説明

Fターム[5F033HH07]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 単一配線層の材料,層間接続の上層配線層の材料 (33,767) | 金属及びその合金(シリサイドを除く) (23,853)

Fターム[5F033HH07]の下位に属するFターム

Fターム[5F033HH07]に分類される特許

21 - 40 / 2,238


【課題】大型化に適した薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタアレイ基板、フレキシブル表示素子、フレキシブル表示装置及び薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を提供する。
【解決手段】フレキシブルな樹脂基板60に形成された薄膜トランジスタ200であって、周面の一部又は全部が導電性材料20により覆われたワイヤー10と、前記導電性材料を覆う絶縁膜30と、該絶縁膜を介して前記導電性材料上に形成された薄膜半導体40と、が一体的に構成されたゲート・チャネル一体形成部50を有し、該ゲート・チャネル一体形成部が前記樹脂基板の表面上又は内部の所定位置に設けられ、前記薄膜半導体の両側に第1及び第2の電極70、80が接続されて形成されたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】容量素子上の配線層の設計自由度に優れた半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、基板、層間絶縁層、第1トランジスタ、多層配線層、容量素子、金属配線、及び第1コンタクトを備える。基板1上には、層間絶縁層4、5が設けられている。第1トランジスタ3aは、半導体基板1に設けられており、層間絶縁層内に埋め込されている。第1トランジスタは、少なくともゲート電極32及び拡散層を有する。層間絶縁層上には、多層配線層が設けられている。容量素子19は、多層配線層内に設けられている。金属配線(ゲート裏打ち配線)30は、ゲート電極32の上面と接しており、層間絶縁層4内に埋設されている。第1コンタクト10aは、第1トランジスタ3aの拡散層に接続しており、層間絶縁層4内に埋設される。金属配線(ゲート裏打ち配線)30は、第1コンタクト10aと同じ材料で構成されている。 (もっと読む)


【課題】基材上にパターンを低温かつ低コストで形成することができると共に、リフトオフを容易にできるパターン構造体の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係るパターン構造体の製造方法では、基材10上に、インクジェット法によりリフトオフ材12を形成する。次に、基材10及びリフトオフ材12上に、原子層堆積法により機能膜14を形成する。次に、リフトオフ法によりリフトオフ材12を除去することによって、基材10上に、機能膜14からパターン14aを形成する。リフトオフ材12は、樹脂と溶媒とを含むインクを基材10上に塗布した後、溶媒を除去することによって形成される。溶媒は、樹脂に対する第1溶解性を有する第1溶媒と、第1溶解性よりも低い第2溶解性を有する第2溶媒とを含む。第1溶媒は第2溶媒に相溶する。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高いコンタクト構造を提供する。
【解決手段】電子装置は第1の絶縁膜と、前記第1の絶縁膜の表面に形成された配線溝と、Cuよりなり前記配線溝を充填する配線パタ―ンと、前記配線パタ―ンの表面に形成され、Cuよりも大きな弾性率を有する金属膜と、前記第1の絶縁膜上に形成された第2の絶縁膜と、Cuよりなり、前記第2の絶縁膜中に形成され、前記金属膜とコンタクトするビアプラグと、を備える。 (もっと読む)


【課題】複雑な配線構造であっても、電極パターン同士を簡単な構造で接続できると共に、配線パターンの強度をも確保できるような配線構造、およびこうした配線構造を製造するための有用な方法を提供する。
【解決手段】本発明の配線構造は、基板上に形成された少なくとも第1の配線パターンと第2の配線パターンを有する配線構造であって、前記第1の配線パターンと第2の配線パターンとの間は、金属ワイヤーによる空中配線部によって接続されると共に、少なくとも金属ワイヤー表面には、金属ワイヤーと同じ若しくは異なる素材からなる金属めっきが施されたものである。 (もっと読む)


【課題】互いに電気的に接続された薄膜トランジスタの第2電極と配線層との間の電食の発生を防止して、安定した電気特性を得ることできる表示装置およびその製造方法、並びに電子機器を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタおよび配線層を備え、前記薄膜トランジスタは、制御電極
と、前記制御電極と対向する半導体層と、前記半導体層に電気的に接続され、光透過性材
料からなる第1電極と、前記光透過性材料よりも低抵抗の金属膜を含むと共に、前記半導
体層および前記配線層にそれぞれ電気的に接続された第2電極とを備え、前記金属膜の構
成材料と前記配線層の少なくとも一部を構成する導電材料とのイオン化傾向の差は、前記
光透過性材料と前記導電材料とのイオン化傾向の差よりも小さい表示装置。 (もっと読む)


