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Fターム[5F045AD11]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成膜条件−成膜温度 (8,040) | 700≦T<800℃ (666)

Fターム[5F045AD11]に分類される特許

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【課題】室温(300K)以上において正孔濃度が1.0×1015cm‐3以上で、かつ、ドーパント原子濃度が1.0×1021cm‐3以下である実用的なp型ダイヤモンド半導体デバイスとその製造方法を提供すること。
【解決手段】単結晶ダイヤモンド基板1−1の上に形成された単結晶ダイヤモンド薄膜1−2の中には、二次元の正孔または電子チャンネル1−3が形成される。基板1−1の面方位と基板1−1の結晶軸「001」方向との成す角度をαs、ダイヤモンド薄膜1−2の面方位と単結晶ダイヤモンド薄膜1−2の結晶軸「001」方向との成す角度をαd、チャンネル1−3の面方位とダイヤモンド薄膜1−2の結晶軸「001」方向との成す角度をαcとする。単結晶ダイヤモンド薄膜1−2の表面上には、ソース電極1−4、ゲート電極1−5、ドレイン電極1−6が形成される。 (もっと読む)


【課題】均一性の高いSi又はSiGeを基板表面上に堆積する方法を提供する。
【解決手段】化学気相成長プロセスにおいて、輸送量制限領域又はその近傍で、薄膜の堆積を行うことを可能にする化学前駆体を利用する。このプロセスによれば、堆積速度が大きく、さらに組成的にも厚み的にも、通常の化学前駆体を用いて調整した膜より均一な膜を生成することができる。好ましい実施の形態では、トリシランを使用して、トランジスタゲート電極などの様々な用途で半導体産業において有用なSi含有薄膜を堆積する。 (もっと読む)


【課題】基板上に成長結晶層の膜厚均一性を向上させることができ、歩留まりが高い気相成長装置を提供する。
【解決手段】基板15を支持する底面サセプタ部14aと、サセプタ14a,bの上面に沿って流れる材料ガス流を供給するノズル11と、を含む。サセプタ14a,bは、それぞれが基板と同一材料からなる、底面サセプタ部14aの上面に基板に嵌合する凹状の基板保持部を画定する外周サセプタ部14bとサセプタ14a,bの裏面を画定する底面サセプタ部14aとから構成されていること、外周サセプタ部14bは、基板15の上面と同一平面となる基板保持部を囲む上面を有しかつ、基板保持部を囲む上面が基板の上面の結晶面方位と同一の結晶面方位を有する。 (もっと読む)


【課題】半導体材料上のSi1−xGe層の堆積中、パーティクル生成を最小限化する方法を提供する。
【解決手段】Si前駆体と、分解温度がゲルマンより高いGe前駆体とを含む雰囲気中に基板を設けるステップ、および最終Ge含有量が約0.15より大きくかつパーティクル密度が約0.3パーティクル/cmより小さいSi1−xGe層を前記基板上に堆積するステップを含む。 (もっと読む)


【課題】被処理基板が反っていても水平に保持することができ、被処理基板の位置ずれや反り量のばらつきを吸収することができるようにすることである。
【解決手段】左右一対の前側支柱26と、左右一対の後側支柱27とを有し、これら前側支柱26および後側支柱27に被処理基板wを前方から挿入可能で且つ上下方向に所定の間隔で保持可能な複数の溝28,29を形成してなる基板保持具9において、前側支柱26の前記溝28上の支持面28aを前後方向の中心線c1に対して接近すべく斜め前方に延長させ、互いに接近した前側支柱26の支持面28aの先端における被処理基板wの支持点30,30間の寸法X2を、前記後側支柱27の支持面29aの先端における被処理基板wの支持点31,31間の寸法Y2と同じにした。 (もっと読む)


【課題】所望の比抵抗を有する導電性III族窒化物単結晶基板を低コストで製造することができる導電性III族窒化物単結晶基板の製造方法を提供する。
【解決手段】導電性III族窒化物単結晶基板の製造方法は、GaClガス、NHガス、及びN又はArにより所定の濃度に希釈されたSiHClガスをGaN単結晶基板に供給し、450μm/hourより大きく2mm/hour以下の範囲の成長速度でGaN単結晶基板上にGaN単結晶を成長させると共に、SiHClガスが所定の濃度に希釈されたことによるNHガスとの反応の抑制により、GaN単結晶の比抵抗が1×10−3Ωcm以上1×10−2Ωcm以下となるようにSiHClガスに含まれるSiがGaN単結晶にドーピングされることを含む。 (もっと読む)


