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Fターム[5F044KK17]の内容

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Fターム[5F044KK17]に分類される特許

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本発明は導電性の機械的相互接続部材(12)を作る方法に関する。この方法は、サブミクロン直径を有し、且つ金属から作られた基板(2)の表面から突出する複数の金属ワイヤ(2a)を含む構造を、電気化学的に堆積する第1の段階と、前記ワイヤの部分的溶解を制御して、それらワイヤの直径を低減する第2の段階とを含む。本発明はまた、機械的及び/又は電気的相互接続を作る方法にも関する。この方法は、前述された方法に従って2つの相互接続部材を作ることと、相互接続部材を対向させて配置し、これらを相互に対向して押圧して、前記部材の表面から突出するナノメトリックワイヤの貫入及び絡み合いを実行することとの各ステップを含む。本発明はまた、そのような相互接続部材によって機械的及び電気的に相互接続されたマイクロ電子チップのスタックを含む3次元電子デバイスにも関する。 (もっと読む)


【課題】製造工程においてチッピングが発生しにくい積層型半導体装置を提供する。
【解決手段】所定分布密度のバンプ7が形成された回路領域9を有する半導体基板8同士が、バンプ7を接合することにより積層されて形成された積層型半導体素子であって、半導体基板1の周辺部10には、回路領域9のバンプ7の分布密度より高い分布密度で、半導体基板1に密着してダミーバンプ11が形成され、半導体基板1同士において、ダミーバンプ11同士の接合がなされていることを特徴とする積層型半導体装置。 (もっと読む)


【課題】配線の断線を防止することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】フィルム基板に実装されたインターポーザ基板と、インターポーザ基板に実装された半導体素子とを備え、インターポーザ基板は、複数個の第1基板金属バンプと、複数個の第1基板パッドメタル23と、複数本の基板配線24とを有し、半導体素子は、第1基板金属バンプとそれぞれ熱圧着により接合した複数個の素子金属バンプと、複数個の素子パッドメタル13と、複数本の素子配線14とを有する半導体装置であって、第1基板パッドメタル23および素子パッドメタル13は、各角が外側に向かって突き出る多角形状をしており、基板配線24は、それぞれ対応する第1基板パッドメタル23の角の頂点から間隔を空けた位置に接続され、素子配線14は、それぞれ対応する素子パッドメタル13の角の頂点から間隔を空けた位置に接続されている。 (もっと読む)


【課題】容器本体の内底面を大きくして小型化を維持した安価な表面実装用の水晶発振器を提供する。
【解決手段】底壁1aと枠壁1bとからなるとともに内壁段部を有して凹状とした積層セラミックからなる容器本体1と、前記容器本体1の内底面に設けられた回路端子6にIC端子が固着されたICチップ2と、前記容器本体1の一端側に設けられた内壁段部の表面上に設けられた水晶保持端子5に励振電極から引出電極の延出した一端部両側が固着された水晶片3とを備え、前記回路端子6における前記IC端子中の水晶端子が接続する水晶回路端子6aは前記内壁段部に最も接近して配置された表面実装用の水晶発振器において、前記内壁段部に最も接近した前記水晶回路端子6aから壁面に延出した内底面の導電路6x上と前記水晶保持端子5と前記水晶片3の一端部両側が固着される導電性接着剤11によって電気的に接続した構成とする。 (もっと読む)


【課題】半導体素子と回路基板の熱膨張量の差があっても、従来よりも電気特性の高信頼性を期待できる半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】突起電極103を有する半導体素子101が、突起電極106を有する回路基板104の上に配置され、半導体素子101と回路基板104がスペーサ109を介してと当接して間隔が決定され、互いに向き合う突起電極103,106の間に隙間が形成され、この隙間に導電性弾性体108が介装されている。 (もっと読む)


【課題】 実装した半導体チップを実装基板に実装するとともに、初期不良が発見された半導体チップを容易に取り外すことが可能な電子部品を提供する。
【解決手段】 第1の基板(1)の表面上に第1のパッド(2)が形成されている。第1のパッドの表面上に金属膜(3)が配置されている。第1の基板の、第1のパッドが形成された面に対向するように第2の基板(6)が配置されている。第2の基板の、第1のパッドに対向する表面上に第2のパッド(7)が形成されている。導電性のナノチューブ(8)の一端が第2のパッドに接続され、他端が金属膜内に埋め込まれている。金属膜と、ナノチューブとの界面に、ナノチューブの少なくとも1つの構成元素と、第1のパッドの少なくとも1つの構成元素とを含む導電性の化合物からなる中間膜(9)が配置されている。 (もっと読む)