【課題】外部からの不純物等に対する耐性を向上することができる半導体装置及びその製造方法を得る。
【解決手段】GaAs基板1上に下層配線2が設けられている。GaAs基板1及び下層配線2上に樹脂膜4が設けられている。樹脂膜4は、下層配線2上に開口5を有する。下層配線2及び樹脂膜4上にSiN膜6が設けられている。SiN膜6は、開口5内に開口7を有する。下層配線2及び樹脂膜4の一部上に上層配線8が設けられている。上層配線8は、開口5,7を介して下層配線2に接続されたTi膜8aと、Ti膜8a上に設けられたAu膜8bとを有する。上層配線8及び樹脂膜4上にSiN膜9が設けられている。SiN膜9は、樹脂膜4上においてSiN膜6に付着している。SiN膜6,9はTi膜8aの周囲を保護する。 (もっと読む)


【課題】配線層間に絶縁物が堆積しない配線の形成方法を提供する。
【解決手段】半導体装置10は、第1絶縁体層14と、第1絶縁体層14上に間隔を空けて配置された複数の配線層18a、18bと、配線層18a、18bの側面上に形成された水素を吸蔵及び放出する水素吸蔵層19b、19c、19d、19eと、複数の配線層18a、18b上に、配線層間の溝20b上を跨ぐように形成された第2絶縁体層23と、を備えた配線を備える。 (もっと読む)


【課題】無線通信により交信可能な半導体装置において、個体識別子を容易に付けることができるようにする。また信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】チャネル形成領域と、ソース領域またはドレイン領域を有する島状半導体膜131と、ゲート絶縁膜と、ゲート電極103とを有する薄膜トランジスタと、層間絶縁膜と、層間絶縁膜中に形成され、ソース領域またはドレイン領域の一方に達する複数のコンタクトホールを含む第1のコンタクトホール142と、ソース領域またはドレイン領域の他方に達する第2のコンタクトホール141とを有し、第2のコンタクトホール141の径は、第1のコンタクトホール142に含まれる複数のコンタクトホール142のそれぞれの径より大きく、第1のコンタクトホールの底面積の合計と、第2のコンタクトホール141の底面積は等しい半導体装置に関する。 (もっと読む)


【課題】 フレキシブルで、軽く、安定で高導電性の導電材料およびこれを用いた電気素
子を提供する。
【解決手段】
本発明の導電材料は、少なくとも一つの次元方向が200nm以下であり、かつ炭素原
子の一部が少なくとも窒素原子に置換された単層グラフェン及び多層グラフェンの少なく
とも1種よりなるカーボン材料と、金属の粒子及び線材の少なくとも1種よりなる金属材
料とが、混合及び/又は積層されてなることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】微細な溝部の内部に隙間無く導電材料を埋め込み、導電性に優れた配線を得ることが可能な半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。
【解決手段】溝部12を除いた基体11の一面11a、即ち溝部12の頂面にエッチングカバー層14を形成する。エッチングカバー層14は、例えば、Ta,Tiまたはこれらを含む合金から構成される。エッチングカバー層14の形成は、例えば、スパッタリング法を用いることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】 エアギャップ形状を容易に制御することが可能な半導体装置の製造方法を提供する
【解決手段】 本発明では、半導体基板1上に所定の間隔でライン2とスペース3が交互に配置されたライン・アンド・スペース構造体を形成する工程と、前記ラインの上面及び前記スペースの上面を連続して覆う第1の絶縁膜5を形成する工程と、前記スペース上方の前記第1の絶縁膜の一部をエッチングし、開口部6を形成する工程と、前記第1の絶縁膜及び前記開口部を連続して覆う第2の絶縁膜7を形成し、前記スペースと前記開口部による中空部を形成する工程とを有していることを特徴とする半導体装置の製造方法が得られる。 (もっと読む)


【課題】微細な溝部の内部に隙間無く導電材料を埋め込み、導電性に優れた配線を得ることが可能な半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。
【解決手段】バリア層(バリアメタル)13を覆うようにライナー層14が形成されている。ライナー層14は、Ni(ニッケル)から構成される。ライナー層14は、このライナー層14の内側に形成されるCu(銅)からなる導電体15に対する濡れ性を高め、かつ、溝部12の内側の平滑性を高める。 (もっと読む)


【課題】高耐圧の能動素子を含む回路と低電圧で動作するロジック回路とが同一基板上に混載された半導体装置を低コストで実現する。
【解決手段】半導体装置が、ロジック回路50と、能動素子回路とを具備している。ロジック回路50は、半導体基板1に形成された半導体素子2を備えている。該能動素子回路は、半導体基板1の上方に形成された拡散絶縁膜7−1の上に形成された半導体層8−1、8−2を用いて形成されたトランジスタ21−1、21−2を備えている。この能動素子回路がロジック回路50により制御される。 (もっと読む)