【課題】転位を少なくする半導体成長用基板および転位の少ない発光素子を提供する。
【解決手段】
本発明の発光素子は、 一方主面15Aから一部が突出するとともに、上面14a´を有する突起14aを複数備えた単結晶基板14と、
一方主面15Aの突起14aが配置されていない領域に設けられ、上部14a´が突起14aの上面14a´の高さ位置より高い位置にあるとともに、単結晶基板14と異なる材料からなる複数の構造体16と、単結晶基板14上に構造体16を被覆するように設けられた光半導体層13と、を有する。 (もっと読む)



【課題】デッドスペースを増加させることなく、基板の面内均一性を向上させることができる基板処理装置及び基板保持体及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】複数の基板2を保持する基板保持体と、複数の基板2を前記基板保持体で保持しつつ処理する処理室とを備え、前記基板保持体は、基板2を載置可能に構成される基板載置部と、該基板載置部に載置された基板2の周縁一部のガス流れを規制する第1規制部材35とを複数鉛直方向に第1間隙を成して備える固定支柱26、底板31と、前記基板載置部に載置された基板2の周縁他部のガス流れを規制する第2規制部材36を複数鉛直方向に前記第1間隙を成して備え、前記第2規制部材36を前記周縁他部のガス流れを規制する第1位置から前記第1規制部材35と鉛直方向に於いて少なくとも一部が重なりあう第2位置迄退避可能に構成されている可動支柱27、支柱支持腕33とを有する。 (もっと読む)


【課題】光−電気変換の量子効率が高く、受光素子及び発光素子として、優れた実用性が得られる鉄シリサイド半導体薄膜を有する光半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板1上に、スパッタ法、蒸着法又はレーザアブレーション法により粒径が10乃至100nmの微細多結晶からなる第1のβ−FeSi層2を初期層として形成する。次いで、化学気相成長法又は気相エピタキシ法により初期層の結晶粒の横方向成長を促進しつつ第1のβ−FeSi層2上に粒径が10乃至100μmの第2のβ−FeSi層3を形成する。 (もっと読む)


【課題】 原料の反応性を高め、効率的に酸化亜鉛薄膜を成膜することができる成膜方法及び成膜装置を提供する。
【解決手段】 少なくとも有機原料ガスと酸素源ガスとを含む成膜ガスを、反応容器160の側面に配列されたシャワーヘッド150から個別に供給し、有機金属気相堆積成長法により、反応容器160に載置された基板S上に酸化亜鉛薄膜を成膜する成膜方法において、酸素源ガスとしてオゾンガスを用い、かつ、有機原料の分解を促進する水素ガスを前記成膜ガスに添加するとともに、オゾンガスと水素ガスとを異なるガス導入孔から反応容器内に供給する。 (もっと読む)


【課題】カーボンナノウォールの選択成長方法を提供すること。
【解決手段】SiO2 からなる基板100上に、正方形が三角格子状に配列されたパターンのTi膜101を形成した。次に、SiO2 基板100上にカーボンナノウォールを成長させた。そして、Tiからのカーボンナノウォールの成長開始時間よりも長く、SiO2 からのカーボンナノウォールの成長開始時間よりも短い時間で成長を終了させた。ここで、SiO2 からのカーボンナノウォールの成長開始時間は、Tiからの成長開始時間よりも長い。その結果、SiO2 基板100上のうち、Ti膜101が形成されずにSiO2 が露出している領域にはカーボンナノウォールが成長せず、Ti膜101上にのみ、カーボンナノウォール102が形成された。 (もっと読む)


