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ボンディング (23,044) | ワイヤショート防止 (110)

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【課題】配線基板上に搭載された半導体素子の電極パッドと配線基板のボンディング端子とがボンディングワイヤにより接続されたボンディングワイヤの配設密度が高くなっても、封止用樹脂中にボイド(気泡)を生ずることなく樹脂被覆がなされる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、列状に配置された複数の電極部26を有する半導体素子22と、半導体素子22の電極部26に対応して配置された複数の端子24を有する配線基板21とを備え、半導体素子の電極部26とこれに対応する配線基板の端子24とを接続する複数のボンディングワイヤ27によりワイヤ列WLが形成され、更に当該配線基板21上において半導体素子22がボンディングワイヤ27と共に樹脂封止されており、少なくとも1つのワイヤ列WL中に、隣接ワイヤ間距離拡大部Sを形成する。 (もっと読む)


【課題】半導体チップのボンディングパッド間を接続する技術において、ワイヤ間の接触を防止する。
【解決手段】半導体装置は、複数のボンディングパッド3が直線状に配列されている半導体チップ1と、複数のボンディングパッド3と略平行な直線状に複数のボンディングパッド4が配列されている半導体チップ4と、ボンディングパッド3とボンディングパッド4とを個々に接続している複数のワイヤ7とを備える。ワイヤ7で個々に接続されているボンディングパッド3とボンディングパッド4とが配列方向に相対的に変位した位置に配置されている。ワイヤ7で接続されているボンディングパッド3とボンディングパッド4とを通過する基準直線Sに対して、ワイヤ7の少なくとも一つが基準直線Sに対して湾曲している。湾曲された湾曲ワイヤと、湾曲ワイヤと隣設している隣設ワイヤとの間の距離が、湾曲ワイヤの基準直線と隣設ワイヤの基準直線との間の距離よりも大きくなる一定方向に湾曲ワイヤがボンディングパッド4から延出している。 (もっと読む)


【課題】ボンディングワイヤ同士の接触を防止することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体チップ5の一主面上に形成された複数の素子電極6、7上に、ボンディングワイヤ12、13よりも硬度の小さい突起電極8、9を形成する。例えば、突起電極8、9を、Auワイヤにより形成し、半導体チップ5が搭載されたBGA基板1の基板電極2、3と突起電極8、9とに接合するボンディングワイヤ12、13を、Cu、Alなどの突起電極8、9の硬度より大きい材質にする。 (もっと読む)


【課題】基板上の帯状ボンドパッドパターンにおける十分なボンディングスペースを確保し、かつ半導体チップの搭載位置がずれても隣接するワイヤー同士の接触を防止することができる配線基板およびそれを用いた半導体装置を提供する。
【解決手段】少なくとも1列の帯状ボンドパッドパターン12において、半導体チップ801の4隅近傍に形成された帯状ボンドパッドパターン12を、その他の部分の帯状ボンドパッドパターン12に対して、配線基板101の端に近づけて配置したことにより、配線及びビア配置領域17の減少を最小限に抑えつつ、ワイヤー15a、15b間の間隔を確保する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の各構成要素を実形状に近い形状としてシミュレーションを実行することが可能であり、実測値との誤差を抑制し、シミュレーションの精度を向上することができる実形状検証装置を提供する。
【解決手段】本装置は半導体装置における各構成要素のレイアウト情報を格納したレイアウト情報記憶手段1と、実測形状の情報を格納した実測形状情報記憶手段3と、該手段3に格納した実測形状情報に基づき、所定の構成要素を実測形状に置換する実測形状置換手段4と、配線基板101上に実装される電子部品の電気特性及び/又は電子部品を配線基板101上で封止する製造条件特性による解析用情報を格納した解析用情報記憶手段5と、該置換手段4からの置換図形情報、解析用情報記憶手段5からの解析用情報、及びレイアウト情報記憶手段1からのレイアウト情報に基づき、シミュレーションを実行する解析手段6と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】複数の半導体素子を積層して樹脂封止するにあたって、上段側半導体素子に接続されたボンディングワイヤの樹脂封止時におけるワイヤ流れ等を抑制する。
【解決手段】積層型半導体装置1は、回路基板2上に積層して搭載された複数の半導体素子4、6、7を具備する。これら半導体素子4、6、7はそれぞれ金属ワイヤ5、8、9を介して回路基板2の接続パッド3と電気的に接続されている。上段側の半導体素子6、7に接続された金属ワイヤ8、9は、少なくともそれらの間に充填された樹脂固定部11で固定されている。積層された半導体素子4、6、7は金属ワイヤ5、8、9と共に樹脂封止部10で封止されている。 (もっと読む)


