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Fターム[5F157AB14]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の取扱い (8,692) | 被洗浄物の支持 (5,429) | 支持手段 (1,596) | 狭むもの、複数の支持手段で挟むもの (475)

Fターム[5F157AB14]に分類される特許

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【課題】第1および第2ガードの昇降状況に応じて、処理液のミストを基板の周辺から効率よく排除することができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】ウエハWの周縁部に対向して第1回収口92が形成される。この状態で、ウエハWから飛散する処理液は、上位置にある中ガード34の内壁によって受け止められる。中ガード34が上位置にあるので、中排気口28が開状態にあり、かつ上排気口29が閉状態にある。排気桶30内に、第1回収口92から、中ガード34と内ガード33との間、中ガード34とカップ31との間および中排気口28を通って排気室25内に至る第2排気経路P2が形成される。一方、上排気口29が閉状態にあるので、中ガード34と外ガード35との間および上排気口29を通って排気室25内に至る経路T3は実質上閉じている。 (もっと読む)


【課題】 基板上の所望の部位を良好に洗浄することができる基板洗浄装置および基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】 アルコール液供給部40は、基板W上にアルコール液(例えば、イソプロピルアルコールやエタノール等)を含む処理液を供給し、基板W上には処理液の液膜LFが形成される。超音波付与部70は、基板W上に形成されている液膜LFに伝達面を接液し、超音波振動を付与する。この場合において、処理液に含まれるアルコール液の比率、基板W上に液盛りされる液膜LFの厚さ、超音波付与部70から付与される超音波振動の発信周波数および発振出力等のパラメータが適切に調整されると、基板W上の超音波付与部70の伝達面の対向部位ではパーティクルが良好に除去される。一方、対向部位以外の部位ではパーティクルの除去が抑制される。 (もっと読む)


【課題】この発明は回転テーブルを高速回転させて基板を処理するとき、基板が回転テーブルの係合ピンから外れないようにした処理装置を提供することにある。
【解決手段】基板を回転させながら処理する処理装置であって、回転テーブル11と、回転テーブルを回転駆動するモータ8と、回転テーブルの上面に設けられた基板の下面を支持する支持ピン19及び基板の外面に係合する係合ピン20と、回転テーブルの下面に径方向に沿って位置決め可能に設けられ回転テーブルの回転速度が増大するにつれて径方向の外方に位置決めされて係合ピンの遠心力によって生じる回転テーブルの周辺部を下方へ撓ませる力を打ち消す力を発生するバランスウエイト24を具備する。 (もっと読む)


【課題】被洗浄物の裏面と洗浄装置との接触によって発生する被洗浄物間の相互汚染を防止し、洗浄液、および洗浄した汚れが被洗浄物に再付着することを抑制することができる枚葉式洗浄装置を提供することを目的とする。
【解決手段】少なくとも、前記被洗浄物の側面を保持するチャックピンと、前記被洗浄物の直下に配設され、液体を吐出する吐出口を有したフランジと、前記フランジの外側に配設され、前記フランジから吐出される液体の液はねを防止する液はね防止板とを具備し、前記フランジにより前記被洗浄物の裏面を非接触な状態で液体浮上させ、前記チャックピンで該被洗浄物の側面を保持して該被洗浄物を洗浄するものであることを特徴とする枚葉式洗浄装置。 (もっと読む)


【課題】チャンバ内の浮遊処理液の影響を低減できる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】振り切り乾燥処理が終了すると、スピンチャック10および雰囲気遮断板50の回転が停止させられて、基板Wの回転が停止する。続いて、スピンチャック10と雰囲気遮断板50とが近接する状態から、スピンチャック10および雰囲気遮断板50との間の距離Dが2mm以上10mm以下となるよう、雰囲気遮断板50が上昇させられる。そして、スピンチャック10から搬送ロボットの搬送アーム8aに基板Wが受け渡される。これにより、チャンバ内の浮遊薬液を完全にチャンバ外に排気することができない場合であっても、搬送時または搬送待ちの基板Wに浮遊薬液が付着することを防止できる。 (もっと読む)


【課題】処理液のミストを基板の周辺から効率よく排除させることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】有底円筒状の排気桶30内には、排気桶30内に固定的に収容された第1カップ31および第2カップ32と、互いに独立して昇降可能な第1ガード33、第2ガード34、第3ガード35および第4ガード36とが収容されている。ウエハWの周縁部に対向して第2回収口93が形成された状態では、排気桶30内には、第2回収口93から上端部63bと上端部35bとの間、第3ガード35の下端部35aと外側回収溝68との間および排気桶30内を通って排気口37に至る第3排気経路P3が形成される。 (もっと読む)


