【課題】バリア膜とドレイン電極膜およびソース電極膜が高い密着強度を有する薄膜トランジスターを提供する。
【解決手段】上記酸化ケイ素膜のバリア膜と、上記純銅膜のドレイン電極膜およびソース電極膜の間に、水素プラズマ処理後の厚さ方向断面組織が、（ａ）上記純銅膜のドレイン電極膜およびソース電極膜側に形成された純銅化帯域と、（ｂ）上記酸化ケイ素膜のバリア膜との界面部に形成され、構成成分がＣｕとＣａと酸素とＳｉからなる成分凝集帯域、の２帯域で構成され、上記成分凝集帯域の厚さ方向に形成されたＣａおよび酸素の含有ピークの最高含有量が、それぞれＣａ：５〜２０原子％、酸素：３０〜５０原子％、であり、かつ、１０〜１００ｎｍの目標膜厚を有する密着強化膜を介在させる。 （もっと読む）

【課題】 基板上の特徴部の密度を増大させる処理シーケンスを提供すること。
【解決手段】 本発明の実施形態は、単一の高解像度フォトマスクを使用する標準のフォトリソグラフィ処理技法を使用して可能なものに比較して、２次元において減少ピッチを有するパターン形成特徴部を基板上に形成する方法に関する。方形の角部の４つのコアの中心にディンプルを残すように選択された厚さを有するスペーサ層が、コアの２次元方形格子上に形成される。上記スペーサ層は、上記方形の中心において上記基板をさらすように、エッチングバックされる。上記コア材料を除去することにより、コアのフォトリソグラフィ画成格子のパターン密度が２倍とされる。露出された基板の領域には、再びコア材料を充填することができ、上記処理は、上記パターン密度が４倍となるように繰り返される。 （もっと読む）

【課題】ショットキー接触を発生させることなく、炭素の析出を抑制することにより配線の密着性を向上したオーミック電極を有する炭化珪素半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】
ＳｉＣ半導体装置においてオーミック電極を形成する際に、ＳｉＣ層１１の一方の主表面上には、１種の第１の金属元素からなる、第１の金属層１２を形成する。また、第１の金属層の、ＳｉＣ層１１と対向する表面とは反対側の表面上（図１における上側）に、ＳｉからなるＳｉ層１３を形成する。このようにして形成した積層構造１０Ａに対して熱処理を行なう。以上により、電極の表面層への炭素原子の析出や、ＳｉとＳｉＣとによるショットキー接触の形成が抑制された、配線との良好な密着性を示すオーミック電極を有する炭化珪素半導体装置を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】ＰＮ接合境界を有し且つ表面に金属シリサイド膜が形成されたゲート電極や配線の上にホールが形成されている構造において、ホールとＰＮ接合境界との接近に起因して金属シリサイド膜に断線が生じることを防止し、それにより、高集積化を達成しつつゲート電極や配線の高抵抗化を防止する。
【解決手段】ゲート電極となる多結晶シリコン膜１０３中に、ＰＮ接合境界１０５を挟んで隣接するようにＮ型多結晶シリコン領域１０３ＡとＰ型多結晶シリコン領域１０３Ｂとが形成されている。多結晶シリコン膜１０３上にＰＮ接合境界１０５を跨ぐように金属シリサイド膜１０４が形成されている。ＰＮ接合境界１０５はゲート電極の延伸方向に対して垂直面を構成しないように設けられている。 （もっと読む）