【課題】半導体装置において、ワイヤとバンプとの間の接合性を向上させると共にワイヤの切断性を向上させてボンディング品質の向上を図る。
【解決手段】第2ボンド点のパッド3の上にワイヤを折り曲げ積層して傾斜ウェッジ22と第1ワイヤ折り曲げ凸部25を持つバンプ21を形成し、第1ボンド点のリードからバンプ21に向かってワイヤ12をルーピングしてキャピラリ先端のフェイス部33によってワイヤ12をバンプ21の傾斜ウェッジ22に押し付けてワイヤ12をバンプ21に接合すると共に、インナチャンファ部31によってワイヤ12を第1ワイヤ折り曲げ凸部25へ押し付けて弓形断面形状のワイヤ押し潰し部20に形成する。ワイヤ12を引き上げてワイヤ押し潰し部20でワイヤを切断する。 (もっと読む)


【課題】
実装面積を縮小した小型のパッケージを得ると共に、製造上の取り扱いをも改善した、半導体装置を提供する。
【解決手段】
本発明に係る半導体装置は、一方の表面上にアイランド及び内部電極が形成され、他方の表面上に前記アイランド又は前記内部電極と電気的に接続される複数の外部電極が形成された絶縁基板と、前記アイランド上に固着された半導体チップと、前記半導体チップにおいて前記アイランドと固着された表面と対向する表面上に形成されたチップ電極と、前記内部電極とを電気的に接続するワイヤと、前記アイランド、前記内部電極、前記半導体チップ及び前記ワイヤを覆うように被覆され、パッケージ外形を形成する絶縁樹脂と、を含んで構成され、前記絶縁基板は、第1板厚の第1領域と、前記第1板厚よりも厚い第2板厚の第2領域と、を有し、前記アイランドは、前記第1領域上に形成され、前記内部電極は、前記第2領域上に形成されること、を特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ボンディングワイヤの短絡のない半導体装置を提供する。
【解決手段】1主面に複数の電極5(5a,5b,5c)を有した少なくとも1個の半導体チップ4と、複数の内部電極2(2a,2b,2c)及び外部電極3を有し、半導体チップ4を内部電極形成面に固着した半導体チップ支持体であるBGA用基板1と、半導体チップ4の電極5とBGA用基板1の内部電極2とを接続した複数のボンディングワイヤ6,7,8と、半導体チップ4及びボンディングワイヤ6,7,8を封止した封止樹脂9とを有する半導体装置において、前記のボンディングワイヤ6,7,8は、金属細線である第1のボンディングワイヤ6,8と、金属細線の少なくとも一部が絶縁性樹脂で被覆されてなる第2のボンディングワイヤ7とで構成する。 (もっと読む)


【課題】半導体素子(LSI)のエッジと金属ワイヤの接続、あるいは金属ワイヤ間の接触を回避して半導体素子の誤動作を防止することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】外部電極部および電極パッド部を2段・千鳥状に配置する場合、外部電極部のうち、LSI2の搭載領域から遠い外側列の外部電極部4上に突起電極部5を設ける。そして、LSI2の電極パッド部3のうち、LSI2の周縁に近い外側列の電極パッド部3を、低ループ形状の金属ワイヤ6aにより、LSI2の搭載領域から近い内側列の外部電極部4に接続し、LSI2の周縁から遠い内側列の電極パッド部3を、高ループ形状の金属ワイヤ6bにより、LSI2の搭載領域から遠い外側列の外部電極部4に接続する。 (もっと読む)


