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【課題】配線間の絶縁性に優れ信頼性の高い配線構造及びその製造方法を提供する。
【解決手段】スピンコート法により、ベースポリマーがポリイミド樹脂である非感光性樹脂のワニスを塗布後、ベーク、キュアしてポリイミド樹脂を硬化、膜を形成する。これを第1絶縁膜12とする。次いで、めっきシード層18形成、フォトレジスト溝パターン22形成、めっき、フォトレジスト溝パターン22除去、配線下以外のめっきシード層18除去に依り、第1の絶縁膜上に配線26を形成する。そして、第1絶縁膜の表面上にシリカ粒子30を分散し、散したシリカ粒子30をマスクとして、CF4及びO2を混合したガスで、第1絶縁膜12をドライエッチングすることに依り、段差が100nm以上の凹凸32を形成する。最後に前述と同様にして、スピンコート法により、第2絶縁膜としてのポリイミド樹脂膜34を形成する。 (もっと読む)


【課題】
本発明の課題は、FPD(フラットパネルディスプレイ)の表示装置、太陽電池やタッチパネルの電極などに使用される透明導電膜のエッチング液組成物に関するものであって、銅および/または銅合金膜と酸化インジウム錫膜等の透明導電膜とを一括エッチングすることが可能なエッチング液組成物を提供することにある。
【解決手段】
本発明は、銅および/または銅合金膜と透明導電膜とを一括でエッチング処理するのに用いられるエッチング液組成物であって、塩酸と、塩化第二鉄または塩化第二銅と、水とを含み、塩酸の濃度が、15.0〜36.0重量%であり、塩化第二鉄または塩化第二銅の濃度が、0.05〜2.00重量%である、前記エッチング液組成物に関する。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を含み、高速動作が可能なトランジスタを提供する。または、該トランジスタを含む信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】下地絶縁層の溝に埋め込まれた電極層上に、一対の低抵抗領域及びチャネル形成領域を含む酸化物半導体層を設ける。チャネル形成領域は、サイドウォールを側壁に有するゲート電極層と重なる位置に形成される。溝は、深い領域と浅い領域を有し、サイドウォールは、浅い領域と重なり、配線との接続は、深い領域と重なる。 (もっと読む)


【課題】レジスト層、中間層、レジスト層のパターン形状をさらに良好にする半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】下層フォトレジスト7、無機材料の中間層8、上層フォトレジスト9を形成し、上層フォトレジスト9をパターニングして上層レジストパターン9aを形成し、半導体基板1をチャンバー内の下部電極上に設置し、チャンバー内に二酸化硫黄ガス、酸素ガスを有する第1反応ガスを導入してプラズマを発生させるとともに下部電極への高周波電力の供給を切断して上層レジストパターン9aをトリミングし、第1反応ガスを第2反応ガスに置換するとともに下部電極に高周波電力を供給して上層レジストパターン9aをマスクにして中間層8をエッチングして中間層パターン8aを形成し、第2反応ガスを第3反応ガスに置換してプラズマを発生させるとともに下部電極に高周波電力を供給して中間層パターン8aをマスクにして下層フォトレジスト層7をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】微細な構造であっても高い電気特性を有するトランジスタを歩留まりよく提供する。該トランジスタを含む半導体装置においても、高性能化、高信頼性化、及び高生産化を達成する。
【解決手段】酸化物半導体層と電気的に接続するソース電極層及びドレイン電極層を、酸化物半導体層上のゲート絶縁層及び絶縁層の開口を埋め込むように設ける。ソース電極層を設けるための開口とドレイン電極層を設けるための開口は、それぞれ異なるマスクを用いた個別のエッチング処理によって形成される。これにより、ソース電極層(またはドレイン電極層)と酸化物半導体層が接する領域と、ゲート電極層との距離を十分に縮小することができる。また、酸化物半導体層の下に第1の電極層および第2の電極層を設けてコンタクト抵抗の低減を図る。 (もっと読む)


【課題】
銅及びモリブデンを含む多層膜用エッチング液、及びこれを用いた銅及びモリブデンを含む多層膜のエッチング方法を提供する。
【解決手段】
(A)分子内にカルボキシル基を二つ以上有し、かつヒドロキシル基を一つ以上有する有機酸イオン供給源、(B)銅イオン供給源、及び(C)アンモニア及び/又はアンモニウムイオン供給源を配合してなり、pHが5〜8であり、(C)アンモニア及び/又はアンモニウムイオン供給源の(B)銅イオン供給源に対する配合比(モル比)が0.1〜20である銅及びモリブデンを含む多層膜用エッチング液、及びこれを用いたエッチング方法である。 (もっと読む)