【課題】 実施形態は、層間配線抵抗が低減した半導体装置およびその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 実施形態の半導体装置は、基板と、前記基板上に第1の触媒金属膜と、前記第1の触媒金属膜上にグラフェンと、前記グラフェン上に層間絶縁膜と、前記層間絶縁膜を貫通するコンタクトホールと、前記コンタクトホール底部に前記グラフェンと電気的に導通する導電膜と、導電膜上に水素、窒素、アンモニアと希ガスの中から選ばれる1種以上のガスのプラズマで処理した第2の触媒金属膜と、前記第2の触媒金属膜上にカーボンナノチューブとを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】信頼性を向上させることができる高集積化された半導体チップ及びこれを含む半導体パッケージが提供される。
【解決手段】本発明にしたがう半導体チップは、基板と、前記基板を貫通している貫通ビアと、前記貫通ビアと前記基板との間に介在されたウェッティング膜と、前記ウェッティング膜と前記貫通ビアとの間に介在されたシード膜と、を含む。本発明の実施形態による半導体チップは突出された貫通ビアをウェッティング膜が覆っているので、導電パッドを追加に形成する必要がない。したがって、半導体チップの厚さを減らすことができ、構造が単純化されて半導体装置の高集積化により有利である。また、工程を単純化することができるので、生産収率を増大させ得る。 (もっと読む)


【課題】上部配線層と下部配線層とを、微細なコンタクトホールを介して接続する多層配線基板、アクティブマトリクス基板及びこれを用いた画像表示装置、並びに多層配線基板の製造方法を提供する。
【解決手段】基板10上に形成された第1の導電層20と、層間絶縁層30と、第2の導電層70とを有し、前記層間絶縁層に形成されたコンタクトホール40を介して前記第1の導電層と前記第2の導電層とが電気的に接続された構造を有する多層配線基板において、
前記層間絶縁層は、前記コンタクトホールを含まない第1の領域50と、前記コンタクトホールを含み、該第1の領域よりも表面エネルギーが高く形成された第2の領域60とを有し、
前記第1の導電層の前記コンタクトホール内の領域は、前記第2の領域よりも表面エネルギーが高く、
前記第2の導電層は、前記層間絶縁層の前記第2の領域に接触して堆積形成され、前記コンタクトホールを介して前記第1の導電層と接続されている。 (もっと読む)


【課題】貫通電極を有する半導体装置の製造方法において、埋設導電部間のショートが起き難くすること。
【解決手段】半導体素子を有する素子領域と貫通電極が形成される貫通電極領域とを有する基板の上に第1絶縁膜を形成し、前記素子領域上の前記第1絶縁膜に凹部を形成し、前記貫通電極領域上の前記第1絶縁膜にダミー凹部を形成し、前記第1絶縁膜上、前記凹部内、および前記ダミー凹部内に第1導電材を形成し、前記第1導電材および前記第1絶縁膜の上部を研磨して、前記凹部内に導電部を形成すると共に前記ダミー凹部内にダミー導電部を形成し、前記貫通電極領域上の前記第1絶縁膜および前記貫通電極領域をエッチングして前記基板内に至る貫通電極ホールを形成した後、前記貫通電極ホール内に第2導電材を形成し、前記貫通電極ホール内に形成された第2導電材が露出するまで前記基板の裏面を研磨して、前記貫通電極を形成すること。 (もっと読む)


【課題】切削又は研削加工を用いつつ、低コストで金属電極を形成することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板12の主面12aに下地電極14を形成する工程と、下地電極を覆う保護膜16を形成するとともに、該保護膜に下地電極を露出させる開口部16aを形成する工程と、保護膜及び開口部から臨む下地電極の表面を覆うように第1金属膜22を形成する工程と、第1金属膜が形成された半導体基板を、裏面12bを搭載面として吸着ステージ30に吸着固定した状態で、吸着ステージと平行に設定された基準面上P1に位置する保護膜の部分及び第1金属膜の部分を、切削により除去して、第1金属膜をパターニングする工程と、パターニング工程後、裏面から半導体基板を研削し、半導体基板の厚さを所定厚さまで薄くする工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】アライメント光によるアライメントマークの検出感度を向上させて、低コストで貫通孔の位置合わせを行う。アライメントマークの誤検出を防ぐ。また、アライメントマーク検出時のアライメント光の露光マージンを大きくして、微細化に対応可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板の非有効ショット領域において、半導体基板の主面又は主面よりも上方にアライメントマークを形成する。半導体基板の裏面の方から、アライメントマークが形成された位置に対応する開口を形成する。半導体基板内に形成されている半導体装置の構成パターンと露光用マスクパターンとの位置合わせをして、有効ショット領域の半導体基板内に貫通孔を形成する。 (もっと読む)


21 - 40 / 2,238