【課題】半導体チップの各電極パッドと、半導体チップの周囲に配列されて相互に隣り合う2つのリードのそれぞれとを接続する複数本のワイヤーのうち、相互に最も近づくワイヤー同士の間で電気的な短絡が発生することを防止できるようにする。
【解決手段】各リード7,9における3本のワイヤー11〜13,15〜17のセカンドボンドをリード7,9の長手方向に並べ、一方のリード7に接続される3本の第1のワイヤー11〜13をリード7,9の配列方向に並べられた第1列の電極パッド19〜21に接続し、他方のリード9に接続される3本の第2のワイヤー15〜17を第1列よりもリード7,9から遠い位置に並べられた第2列の電極パッド23〜25に接続し、一方のリード7の最後方に接続される第1のワイヤー13を第2列の電極パッド23〜25に最も近い第1列の電極パッド21を除く第1列の他の電極パッド20に接続した半導体装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】パッド対パッドが交差してもワイヤの接触を防止してワイヤループ高さを低く抑えることができる。
【解決手段】半導体チップの同一平面に複数個形成されたパッドP11、P12,P21、P22,P31、P32と、パッドP11とP12、パッドP21とP22、パッドP31とP32の間を接続したワイヤW1、W2、W3を備えている。交差するワイヤW1とW2のパッドP11とP22が近接している場合は、一方のパッドP11を第1ボンド点とし、他方のパッドP22を第2ボンド点としてワイヤが接続されている。 (もっと読む)


【課題】 長い配線距離を低いループ高さで接続するボンディングワイヤが、第2ボンド点で圧着を行なう時にチップ角に触れることなく、かつ、チップと第2ボンド点の間の距離ができる限り短くなるように形成することを可能とする。
【解決手段】 キャピラリが最高点に達した時に、ボンディングワイヤが、第1ボンド点から第2ボンド点に向かう折れ曲がり癖を有し、かつ、折れ曲がり癖のある部分(C)の上方で第2ボンド点に向かって凸で曲率半径が0.5mm〜3.0mmである反り(D)を有し、ループ形成後にチップ角の上方に位置することになる部分に、第2ボンド点に向かい折れ曲がり角が15度以上である折れ曲がり部分(E)を有するように、キャピラリを移動させる。 (もっと読む)


【課題】1つのチップで複数種類のパッケージに容易に組み立て可能にする。また、ボンディングの際、配線の修正を必要とせず、拡散工程の工数を増やすことなく対応する。
【解決手段】2つのパッドで1つのI/Oバッファを共有し、パッケージによりボンディングするパッドを使い分ける。すなわち、本発明の半導体装置は、第1の辺と第2の辺とが角部(コーナー)を形成する矩形のチップ(10)上において、前記第1の辺に沿って設けられた複数のパッド(1)のうち前記角部の近傍に設けられた第1のパッド(1−1)と、前記第2の辺に沿って設けられた複数のパッド(2)のうち前記角部の近傍に設けられた第2のパッド(2−1)と、前記第1のパッド(1−1)及び前記第2のパッド(2−1)の両方に接続された1つのバッファ(3−1)とを具備する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置におけるワイヤ接続不良の抑制化を図る。
【解決手段】主面3aの外周部に並んで配置された複数のボンディングリード3hを有するパッケージ基板3と、パッケージ基板3の主面3aのボンディングリード列の内側に搭載された半導体チップ1と、半導体チップ1のパッド1cと基板のボンディングリード3hとを接続するワイヤ4と、半導体チップ1及び複数のワイヤ4を樹脂封止する封止体と、パッケージ基板3の裏面に設けられた複数の半田バンプとを有している。さらに、ワイヤ4のループの頂点4bがワイヤ接続部4aより外側に配置されていることにより、ボンディングリード3hと半導体チップ1のパッド1cとの接続においてワイヤ長を長くすることができ、その結果、ワイヤ4のループ形状の安定化を図ってワイヤ接続不良の抑制化を図る。 (もっと読む)