【課題】Ｓｉ系基板上に結晶性の良いＳｉ系結晶またはＧｅ系結晶をエピタキシャル成長させることのできる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係る半導体装置の製造方法は、水素ガス雰囲気中において、圧力が第１の圧力であり、温度が第１の温度である条件下で、シリコン窒化物からなる部材を備えたＳｉ系基板の前記部材に覆われていない領域の自然酸化膜および付着したシリコン窒化物を除去する工程と、水素ガス雰囲気中において、圧力を前記第１の圧力に保持したまま、温度を前記第１の温度から第２の温度に下げる工程と、水素ガス雰囲気中において、温度を前記第２の温度に保持したまま、圧力を前記第１の圧力から第２の圧力に下げる工程と、圧力を前記第２の圧力に下げた後、水素ガス、およびＳｉおよびＧｅのうちの少なくともいずれか１つを含む前駆体ガス雰囲気中において、前記Ｓｉ系基板の表面にＳｉおよびＧｅのうちの少なくともいずれか１つを含む結晶をエピタキシャル成長させる工程と、を含む。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の低コスト化を図る。
【解決手段】回路基板の主面に選択的に形成された配線層に、複数の導電性粒子を含む樹脂を接触させ（ステップＳ１）、前記樹脂を介して、回路基板の主面と半導体素子の主面に配置された電極パッドとを対向させる（ステップＳ２）。そして、導電性粒子の融点以上に導電性粒子を加熱して、複数の導電性粒子を一体化させた導電層を通じて、電極パッドと配線層とを電気的に接続する。それと共に、導電層を樹脂で被覆する（ステップＳ３）。これにより、電極接合及び封止用樹脂の形成工程が簡略化され、低コストで半導体装置を製造できる。 （もっと読む）

【解決手段】
洗練されたトランジスタ要素を形成するための製造プロセスの間、それぞれの金属シリサイド領域を形成するのに先立つ共通のエッチングシーケンスにおいて、ゲート高さが減少させられてよく、そして凹型のドレイン及びソース構造もまた得られてよい。対応する側壁スペーサ構造はエッチングシーケンスの間に維持され得るので、ゲート電極におけるシリサイド化プロセスの可制御性及び均一性を高めることができ、それにより、低減された程度のスレッショルドばらつきを得ることができる。更に、凹型のドレイン及びソース構造が、全体的な直列抵抗の低減及び応力転移効率の増大をもたらすことができる。 （もっと読む）

【課題】密着性に優れた薄膜トランジスターのゲート電極、ソース電極およびドレイン電極などの配線膜および配線下地膜を形成するためのスパッタリングターゲットを提供する。
【解決手段】Ｍｇ：０．１〜５原子％、Ｃａ：０．１〜１０原子％を含有し、必要に応じて、ＭｎおよびＡｌのうちの１種または２種の合計：０．１〜１０原子％を含有し、さらに必要に応じてＰ：０．００１〜０．１原子％を含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる組成を有する薄膜トランジスター用配線膜を形成するためのスパッタリングターゲット。 （もっと読む）

【課題】インパクトイオン化領域にてキャリアがゲート絶縁膜に入り込むことがない半導体装置とその製造方法を提供する。
【解決手段】トランジスタ部分２２と、ダイオード部分２３を具備し、トランジスタ部分２２は、第１導電型又は真性の半導体領域であるチャネル形成領域６と、チャネル形成領域６に接するゲート絶縁膜７と、チャネルを形成させるゲート電極８と、第２導電型あり、チャネル形成領域６に接し、ドレイン電圧が供給されるドレイン領域４と、第２導電型であり、チャネル形成領域６を介してドレイン領域４に対向し、チャネル形成領域６にチャネルが形成されたときにチャネル形成領域６を介してドレイン電圧が供給されるソース領域５とを含み、ダイオード部分２３は、ソース領域５に電気的に接続されており、ソース領域５にドレイン電圧が供給されたときに、ダイオード部分２３はインパクトイオン化現象が発生する領域を含む。 （もっと読む）

【課題】表示パネルに設けられる共通接続部として適した構造を提供することを目的の一とする。
【解決手段】画素部の外側領域に設けられる共通接続部は、ゲート絶縁層と同じ層で形成された絶縁層上に、第２酸化物半導体層と同じ層で形成された酸化物半導体層と、導電層と同じ層で形成された導電層（共通電位線とも呼ぶ）とが積層された構成を有し、第１酸化物半導体層上に設けられた層間絶縁層の開口部を介して導電層（共通電位線とも呼ぶ）が共通電極と接続しており、画素電極と対向する電極が導電性粒子を介して共通電極と電気的に接続する。 （もっと読む）