【課題】薬液の使用量を抑えつつ基板表面を良好に処理することができる基板処理方法および基板処理装置を提供する。
【解決手段】初期薬液処理では、基板表面Wfにシリコン酸化膜が形成されており、基板表面Wfは親水面となっている。そこで、初期薬液処理(時刻0から時間T1が経過するまでの間)においてはフッ酸溶液の流量を510(mL/min)に抑えてフッ酸の使用量を抑制している。一方、初期薬液処理により基板Wのシリコン層の少なくとも一部が露出してくるタイミングでフッ酸溶液の流量を1530(mL/min)に増大させて連続薬液処理中を実行しているため、基板表面Wfの一部にシリコン層が露出して疎水面が形成されたとしてもフッ酸溶液が基板表面Wf全体をカバレッジしてシリコン酸化膜のエッチング除去を継続させることができる。 (もっと読む)


【課題】縦向きの半導体基板を処理するモジュール式半導体基板洗浄システムを提供する。
【解決手段】このシステム11は、メガソニックタンク式洗浄機15および後続のスクラバ17,19を含むことができる複数の洗浄モジュールを特徴としている。入力モジュール13は、横向きの基板を受け取って縦向きに回転させ、出力モジュール23は、縦向きの基板を受け取って横向きに回転させる。各モジュール(入力、洗浄および出力)は、基板支持体25を有し、隣接するモジュールの基板支持体が等間隔で離間するように配置されている。これらのモジュールは、複数の基板ハンドラ33を有するオーバヘッド搬送機構31によって連結されている。これらの基板ハンドラは、その下方にあるモジュールの基板支持体と同じ距離(X)で離間されている。 (もっと読む)


【課題】少なくとも基板端面に付着した付着物をスポンジ状ブラシにより効果的に除去することができる基板洗浄装置を提供すること。
【解決手段】基板洗浄装置1は、基板Wを回転可能に保持するスピンチャック3と、スピンチャック3に保持されている基板Wを回転するモーター4と、スピンチャック3に保持されている基板Wに洗浄液を供給する洗浄液供給機構10と、洗浄時に基板Wの少なくとも端面に当接される、スポンジ状樹脂からなるブラシ21と、ブラシ21を圧縮するブラシ圧縮機構23a,23b,24とを具備し、ブラシ21を圧縮機構23a,23b,24により圧縮した状態として少なくとも基板Wの端面を洗浄する。 (もっと読む)


【課題】
洗浄液を効率的に処理してミストを発生させず、部品交換の必要のない低コストのウェーハ洗浄装置を提供すること。
【解決手段】
洗浄槽21と、回転テーブル22と、洗浄ノズル14と、回転テーブル22外周部近傍に設けられたリング23と、回転テーブル22の底部外周縁に設けられた複数の板状部材25とにより、洗浄液を飛散させず、ミストを吸引しながらウェーハの洗浄を行なう。 (もっと読む)


【課題】ウェハー裏面のパーティクルに対して、ウェハーのダメージを抑えながら十分な洗浄効果を得ることが可能な半導体製造装置および半導体製造方法を提供する。
【解決手段】ウェハーw裏面に接触させる薬液を溜める薬液溜め12と、この薬液溜め12の壁面を構成するとともに、ウェハー裏面に対して摺動させるブラシ11と、薬液溜め内に設置され、前記ウェハー裏面にキャビテーションを発生させるために前記薬液に超音波を照射する超音波照射機構13と、薬液溜め12内に薬液を供給する薬液供給機構14と、薬液溜め12の上方に設置され、ウェハーwを保持し、回転させる機構17、18、19を備える。 (もっと読む)


【課題】この発明は基板を損傷させずに確実に洗浄処理することができるようにした処理装置を提供することにある。
【解決手段】基板が供給される処理槽1と、処理槽の基板の被処理面に、マイナスの電荷が帯電しそのマイナスの電荷にプラスの電荷が静電結合したナノバブルを含む処理液を供給する処理液供給ノズル16と、処理液供給ノズルから基板に供給された処理液に向かって供給され、その処理液に含まれるナノバブルのマイナスの電荷に静電結合したプラスの電荷を除去しナノバブルの静電気による平衡状態を消失させてナノバブルを破裂させる作動液を供給する作動液供給ノズル22a,22bを具備する。 (もっと読む)


【課題】真空室において収集したパーティクルを効果的に除去する処理装置を提供する。
【解決手段】処理装置のロードロック室26内にウエハ載置台18に載置されたウエハ8Aから熱泳動によってパーティクルPを収集する集塵体40aを設け、集塵体40aからパーティクルを除去する手段として亜音速のガスを集塵体40aとウエハ載置台18との間の密閉された空間Hに流して集塵体に付着したパーティクルPをガスと共にロードロック室26の外部に回収する。 (もっと読む)