【課題】複数のワイヤループと1本の隣接するワイヤループとの間のクリアランスを広く取りワイヤ間ショートを防止する。
【解決手段】第1,第2のワイヤループ12,13が上部から見ると重なる構造に形成して、これにより第1,第2のワイヤループ12,13と1本の隣接するワイヤループ14との間でクリアランスが広く取れ、封止時において樹脂によるワイヤ流れによって生じるワイヤ間ショートを防止することができる。さらに、パッド10においてボンディング部分を重ねることでパッド10のサイズを変えることなく、また、1つのパッド10と1つのリード端子11に第1,第2のワイヤループ12,13をボンディングすることで、半導体素子8の縮小を可能とする。 (もっと読む)


【課題】ワイヤのコストダウンを図り、ボンディング状況が良好でループの形状・保形力を向上させた半導体装置を提供する。
【解決手段】リードフレーム11に一次ボンドAによりワイヤ13を接続し、ループRを形成しながら半導体素子12のボンドパッド16に、二次ボンドBによりワイヤ13を接続してなる半導体装置10において、上記ワイヤ13として銅または銅合金線を採用し、半導体素子12のボンドパッド16に金または金合金バンプ17を形成してなる。 (もっと読む)


【課題】 半導体装置に配設される中継部材のボンディングパッドの配列及び当該ボンディングパッドを結ぶ配線を任意に設定できるようにして、異なる構造を有する他の半導体装置に対しても適用することができる当該中継部材及び当該中継部材を備えた半導体装置を提供する。
【解決手段】 半導体装置に配設される中継部材50は、第1の端子51と第2の端子52とを備える。第1の端子51に接続される第1端子用配線56の端部及び第2の端子に接続される第2端子用配線57の端部のうち少なくとも1つにより連結部60が形成される。少なくとも前記連結部に接続部材61が形成され、第1の端子51と第2の端子52が接続される。 (もっと読む)


【課題】少なくとも複数個の第1ボンディング点(パッド)が直線上に一列に並んで配置され、これら第1ボンディング点と第2ボンディング点(リード)との間を結ぶボンディングワイヤが隣り合うワイヤ同士で接触するおそれがあるような場合でも、各ボンディングワイヤのネック部高さを高くすることなしに迂回配線することができ、半導体装置の小型化・薄型化を図る。
【解決手段】最も内寄りに位置して対向する第1のパッド2aとリード3a間を結ぶワイヤ4aは、直線m−m上を通る垂直面内において配線するとともに、それ以外の他のパッド2b,2cとリード3b,3c間を結ぶワイヤ4b,4cについては、それぞれパッド位置において一旦垂直上方に起ち上げた後、他のワイヤと接触することがないように水平面内で外方へ向けて引き出し、他のワイヤを迂回しながら対となるリード3b,3cに向けて配線する。 (もっと読む)


【課題】 電解メッキ線を配線できない場合に効率よくワイヤボンド端子間を配線することで、安価でかつ安定した品質の配線基板を作製することが可能な半導体装置及び配線基板を提供する。
【解決手段】 本発明の半導体装置は、半導体チップ1と配線パターン13が形成された配線基板8とを備えている。配線パターン13は、半導体チップ1に設けられたパッド2とワイヤ7により電気的に接続したワイヤボンド端子3,4,5を有する。そして、複数のパッド2と対向するように、ワイヤボンド端子3,4,5が複数の列をなして配置されており、複数の列を、パッド2側から順に、第1列から第3列としたとき、第1列、第2列、及び第3列の各列に属するワイヤボンド端子同士のピッチの比率が、1:2:2である。 (もっと読む)


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