣｏ膜が形成された基板を準備し、Ｃｏ膜の上に硫酸銅溶液を主体とするメッキ液を用いて、電解メッキにより基板のＣｏ膜上にＣｕ膜を成膜するにあたり、基板表面をメッキ液に浸漬する前に、基板に対して、Ｃｏの表面電位がＣｏの酸化電位より低くなるような負の電圧を印加する。 （もっと読む）

【課題】炭化珪素（ＳｉＣ）半導体装置において、ＳｉＣ基板との良好なオーミック特性が得られると共に、密着性および耐久性に優れた裏面電極を提供する。
【解決手段】ＳｉＣ半導体装置は、ＳｉＣ基板１の裏面に形成されたニッケル膜３を含む裏面電極１１と、ＳｉＣ基板１とニッケル膜３との間に介在し、開口部２ａを有するバリア膜２とを備える。ＳｉＣ基板１とニッケル膜３との間においては、バリア膜２の開口部２ａの部分に、ニッケルシリサイドの反応層４が形成されている。 （もっと読む）

【課題】従来の半導体装置では、基板裏面側のプラズマ処理により、基板表面側の電極が変色し、ＳｉＮ膜がプラズマ処理されてしまう問題があった。
【解決手段】本発明の半導体装置では、シリコン基板２の裏面側に裏面電極１３を配置し、その裏面電極１３を構成するＡｌ層１４は、シリコン基板２上に直接配置される。そして、Ａｌ層１４は、シリコン基板２とＡｌスパイクを形成することで、シリコン基板２と裏面電極１３との接着性が向上される。この構造により、シリコン基板２へのプラズマ処理が不要となり、シリコン基板２の表面側のパッド電極１２が変色し、ジャケット膜１０がプラズマ処理されることを防止できる。 （もっと読む）

【課題】有機ＥＬディスプレイや液晶ディスプレイなどの表示装置において、半導体層と例えばソース電極やドレイン電極を構成するＡｌ系膜とを安定して直接接続させることが可能であるとともに、ウェットプロセスで用いる電解質液中で、半導体層とＡｌ系膜との間でガルバニック腐食が生じにくく、Ａｌ系膜の剥離を抑制することのできる配線構造を提供する。
【解決手段】基板１の上に、基板１側から順に、薄膜トランジスタの半導体層４と、半導体層４と直接接続するＡｌ合金膜６と、を備えた配線構造であって、半導体層４は酸化物半導体からなり、Ａｌ合金膜６は、Ｎｉおよび／またはＣｏを含む。 （もっと読む）

【課題】半導体装置において、Ａｕ配線との密着性が強く、より高い熱的安定性を有するバリアメタル層を実現し、更なる特性向上、歩留まり向上を実現する。
【解決手段】半導体装置を、Ａｌ層８を含む電極９，１０と、Ａｕ配線１２と、Ａｌ層８とＡｕ配線１２との間に設けられ、Ａｌ層８の側から順に第１Ｔａ層１４、第１ＴａＮ層１５、第１Ｐｔ層１６を積層した構造を有するバリアメタル層１１とを備えるものとする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ウエハが反るのを防止できる半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る半導体装置は、互いに対向する第１及び第２の主面を有するＧａＡｓ基板と、前記ＧａＡｓ基板の前記第１の主面上に形成され、Ｐｄ、Ｔａ、Ｍｏの少なくとも１つから構成された第１の金属層と、前記第１の金属層上に形成され、Ｎｉ系合金又はＮｉから構成された第２の金属層と、を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】製造コストの増加を抑制しつつ、ＳｉＣ基板の一方面に直接接合されるメタル層の接続信頼性を向上でき、さらにはＳｉＣ基板に対するメタル層のオーミック接合を確保することのできる半導体装置およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】ＳｉＣ基板２を有する半導体装置１において、ＳｉＣ基板２の裏面２２側の表層部分に、表面２１側の表層部分よりもカーボンが高濃度に含まれる高カーボン濃度ＳｉＣ層３を形成する。そして、その高カーボン濃度ＳｉＣ層３の表面にドレイン電極１７を直接接合する。 （もっと読む）

【課題】高温動作の際の相互拡散によるＳｉＣ基板と金属シリサイド層との間及び金属シリサイド層とボンディングメタル層との間の接着強度の低下を防止し、高温下での連続動作性及び電気的特性に優れた信頼性の高い半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は、ニッケル及びチタンからなる群より選択される少なくとも１つの金属を含む第１の金属層を炭化ケイ素基板の表面に形成する工程と、鉄を含む第２の金属層を前記第１の金属層の表面に形成する工程と、前記第１及び第２の金属層が形成された炭化ケイ素基板を熱処理する工程と、熱処理された前記第２の金属層を除去する工程と
を含むことを特徴とする半導体素子の製造方法である。 （もっと読む）

【課題】本発明は、リフトオフ法を用いたパターン形成方法を実施したとしても、導電性パターンのエッジ付近にバリが発生することがない、リフトオフ法を用いたパターン形成方法を提供する。
【解決手段】本発明では、まず、導電性パターン６のエッジ部が位置するウエハ基板１の表面内に、溝２を形成する。次に、溝２が露出する開口部３ａを有するレジスト３を、ウエハ基板１上に形成する。次に、開口部３ａから露出するウエハ基板１上とレジスト３上とに、導電性膜５を形成する。そして、レジスト３を除去することにより、ウエハ基板１上に導電性パターン６を形成する。 （もっと読む）

【課題】導電性、耐熱性、耐硫化性又は耐セレン化性に優れた電極材料、あるいは、製造工程のいずれかの段階において硫化雰囲気又はセレン化雰囲気に曝される素子の電極として用いることが可能な電極材料、このような電極材料を用いた電極、及び、このような電極材料を用いた素子を提供すること。
【解決手段】少なくともＳｉを含有し、Ｍｏを７０ａｔ％以上含む電極材料、このような電極材料を用いた電極、及び、このような電極材料を電極に用いた素子。Ｓｉ含有量は、１０ａｔ％以下が好ましい。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成でリーク電流の抑制された電子素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に設けられ、Ｍｏ−Ｎｂ合金から構成された第１の電極と、前記第１の電極上に配置された絶縁膜と、前記第１の電極に対して少なくとも前記絶縁膜を介して配置された第２の電極と、を備えた電子素子とする。 （もっと読む）

【課題】第１の配線と第２の配線との交差部に整流素子と不揮発性記憶素子を有する不揮発性記憶装置で、従来に比して高さを抑えることができる不揮発性記憶装置を提供する。
【解決手段】第１の方向に延在するビット線ＢＬと、ビット線ＢＬとは異なる高さに形成され、第２の方向に延在するワード線ＷＬと、ビット線ＢＬとワード線ＷＬとが交差する位置にビット線ＢＬとワード線ＷＬの間に挟持されるように配置される抵抗変化型メモリセルと、を備え、抵抗変化型メモリセルは、抵抗変化素子２０がＮ型半導体層１０とＰ型半導体層３０で挟まれた構造を有する。 （もっと読む）