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Fターム[5C038FF07]の内容

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Fターム[5C038FF07]に分類される特許

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【課題】 顕微質量分析装置は試料を観察し、測定部位を特定し、その部位にレーザー光を微小に絞り照射して顕微レーザー質量分析を行なうもので、レーザー光を分析対象である測定部位周囲にレーザー光が広がって照射しないようにして、測定部位の情報だけを的確に得る顕微レーザー質量分析装置を提供する。
【解決手段】試料観察手段とレーザー光照射手段を同じ顕微鏡対物レンズを用い観察した部位にレーザー光を照射して測定するために、焦点距離の短い対物レンズにより、レーザー光を微小にしぼり、その対物レンズのセンター部に孔を開け、金属細管からなる微細イオン輸送管を挿入したイオン輸送管内蔵対物レンズを用いて微小部の顕微MALDIの測定を可能とする。また、イオン輸送管は高分子イオンの通過率を向上させるために加熱機能を備えている。 (もっと読む)


【課題】 イオントラップToF装置の、特にMS2及びMS3分析モードにおいて、イオンスループット速度及びスペクトル取得速度を改良する。
【解決手段】 飛行時間型質量分析装置(1)が、イオン源と、該イオン源から供給される試料イオンを受容する分割線形イオンデバイス(10)と、該分割デバイスから排出されたイオンを分析する飛行時間型質量分析器を備える。最初にイオンを二以上の隣接するセグメントグループの中に捕捉し、次いでイオンをセグメントグループよりも短い分割デバイスの領域に捕捉するための捕捉電圧が分割デバイスに印加される。捕捉電圧はデバイス(10)の全長に沿って一様な捕捉場を供給するのにも有効である。 (もっと読む)


【課題】従来の質量分析装置では、測定対象物表面に垂直に一次ビームを入射させることができないため、その表面に凹凸がある場合は、一次ビームに対して影になる部分を生じた。その結果、試料から発生するイオンの分布と測定対象表面の物質分布に乖離が生じる問題があった。
【解決手段】一次イオン生成部、一次イオンを測定対象物に照射するための一次イオン光学系、二次イオンを検出するための検出器、および測定対象物から検出器までイオンを導く二次イオン光学系を有する質量分析装置において、
当該一次イオン生成部は当該二次イオン光学系のイオン光軸の外に設置し、偏向部を当該測定対象物と当該検出器との間に有することを特徴とする飛行時間型質量分析装置 (もっと読む)


【課題】解決しようとする問題点は、LC/MSなどに用いられる大気圧イオン化(API)質量分析装置において、インターフェース部のクリーニング作業が複雑でユーザーの負担になる点である。
【解決手段】本発明は、電極表面が拭き取り材により自動的にクリーニングされるため、ユーザーの負担を低減させた(使い易い)質量分析装置の提供を最も主要な特徴とする。 (もっと読む)


【課題】従来の遅延引出し法ではイオンを加速する際にm/zの相違が考慮されないため、適切なエネルギ収束が達成されるm/z範囲が狭く、分解能が改善されるm/z範囲も狭い。
【解決手段】試料Sにレーザ光を照射してイオンを発生させる時点で、試料プレート1から引出し電極3に向けて緩やかに下がる電位勾配をもつ引出し電場を形成しておく(U)。この電場の作用により、イオンは引出し領域中でm/zに応じて略分離され、m/zが大きなイオンは試料S近くに残る。遅延時間t経過後に試料プレート1及び補助電極2への印加電圧を上げて折れ線様の電位勾配Rを有する加速電場を形成する。この電場は理想的な電位勾配曲線Qに近いため、m/z毎に適切なポテンシャルエネルギ変化をイオンに与えることができ、幅広いm/zに亘ってエネルギ収束を適切に行い分解能を改善することができる。 (もっと読む)


【課題】質量分析用途に用いる成形用セラミックスを提供する。
【解決手段】RF部材のオーバーモールドに適した、アルカリ土類金属酸化物、例えばSrOを含むガラスセラミックは、良好なRF応答および良好な機械的強度を提供する。具体的には、SrOは、RFおよび機械的性能を維持しながら、セラミックの流動温度を低下させる。得られるガラス配合物は、10〜50モル%のSrO、5〜30モル%のAlおよび20〜60モル%のBを含有する。 (もっと読む)


