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【課題】
形状に限定されることなく、柔軟性ないし可撓性を有し、任意の形状の各種装置を作成することが可能な素子を用いた集積装置を提供すること。
【解決手段】
回路素子が長手方向に連続的又は間欠的に形成されている素子、回路を形成する複数の領域を有する断面が長手方向に連続的又は間欠的に形成されている素子を複数複数束ね、撚り合せ、織り込み又は編み込み、接合し、組み合わせて成形加工し又は不織状に成形したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】優れた特性を有するメモリーセルを提供することにある。
【解決手段】
a)二つの対向面を有する有機半導体、
b)有機半導体の一つの面と接触する二つの隔置された電極(その間の距離はチャンネル長さであり、その間の有機半導体の部分はチャンネル領域として形成される)、
c)誘電率及び二つの対向面を有する強誘電ポリマー(一つの面はチャンネル領域の少なくとも一部について有機半導体の一つの面と接触している)、及び
d)チャンネル領域の少なくとも一部について強誘電ポリマーの一つの面と接触しているゲート電極
を含むことを特徴とするメモリーセル。 (もっと読む)


【課題】MOSトランジスタを作成する。
【解決手段】MOSトランジスタであって、ゲート電極と、ゲート電極下地の頂部表面を有するチャンネル領域と、ゲート電極とチャンネル領域の頂部表面の間に挿入された誘電体スタックとを含み、前記誘電体スタックが、少なくとも高―k材料を含む高―k誘電体層と、少なくともケイ素および窒素を含む誘電体層と、前記高―k誘電体層と前記誘電体層の間に配設された中間層とを含み、該中間層が、少なくとも前記高―k材料、ケイ素および窒素を含み、前記ゲート電極がポリシリコンまたはポリシリコンゲルマニウムから作製される。 (もっと読む)


【課題】フローティングゲート電極を備えた不揮発性メモリ素子の駆動電圧を高くすることなく、不揮発性メモリ素子、および厚いゲート絶縁膜を備えた高耐圧型トランジスタを同一基板上に形成する。
【解決手段】不揮発性メモリ素子の島状半導体領域とフローティングゲート電極間、および、トランジスタの島状半導体領域とゲート電極間には、第1の絶縁膜と第2の絶縁膜の積層膜が形成されている。第1の絶縁膜はフローティングゲート電極と重なる部分が除去されており、島状半導体領域とフローティングゲート電極間の絶縁膜が、トランジスタのゲート絶縁膜よりも薄くされている。トランジスタはフローティングゲート電極と同じ層に形成されている導電膜と、コントロールゲート電極と同じ層に形成されている導電膜とを有し、これら2つの導電膜は電気的に接続され、トランジスタのゲート電極として機能する。 (もっと読む)


【課題】高電界領域及び低電界領域のリーク電流を低減する揮発性半導体記憶装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】不揮発性半導体記憶装置は、半導体基板101の表面領域に互いに離間して設けられたソース/ドレイン領域111と、ソース/ドレイン領域111間のチャネル上に設けられたトンネル絶縁膜102と、トンネル絶縁膜102上に設けられた電荷蓄積層103と、電荷蓄積層103上に設けられ、かつランタンアルミシリコン酸化物若しくは酸窒化物を含む第1の誘電体膜105と、第1の誘電体膜105上に設けられ、かつハフニウム(Hf)、ジルコニウム(Zr)、チタン(Ti)、及び希土類金属のうち少なくとも1つを含む酸化物若しくは酸窒化物を含む第2の誘電体膜106と、第2の誘電体膜106上に設けられた制御ゲート電極107とを含む。 (もっと読む)


【課題】配線層に新たな機能を有する素子を設けた半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板上に形成された第1配線層150、及び半導体素子200を備える。第1配線層150は、絶縁層156と、絶縁層156の表面に埋め込まれた第1配線154とを備える。半導体素子200は、半導体層220、ゲート絶縁膜160、及びゲート電極210を備える。半導体層220は、第1配線層150上に位置する。ゲート絶縁膜160は、半導体層220の上又は下に位置する。ゲート電極210は、ゲート絶縁膜160を介して半導体層220の反対側に位置する。 (もっと読む)


【課題】微細化を行っても、書き込み/消去特性、繰り返し特性、およびリテンション特性に優れたMONOS型メモリセルを提供する。
【解決手段】不揮発性半導体記憶装置のメモリセルは、MONOS型の構造をしており、電荷蓄積層が複数の絶縁物層から構成される。それらの絶縁膜の隣接する層間の伝導帯端エネルギーと価電子帯端エネルギーの関係は、トンネル絶縁膜からブロック絶縁膜に向かって、次第に大きくなるか、または、次第に小さくなるかのいずれかである。さらに、ブロック絶縁膜の比誘電率をεrとすれば、電荷蓄積層とブロック絶縁膜の間のエネルギー障壁は、電子に対して4.5εr-2/3(eV)以上、3.8eV以下、正孔に対して4.0εr-2/3(eV)以上、3.8eV以下である。 (もっと読む)