【課題】 より一層、製品の歩留まりを向上させることのできる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 本開示の半導体装置の製造方法では、まず、第1半導体部及び第2半導体部を貼り合わせた半導体部材の一方の面上に形成された絶縁膜30上に、所定の薬液で処理された際に該所定の薬液が絶縁膜に浸透しないような耐性を有するストッパー膜31を形成する。次いで、半導体部材のストッパー膜31側に、第1半導体部及び第2半導体部を電気的に接続するためのCu配線接合部34を形成する。次いで、Cu配線接合部34上にCu拡散防止膜34を形成する。次いで、Cu配線接合部34の形成領域以外の領域のCu拡散防止膜33を除去して該領域に存在する不要なCu部210,211を露出させる。そして、所定の薬液を用いて、不要なCu部210,211を除去する。 (もっと読む)


【課題】裏面照射型の固体撮像装置において、受光面と遮光膜との距離を小さくすることにより、光電変換部での受光特性の向上を図る。
【解決手段】光電変換部が配列形成された画素領域を有するセンサ基板と、センサ基板において光電変換部に対する受光面とは逆の表面側に設けられた駆動回路と、画素領域における受光面上に設けられた遮光膜と、遮光膜を覆って設けられた保護絶縁膜と、画素領域の外側の周辺領域において、保護絶縁膜からセンサ基板にかけて埋め込まれ駆動回路に接続された複数の貫通ビアを備えた固体撮像装置。 (もっと読む)


【課題】複雑な配線構造であっても、電極パターン同士を簡単な構造で接続できると共に、配線パターンの強度をも確保できるような配線構造、およびこうした配線構造を製造するための有用な方法を提供する。
【解決手段】本発明の配線構造は、基板上に形成された少なくとも第1の配線パターンと第2の配線パターンを有する配線構造であって、前記第1の配線パターンと第2の配線パターンとの間は、金属ワイヤーによる空中配線部によって接続されると共に、少なくとも金属ワイヤー表面には、金属ワイヤーと同じ若しくは異なる素材からなる金属めっきが施されたものである。 (もっと読む)


【課題】外部からの不純物等に対する耐性を向上することができる半導体装置及びその製造方法を得る。
【解決手段】GaAs基板1上に下層配線2が設けられている。GaAs基板1及び下層配線2上に樹脂膜4が設けられている。樹脂膜4は、下層配線2上に開口5を有する。下層配線2及び樹脂膜4上にSiN膜6が設けられている。SiN膜6は、開口5内に開口7を有する。下層配線2及び樹脂膜4の一部上に上層配線8が設けられている。上層配線8は、開口5,7を介して下層配線2に接続されたTi膜8aと、Ti膜8a上に設けられたAu膜8bとを有する。上層配線8及び樹脂膜4上にSiN膜9が設けられている。SiN膜9は、樹脂膜4上においてSiN膜6に付着している。SiN膜6,9はTi膜8aの周囲を保護する。 (もっと読む)


【課題】互いに電気的に接続された薄膜トランジスタの第2電極と配線層との間の電食の発生を防止して、安定した電気特性を得ることできる表示装置およびその製造方法、並びに電子機器を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタおよび配線層を備え、前記薄膜トランジスタは、制御電極
と、前記制御電極と対向する半導体層と、前記半導体層に電気的に接続され、光透過性材
料からなる第1電極と、前記光透過性材料よりも低抵抗の金属膜を含むと共に、前記半導
体層および前記配線層にそれぞれ電気的に接続された第2電極とを備え、前記金属膜の構
成材料と前記配線層の少なくとも一部を構成する導電材料とのイオン化傾向の差は、前記
光透過性材料と前記導電材料とのイオン化傾向の差よりも小さい表示装置。 (もっと読む)


【課題】大量生産上、大型の基板に適している液滴吐出法を用いた製造プロセスを提供す
る。
【解決手段】液滴吐出法で感光性の導電膜材料液を選択的に吐出し、レーザ光で選択的に
露光した後、現像またはエッチングすることによって、レーザ光で露光した領域のみを残
し、吐出後のパターンよりも微細なソース配線およびドレイン配線を実現する。TFTの
ソース配線およびドレイン配線は、島状の半導体層を横断して重ねることを特徴としてい
る。 (もっと読む)


【課題】工程および装置構成を煩雑にすることなく、高エッチングレートで銅を異方性エッチングする装置、及びその方法を実施するプログラムを記憶した媒体を提供する。
【解決手段】チャンバ内に表面に銅膜104を有する基板101を配置し、チャンバ内を真空状態としつつ、チャンバ内に有機化合物106を供給し、銅膜に酸素ガスクラスターイオンビームを照射し、酸素ガスクラスターイオンビーム中の酸素ガスクラスターイオン107により、銅膜の銅を酸化させて酸化銅とするとともに、酸化銅と有機化合物を反応させて銅膜を異方的にエッチングする。 (もっと読む)