【課題】S/N比と迅速性の向上を図った質量分析装置を提供する。
【解決手段】パルス幅がピコ秒またはフェムト秒の紫外線領域の超短パルスレーザ光を出力する超短パルスレーザ装置8と、真空排気された真空容器2と、この真空容器内に配設されて、前記超短パルスレーザ光を複数回往復可能に反射させるように複数の凹面鏡をそれぞれ設けた一対の多面鏡を対向配置し、これら多面鏡の焦点に、前記超短パルスレーザ光を複数回通す多面鏡システム4と、多面鏡システムの焦点に向けてサンプルを含有した高温のサンプルガスを間欠的に噴射する高温パルスバルブ3と、多面鏡システムによりイオン化されたサンプルの質量を測定する飛行時間型質量分析器7と、真空容器内でイオン化されたイオンを質量分析器に導入させる電場を形成する電極5a,5bと、を具備している。 (もっと読む)


【課題】試料イオン化装置(イオン源)からの試料導入の際、イオン化が不充分であった試料が導入部細孔以外の部位に滞留し、熱などのエネルギーにより、酸化物ないし炭化物などの生成物として堆積する。その堆積する生成物は質量分析装置の性能劣化の原因となる。
【解決手段】本発明は、試料供給源と、試料供給源から供給される試料をイオン化する試料イオン化部と、イオン化された試料イオンが導入される試料導入抑制室と、試料導入抑制室の下流になる差動排気室と、差動排気室の下流側になる分析部を有する質量分析装置において、試料導入抑制室、前記差動排気室の少なくとも一方の内部で放電を生成する放電生成手段を有する。そして、放電生成手段は、試料導入抑制室で対向するように設けた対向する試料導入部電極と第一細孔部用部材(電極)、ないし前記差動排気室で対向するように設けた第一細孔部用部材(電極)と第二細孔部用部材(電極)を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】分析部で選択イオンを変更するタイミングの制御を容易化することができる質量分析装置を提供すること。
【解決手段】蓄積部20は、イオン源10で生成されたイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出し、第1分析部30は、蓄積部20が排出するイオンパルスから、質量電荷比に基づいて第1の目的イオンを選択し、コリジョンセル30は、第1の目的イオンの一部又は全部を開裂させてプロダクトイオンを生成し、第2分析部50は、第1の目的イオン及びプロダクトイオンから、質量電荷比に基づいて第2の目的イオンを選択し、検出器60は、第2の目的イオンを検出する。制御部90は、第1分析部30では質量が大きい第1の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くし、第2分析部50では質量が大きい第2の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くするように制御する。 (もっと読む)


【課題】目的とするプロダクトイオンの検出感度の低下や、イオンの停滞によるゴーストピークの出現を回避する。
【解決手段】
コリジョンセル20内にCIDガスを導入するガス供給管31の接続個所を第1入射壁面22と第2入射壁面24との間に設け、第2イオン入射開口25の開口面積を第1イオン入射開口23の開口面積より大きくする。これにより、イオン入射側からイオン出射側に向けてCIDガスが吹き出す。イオン入射側とイオン出射側とのガスコンダクタンスの差によってコリジョンセル20内に生じるガスの流れに加えて、ガス吹き出しを後方に向けることで後方へのガス流が一層起こり易くなり、コリジョンセル20内でイオンの進行が促進されイオンの遅延が軽減される。 (もっと読む)


【課題】装置条件を変更した場合でも、常に最適なイオンゲートの時間設定が可能なタンデム型飛行時間型質量分析法および装置を提供する。
【解決手段】所望のプリカーサイオンをイオンゲートで選択し、開裂させてプロダクトイオンを生成させて測定する際に、予め質量電荷比の異なる複数の基準物質を用いて、該基準物質の質量電荷比に対する遅延引き出し条件、およびイオンゲートのオープン時間の最適値を測定して記憶させたテーブルを用意しておき、所望のプリカーサイオンの質量電荷比について質量分解能が最適となるような遅延引き出し条件およびイオンゲートのオープン時間を前記テーブルの記憶値に基づいて求め、求めた前記遅延引き出し条件と前記イオンゲートのオープン時間の最適値をタンデム型飛行時間型質量分析装置に設定するようにした。 (もっと読む)


【課題】電子の導入効率およびイオンの導入効率が低く、高速の電子捕獲解離スペクトルを取得することが可能な電子捕獲解離反応装置を備えた質量分析装置を提供する。
【解決手段】高周波電場が印加される線形多重極電極と、線形多重極電極の軸方向の両端に配置され線形多重極電極の中心軸上に穴を具備し直流電圧が印加されて壁電場を生成する壁電極を有する線形イオントラップと、線形多重極電極の中心軸と同軸を含む磁場を発生し、線形イオントラップを取り囲む筒型の磁場発生手段と、線形多重極電極とは壁電極を挟んで反対側に設けられた電子源とを有し、電子源の電子発生部位が、磁場発生手段の発生する磁場の内部に設置された電子捕獲解離反応装置を備えた質量分析装置。 (もっと読む)


