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Fターム[5F103DD01]の内容

半導体装置を構成する物質の物理的析出 (6,900) | 析出物質 (905) | 3−5族化合物 (251)

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結晶支持構造110をその上に有する基板115とIII−V結晶210を備えるデバイス100。III−V結晶は、結晶支持構造の1つの単一接触領域140上にある。接触領域の面積は、III−V結晶の表面積320の約50パーセント以下である。
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【課題】生産性に優れるとともに、優れた発光特性を備えた素子が得られる、III族窒化物半導体発光素子の製造方法、及びIII族窒化物半導体発光素子、並びにランプを提供する。
【解決手段】基板11上に、V族元素を含むガスと金属材料とをプラズマで活性化して反応させるスパッタ法により、III族窒化物化合物からなる中間層12を成膜し、該中間層12上に、III族窒化物半導体からなるn型半導体層14、発光層15、及びp型半導体層16を順次積層する方法であり、中間層12を成膜する際、基板11とスパッタターゲットとを対向して配置するとともに、前記プラズマに曝される位置に基板11を配してスパッタを行なう。 (もっと読む)


【課題】キャリア密度を向上可能な、半導体膜を製造する方法を提供することを目的とする。
【解決手段】2種以上の同極のドーパントを添加しながら分子線エピタキシ装置13を用いて半導体膜15を基板11上に成長する。分子線エピタキシ装置13において、Gaセル、Mgセル、BeセルおよびRF−Nラジカルガンのシャッタを開き、半導体膜15としてGaN膜を基板11上に成長する。GaN膜は、p型ドーパントMgおよびBeを含む。Beドーパントは半導体の構成元素のうちのGaと置換され、Ga元素の原子半径R21は、Beドーパント17aの原子半径R17よりも大きいと共に、Mgドーパント19aの原子半径R19よりも小さいので、GaNホスト半導体において局所歪みの影響を低減可能である。 (もっと読む)


【課題】生産性に優れるとともに、優れた発光特性を備えた素子が得られる、III族窒化物化合物半導体発光素子の製造方法、及びIII族窒化物化合物半導体発光素子、並びにランプを提供する。
【解決手段】基板11上に、金属材料とV族元素を含んだガスとをプラズマで活性化して反応させることによってIII族窒化物化合物からなる中間層12を成膜し、該中間層12上に、III族窒化物化合物半導体からなるn型半導体層14、発光層15、及びp型半導体層16を順次積層する製造方法とし、前記V族元素を窒素とし、中間層12を成膜する際の、前記ガス中における窒素のガス分率を20%超99%以下の範囲とする。 (もっと読む)


【課題】生産性に優れるとともに、優れた発光特性を備えた素子が得られる、III族窒化物半導体発光素子の製造方法、及びIII族窒化物半導体発光素子、並びにランプを提供する。
【解決手段】基板11上に、金属材料とV族元素を含んだガスとをプラズマで活性化して反応させることによってIII族窒化物化合物からなる中間層12を成膜し、該中間層12上に、III族窒化物半導体からなるn型半導体層14、発光層15、及びp型半導体層16を順次積層する製造方法とし、前記V族元素を窒素とし、中間層12を成膜する際の、前記ガス中における窒素のガス分率を20%超99%以下の範囲とするとともに、中間層12を単結晶組織として形成する。 (もっと読む)


【課題】 III族窒化物半導体からなる微細柱状結晶を選択的に成長させることにより、III族窒化物半導体微細柱状結晶の位置および形状を制御する。
【解決手段】 微細柱状結晶の製造方法が、基板表面の所定領域に、金属窒化物または金属酸化物からなる表面を有する膜を形成する工程と、前記基板表面に成長原料を導き、前記膜上の領域を微細柱状結晶の成長促進領域として、少なくとも前記微細柱状結晶の成長促進領域上にIII族窒化物半導体からなる微細柱状結晶を成長させる工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】p型ドーパントがBeである場合において、再現良く、高いホール密度を有するp型半導体層を備えるIII−V族化合物半導体の製造方法およびIII−V族化合物半導体を提供する。
【解決手段】III−V族化合物半導体1の製造方法は、基板10を準備する工程と、基板10上にIII−V族化合物半導体1からなるp型半導体層11を成長させる成長工程とを備えている。成長工程は、p型不純物10としてのBeをp型半導体層11に供給する第1供給工程と、S、Se、およびTeの少なくともいずれか1種のVI族元素を、第1供給工程で供給されるBeよりも少ない量で、p型半導体層11に供給する第2供給工程とを含んでいる。第1供給工程と第2供給工程とを実質的に同時に行なっている。 (もっと読む)


