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Fターム[5F031HA32]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 処理時の固着、保持 (16,861) | ステージ、チャック、サセプタ (15,090) | 固着力の解除、保持面からの離脱 (1,052)

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【課題】半導体チップ同士の位置精度を確保することで、高精度の加工が可能な半導体チップの加工方法を実現する。
【解決手段】本発明の半導体チップの加工方法では、粘着テープ2上に配置された複数の半導体チップ1上に接合用樹脂4を形成し、接合用樹脂4を半導体チップ1間に入り込ませて、半導体チップ1間に入り込んだ部分以外の不要な接合用樹脂4を除去する。これにより、半導体チップ1の相対位置は固定されるため、位置ズレが生じることなく、半導体チップ1に対して高精度の加工が可能となる。 (もっと読む)


【課題】水平円盤型サセプタ上のウェハーを取り外す際に、ウェハーとサセプタの貼り付き現象が発生していてもウェハーと共にサセプタが持ち上がらないようにすることにより、ウェハー、サセプタおよびその他の周辺部品が破損する怖れを軽減するエピタキシャル成長膜形成装置を提供することを目的とする。
【解決手段】気相成長膜を形成するウェハーWを収容する水平円盤型のサセプタ5と、前記サセプタ5を保持して回転させる回転胴6と、を備え、前記サセプタ5の周縁部に設けられた複数の突起部5bと、前記回転胴6の上部に設けられた複数の鍵型突起部6aと、を係合させる構成を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】水平円盤型サセプタを使用し、エピタキシャル成長膜を形成する際に、ウェハーとサセプタに跨った貼り付き現象の発生を十分に防止することを可能とするエピタキシャル成長膜形成方法を提供することを目的とする。
【解決手段】水平円盤型のサセプタ5上の略中央部に、前記サセプタ5よりも小径のウェハーWをほぼ水平に収容し、前記ウェハーW上に気相成長膜を形成する方法であって、前記ウェハーWの周縁部よりも内側の底面に隣接する円周状凹部段差と、前記サセプタ5の周縁部よりも内側の上面円周上に設けられた凸部と、を当接させて、前記ウェハーW上に気相成長膜を形成することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】基板の中心を回転テーブルの回転中心に精度よく位置決めする。
【解決手段】基板トレイ40に形成された円形開口41a〜41cに、回転テーブル32に設けられた固定ロックピン50A,50C、及び移動ロックピン50Bが挿入した状態で、基板トレイ40を回転テーブル32に載置し、その後、回転テーブル32の移動ロックピン50Bを、半径方向に沿って、回転テーブル32の中心から離れる方向へ移動することで、基板トレイ40の円形開口41a〜41cが内接する円C1の中心を、回転テーブル32の回転中心に位置決めする。これにより、基板Wの中心を、回転中心に精度よく位置決めすることが可能となる。 (もっと読む)


【課題】ワークに力が加わるような処理を行う場合にもワークを確実に密着固定できると共に、処理後のワークの脱離も容易な固定治具並びにこの固定治具を用いたワークの処理方法を提供する。
【解決手段】治具本体2に、密着層3側の外面に開口する、区画空間6に連通しない吸着孔8が形成される。そして、吸着孔8に連通する貫通孔9を密着層3に形成し、吸着孔8の真空引きによりワークWに吸着力を作用させる。 (もっと読む)


【課題】バックグラインド工程を経て極薄に研削されたウエハの研削面に、塗布剤を滴下し、平滑化させて所定の膜を形成する際、ウエハを破損しないようになされた塗布方法を提供する。
【解決手段】ウエハWの片面に固定治具を密着固定した状態で搬送し、塗布装置で保持する。固定治具として、板状の治具本体と、当該治具本体の片面に設けられた、半導体ウエハを着脱自在に密着保持する密着層とから構成する。治具本体は、片面に前記密着層を支持する複数の支持突起を有すると共に、片面の外周部に前記支持突起と同等高さの側壁を有し、この側壁の端面に前記密着層が接着されて、前記密着層と前記治具本体との間に前記側壁で囲われた区画空間が画成され、前記治具本体に前記区画空間に連通する通気孔7が形成され、この通気孔を介して前記区画空間内の空気を吸引することにより、前記密着層が変形されるものを用いる。 (もっと読む)


