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Fターム[5F041CA77]の内容

発光ダイオード (162,814) | LED形式 (36,241) | 製造方法 (9,002) | その他 (1,210)

Fターム[5F041CA77]に分類される特許

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【課題】半導体光素子基板の各層に対応する膜の成長速度条件出しに関し、成長速度条件出し項数を削減する方法を提供する。
【解決手段】半導体光素子基板の製造方法において、各材料の組成が異なる多層膜をひとつのチャンバにおいて連続的かつ段階的に結晶成長する前に、各層間の成長速度の関係を表す層間成長速度モデルを定義し、少なくとも1層以上の層に対応する膜の成長速度を、個別の基板を用いて実際に結晶成長して求め、求めた成長速度より、他の層に対応する膜の成長速度を層間成長速度モデルにより推定し、実際に求めた成長速度と推定した成長速度より、半導体光素子基板の各層の膜厚に応じて成膜時間を決定する、各ステップをMOCVD装置に接続されたコンピュータシステムを用いて実行する工程を経て、半導体光素子基板の結晶成長を実施する。 (もっと読む)


【課題】垂直構造窒化ガリウム系発光ダイオ−ド素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板上にn型窒化ガリウム系半導体層と活性層とp型窒化ガリウム系半導体層とが順次積層されている発光構造物を形成し、発光構造物をエッチングして単位LED素子の大きさに分離し、分離された発光構造物上にp型電極を形成し、分離された各発光構造物の間に非導電性物質を充填し、前記結果の構造物上に金属シ−ド層を形成し、各発光構造物の間の領域を除いた金属シ−ド層上に第1メッキ層を形成し、第1メッキ層及び各第1メッキ層の間の金属シ−ド層の表面に第2メッキ層を形成し、基板を発光構造物から分離し、基板が分離されて露出した各発光構造物の間の非導電性物質を除去し、n型窒化ガリウム系半導体層上にn型電極を形成し、各発光構造物の間の金属シ−ド層及び第2メッキ層部分を除去することにより垂直構造窒化ガリウム系発光ダイオ−ド素子を製作する。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体デバイス層がエッチングされないようにしながら、窒化物半導体デバイス層を基板から剥離することができるようにする。
【解決手段】半導体装置の製造方法を、基板12上に、エッチング犠牲層13を形成する工程と、エッチング犠牲層13上に、エッチングストッパ層2を形成する工程と、エッチングストッパ層2上に、窒化物半導体デバイス層1を形成する工程と、エッチング犠牲層13を、光電気化学エッチングによって除去する工程とを含むものとし、エッチングストッパ層2を、窒化物半導体デバイス層1に正孔が蓄積することを防止する層とする。 (もっと読む)


【課題】半導体層と異なる材料の基板を有する半導体発光素子において、発光波長の波長分布σを小さくする。
【解決手段】半導体層を有する半導体発光素子の製造方法であって、半導体層が成膜される面に対向する裏面の表面粗さRaが0.0001μm〜3.0μmであり、且つ反り量Hが−30μm≦H<0の範囲である基板11に半導体層を成膜する半導体層成膜工程と、半導体層が成膜された基板11の裏面を研削する研削工程と、を含むことを特徴とする半導体発光素子の製造方法。 (もっと読む)


【課題】第1基板から窒化物半導体層を容易に剥離する。
【解決手段】SiC基板101の表面で単層又は複数層のグラフェン層111が成長する工程と、グラフェン層との界面で、共有結合性を有することなく、原子レベルのポテンシャルの規則性のみを用いた結合力を伴って窒化物半導体層114が形成される工程と、窒化物半導体層114とグラフェン層111aとの間、あるいはグラフェン層相互間111a,111b,111cのポテンシャルによる接合力以上の力で、窒化物半導体層がSiC基板から剥離される工程とを備える。また、剥離された窒化物半導体層が第2基板130の表面に接合される。 (もっと読む)


