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Fターム[5F058BB05]の内容

絶縁膜の形成 (41,121) | 無機絶縁膜形成基板、処理対象 (706) | 金属 (117)

Fターム[5F058BB05]に分類される特許

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【課題】 低コストで必要な仕事関数及び耐酸化性を有する金属膜を備えた半導体装置を提供する。
【解決手段】 表面に金属膜が形成された基板を処理容器内に搬入する工程と、処理容器内に原料ガスと酸化源とを供給し排気することで、基板の表面に形成された金属膜上に所定膜厚の金属酸化膜を形成する処理を行う工程と、処理済基板を処理容器内から搬出する工程と、を有し、処理を行う工程では、酸化源としてオゾンガス、酸素ガスまたはプラズマにより活性化された酸素ガスを用い、所定膜厚の金属酸化膜を形成する過程において形成される金属酸化膜越しに、酸化源に含まれる酸素原子を、金属膜の表面に導入することで、金属膜の表面を酸化して導電性の金属酸化層に改質する。 (もっと読む)


【課題】磁気特性の低下の抑制を図る。
【解決手段】磁気抵抗素子の製造方法は、磁化の方向が不変の固定層4、コバルトまたは鉄を含み、磁化の方向が可変の自由層6、および前記固定層と前記自由層との間に挟まれる非磁性層5で構成される積層体を形成し、前記積層体上に、ハードマスク11を形成し、前記ハードマスクをマスクとして塩素を含むガスで前記積層体をエッチングし、エッチングされた前記固定層および前記自由層の側面に、ボロンと窒素とを含む絶縁膜14を形成する。 (もっと読む)


【課題】3層以上の膜を成膜するに際して、第1の膜の成分が第3の膜に含まれることを防ぐ成膜方法を提供する。
【解決手段】上部電極104と下部電極102が設けられた成膜装置100により3層以上の膜を成膜する多層膜の成膜に際して、下部電極102上に基板110を配して第1の膜112を成膜し、前記第1の膜112の形成時よりも上部電極104と前記基板110の間の距離を長くし、前記第1の膜112上に第2の膜114を成膜し、前記第2の膜114の形成時よりも前記上部電極104と前記基板110の間の前記距離を短くし、前記第2の膜114上に第3の膜116を成膜する。 (もっと読む)


【課題】エネルギーコストを抑制できるシリコンオキシナイトライド膜の製造方法とそれにより製造されたシリコンオキシナイトライド膜付き基板の提供。
【解決手段】基板表面にポリシラザン化合物を含む被膜形成用組成物を塗布して塗膜を形成させ、前記塗膜に含まれる過剰の溶媒を除去し、溶媒除去後の塗膜を150℃未満の温度条件下で紫外線を照射することを含むシリコンオキシナイトライド膜の形成方法。 (もっと読む)


【課題】 β−ジケトネート配位子を有する有機金属組成物を含むような、CVD前駆物質に対して広い効用を有する新規な溶剤組成物を提供すること
【解決手段】 溶剤種A、B及びCの混合物を含む、有機金属前駆物質の液体供給化学蒸着のための溶剤組成物であって、前記混合物の全容量に対して、Aが約3〜約7容量部であり、Bが約2〜約6容量部であり、Cが約3容量部まで存在しているA:B:Cの比率を有し、AがC−Cアルカンであり、BがC−C12アルカンであり、A及びBが互いに異なっており、Cがグライムを主成分とする溶剤(グライム、ジグライム、及びテトラグライム)及びポリアミンからなる群から選択される溶剤組成物。およそ5:4:1の重量比のオクタン、デカン及びポリアミンを含有する特定の溶剤組成物が、SrBiTaフィルムの形成に特に有効に使用される。 (もっと読む)


【課題】銅の薄膜上に成膜した誘電体薄膜の膜質を維持できる簡易な誘電体薄膜の製造方法を提供する。
【解決手段】基板12上には、(111)の一軸配向性を有するCu下部電極14が形成される。該Cu下部電極14上に、ペロブスカイト型誘電体のナノ粒子の単分散スラリーをスピンコート法により塗布し、窒素雰囲気で乾燥させる。その後、還元性雰囲気で熱処理を行うことにより、ナノ粒子をCu下部電極14上でエピタキシャル成長させて一軸配向性を有する誘電体薄膜16を形成する。該誘電体薄膜16に上部電極18を形成すると薄膜キャパシタ10が得られる。この製造方法によれば、Cu下部電極14に与えるダメージが少なく変質・変形を抑制できるため、該Cu下部電極14上に形成される誘電体薄膜16の膜質の維持が可能になるとともに、少ない工程で高結晶性の誘電体薄膜16の作製が可能となる。 (もっと読む)


