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Fターム[5F157CD32]の内容

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Fターム[5F157CD32]に分類される特許

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【課題】ウェハの洗浄処理に用いる液体の不必要な使用を抑える。
【解決手段】洗浄装置1は、貯留槽10に貯留されている薬液を処理槽20に送液してウェハWの洗浄処理を行い、使用した薬液を回収ライン90で貯留槽10に回収し、その回収で不足する分を供給ライン30から補充する。この供給ライン30から補充される薬液流量を検出部41で検出し、演算部42によって単位時間当たりの積算流量を求め、それを判定部43によって閾値と比較して、供給ライン30からの薬液補充量を監視する。これにより、貯留槽10への薬液の回収不足、薬液から析出した結晶物による回収溝24aの閉塞を早期に発見し、不必要な薬液補充を抑えることが可能になる。 (もっと読む)


【課題】この発明は、洗浄処理に使用される洗浄液の損失が少なくて済み、消費量及びコストの低減を図ることができる被処理物洗浄装置を提供することを目的とする。
【解決手段】被処理物洗浄装置1により被処理物Aを浸漬洗浄処理する際に、第1処理槽1B内に放出されたフッ素系溶剤Cの蒸気Caを、第2処理槽2Bより下方に配置された冷却ジャケット3の冷却作用によって沸点より低い温度に冷却する。被処理物Aを、第1処理槽1B内の第2処理槽2Bに貯留されたフッ素系溶剤Cに浸漬して浸漬洗浄処理する。浸漬洗浄処理から蒸気洗浄処理へ移行する際に、被処理物Aを第2処理槽2Bに収容したまま位置を変更せずに、第2処理槽2Bに貯留されたフッ素系溶剤Cを蒸気Caに入れ替えて蒸気洗浄処理する。蒸気洗浄処理から浸漬洗浄処理へ戻る際に、第2処理槽2Bに放出された蒸気Caをフッ素系溶剤Cに入れ替えて浸漬洗浄処理する。 (もっと読む)


【課題】薬液の使用量を抑えつつ基板表面を良好に処理することができる基板処理方法および基板処理装置を提供する。
【解決手段】初期薬液処理では、基板表面Wfにシリコン酸化膜が形成されており、基板表面Wfは親水面となっている。そこで、初期薬液処理(時刻0から時間T1が経過するまでの間)においてはフッ酸溶液の流量を510(mL/min)に抑えてフッ酸の使用量を抑制している。一方、初期薬液処理により基板Wのシリコン層の少なくとも一部が露出してくるタイミングでフッ酸溶液の流量を1530(mL/min)に増大させて連続薬液処理中を実行しているため、基板表面Wfの一部にシリコン層が露出して疎水面が形成されたとしてもフッ酸溶液が基板表面Wf全体をカバレッジしてシリコン酸化膜のエッチング除去を継続させることができる。 (もっと読む)


【課題】合流した流体のパラメータの正確な制御を行うことができ、かつ、流量比が大きく異なる流体を合流させる場合でも、大流量の流体の流れが小流量の流体の流れの妨げになるのを抑制できるミキシングバルブを提供する。
【解決手段】ミキシングバルブは、貫通するように形成された主流路4と、主流路4に連通する連通流路5、6と、連通流路5、6に各々連通する弁室2、3と、各々の弁室2、3に連通する副流路9、10が設けられた本体1と、弁室2、3の、連通流路5、6に通じる開口部の周辺を弁座7、8として開閉動作する弁体23、24と、弁体23、24を駆動する駆動部11、12と、を有し、連通流路5、6が、主流路4の軸線方向に互いに同じ位置で主流路4に連通しており、且つ連通流路5、6の長さが互いに等しくなっている。 (もっと読む)


【課題】 剥離及び洗浄工程で基板への損傷を最小に抑え、低コストで低ダメージ、環境に優しいプロセスを実現することができる対象物処理装置及び方法を提供すること。
【解決手段】 処理対象面を有する対象物に対して、剥離/洗浄/加工のいずれかを含む処理を行うための対象物処理装置に、大気圧または減圧雰囲気で前記対象物を載置するステージ部と、純水を所定値に加圧した加圧温水をノズル部に供給する加圧温水供給部と、処理対象面に対し、加圧温水または加圧温水と薬液との混合物を噴出するノズル部とを設ける。 (もっと読む)


【課題】 基板洗浄をさらに効率的に実行できる二流体ノズル、およびこの二流体ノズルによって洗浄処理を実行可能な基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】 流路形成部材31および蓋部材39は、主として圧縮空気供給源側から供給される気体の導入路を形成する部材である。流路形成部材41および蓋部材49は、主として圧縮空気供給源側から供給される気体の導入路を形成する部材である。また、各流路形成部材31、41の背面同士が合わせられると、洗浄液供給源71から供給される液体の導入路が形成されるとともに、Y軸方向を長手方向とし、X軸方向を幅方向とする略長方形状の液体吐出口が形成される。導出部材51は、流路形成部材31側から供給される気体の吐出口と、流路形成部材41側から供給される気体の吐出口と、を形成する部材である。 (もっと読む)