デバイスは、n型領域とp型領域との間に配置された少なくとも1つのIII−P発光層を有する半導体構造を含む。該半導体構造は更に、x<0.45であるGaAs1−xのpコンタクト層を含んでいる。第1のメタルコンタクトが、前記GaAs1−xのpコンタクト層と直接的に接触する。第2のメタルコンタクトが前記n型領域に電気的に接続される。第1及び第2の金属コンタクトは、前記半導体構造の同一面に形成される。
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【課題】半導体基板上に形成されたエピタキシャル成長層に直接かつ全面にわたって安定的に密着される接着型半導体基板および半導体発光素子を提供する。
【解決手段】GaAs基板12上に組成式Inx(Ga1-yAly1-xPで表される化合物半導体の混晶をエピタキシャル成長させ、N型クラッド層14(0.45<x<0.50,0≦y≦1)と活性層15とP型クラッド層16とカバー層17とを有するエピウェーハを形成する工程と、カバー層17をエッチングにて除去してP型クラッド層16の表面を露出させる工程と、P型クラッド層16の上に、鏡面加工されたGaP基板11を、被鏡面加工面がP型クラッド層16に接するように載置して室温にて一体的に接合させる工程と、熱処理をする工程と、GaAs基板12側からエッチング処理を行いN型クラッド層14を露出させる工程と、N型クラッド層14の表面とGaP基板11の裏面に電極19をそれぞれ形成する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】レーザーリフトオフ時に支持基板やIII 族窒化物半導体層にクラックが生じるのを抑制すること。
【解決手段】第1金属層16と、第2金属層18とを約300℃で圧着させ、貼り合わせる。これにより、p電極15とSi基板17とを第1金属層16、第2金属層18を介して接合する。次に、Si基板17を約250℃まで加熱した状態でレーザーリフトオフを行い、サファイア基板10を分離する。加熱によりSi基板17の内部応力が緩和されているため、Si基板17やIII 族窒化物半導体層14にクラックが生じるのを抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】異種基板と貼り合わせた窒化物系化合物半導体基板の一部を異種基板から除去することにより窒化物系化合物半導体層を異種基板上に製造する方法において、窒化物系化合物半導体層におけるリーク電流を低減する。
【解決手段】シリコン基板等の支持基板20上に窒化ガリウム層30を有する基板生産物1を製造する方法であって、窒化ガリウム基板10の表面10aにイオン注入を行う工程と、表面10aを洗浄する工程と、表面10aと支持基板20の表面20aとを互いに接合させる工程と、窒化ガリウム基板10のうち表面10aを含む部分を層状に残して他の部分を除去することにより、窒化ガリウム層30を支持基板20上に形成する工程とを含む。表面10aを洗浄する工程の際、洗浄後の表面10aにおけるFe,Cr,Ni,及びSiの密度を合計で1×1018[cm−3]以下とする。 (もっと読む)


【課題】 製造コストの低廉化が図られた微細構造物の製造方法を提供する。
【解決手段】 微細構造物の製造方法は、薄膜を形成する工程と、薄膜をパターニングして第1薄膜パターンを形成する工程と、第1薄膜パターンを覆うように第2薄膜を形成する工程と、第1薄膜パターンの分布領域よりも広い領域に亘って形成され、複数の凸部を含む転写パターンが形成された型を準備する工程と、型を第2薄膜に押し当て、第2薄膜パターンを形成する工程と、第2薄膜パターンをマスクとして、第1薄膜パターンをパターニングする工程とを備える。 (もっと読む)


デバイスは、n型領域(22)とp型領域(26)との間に配置された発光層(24)を有する半導体構造を含む。該半導体構造は、nコンタクト領域(23)及びpコンタクト領域(25)を含む。nコンタクト領域(23)の断面は、発光層(24)及びp型領域(26)の部分が除去されてn型領域(22)が露出された複数の第1の領域(28)を有する。複数の第1の領域(28)は、発光層(24)及びp型領域(26)が当該デバイス内に残存する複数の第2の領域(27)によって離隔される。当該デバイスは更に、pコンタクト領域(25)内で半導体構造上に形成された第1の金属コンタクト(40)と、nコンタクト領域(23)内で半導体構造上に形成された第2の金属コンタクト(38)とを含む。第2の金属コンタクト(38)は、nコンタクト領域(23)の第2の領域(27)のうちの少なくとも1つと電気的に接触する。
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【課題】小型化を実現することができる発光装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】発光装置1において、導電性を有する第1のベース基板11及び第2のベース基板12と、それらの間に配設された絶縁体41と、第1のベース基板11の第1の主面11A上に配設された半導体発光機能層2と、半導体発光機能層2を被覆する透明性を有する封止体7とを備える。半導体発光機能層2の第1の主電極21は第1のベース基板11に電気的に接続され、第2の主電極23は第2のベース基板12に電気的に接続されている。第1のベース基板11の第2の主面11B及び第2のベース基板12の第4の主面12Bにはバックグラインド処理がなされ、薄型化がなされている。 (もっと読む)