【課題】 ウエハの両面を順次処理する場合、ウエハを確実に保持して所定の処理や搬送をできるようにする。
【解決手段】ウエハの一面に第1の固定治具3aを密着固定し、その他面に対し所定の処理を行った後、ウエハの他面に第2の固定治具3bを密着固定し、第1の固定治具3aを脱離して第2の固定治具3bにウエハを受け渡す。両固定治具は、治具本体31と、その片面に設けた密着層32とからなる。治具本体は、密着層を支持する複数の支持突起33及び側壁34を有し、側壁の端面に密着層が接着されて密着層と治具本体との間に側壁で囲われた区画空間35が画成され、区画空間に連通する通気孔36が形成され、区画空間内の空気の吸引により密着層が変形される。脱離の際、第1の固定治具の密着層を変形させ、両固定治具を相互に離間する方向に相対移動させる。 (もっと読む)


【課題】破砕中のネガの破損数を著しく制限することを可能にする方法を提案すること。
【解決手段】本発明は、2つの層により画定される脆化面に沿って複合構造(100)を破砕する方法に関する。破砕の間、この複合構造は、ボートハウジング(120)内に配置され、また、この構造の両側に配置され、かつ互いに平行に整列された硬化剤(118)と接触した状態に保たれる。 (もっと読む)


【課題】使用時のコストを低下することができる塗布装置、基板の受け渡し方法及び塗布方法を提供すること。
【解決手段】基板搬送部の搬入側ステージ及び搬出側ステージに外部搬送機構との間で基板を受け渡す際に当該外部搬送機構の一部を収容する収容部がそれぞれ設けられているので、外部搬送機構の一部を収容させる際に基板の受け渡しを行うことができる。これにより、昇降ピンを設けなくても基板の受け渡しを行うことができるので、その分のコストを低下させることができる。また、昇降ピンを設けなくても基板の受け渡しを行うことができるので、処理タクトを短縮化することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】従来の基板処理装置の基板処理性能を維持しながら、製造コストを抑え、さらに基板の処理時間時間を短縮する。
【解決手段】基板保持装置3に可動部材6を設ける。可動部材6は、プランジャー60を備え、その上端部には、ガスケット61およびOリング62が固設されている。可動部材6の上側は、基板保持装置3の基板載置ステージ30の下側から、基板載置ステージ30に設けられた孔37に向けて挿管される。このような構成とすれば、従来のような長い配管が不要となり、製造コストを抑えられる。また、基板90の下面と孔37とガスケット61およびOリング62の上面とで、閉空間661,662が形成される。この状態で、可動部材6のプランジャー60を上下駆動(進退駆動)すれば、閉空間661,662の容積を変更でき、基板90を迅速に吸着あるいは剥離でき、基板の処理時間を短縮できる。 (もっと読む)


【課題】ステージを駆動する駆動機構に対する負荷量を調整して安定した負荷量とし、これによって、ステージ駆動を安定化させる。
【解決手段】ステージ3に設けた微細な孔を通して吸気することによって、ステージを定盤2に対して吸引させ、ステージを駆動する駆動機構に対する負荷を発生させる。これにより、ステージは定盤に対して非接触となるため、摩耗による負荷力や静止特性の変動や、摩耗物による汚染の問題を解消する。定盤上に配置するステージを2次元平面内で駆動機構によりステージ駆動する方法であり、定盤面と対向する面から定盤面に対して気体を放出することによってステージを定盤上に浮上支持するとともに、定盤面との対向面から吸気することによってステージを定盤に対して吸引させる。この吸引を調整することによって、ステージを駆動する駆動機構の負荷を調整する。 (もっと読む)


【課題】チップの突き上げを不要とするともに、ピックアップの進行でピックアップされていないチップの保持力が変動するようなことのないピックアップを伴う接着剤付きチップの製造方法を提供する。
【解決手段】固定ジグ3の密着層31上に切断されたダイボンド接着剤層24及びウエハ1が積層された状態とし、固定ジグの密着層を変形することにより、チップ13をダイボンド接着剤層とともに固定ジグからピックアップすることを特徴とする接着剤付きチップの製造方法である。固定ジグは、密着層がジグ基台30の突起物36を有する面上に積層され、側壁35の上面で接着され、ジグ基台の突起物を有する面には区画空間37が形成され、ジグ基台には、外部と区画空間とを貫通する少なくとも1つの貫通孔38が設けられてなり、固定ジグの貫通孔を介して区画空間内の空気を吸引することにより密着層を変形させる構造とする。 (もっと読む)