【課題】延伸処理を行うことなく、大きな残留分極を有する強誘電性キャストフィルム及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の強誘電性キャストフィルムの製造方法は、下記の工程を含む。
(I)ポリフッ化ビニリデンを誘電率3〜100の溶媒に溶解した溶液を、該溶液のゲル化温度よりも高く、且つ、前記ゲル化温度+60℃以下の温度でキャスティングすることにより、未延伸のキャストフィルムを製造する工程。
(II)前記未延伸のキャストフィルムに、振幅190〜400MV/mの交流電場を印加する工程。 (もっと読む)


【課題】強誘電体膜及びゲート電極間のリーク電流値を低減させると共に耐絶縁性を向上させる。
【解決手段】Si基板1と、Si基板1上に少なくともHfSiON膜2、強誘電体膜3HfSiON膜4及びC60膜6が、この順で積層されたゲート構造を有しており、強誘電体膜3の、HfSiON膜4と接する側の表面におけるRa値とRms値との和の第1絶対値が、HfSiON膜4の膜厚以下であり、かつ、HfSiON膜4の、C60膜6と接している側の表面におけるRa値とRms値との和の第2絶対値が3.0nm以下である。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、データ保持時の不揮発性半導体記憶素子の上部絶縁層からの電荷の放出を効果的に抑制し、不揮発性半導体記憶素子のデータ保持中の閾値変化を効果的に抑制することを目的とする。
【解決手段】
本発明に係る不揮発性半導体記憶素子は、半導体基板1と、半導体基板1の表面内に設けられたソース領域2及びドレイン領域3と、半導体基板上に設けられたトンネル絶縁膜4と、トンネル絶縁膜4上に設けられた導電性電荷蓄積層5と、導電性電荷蓄積層5上に設けられた上部絶縁層6と、上部絶縁層6上に設けられた制御ゲート7とを含む構造である。そして、上部絶縁層6は、透過絶縁層6aと電荷捕獲層6bとブロック層6cの積層構造である。そして、電荷捕獲層6bのトラップ準位密度が透過絶縁層6aとブロック層6cのトラップ準位密度と比べて大きく、透過絶縁層6aのリーク電流が、ブロック層6cのリーク電流と比べて大きい。 (もっと読む)


【課題】有機薄膜トランジスタと、高誘電体キャパシタとを備える有機複合電子素子の製造を容易化する。
【解決手段】トランジスタTr及びキャパシタCaを備える有機複合電子素子の製造方法である。基板11上にゲート電極Ga及びキャパシタ用対向電極の一方CE1を形成し、その上に高誘電体膜17b、低誘電体膜17a及び有機半導体膜16を形成し、低誘電体膜17a及び有機半導体膜16のキャパシタ用対向電極CE1に対応する部分を除去し、その上に、高誘電体膜17b、低誘電体膜17a及び有機半導体膜16を挟んでゲート電極Gaと所定の位置関係でソース電極So及びドレイン電極Drを、高誘電体膜17bを挟んで対応するようにキャパシタ用対向電極の他方CE2を形成する。 (もっと読む)


【課題】互いに異なる性能を有する2以上の有機薄膜トランジスタを備える有機複合電子素子の製造を容易化することである。
【解決手段】第1トランジスタTr1及び該第1トランジスタTr1とは性能が異なる第2トランジスタTr2を備える有機複合電子素子の製造方法である。基板11上に第1トランジスタ用ゲート電極Ga1及び第2トランジスタ用ゲート電極Ga2を形成し、その上に強誘電体膜17b及び低誘電率を有する低誘電体膜17aをそれぞれ形成し、低誘電体膜17aの第2トランジスタTr2を構成する部分を除去し、その上に有機半導体膜16を形成し、その後、強誘電体膜17b、低誘電体膜17a及び有機半導体膜16を挟んで第1トランジスタ用ソース・ドレイン電極So1,Dr1を、強誘電体膜17b及び有機半導体膜16を挟んで第2トランジスタ用ソース・ドレイン電極So2,Dr2を形成する。 (もっと読む)


【課題】単純な方法で製造でき、残留磁気も良好な強誘電体膜およびその製造方法を提供する。
【解決手段】強誘電体として、ポリアミノジフルオロボラン(PADFB)を含む、強誘電体膜。さらに、PADFBと混合された強誘電体ポリマー膜であり、強誘電体ポリマーは、ポリビニリデンフルオライド(PVDF)、ポリビニリデンフルオライドとトリフルオロエチレン(P(VDF/TrFE))との共重合体、及びポリウンデカンアミド(Nylon11)から成るグループから選択される、強誘電体膜。また、当該強誘電体膜を用いる記憶装置、強誘電体ポリマーの製造方法、強誘電体溶液。 (もっと読む)