【課題】高温環境下で使用することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】第1インナー電極と第2インナー電極との積層からなるワイヤー接続領域を合金化防止溝によって第1アウター電極および第2アウター電極と分離することでワイヤーボンディング界面から成長したAu−Al合金層の進行を抑制し、半導体装置表面のパッシベーション膜のクラックを防止する。 (もっと読む)


【課題】製造コストを削減するとともに歩留まりを向上し、かつプロセス設計が容易である液晶表示装置を提供すること。
【解決手段】液晶表示装置1において、半導体層ASIと半導体層ASIの液晶材側の面に形成された金属層Mとの積層部分であり、かつ画素電極MITの液晶材側の面に重なる部分である重なり部50を含むソース電極SD2を有し、第2の絶縁層PAS2は、ソース電極SD2の液晶材側の面から重なり部の50端部、及び画素電極MITの一部を開口するように形成されており、ソース電極SD2の液晶材側の面から重なり部50の端部上、及び画素電極MIT上に、ソース電極SD2の液晶材側の面から重なり部50の端部、及び画素電極MITを導通させる導体膜70が形成されている。 (もっと読む)


【課題】 ウェハ裏面のキャパシタを有する半導体デバイスの形成方法を提供する。
【解決手段】 本発明の方法は、その前面の活性シリコン層とその裏面のバルク・シリコン層との間に挿入された埋込み絶縁層を有する、SOI基板を準備するステップと、SOI基板の前面から埋込み絶縁層を貫通して延びる埋込みコンタクト・プラグを含む集積回路を、SOI基板の前記前面に形成するステップと、裏面エッチング・プロセスを実施してバルク・シリコン層内にトレンチを形成し、埋込みコンタクト・プラグの端部を埋込み絶縁層の裏表面に露出させるステップと、第1キャパシタ・プレートと、第2キャパシタ・プレートと、該第1及び第2キャパシタ・プレートの間に挿入されたキャパシタ誘電体層とを含むキャパシタをトレンチ内に形成するステップとを含み、第1キャパシタ・プレートは、埋込みコンタクト・プラグの露出した端部に接触するように形成される。 (もっと読む)


【課題】2層構造の走査線を、絶縁膜を介して映像信号線が乗り越える際の、映像信号線の断線を防止する。
【解決手段】映像信号線が絶縁膜を介して走査線を乗り越える構成となっている。走査線10はAlCu合金を下層11とし、MoCr合金を上層12とする2層構造である。上層/下層の膜厚比を、0.4以上、1.0以下とすることによって、走査線10の断面において、電池作用によって上層12のエッチング速度が遅くなって、上層12の庇部が形成されることを防止する。これによって、走査線10に生じた庇部に起因して、映像信号線が走査線10との交差部において断線することを防止する。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理室において、ウェハ上でスタックを形成するシリコン系の複数の二重層の中に高アスペクト比のフィーチャをエッチングするための方法を提供する。
【解決手段】プラズマ処理室に主エッチングガスが流入される。第1の圧力を提供しながら、主エッチングガスがプラズマにされる。20℃未満のウェハ温度が維持される。プラズマにより上記複数のシリコン系二重層のうちの複数の組を貫いてエッチングする間に、第1の圧力よりも低い第2の圧力まで圧力を降下させる。上記複数の二重層のうち第1の複数の組がエッチングされた後に、主エッチングガスの流入を停止させる。 (もっと読む)


【課題】微細化が可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体装置は、上面に、一方向に延び上方に突出した複数本のアクティブエリアが形成された半導体基板と、前記アクティブエリア間のトレンチの下部に埋め込まれた素子分離絶縁体と、第1の絶縁材料からなり、前記素子分離絶縁体の直上域に配置され、下部が前記トレンチ内に配置され、上部が前記アクティブエリアの上端よりも上方に突出した絶縁ブロックと、前記第1の絶縁材料とは異なる第2の絶縁材料からなり、前記半導体基板及び前記絶縁ブロックの上方に設けられた層間絶縁膜と、前記層間絶縁膜内に形成され、下端が前記アクティブエリアの上面に接続されたコンタクトと、を備える。前記コンタクトにおける前記絶縁ブロックの直上域に位置する部分の下面は、前記コンタクトにおける前記アクティブエリアの直上域に位置する部分の下面よりも上方に位置している。 (もっと読む)


【課題】配線層間に絶縁物が堆積しない配線の形成方法を提供する。
【解決手段】半導体装置10は、第1絶縁体層14と、第1絶縁体層14上に間隔を空けて配置された複数の配線層18a、18bと、配線層18a、18bの側面上に形成された水素を吸蔵及び放出する水素吸蔵層19b、19c、19d、19eと、複数の配線層18a、18b上に、配線層間の溝20b上を跨ぐように形成された第2絶縁体層23と、を備えた配線を備える。 (もっと読む)


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