【課題】装置の大型化を抑止でき、また、基板の大型化に対応することができる加熱装置および基板処理装置を提供する。
【解決手段】平板状のヒータ21と、ヒータ21の表面に立設された複数の基板支持ピン23とを有する基板加熱ユニット24と、複数の基板加熱ユニット24が上下方向に積層され、固定配置されてなる基板加熱部30と、基板加熱部30に隣接配置され、基板加熱部30に対して基板11を出し入れ可能であって、上下方向に昇降可能に構成された基板搬送ロボット50と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】熱処理工程全体として均一な熱処理を行うことができる基板搬送装置および熱処理装置を提供する。
【解決手段】基板に加熱処理を行う加熱プレートに対して基板の搬出入を行うチルドアームCAの内部には流路配管が形成されており、その流路配管に冷却水を循環供給することによって保持する基板と対向する保持領域EAの全体を所定の基準温度に冷却する。また、保持領域EAには6枚のポリイミドヒータ741〜746が貼設されており、保持領域EAの少なくとも一部を基準温度とは異なる温度に温調する。これら2つの温調機構によって保持領域EAに意図的に温度分布を与えておけば、加熱プレートでの熱処理の前後に意図的な温度分布を基板に与えることができ、加熱プレートにて不可避的に生じる温度分布の不均一を解消し、熱処理工程全体として均一な熱処理を行うことができる。 (もっと読む)


高スループットの非プラズマ処理を行う装置及び方法の実施例(100)が一般的に本明細書において記載されている。他の実施例も記載及び主張されている。
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【課題】フレーム上部からの押し下げを不要にしてチャックテーブルよりも低い位置でフレームを保持することができ、切削水の流れの滞りを防止できるとともに、フレーム離脱を自動的かつ確実に行えるようにする。
【解決手段】ウエーハWを保持したフレームFをフレーム支持手段41によって下部から磁力で支持することで、フレームFを上部から把持することなく一定量の押し下げ支持を可能とし、切削加工に際して切削水がウエーハW上面に滞留する等の不具合を生ずることなく切削加工を行うことができ、また、切削加工後のフレーム離脱時にはフレーム押し上げ手段42でフレームFをフレーム支持手段41から磁力に抗して強制的に押し上げることで、フレーム離脱を自動的かつ確実に行えるようにした。 (もっと読む)


【課題】静電チャックからウエハを確実に離脱するウエハ離脱方法、ウエハ離脱装置および露光装置を提供する。
【解決手段】ウエハWの外周部を搬送アーム43により所定距離Hだけ上昇させる。所定距離Hは、静電チャック27に残留している状態のウエハWが跳ね上がらない距離である。ウエハ検出センサ35によりウエハWが静電チャック27に残留吸着していることが検出された場合には、ウエハWの中央部を強制離脱手段29の駆動部33を駆動し、押圧部材31を上方に移動する。最大移動量は押圧部材31の上端が静電チャック27の吸着面27bから高さHだけ突出する移動量とされている。 (もっと読む)


【課題】電圧印加停止後に被吸着物に対する優れた離脱性を有する静電チャック装置を提供する。
【解決手段】被吸着物と接する最表層が、フッ素樹脂を含むことを特徴とする静電チャック装置10。基板上20に、接着剤層21、絶縁層31、絶縁性接着剤層22、内部電極41、42、絶縁性接着剤層23、および被吸着物を設置する面を有する最表層33を順次積層させた積層構造を有することを特徴とする静電チャック装置10。上記最表層中のフッ素含有量が0.025〜100質量%であることを特徴とする静電チャック装置10。本発明によれば、電圧印加停止後に被吸着物に対する優れた離脱性を有する静電チャック装置を提供できる。 (もっと読む)


【課題】 静電チャックと基板間の残留吸着力の判定を慎重に行ってスループットの低下を抑えることができ、しかもセンサ系や基板状態等に異常がある場合にそれを検出することができる装置を提供する。
【解決手段】 この基板保持装置60は、基板2の押し上げの際に押し上げ部材34に加わる力を検出する力センサ36と、制御装置50とを備えている。制御装置50は、力センサ36が検出する力Fを測定して、測定した力Fが、下限値FL 以上かつ上限値FH 以下のときは正常信号SN を出力し、下限値FL より小さいときは異常信号SL を出力し、上限値FH より大きいときは、所定時間T待機した後に、力センサ36が検出している力Fを再測定して、再測定した力Fが、下限値FL 以上かつ上限値FH 以下のときは正常信号SN を出力し、下限値FL より小さいときは異常信号SL を出力し、上限値FH より大きいときは異常信号SH を出力する機能を有している。 (もっと読む)


【課題】基板を吸着保持する方式の処理装置における吸引通路に存在する塵埃やパーティクル等によって基板が汚染されるのを防止する。
【解決手段】被処理基板であるウエハWを回転可能に保持するスピンチャック10に、ウエハを吸着するための吸引口14を設けると共に、この吸引口に真空ポンプ20を接続してなる基板処理装置において、スピンチャックにおける吸引口と真空ポンプとを連通する吸引通路15aの汚れを防止するための汚れ防止手段40を設ける。この汚れ防止手段を、吸引通路における吸引口側に配設されるフィルタ部材41にて形成する。 (もっと読む)


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