【課題】各層の成膜に適した装置を複数使用する場合、特定の洗浄を行うことにより、大気開放による酸化膜、付着有機物およびコンタミの除去を行い、結晶性を向上させ、更には半導体素子特性を向上させることである。
【解決手段】基板上に、III族窒化物半導体からなる複数の積層膜を形成する積層工程を含むIII族窒化物半導体発光素子の製造方法であって、前記積層工程には、一の積層膜の上に他の積層膜を形成する際に、前記一の積層膜を形成後の基板を成膜装置の外に取り出してから、前記他の積層膜を形成するために、前記成膜装置または他の成膜装置に導入する入替工程が含まれ、前記入替工程には、前記成膜装置から取り出した基板の前記一の積層膜上を洗浄する洗浄工程が備えられていることを特徴とするIII族窒化物半導体発光素子の製造方法を採用する。 (もっと読む)


約800℃未満の温度でエピタキシャルAlGaN層を調製するための方法が提供される。包括的には、基板が、エピタキシャルAlxGa1-xN層を形成するのに適した温度と圧力で、Al源の存在下で、H2GaN3、D2GaNsまたはそれらの混合物と接触させる。さらに、基板の上方に形成された、複数の反復合金層を含むスタックを備え、複数の反復合金層は2つ以上の合金層の種類を有し、少なくとも1つの合金層の種類はZrzHfyAl1-z-y2合金層からなり、zとyの合計は1以下であり、スタックの厚さは約50nmより大きい、半導体構造が提供される。 (もっと読む)


【課題】 高品質で実用レベルのGaInNAs面発光型半導体レーザ素子の製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体基板(20)上に、レーザ光を発生する少なくとも1層の活性層(23)を含んだ活性領域と、レーザ光を得るために活性層の上部及び下部に設けられた反射鏡(21,25)を含んだ共振器構造を有する面発光型半導体レーザ素子において、前記活性層(23)はGa,In,N,Asを主成分として含み、前記反射鏡のうち少なくとも下部反射鏡は、屈折率が周期的に変化し入射光を光波干渉によって反射する半導体分布ブラッグ反射鏡を含み、前記活性層(23)をMOCVD成長室で成長させ、前記反射鏡(21,25)のうち少なくとも下部反射鏡(21)を、別のMOCVD成長室またはMBE成長室で成長させる。 (もっと読む)


【課題】ドナー不純物の添加量によって導電性を制御することができ、しかも、スパッタ法によって効率よくIII族窒化物半導体を形成できるIII族窒化物半導体の製造方法を提供する。
【解決手段】20〜80%の窒素原子含有ガスと不活性ガスとを含む雰囲気中で、スパッタ法によって、ドナー不純物の添加された単結晶のIII族窒化物半導体層を形成するスパッタ工程を備えることを特徴とするIII族窒化物半導体の製造方法の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】スパッタ法によって基板上に良好な結晶性を有するIII族窒化物半導体を短時間で形成できるIII族窒化物半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】基板11と半導体層20とを備えたIII族窒化物半導体発光素子1の製造方法であって、基板11上にスパッタ法によって多結晶のAlGa1−yN(0≦y<1)からなるバッファ層12を形成するバッファ層形成工程と、バッファ層12上に単結晶のAlGa1−yN(0≦y<1)からなり、n型半導体層14の下層となる下地層14aを形成する下地層形成工程と、下地層14a上にスパッタ法によってn型半導体層14、発光層15、p型半導体層16を順に形成する半導体層形成工程とを含み、下地層形成工程では、分圧を20〜60%とする窒素ガスと残部をなす不活性ガスとを含む雰囲気内でスパッタ法により下地層14aの形成を行なうIII族窒化物半導体発光素子の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】均一性の良好なバッファ層としての結晶層を得ることができ、その上にIII族窒化物半導体結晶構造を作製する際、良好な結晶性の膜を得る積層構造及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に、スパッタ法によって成膜されたIII族窒化物よりなる第1の層8を備え、少なくとも第1の層に接してIII族窒化物材料からなる第2の層7を備えたIII族窒化物半導体の積層構造Aにおいて、前記第1の層が成膜装置のチャンバの内部において成膜された層であり、前記第1の層が成膜装置のチャンバ内において到達真空度、1.0×10−3Pa以下の条件で単結晶組織として製造された層であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 室温でスペクトル幅の狭い高効率の紫外発光ができる窒化物材料を、低コストで製造できる製造方法を提供する。
【解決手段】 アルミニウム金属板641とガドリニウム金属板642とをターゲット材料とし、アルゴン、窒素混合ガス67の雰囲気中でスパッタリングを行うことでガドリニウム添加の窒化アルミニウム薄膜を製造する。また、窒化アルミニウム金属板643及びガドリニウム金属板642をターゲット材料とし、アルゴンガス68の雰囲気中でスパッタリングを行うことでガドリニウム添加の窒化アルミニウム薄膜を製造する。好ましくは、シリコン基板66上に薄膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】均一性の良い結晶膜を短時間で得ることができる技術である、スパッタ法をIII族窒化物化合物半導体層を作製するに際して使用し、安定して良好な結晶性のIII族窒化物化合物半導体層を得る。
【解決手段】基板上にIII族窒化物化合物半導体からなる多層膜構造を成膜させる方法において、該多層膜構造は少なくとも基板側からバッファ層と下地層を含み、該バッファ層と下地層をスパッタ法で成膜し、かつ、バッファ層の成膜温度を下地層の成膜温度よりも低くすることを特徴とするIII族窒化物化合物半導体積層構造体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】 結晶成長方法及び結晶成長装置に関し、基板とエピタキシャル層との格子定数の差を、用いられる物質により一義的決定されることなく一定程度の範囲で任意に設定する。
【解決手段】 湾曲させた基板1上にエピタキシャル成長をさせる。 (もっと読む)