【課題】 バンプを押圧して超音波フリップチップ実装する場合であっても、結合面に傾斜やずれが生じないようにし、光フェルールとの高精度な結合を図る。
【解決手段】 電気配線23を備えた光フェルール25と結合可能なデバイスアレイ21であって、結合面29に、複数の光素子31を一列に配置し、光素子列を挟む第1の側35と、反対側の第2の側37のそれぞれに電気配線23と接続される複数のバンプ33を配設した。第2の側のバンプ33Bの数は第1の側のバンプ33Aの数より少ない場合、第2の側のバンプ33Bの底面積SBは第1の側のバンプ33Aの底面積SAよりも大きいことが好ましい。 (もっと読む)


【課題】 異方性導電膜に含まれる導電性粒子の粒子径が小さい場合であっても、これを均一に潰すことが可能であり、良好な導通特性を得ることが可能な電気的接続体を提供する。
【解決手段】 電気的接続体は、第1の電子部材である半導体素子1と第2の電子部材である配線基板3とが異方性導電膜5を介して電気的に接続されて構成される。いずれか一方の電子部材(ここでは半導体素子1)には、バンプ(突起電極)2が形成されており、バンプ2の頂部は、表面粗さRaが0.05μm以下の平坦面とされている。異方性導電膜5に含まれる導電性粒子6の平均粒径は、4μm以下である。 (もっと読む)


【課題】基板と電子素子との電気的接続の信頼性を高めた電子装置及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】電子装置1は、少なくとも1つのパッド3を有する基板2と、基板2の少なくとも1つのパッド3に電気的に接続されるバンプ8を有し、基板2にフリップチップ実装された電子素子6と、パッド3とバンプ8とを電気的に接続する導電性樹脂4と、基板2と電子素子6との間に介在する絶縁性のシート5と、を備える。基板2は、電子素子6と対向する面に、パッド3毎に凹部2aを有する。パッド3は、凹部2aの少なくとも底部に形成される。導電性樹脂4は、パッド3上かつ凹部2a内に充填される。シート5は、バンプ8毎に、開口面積が凹部2aの開口面積より狭い貫通孔5aを有する。バンプ8は、貫通孔5aの内壁に接触して貫通孔5aに挿通されると共に、パッド3と直接接触せずに導電性樹脂4を介して電気的に接続される。 (もっと読む)


【課題】基板上のクリーム半田印刷に仮に印刷かすれがあった場合でも半田付け不良を引き起こすことなく、特に複雑な製法を必要としない簡単な製造方法で製造でき、半田をリフローして基板に接続した際の導電接合部を鼓型にできるバンプ付電子部品、電子部品実装体、および電子部品の実装方法を提供する。
【解決手段】バンプ付き電子部品として、固形導電性材料からなる略円錐形状のバンプ12を備えるようにする。また、電子部品の実装方法は基板に半田を接着し、固形導電性材料から略円錐状に形成されて、同一の高さを有するバンプを備え、バンプ付き電子部品と基板との接合部を鼓型状に形成する。 (もっと読む)


【課題】電極間において強度の高い接合が可能で、かつ低コスト化が可能な半導体装置及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、第1半導体チップ10と、第1半導体チップ10に設けられた第1電極12と、第1半導体チップ10が実装される第2半導体チップ20と、第2半導体チップ20に設けられた、突起24を有する第2電極22と、第1電極12と第2電極22を接合し、前記突起24の側面の少なくとも一部を覆う半田バンプ14とを具備している半導体装置及びその製造方法である。 (もっと読む)


【課題】
高画素化及び接続信頼性を向上させることが可能な半導体装置、該半導体装置が実装された実装構造体、電気光学装置及び電気光学装置の製造方法を提供する。
【解決手段】
ドライバIC18は、第1の高さh1と第3の高さh3とを加えた長さと、第2の高さh2と第4の高さh4とを加えた長さとが同じであるので、ドライバ側入力バンプ28aと電源用入力端子15aとの接続前の間隔やドライバ側入力バンプ28bと信号用入力端子16aとの接続前の間隔やドライバ側出力バンプ20と一端部12aとの接続前の間隔が同じになり、圧着により、ドライバ側出入力バンプ20、28a、28bを均等に圧接し、接続信頼性を向上させることができる。電源用入力端子15aの高さを高くせずに、例えばドライバ側入力バンプ28(例えば入力配線15)の数を増加させて高画素化を実現できる。 (もっと読む)


【課題】パッケージ基板のパターン電極に剣山状或いは針状の銅めっき突起部を備え、金バンプは先端側を平坦にして、接触面積を大きくすることにより、先端プロセスの大規模LSIを低荷重な金スズフリップチップで接合できるようにして、半導体チップに加わる熱応力を低減し信頼性の高い高密度実装を可能にした半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、半導体チップのパッド電極に形成したバンプとパッケージ基板11のパターン電極部12とを接続させる半導体装置の製造方法であって、前記パッケージ基板11の電極部に数μmから数十μmの剣山状または針状の突起部14を形成し、該突起部14に前記バンプを押し当てて接合する実装方法。 (もっと読む)