【課題】 成長用基板の上に形成する半導体層が薄くても、再現性よく半導体層から成長用基板を分離する方法が望まれる。
【解決手段】 表面に凹凸が形成された成長用基板の、該表面の凸部の上面に離散的に分布し、化合物半導体からなる複数の支柱を形成する。支柱によって成長用基板の上に支えられ、化合物半導体からなる半導体層を形成する。半導体層の上に、支持基板を接着する。成長用基板を半導体層から分離する。 (もっと読む)


【課題】炭化珪素半導体装置の製造方法において、アニール処理の際の珪素および炭素の蒸発を防止する保護膜の膜厚測定を精度良く、かつ、低コストで行うことが可能な製造方法を提供する。
【解決手段】基板保持具35にウエハWFを搭載して成膜炉32内に置き、成膜炉32内を真空ポンプによりガス排気部33を介して真空排気し、残存する酸素を極力除去した後、Arやヘリウム(He)などの不活性ガスをガス導入部31を介して導入しながら、減圧下で成膜炉32内の温度を800℃〜950℃の範囲に加熱する。この温度に達したら、不活性ガスの流入を停止し、成膜炉32内にソースガスとして気化したエタノールをガス導入部31を介して導入することで、ウエハWFの全表面にグラファイト膜を成膜する。 (もっと読む)


【課題】誘導加熱方式を使用した基板処理装置を構成する被誘導体の破損を抑制できる技術を提供する。
【解決手段】本発明では、サセプタ218Hの上段にさらに、少なくとも、ダミーサセプタDMY1が配置され、または、サセプタ218Lの下段に、さらに、少なくとも、ダミーサセプタDMY3が配置されている。これらのダミーサセプタDMY1、DMY3には、ウェハ200が搭載されておらず、サセプタ218Hもしくはサセプタ218Lに載置されたウェハ200を加熱する。 (もっと読む)


【課題】 下地層とアモルファスカーボン膜との密着性を向上させることが可能な方法を提供すること。
【解決手段】 アモルファスカーボン膜を含む積層構造を下地層上に形成する方法は、前記下地層上に有機系シリコンガスを供給し、前記下地層の表面にSi−C結合を含む初期層を形成する工程(t4)と、前記初期層が表面に形成された前記下地層上に炭化水素化合物ガスを含む成膜ガスを供給し、前記下地層上に前記アモルファスカーボン膜を熱成膜で形成する工程(t6)と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】再成長層表面に起因する発光層およびp型半導体層の不良が生じにくく、かつ、高い出力の得られる半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】第一有機金属化学気相成長装置において、基板11上に第一n型半導体層12aを積層する第一工程と、第二有機金属化学気相成長装置において、前記第一n型半導体層12a上に前記第一n型半導体層12aの再成長層12dと第二n型半導体層12bと発光層13とp型半導体層14とを順次積層する第二工程とを具備し、前記第二工程において、前記再成長層12dを形成する際の基板温度を、600℃〜900℃の範囲とすることを特徴とする半導体発光素子1の製造方法を採用する。 (もっと読む)



【課題】サファイア基板上に高品質なIII族窒化物を結晶成長させ、高品質な半導体装置を得ることが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】直接窒化されたサファイア基板2上のAlN層にラジカル源5から窒素ラジカル又は窒素イオンを含む気体を所定時間照射する。その後、成長させるIII族窒化物の構成元素からなるターゲット3aに窒素雰囲気中でパルスレーザ光を照射するPLD(パルスレーザ堆積)法によってIII族窒化物を結晶成長させることにより、極めて高品質なN極性結晶を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】最大発振周波数fmaxを高くしてダイヤモンド電界効果トランジスタの特性を大きく向上させ、かつ電圧降下を小さく抑えることにより実用レベルに到達させること。
【解決手段】「ソース・ゲート電極間隔dSG、ゲート・ドレイン電極間隔dGDを狭くすること」と「ソース電極の厚さt、ドレイン電極の厚さtを厚くすること」とを両立させるために、ソース電極およびドレイン電極を、エッチング溶液を用いてエッチングする層とレジストを用いてリフトオフする層とに分けて形成する。これにより電極の逆メサ部を小さくすることができるため、ソース電極とゲート電極との間隔を小さくして最大発振周波数fmaxを上げ、かつソース電極およびドレイン電極の厚みを厚くして電圧降下を小さく抑えることができる。 (もっと読む)


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