【課題】高圧二酸化炭素を用いた洗浄等の処理工程後、被処理体の表面が高い清浄度に維持される簡易な処理方法、及び処理装置を目的とする。
【解決手段】被処理体を保持、収納する高圧容器11に、フィルタ13を有する供給ライン20から、高圧二酸化炭素を供給する工程(1)と、前記高圧二酸化炭素により被処理体を処理する工程(2)と、高圧容器11内の高圧二酸化炭素を排出ライン30から排出する工程(3)とを含み、前記工程(1)及び/又は前記工程(3)のにおける高圧二酸化炭素の流量を特定の条件に調整する、高圧二酸化炭素を用いた被処理体の処理方法。また、高圧容器11と供給ライン20と排出ライン30とを備え、供給ライン20及び/又は排出ライン30に、高圧二酸化炭素の流量を調整する流量調整手段40、50を有する処理装置1。 (もっと読む)


【課題】MFC内に設けられている機器の異常を検出することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】MFC241の上流側には、不活性ガスを供給する不活性ガス供給ライン308、不活性ガスの供給を遮断する第1遮断バルブ300、処理ガスを供給する処理ガス供給ライン310及び処理ガスの供給を遮断する第2遮断バルブ302が設けられ、MFC241の下流側には、処理室201に接続されるガス供給管232、ガス供給管232への供給を遮断する第3遮断バルブ304、排気可能な排気ベントライン318及び排気ベントライン318への供給を遮断する第4遮断バルブ306が設けられている。主制御部は、これらの遮断バルブが閉じられた状態でMFC241が閉状態から開状態に移行した結果、当該移行時間が予め設定された時間を超えている場合、MFC241は異常であると判定する。 (もっと読む)


【課題】混合槽で生成される処理液の混合比率を一定に保つ。
【解決手段】まず排出弁23,24,25を開弁し、供給弁26〜31を閉弁して、原料液体A,B,Cを排出弁23,24,25から外部に排出する。その後、LFC20,21,22が検出する原料液体A,B,Cの流量が全て所定の流量に達した後に、排出弁23,24,25を閉弁し、供給弁17,29,31を開弁して、供給弁17,29,31を通して原料液体A,B,Cを第2の混合槽3に供給する。 (もっと読む)


【課題】処理液バルブのリーク故障や吸引手段の故障を検出して、基板処理不良を抑制する。
【解決手段】この基板処理装置は、基板Wに処理液を吐出するノズル12と、ノズル12に接続された処理液供給管25と、処理液供給管25に介装された第1および第2処理液バルブ28A,28Bとを備えている。第1処理液バルブ28Aとノズル12との間に設定された分岐位置36には、処理液吸引管32が処理液供給管25に分岐接続されている。処理液吸引管32には吸引装置34が接続されており、その途中部には吸引バルブ33が介装されている。処理液供給管25は、分岐位置36とノズル12との間において、鉛直方向に沿う液面検出部40を有している。この液面検出部40に設定された液面検出位置42には、液面センサ41が配置されている。 (もっと読む)


【課題】処理液供給ユニット13内の処理液の減少に起因する基板処理装置の強制停止の頻度を減少させて、処理液を有効に使い、歩留まりの良好な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板に液処理を施す複数の液処理ユニット12と、複数の液処理ユニット12に対する基板の搬入・搬出を行う基板搬送手段と、複数の液処理ユニット12へ処理液を供給する処理液供給ユニット13と、前記処理液供給ユニット13の処理液貯留槽16内の処理液の残量を検出するレベルゲージ161を備えて、レベルゲージ161が検出する処理液貯留槽16内の処理液の残量が所定量を下回る場合に、液処理ユニット12への基板の搬入を停止する。 (もっと読む)


【課題】オゾン水混合液供給装置及び方法、並びにこれを具備する基板処理装置を提供する。
【解決手段】本発明によるオゾン水混合液供給装置は、処理液供給ライン及びオゾン水供給ライン夫々から処理液及びオゾン水の供給を受けこれを混合して予め設定された濃度範囲内のオゾン水混合液を製造する混合ラインと、混合ラインから製造するオゾン水混合液を処理ユニットに分配させる分配ラインと、を有する。混合ラインには、混合バルブ及びスタティックミキサを設ける。本発明は、混合タンクのような混合容器なしにインライン混合方式で予め設定のオゾン水混合液を製造及び供給する。 (もっと読む)


【課題】被洗浄物にダメージを与えないようにしつつ洗浄乾燥性能を向上する。
【解決手段】洗浄後でかつ乾燥前に、不活性ガスを洗浄槽内に供給して洗浄槽12内を加圧する加圧ガス供給手段32と、乾燥時に洗浄槽12内の圧力を調整可能な圧力調整手段38と、排出流路16から排出される洗浄液の流量を検出可能な流量センサ16bと、洗浄液の排出後にアンモニアガスを供給するアンモニアガス供給手段36と、洗浄液の排出後にオゾンガスを供給するオゾンガス供給手段30と、洗浄液の排出後にアルゴンガスを供給するアルゴンガス供給手段34と、を備える。 (もっと読む)