【課題】実装基板構造物のファインピッチ化とアンダーフィリング・プロセスの品質向上に適用可能とし、かつ、不均一なはんだバンプにより発生する接続不良を解決し、製品の信頼性を向上させ、経済的なコストで製造可能な実装基板構造物及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は、実装基板およびその製造方法に関する。実装基板は、その表面に複数の回路と複数の導電パッドを備える回路層を有し、導電パッドは回路よりも高い位置にある基板本体と;絶縁保護層は複数の開口を有して導電パッドを露出させ、開口の寸法は、導電パッドよりも大きいかまたは同等である、基板本体の表面上に配された絶縁保護層を含む。これによって、本発明の実装基板構造物は、ファインピッチのフリップ・チップ実装構造に用いることが可能になる。 (もっと読む)


パッケージ化された超小型電子アセンブリは、前面(122)と、前面(122)から離れる方に延伸している複数の第1の固体金属ポスト(110)と、を有している超小型電子素子(104)を備えている。第1のポスト(110)の各々は、前面(122)の方向における幅および前面(122)から延びる高さを有しており、この高さ(H2)は、幅(W1)の少なくとも半分になっている。上面(101)と、上面(102)から延伸して第1の固体金属ポスト(110)に接合されている複数の第2の固体金属ポスト(108)と、を有している基板(102)も設けられている。
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【課題】本発明は仮基板上に配線基板を形成した後、当該仮基板を除去する工程を含む配線基板の製造方法及び配線基板関し、実装される電子部品との接続性の向上を図ることを課題とする。
【解決手段】半導体チップ40を搭載した配線基板の製造方法であって、支持体10の表面接続パッド18の形成位置と対応する位置に窪んだ凹状の曲面状凹部13を形成する工程と、配線部材30を形成する工程と、配線部材30から支持体10を除去することにより、支持体10に形成された曲面状凹部13に対応し基板表面から突出した曲面凸状パッド18を形成する工程と、半導体チップ40の外部接続端子となるポスト状端子40aを前記接続パッド18にはんだ付けする工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】静電気を発生させずに外部接続端子の酸化対策を行い、実装不良を抑制する。
【解決手段】半導体装置1は、半導体チップ101と、半導体チップ101に備えられている半田ボール103(第1の半田ボール)と、半田ボール103を介して半導体チップ101を実装しているBGA基板105とからなる半導体素子107を有する。さらに、半導体装置1は、半導体素子107と、半導体素子107に備えられている半田ボール109(第2の半田ボール)と、を有する。半田ボール109は、表面に酸化膜115を有し、前記酸化膜を貫通している貫通孔113が設けられている。半田ボール103は、半導体チップ101に接続している。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成でありながら半導体チップを所定の湾曲形状にした状態で基板に取り付ける。
【解決手段】リジット基板13の相対する一対の縁13a,13bに沿って、径サイズが異なる3種類のバンプ11a〜11cをライン状に配列して接合する。縁13aの中心部に径サイズが最も小さいバンプ11cが縁13aに沿って2個並列され、これらの外側にバンプ11bが、更にその外側に最も径サイズが大きいバンプ11aが配置され、縁13aに沿って合計6個のバンプ11a〜11cが配列される。縁13bについても縁13aと同様にバンプ11a〜11cが配列される。リジット基板13の上方から可撓性を有する固体撮像素子12を被せ、固体撮像素子12の中央部に圧縮空気を吹きつけて凸状に湾曲させながら、固体撮像素子12の電極をバンプ11a〜11cに接合し、半導体装置10を得る。 (もっと読む)


【課題】電気テスト用のプローブを接続することによって簡単にかつ確実に電気テストを行うことができる配線基板を提供することである。
【解決手段】最外層の絶縁層4上に帯状配線導体5aが複数並設されているとともに、各帯状配線導体5a上の一部にフリップチップ用導電突起12が帯状配線導体5aの幅と一致する幅で形成されており、かつ最外層の絶縁層4上および帯状配線導体5a上にフリップチップ用導電突起12の少なくとも上面を露出させるソルダーレジスト層6が被着された配線基板10であって、各帯状配線導体5a上の一部に、さらに電気テスト用のプローブが接続されるテスト用導電突起13が帯状配線導体5aと一致する幅でかつ隣接するテスト用導電突起13と位置をずらして形成されているとともに、各テスト用導電突起13の上面がソルダーレジスト層6から露出するように構成した。 (もっと読む)


【課題】半導体素子がフリップチップ実装される基板を構成する樹脂材料と、他の樹脂材料との密着強度が向上された回路装置を提供する。
【解決手段】本発明の回路装置1は、繊維状充填材35が充填された樹脂層36から成る絶縁基材4と、絶縁基材4に設けられて接続用の電極として機能する突出部11、12、13、14と、フリップチップ実装される半導体素子2と、半導体素子2と絶縁基材4との間に充填されるアンダーフィル29とを具備する。そして、樹脂層36の上面から突出する繊維状充填材35がアンダーフィル29に接触することにより、アンダーフィル29と絶縁基材4との密着力が向上されている。 (もっと読む)


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