【課題】アルミニウム酸化物膜をブロック絶縁膜とする高性能なMONOS型のNAND型不揮発性半導体メモリ装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板に、直列接続された複数のメモリセルトランジスタと、選択トランジスタを備えるNAND型不揮発性半導体メモリ装置である。メモリセルトランジスタは、半導体基板上の第1の絶縁膜102aと、電荷蓄積層104と、アルミニウム酸化物である第2の絶縁膜106aと、第1の制御ゲート電極108aと、第1のソース/ドレイン領域を有する。選択トランジスタは、半導体基板上の第3の絶縁膜102bと、アルミニウム酸化物であり、4価カチオン元素、5価カチオン元素、N(窒素)のうち少なくとも1種の元素を含有する第4の絶縁膜106bと、第2の制御電極108bと、第2のソース/ドレイン領域を有する。 (もっと読む)


【課題】電気機械的スイッチ及びこれの形成方法を提供すること。
【解決手段】メモリ素子は、メモリセル内に具備されるストレージノード、第1、及び第2電極を含む。前記ストレージノードは電荷を保存し、前記第1電極は第2部分と電気的に接続するための第1部分を含む。前記第2電極が活性化された際、前記第1部分は前記ストレージノードと接続するように移動する。 (もっと読む)


【課題】電荷トラップ効率が可及的に高いMONOS型メモリセルを有する不揮発性半導体記憶装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板5に離間して設けられたソース・ドレイン領域4a、4bと、ソース領域とドレイン領域4a、4bの間の半導体基板5上に設けられたトンネル絶縁膜12と、トンネル絶縁膜12上に設けられ、電荷をトラップする電荷蓄積膜13と、電荷蓄積膜13上に設けられた制御ゲート電極16と、電荷蓄積膜13と制御ゲート電極16との間に設けられ、電荷蓄積膜13側に設けられた遷移アルミナ層14aおよび制御ゲート電極16側に設けられたα相アルミナ層15aを有するアルミナ膜と、を含むメモリセルを備えている。 (もっと読む)


【課題】MOSFETにおいて、ショートチャネル効果の抑制と移動度向上を両立させることを可能とする。
【解決手段】半導体基板13上にダミーゲート絶縁膜31を介してダミーゲート34を形成する工程と、ダミーゲート34の両側の半導体基板13にソース・ドレイン不純物領域23,24を形成する工程と、ダミーゲート34の両側の半導体基板13上にエクステンション領域25,26を形成する工程と、ダミーゲート34直下のソース側にソース不純物領域23のオーバーラップ領域27を形成する工程と、ダミーゲート34を除去し、該除去領域に露出したダミーゲート絶縁膜31を除去する工程と、除去領域に露出した半導体基板13にリセス形状15を形成する工程と、リセス形状15を形成した半導体基板13上にゲート絶縁膜21とゲート電極22とを順次形成する工程とを備えている。 (もっと読む)


【課題】個別にアドレス指定可能なセルを具備した受動マトリクス・アドレス指定可能素子の読み取りの方法を提供する。
【解決手段】セルはデータを各セルの中で2つの分極状態の1つの形式で格納し、セル内の分極状態は直交する電極マトリクスの形でワードおよびビット・ラインを形成する電極を経由してアドレス指定して書き込みおよび読み取りが行われ、セルがワードおよびビット・ラインの間の交差部内またはその部分に具備され、電圧パルス・プロトコルが使用され、それに基づいて全てのワードおよびビット・ライン上の電位が時間を調整される。読み取り中にはワード・ラインが電圧を与えることでアクティブ化され、この電圧は電圧に対応する全ての交差ビット・ライン上の電位に比例し、このアクティブ・ワード・ラインに接続されたセル内に格納されたデータは、そのセルの電荷値を検出装置で検出して決定される。 (もっと読む)


【課題】不揮発性メモリ素子、その動作方法及びその製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも一つの半導体層105と、半導体層105の内部にリセスされて配された複数の制御ゲート電極150と、複数の制御ゲート電極150と半導体層105との間に介在された複数の電荷保存層130と、複数の制御ゲート電極150を介して相互反対側に配され、半導体層105にそれぞれ容量結合された少なくとも一つの第1補助電極170a,及び少なくとも一つの第2補助電極170bと、を備える。 (もっと読む)


【課題】
本発明はMFMS(Metal−Ferroelectric−Metal−Substrate)構造を有する電界効果トランジスタ及び強誘電体メモリ装置並びにこれらの製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係るMFMS型電界効果トランジスタ及び強誘電体メモリ装置はソース及びドレイン領域とその間にチャネル領域が形成される基板と、基板のチャネル領域の上側に形成されるバッファ層と、バッファ層上に形成される強誘電体層、及び強誘電体層上に形成されるゲート電極を備えて構成され、バッファ層が導電性材質で構成される。 (もっと読む)


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