【課題】リンス液の使用量を抑えつつ基板表面を良好に処理することができる基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板表面Wfに第1流量(2(L/min))でリンス液を供給して初期リンス工程を実行した後に、第1流量よりも低い第2流量(1.5(L/min))でリンス液を基板表面Wfに供給して中間リンス工程を実行しているため、リンス液の使用量を抑えることができる。また、リンス液の流量を低下させる前に大流量のリンス液を用いて基板表面Wf全体にリンス液の液膜を形成しているため、リンス液流量を低下させている中間リンス工程においてもリンス液を基板表面Wf全体に広げて基板表面Wf全体を覆うことができるため、基板表面Wfの部分的な露出を防いで基板表面Wfに対してリンス処理を良好に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】より簡単な構成で基板を把持することができる基板把持機構を提供する。
【解決手段】基板把持機構は、基台1と、基台1に支持され、該基台1に対して上下方向に相対移動可能な複数の基板支持部材2と、基板支持部材2の上端にそれぞれ設けられた基板把持部28と、基板支持部材2を上下動させる駆動機構20と、少なくとも1つの基板支持部材2および基台1のうちのいずれか一方に取り付けられた第1の磁石31と、少なくとも1つの基板支持部材2および基台1のうちの他方に取り付けられた第2の磁石32とを備える。第1の磁石31の磁石は、基板支持部材2の上下動に伴って、第2の磁石32と近接した位置となるように配置され、第1の磁石31と第2の磁石32が近接したときに、第1の磁石31と第2の磁石32との間に発生する磁力により基板把持部28が基板Wの端部を押圧する方向に基板支持部材2を移動させる。 (もっと読む)


【課題】基板表面のパターンが破壊されるのを防止することができ、また、ウォータマークの発生を防止することができる半導体装置の製造方法及び基板洗浄装置を提供する。
【解決手段】基板を回転させながら基板表面を洗浄する洗浄工程を有する半導体装置の製造方法において、前記洗浄工程は、前記基板に対して洗浄液を供給して前記基板表面を洗浄する工程(ステップS16)と、前記基板に対して純水を含むリンス水を供給して前記洗浄後の前記基板表面をリンスする工程(ステップS18)と、前記リンス後の前記基板を乾燥させる工程(ステップS22)と、を有し、前記基板表面をリンスする工程では、前記リンス水にHFを添加する。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハのエッジ部に形成された膜を除去することによりパーティクルの発生を抑制した半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係るの半導体装置の製造方法は、半導体ウエハ10の表面に熱酸化法又はCVD法により膜を成膜することにより、前記半導体ウエハのエッジ部10aにも前記膜が成膜される工程と、前記半導体ウエハのエッジ部に研磨材12を吹き付けることにより、前記エッジ部に成膜された膜を研磨して除去する工程と、を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の製造方法において、簡便な手法で半導体基板の端面と裏面側の周縁部とをクリーニングすること。
【解決手段】シリコン基板50の縁部を保持する工程と、シリコン基板50の裏面Aの周縁部Rにブラシ12を摺接させることにより、シリコン基板50の裏面Aに付着している堆積物を除去する工程とを有し、上記の堆積物を除去する工程において、ブラシ12の一部をシリコン基板50の裏面Aからはみ出させる半導体装置の製造方法による。 (もっと読む)


【課題】ブラシの寿命を長くした洗浄装置を提供する。
【解決手段】基板Wを保持する保持機構10と、基板Wを洗浄可能な洗浄ブラシ21とを備え、保持機構10に保持された基板Wに洗浄ブラシ21を当接させながら相対回転させて基板Wを洗浄するように構成された洗浄装置1において、洗浄ブラシ21を洗浄するブラシ洗浄器50を有し、このブラシ洗浄器50は、洗浄ブラシ21の表面電位を変化させて、洗浄ブラシ21の表面電位および当該洗浄ブラシ21に付着した異物の表面電位を互いに正負が同じ表面電位にすることにより、洗浄ブラシ21から異物を分離して除去するようになっている。 (もっと読む)


【課題】プリディスペンスに要する時間の短縮、および加熱または冷却される第1流体の消費量の低減を図ることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】硫酸過水ノズル4に接続される硫酸供給配管14の上流端は、処理液キャビネット2内の循環配管22に分岐接続されている。処理液キャビネット2内において、硫酸供給配管14には、第1配管継手30が介装されている。また、処理室1内のノズルアーム10の先端部において、硫酸供給配管14には、硫酸過水ノズル4に近接して配置された第2配管継手31が介装されている。第1および第2配管継手30,31の間において、循環配管22および硫酸供給配管14は、循環配管22内に硫酸供給配管14が挿通されることにより二重配管構造を形成している。 (もっと読む)


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