【課題】基板上に結晶薄膜を均一に成長させることが可能な分子線エピタキシー装置および分子線エピタキシー法を提供すること。
【解決手段】その内部を真空状態に保持可能であり、その内部に収容した基板Sbに結晶成長させるための真空成長室1と、基板Sbを保持する基板ホルダ2と、筒状の側壁32と底31とを有しており、基板Sbに結晶成長させる材料Mtを溶融状態で保持可能なるつぼ3と、を備える分子線エピタキシー装置Aであって、るつぼ3の底31には、溶融した材料Mtが表面張力によって漏洩しないサイズとされた1以上の貫通孔31aが設けられており、基板ホルダ2は、るつぼ3に対して底31の外面31bが向く方向に配置されている。 (もっと読む)


【課題】基板上にIII族窒化物を均一な膜厚で堆積することができ、高いスループットを維持し、大面積の基板であっても製造可能な半導体基板の製造方法、半導体基板の製造装置及び半導体基板を提供すること。
【解決手段】窒素ガス雰囲気でIII族金属又はIII−V族化合物からなるターゲット22にパルス電子線を照射することにより、パルスレーザ光を照射する場合に比べてターゲットを構成する原子又は分子に高い運動エネルギーを与えることができ、III族金属の原子又はIII−V族化合物の分子のプルームを広い範囲で形成することができる。本発明では、このように広い範囲で形成されたプルームを基板に近接させるので、III族窒化物の薄膜を基板32の広い範囲に均一に堆積させることができる。 (もっと読む)


【課題】発光デバイス等に使用できる結晶性のよいInNおよびIn組成の大きなInGa1−xN層を提供することを目的とする。
【解決手段】 ZnO基板上に成長することで形成されたIII−V族窒化物層であって、前記III−V族窒化物層は、前記基板上に直接接して形成された第一層と、この第一層上に直接接して形成された第二層とを少なくとも有し、前記第一層が、InGa1−aN(但し、aは、0≦a≦0.16を満たす数である)であり、前記第二層が、InGa1−xN(但し、xは、0.5≦x≦1を満たす数である)であることを特徴とするIII−V族窒化物層。 (もっと読む)


【課題】生産性に優れるとともに、優れた発光特性を備えたIII族窒化物化合物半導体発光素子の製造方法、及びIII族窒化物化合物半導体発光素子、並びにランプを提供する。
【解決手段】基板11上に、III族元素としてGaを含むIII族窒化物化合物半導体からなる半導体層をスパッタ法によって成膜する工程を含む製造方法であり、半導体層をスパッタ法で成膜する際に、基板11に印加するバイアス値を0.1W/cm以上とする。 (もっと読む)


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