【課題】 素子の発光能力を十分発揮可能な発光ダイオードを提供することである。
【解決手段】 サファイア基板の上面に緩衝層を介して積層されたn型窒化物半導体層と、該n型窒化物半導体層上に積層されたp型窒化物半導体層と、該n型窒化物半導体層に接続されたn電極と、該p型窒化物半導体層に接続されたp電極とを備えた発光ダイオードであって、該n型窒化物半導体層は該サファイア基板の側壁の一部を覆うように該緩衝層上に積層されていて、該n電極は該サファイア基板の側壁に積層された該n型窒化物半導体層に配設され、該p型窒化物半導体層は該n型窒化物半導体層の側壁部を覆うように該n型窒化物半導体層上に積層されていて、該p電極は該n型窒化物半導体層の該側壁部に積層された該p型窒化物半導体層上に配設されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 素子の発光能力を十分発揮可能な発光ダイオードを提供することである。
【解決手段】 サファイア基板の上面に緩衝層を介して積層されたn型窒化物半導体層と、該n型窒化物半導体層上に積層されたp型窒化物半導体層と、該n型窒化物半導体層に接続されたn電極と、該p型窒化物半導体層に接続されたp電極とを備えた発光ダイオードであって、該n電極は、該サファイア基板の下面から上面に貫通し、該緩衝層を介して該n型窒化物半導体層に電気的に接続される複数の貫通電極から構成されることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】上面と底面を有する基板と,基板の上面上に少なくとも1つの光活性層を備えた固体光源を提供する。
【解決手段】上面,底面,光活性層及び光活性層上の放出面のうちの少なくとも1つは,高さ(h)を規定する高隆起部及び低隆起部を有する複数の傾斜した表面外観形状を有するパターン面からなり,複数の傾斜した表面外観形状は,最小横寸法を(r)を規定する。複数の傾斜した表面外観形状は,3〜85度の表面傾斜角を有する少なくとも1つの表面部を備える。パターン面の表面粗さは,10nm rms未満であり,h/rは,0.05より大きい。 (もっと読む)


【課題】 色ムラを軽減し、小型化が可能な混色発光の発光装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明の発光装置は、発光素子1と、発光素子の上面の周縁部に連続して設けられた電極7と、電極の内側に設けられた蛍光部材8と、を有することを特徴とする。本発明の発光装置の製造方法は、半導体積層構造体を準備する工程と、半導体積層構造体の上面に複数の領域を除いて電極を形成する工程と、複数の領域に電極が側壁となるように蛍光部材を設ける工程と、半導体積層構造体を切断して複数の発光装置とする工程と、を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 素子の発光能力を十分発揮可能な発光ダイオードを提供することである。
【解決手段】 サファイア基板の上面に緩衝層を介して積層されたn型窒化物半導体層と、該n型窒化物半導体層上に積層されたp型窒化物半導体層と、該n型窒化物半導体層に接続されたn電極と、該p型窒化物半導体層に接続されたp電極とを備えた発光ダイオードであって、該n電極は、該サファイア基板の下面から上面に貫通し、該緩衝層を介して該n型窒化物半導体層に電気的に接続される貫通電極から構成され、該p電極は、該サファイア基板の下面から上面に貫通し、更に該n型窒化物半導体層を貫通して該p型窒化物半導体層に電気的に接続される貫通電極とから構成されることを特徴とする。 (もっと読む)


薄膜LEDは、絶縁基板と、絶縁基板上の電極と、電極上のエピタキシャル構造とを備える。
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【課題】LEDチップから放射される光を検出する光検出部が実装基板に一体に設けられた構成を採用しながらも、光取り出し効率の向上を図れ且つ光検出部のS/N比を向上させることが可能な発光装置を提供する。
【解決手段】発光部を構成するLEDチップ1は、n形窒化物半導体層14とp形窒化物半導体層16とを有するLED薄膜部12、カソード電極18およびアノード電極17がZnO結晶からなる六角錘状の錐体11の下面11a側に形成され、当該錐体11よりもLED薄膜部12が実装基板2の一表面に近くなる形で実装基板2に実装されている。実装基板2は、上記一表面からLEDチップ1のLED薄膜部12および錐体11の下部を囲む形で突出した壁部2bから錐体11の下部へ向かって張り出した庇部2cを有し、該庇部2cに、LEDチップ1から放射される光を検出する光検出部4を設けてある。 (もっと読む)


【課題】発光デバイス間の使用時における発光光量のばらつきを低減して、発光デバイス自体の歩留まり、品質を向上させる共に、発光デバイスを用いた各製品の歩留まり、品質を向上させる。
【解決手段】発光デバイス10は、GaAs基板12上に、反射層14が積層され、該反射層14上に発光層16が積層され、該発光層16上に表面層18が積層されて構成されている。表面層18は、低屈折率膜18aと、該低屈折率膜18aよりも高い屈折率を有する膜(高屈折率膜18b)とが交互に積層されて構成されている。この場合、低屈折率膜18aと、高屈折率膜18bとが1層ずつ交互に積層されて構成されていてもよい。表面層18の最上層の膜が低屈折率膜18aであってもよい。発光層16に隣接する膜が、高屈折率膜18bであってもよい。 (もっと読む)


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