【課題】0.1Torr未満の圧力で、サンプルおよび試薬ガスをイオン源へと流すことにより、化学イオン化によってサンプルをイオン化する。
【解決手段】イオン源を0.1Torr未満の圧力に維持しながら、電子イオン化により、試薬ガスをイオン源内でイオン化して、試薬イオンを生成する。0.1Torr未満の圧力で、サンプルを試薬イオンと反応させて、サンプルの生成イオンを生成する。質量分析のために、生成イオンをイオントラップへと移送する。 (もっと読む)


【課題】MRM測定等においてプリカーサイオンのm/z切替えに伴う休止期間中に、コリジョンセル内に残留する不要イオンを確実に除去するとともに、次の検出期間には検出器に達するイオン量を十分に回復させ高感度を保つ。
【解決手段】m/z切替えの際にデータを収集しない休止期間の長さに応じて、休止期間開始時点t1からパルス電圧印加を開始するまでの遅延時間dの長さを変える。それにより、休止期間終了時点t2でプロダクトイオン量が確実に回復することを保証する。また、休止期間に入る直前のイオン強度に応じてパルス電圧の波高値も変える。それにより、残留イオン量が多い場合にイオンの除去速度を上げ、同じパルス幅内で確実に残留イオン量をゼロにする。その結果、クロストークも完全に排除できる。 (もっと読む)


【課題】第1MSに所望する質量分解能を与える飛行距離よりも短い飛行距離のTOFMSを用いて、所望する質量分解能を与えることが可能なタンデムTOFMSを提供する。
【解決手段】第1TOFMSでマススペクトルを測定する場合には反射場として働き、第1TOFMSでプリカーサイオンを選択する場合には、イオンを反射することなくイオンを通過させる反射場を、第1TOFMSの出口部に置いた。 (もっと読む)


【課題】イオンの垂直方向の収束性を向上させ、感度向上のため直交加速イオン源との接続を可能にすることができる飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源10と、直進軌道とらせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器15とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。 (もっと読む)


【課題】イオンの垂直方向の収束性を向上させ、感度向上のため直交加速イオン源との接続を可能にすることができる飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源10と、らせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器15とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。 (もっと読む)


過渡電圧プロファイルを印加してイオンパケットを加速させるマスフィルタを有する質量分析計である。電圧プロファイルは、質量対電荷比が高くなるにつれて高くなる運動エネルギー及び質量対電荷比が高くなるにつれて低くなる速度を各イオン種に付与する関数形を有するように選択される。イオンは、当該イオンの運動エネルギーに基づいて、かつ電圧プロファイルの関数形を考慮して異なるイオン種を区別するイオン検出器において検出される。適切な電圧プロファイルは、正弦関数、三角関数、及びのこぎり波関数などの周期関数を含み、これによってマスフィルタ内の駆動パルスの増幅が、構築が簡易で安価な狭帯域増幅段によって実行されることが可能になる。 (もっと読む)


【課題】イオンの遅延やイオンの停滞を効果的に防止することができる高周波イオンガイドを備える質量分析装置を提供する。
【解決手段】高周波電場によってイオンを収束させつつ後段へと輸送する高周波イオンガイド(20)は、イオン光軸(C)を取り囲むように配置される8本のロッド電極(21〜28)から成るが、各ロッド電極(21〜28)は、イオン入射側端面での内接円(29a)の半径r1よりもイオン出射側端面での内接円(29b)の半径r2が大きくなるように、イオン光軸(C)に対し傾けて配設される。これにより、ロッド電極(21〜28)で囲まれる空間にはイオンの進行方向に擬似ポテンシャルの大きさ又は深さの勾配が形成され、この勾配に従ってイオンは加速される。そのため、ガス圧が比較的高くイオンがガスに衝突する機会が多い場合であっても、イオンの減速を抑え、イオンの遅延や停止を防止することができる。 (もっと読む)


運動エネルギー識別(KED)およびダイナミックリアクションセル(DRC)の両方で操作するように構成可能な質量分析計システムを提供する。質量分析計に含まれる加圧セルまたは衝突セルは四重極を含み、不活性ガスおよび反応性ガスの両方の源に結合される。KEDモードで操作するために、衝突セルがある量の不活性ガスで充填され、エネルギー障壁が衝突セルと下流質量分析器との間に形成され得る。代わりにDRCモードで操作するために、衝突セルは、干渉イオンのみと反応性であるある量のガスで充填され得る。次いで、生成物イオンの質量フィルタリングは、比例的に多くの分析物イオンを下流質量分析器に送ることができる。モード制御器は、2つの操作モードを協調させる。 (もっと読む)


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