【課題】信頼性および再現性が優れるとともに、歩留まりが高く生産性が優れた薄膜トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタの製造方法は、基板上にゲート電極を形成する工程と、ゲート電極を覆って基板上に第1の絶縁膜を形成し、第1の絶縁膜上に酸化物半導体膜を形成し、酸化物半導体膜上に第2の絶縁膜を形成して、第1の絶縁膜、酸化物半導体膜および第2の絶縁膜からなる積層体を得る工程と、積層体の第1の絶縁膜、酸化物半導体膜および第2の絶縁膜をパターニングして、それぞれゲート絶縁層、活性層およびチャネル保護層を形成する工程と、ソース電極およびドレイン電極を形成する工程とを有する。第1の絶縁膜、酸化物半導体膜および第2の絶縁膜は、大気に曝されることなく連続して形成される。 (もっと読む)


【課題】基板温度が低温の場合でも酸化レートを高速化して、低温での酸化を可能とするとともに、厚膜酸化を可能とするプラズマ酸化方法および装置を提供する。
【解決手段】酸素を含むプロセスガスで酸素含有プラズマを生成し、ステージ18上に設置された基板16に対して、トランス結合バイアス電源からバイアス電圧を印加し、前記基板16のバイアス電位の最大値Vmax及び最小値Vminが、プラズマ電位Vpに対して、Vmin<Vp<Vmaxの関係を満たすように前記バイアス電位を制御することによって前記酸素含有プラズマ中の正イオンと負イオンとを前記基板16に照射するプラズマ処理装置10により前記基板16をプラズマ酸化する。 (もっと読む)


【課題】容易に製造することができ、かつ信頼性の高い薄膜トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタの製造方法は、基板上にゲート電極、ゲート絶縁膜および活性層し、活性層上に第1の保護層となるGa酸化物膜を形成する。Ga酸化物膜上に第2の保護層となる感光性有機系絶縁膜を形成し、感光性有機系絶縁膜においてチャネル領域に整合する部分をパターン部とし、それ以外の部分を非パターン部とする。この非パターン部を除去し、この非パターン部の除去とともにパターン部をマスクとして非パターン部下のGa酸化物膜を除去して、第1の保護層および第2の保護層を形成しチャネル保護膜を得る。チャネル保護膜を覆うようにソース電極およびドレイン電極となる膜を形成し、この膜上にレジストパターンを形成し、チャネル保護膜をエッチングストッパとして膜をエッチングし、ソース電極およびドレイン電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、リーク電流が小さく、かつ容量の大きい容量絶縁膜を有するキャパシタを備えた半導体装置の製造方法を提供することを課題とする。
【解決手段】容量絶縁膜形成工程は、下部電極が形成された半導体基板を成膜装置内に設置する工程と、半導体基板の温度を第1の温度に保持する第1の温度調整工程と、下部電極を覆うように、第1の温度に保持された半導体基板上に第1の絶縁膜を成膜する第1の成膜工程と、半導体基板を第2の温度に保持する第2の温度調整工程と、第1の絶縁膜の表面を覆うように、第2の温度に保持された半導体基板上に第2の絶縁膜を成膜する第2の成膜工程と、第1の温度調整工程、第1の成膜工程、第2の温度調整工程、第2の温度調整工程、及び第2の成膜工程を繰り返し行うことで、前記容量絶縁膜を形成する繰り返し工程と、を含む。 (もっと読む)



【課題】高い絶縁破壊耐圧のMIMキャパシタを提供する。
【解決手段】半導体基板上に形成された下部電極12と、前記下部電極上に形成された第1の絶縁体膜13と、前記第1の絶縁体膜上に形成される第2の絶縁体膜14と、前記第2の絶縁体膜上に形成される第3の絶縁体膜15と、前記第3の絶縁体膜上に形成される上部電極16と、を有し、前記第1の絶縁体膜における密度は、前記第2の絶縁体膜における密度よりも高く、前記第3の絶縁体膜における密度は、前記第2の絶縁体膜における密度よりも高いことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】W等の金属膜の酸化を防止しつつ、金属膜上に低温で酸化膜を形成することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】表面に金属膜が形成された少なくとも1枚のウエハ310を処理室318内に搬入する工程と、金属膜を含むウエハ310表面にシリコンを含む酸化膜を形成する工程と、を少なくとも備える半導体装置の製造方法であって、酸化膜の形成工程は、ウエハ310を所定の温度に加熱しながら、シリコン原子を含む第1の反応物質を処理室318内に供給する工程と、ウエハ310を所定の温度に加熱しながら、酸素原子を含む第2の反応物質と、水素とを処理室318内に供給する工程と、を有し、処理室318内の加熱温度と、水素に対する第2の反応物質の供給比を制御することにより、金属膜の酸化を制御する。 (もっと読む)