【課題】適用が容易で、標準のクリーニング手順との組合せが可能である、希ガスプラズマ反応を用いて水の残留物を除去する、改善した反応チャンバクリーニング処理を提供する。
【解決手段】水分子を破壊して電子励起した酸素原子を形成できる高エネルギーのEUVフォトン(E>20eV)を放射する希ガスプラズマ(例えば、He)が、吸着された水を除去するために用いられる。該方法は、材料に吸収された水分子の光分解を引き起こすのに充分なエネルギーを有する、極端紫外及び/又は真空紫外のフォトンを放射して、酸素、水素及び/又は水酸基のラジカルを放出させることが可能である希ガスプラズマに対して該表面を露出することと、反応チャンバからラジカルを除去することとを含む。 (もっと読む)


【課題】低コストで貯留槽内の処理液の温度を調整することが可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理液タンクTB内の処理液は、ポンプP2の動作により配管18,19,23を通して簡易式熱交換器S2に導かれる。簡易式熱交換器S2により冷却された処理液は、配管23,25を通して処理液タンクTBに戻される。処理液の温度が予め定められた規定値N1以下になると、処理液タンクTB内の処理液は、ポンプP2の動作により配管18,19,21を通して処理液タンクTBに戻される。配管21は処理液タンクTA内を通過するので、配管21を流れる処理液は、処理液タンクTA内の処理液によって温調される。 (もっと読む)


【課題】処理液を用いた処理を、安定的に基板に施すことができる基板処理装置を提供すること、および、このような基板処理装置に適用可能な処理液成分補充方法を提供すること。
【解決手段】薬液キャビネット制御部72は、処理ユニット4〜7の薬液バルブ33の開時間を取得し、その薬液バルブ33に関する累積開時間を算出するとともに、4つの処理ユニット4〜7の4つの薬液バルブ33の累積開時間の合計を算出する。薬液バルブ33の累積開時間の合計が予め定める時間に到達すると、成分補充ユニット3は予め定める量の第1成分、第2成分および第3成分を、それぞれ、薬液タンク40に補充する。
【効果】薬液タンクに溜められている薬液の濃度をほぼ一定に保つことができる。 (もっと読む)


【課題】高濃度の炭酸水を簡易かつ迅速に製造することができる炭酸水の製造装置及び製造方法と、この製造装置で製造された炭酸水で電子材料部材を洗浄する方法を提供する。
【解決手段】原水を、原水配管11を経由して脱気膜モジュール1の液相室1bに供給する。真空ポンプ3を作動させて気相室1c内を減圧する。原水に溶解している溶存ガスが、気体透過膜1aを透過し、気相室及び排気配管13を経由して系外に排出される。脱気水は、脱気水配管12を経由して炭酸ガス溶解膜モジュール2の液相室2b内に流入する。また、炭酸ガス供給器4から、炭酸ガス配管15を経由して気相室1cに炭酸ガスを供給する。所定量の炭酸ガスが、気体透過膜2aを透過し、液相室2b内の脱気水に溶解する。この炭酸ガスを溶解させた脱気水は、炭酸水配管14から流出する。 (もっと読む)


【課題】基板にダメージを与えることなく、レジストを良好に除去することができる、基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】SPM液ノズルに対し、170℃以上に温度調節された硫酸と、常温の過酸化水素水とが、1:0.1〜0.35の流量比で供給される。硫酸と過酸化水素水とが混合して生成されたSPM液が、SPM液ノズル3からウエハWの表面に供給される。
【効果】ウエハWの表面上のほぼ全域において、レジストを良好にかつ均一に除去することができる。 (もっと読む)


【課題】 温度調整装置など、電力が供給されることによって作動する装置を、断線検出という警報を発生させることなく、所望する任意の電力量に制限して使用する。
【解決手段】 温度調整装置100に、流体の温度の値を目標値にするための操作量を演算する操作量演算部30と、演算された操作量に対応する電力が供給されて流体の温度が調整される温度調整部40とを含む電力制御装置20が備えられている。この電力制御装置20には、更に電力上限値設定部50と操作量補正部60が設けられる。電力上限値設定部50では、温度調整部40に供給される電力の上限値が設定される。操作量補正部60では、設定された電力上限値を超えないように、演算された操作量が補正されて、温度調整部40に出力される。
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【課題】洗浄薬液の混合比を正確に求め、必要量の薬液補充を行うことにより薬液濃度を制御して、被エッチング膜に対するエッチング量を容易に制御する。
【解決手段】薬液交換時において、薬液槽1に供給される薬液21,22,23の供給流量を、それぞれの薬液流量計31,32,33により測定する。測定された流量にて演算部7において供給時間が計算され、供給流量と供給時間の積分値から各薬液の総投入量を算出する。各薬液の総投入量から混合比を求めて薬液濃度を算出する。このとき算出された濃度が設定濃度と異なる場合、所望する薬液濃度となるように各薬液の補充量を演算部7で算出し、補充量を供給時間を可変させることにより調整する。演算部7で算出された供給時間にわたり、補充する薬液のみミキシングバルブ4を開いて薬液槽1に薬液を供給し、薬液濃度を調整する。 (もっと読む)


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