【課題】下地膜の結晶性の影響を抑え、高誘電率の結晶構造としたキャパシタ絶縁膜とする。
【解決手段】基板200の上に形成された結晶質膜310の上に非晶質膜320を形成する非晶質膜形成工程と、非晶質膜320の上に結晶質膜310の結晶構造とは独立して制御される結晶構造を持つ絶縁膜330を形成する結晶性絶縁膜形成工程と、を有する。結晶性絶縁膜形成工程においては、基板200を加熱して前記絶縁膜330の少なくとも一部を正方晶系へ相転移させる相転移工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】膜中欠損を生じさせることなくGe基板の表面にGe酸化膜を形成する。
【解決手段】Ge基板2の表面にGe酸化膜を形成するプロセスシステム1の酸化炉13において、1000Pa以下の圧力及び300℃以下の基板温度のもとでGe基板2にオゾン供給装置11からオゾンガスを供して当該基板の表面にGe酸化膜を形成する。室温よりも低温の基板温度のもとで前記基板に前記オゾンガスを供給してGe基板2上にオゾン分子層を形成させる。次いで、前記オゾンガスの供給を遮断させた後、Ge基板2を室温まで加熱することにより前記オゾン分子層によって当該基板の表面を酸化させてGe酸化膜を形成させる。Ge基板2が室温まで達した後に前記加熱を遮断して当該基板の温度を室温よりも低温に降下させるとよい。Ge基板2を加熱するための加熱源として赤外光光源を用いるとよい。前記オゾンガスはオゾン濃度が100%であるとよい。 (もっと読む)


【課題】本発明は、既存の薄膜製造工程で行われている蝕刻工程又はボトム-アップ方式を用いた、自己組織化ナノ薄膜形成技術の問題点である、高コスト、製造工程の複雑化や長時間化、膜の質の低下などを解決することを課題とする。
【解決手段】本発明は、単結晶又は非結晶基板上に金属又は半導体薄膜を蒸着させたシード層上に、凝集現象が起こる金属を蒸着させた中間層を形成した後、熱処理してパターンを形成させ、上記のパターン上に誘電体、半導体、又は金属を蒸着させたターゲット層を形成することを含む自己組織化されたナノ構造薄膜の製造方法を採用している。本発明によると、既存のトップ-ダウン方式の薄膜製造工程で行われている蝕刻工程の問題点を著しく減少させ、さらにナノ薄膜構造においてナノ構造の模様を自由に制御することができる。 (もっと読む)


【課題】疎水性基板上に良好な酸化膜を形成する成膜方法を提供する。
【解決手段】室温以上且つ水の沸点未満の第1の基板温度T1で、水の過飽和状態にした疎水性の基板11の基板表面110上に下地酸化膜12を原子層堆積法を用いて形成するステップと、第2の基板温度T2で、下地酸化膜12上に上部酸化膜13を原子層堆積法を用いて形成するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】電離電圧の高い放電ガスを用いながら、アーク放電を効率よく短時間に発生させ、薄膜素子を効率よく製造する。
【解決手段】圧力勾配型アーク放電プラズマガン10を用いてプラズマを発生させる。プラズマガン10は、陰極1と、第1、第2および第3中間電極2,3,7と、陽極4とを備える。陰極1と第1中間電極間2に電圧を印加してグロー放電を発生させた後、順次、第2中間電極3、第3中間電極7、陽極4に所定のタイミングで電圧を印加していき、陰極1との間にグロー放電を生じさせ、その後放電電流を上昇させることによりグロー放電をアーク放電に移行させる。これにより、3つの中間電極を備えた構成であっても短時間にグロー放電を安定して生じさせることができ、アーク放電に移行させることができる。 (もっと読む)


【課題】バンドギャップが狭い高誘電率膜を用いたキャパシタにおいて、リーク電流を低減するとともに、製造コストを削減することができる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ウエハ2上に形成された下部電極としてのTiN膜100と、TiN膜100上に形成された第1の高誘電率絶縁膜としてのHfO膜110と、HfO膜110上に形成され、HfO膜110のバンドギャップよりも狭いバンドギャップを有する第2の高誘電率絶縁膜としてのTiO膜120と、TiO膜120上に形成され、非貴金属であって4.8eVよりも高い仕事関数を有する上部電極膜としてのCo膜130と、により構成されている。 (もっと読む)


【課題】ポリシラザン化合物を用いて、低温で表面が親水性のシリカ質膜を得る方法の提供。
【解決手段】基板の表面上に、ポリシラザン化合物およびシリカ転化反応促進化合物を含んでなる組成物を塗布し、得られた塗膜に、ポリシラザン塗膜処理液を塗布し、300℃以下でポリシラザン化合物をシリカ質膜に転化させるシリカ質膜製造方法。このポリシラザン塗膜処理液は、過酸化水素とアルコールと溶媒とを含むものである。 (もっと読む)


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