説明

オートフォーカス装置

【課題】スループットの問題、切替時の音の問題、寿命の問題を解消できるオートフォーカス装置を提供する。
【解決手段】対物レンズ11と、観察光学系13と、対物レンズ11をその光軸方向へ変位させる駆動機構16とを備えたオートフォーカス装置において、光を対物レンズ11を介して被測定物の測定面に照射する照明光学系光路30と、パターン投影光学系光路40とを備える。パターン投影光学系光路40には、電子制御シャッタ41、所定のパターンを形成したパターン投影板43、投影用レンズ45が設けられている。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、被測定物の像のコントラストに基づいて、対物レンズが常に被測定物の測定面で焦点を結ぶように対物レンズを移動させるようにしたオートフォーカス装置に関する。例えば、被測定物の像を観察光学系で観察しながら被測定物の寸法や形状を測定する画像測定機や顕微鏡などの光学式測定装置に利用できる。
【背景技術】
【0002】
従来、画像測定機や顕微鏡などの光学式測定装置においては、被測定物の表面に投影されたパターンを用いてピント合わせを行うオートフォーカス装置が採用されている。
例えば、特許文献1に記載のオートフォーカス装置は、図5に示すように、光源1と、投影用レンズ2と、光源1と投影用レンズ2との間に挿入され所定のパターン(例えば、三角形パターン)が形成されたパターン投影板3と、このパターン投影板3を光学光路に対して進退させる進退機構4とを備える。進退機構4は、ガイド機構に沿ってパターン投影板3が光学光路中に進出するように付勢するスプリングと、このスプリングの付勢力に抗してパターン投影板3を光路から退避させるソレノイドとから構成されている。なお、5は対物レンズ、6はビームスプリッタ、7はチューブレンズ、8はCCDカメラである。
【0003】
従って、たとえば、鏡面やガラス面などの元来コントラストの低い材質を測定する場合、パターン投影板3が光学光路中に進出された状態にすると、パターン投影板3のパターンが被測定物の測定面に投影されるから、そのパターンのコントラストからピント合わせを行うことができる。また、パターンを投影する必要のない場合には、ソレノイドを励磁すると、パターン投影板を光学光路から退避させることができる。
【0004】
【特許文献1】特開2004−29069号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、従来のオートフォーカス装置では、パターン投影時や非投影時に、ソレノイドの励磁、解磁およびスプリングの付勢力によってパターン投影板を光路に対して進退させる構造であるため、スループットの低下、切替時の音が大きい、寿命が短いなどの課題がある。
【0006】
本発明の目的は、上述した課題を解消し、スループットの問題、切替時の音の問題、寿命の問題を解消できるオートフォーカス装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明のオートフォーカス装置は、被測定物の測定面に光を集光させる対物レンズと、この対物レンズから出射された光に基づく被測定物の像を観察可能な観察光学系と、この観察光学系で得られた被測定物の像のコントラストに基づいて前記対物レンズをその光軸方向へ変位させる駆動機構とを備えたオートフォーカス装置において、光を前記対物レンズを介して被測定物の測定面に照射する照明光学系光路と、パターン投影光学系光路とを備え、前記パターン投影光学系光路には、所定のパターンを形成したパターン投影板、投影用レンズ、および、シャッタが設けられている、ことを特徴とする。
ここで、シャッタとは、機械式シャッタのほか、例えば、通電の有無によって光を透過、遮断できる状態に切替可能な液晶板なども含む意味である。また、機械式シャッタについては、電子制御によって開閉できる構造のものが好ましい。
【0008】
このような構成によれば、パターン投影光学系光路によって、所定のパターンを被測定物の測定面に投影することができるから、そのパターンのコントラストから対物レンズを光軸方向へ変位させてピント合わせを行うことができる。従って、鏡面やガラス面などの元来コントラストの低い材質でも、フォーカスを合わせることができる。
とくに、パターン投影光学系光路には、所定のパターンを形成したパターン投影板、投影用レンズ、および、シャッタが設けられ、このシャッタによってパターン投影板のパターン投影をオン・オフするようにしているから、従来のように、パターン投影板をソレノイドやスプリングなどにより進退駆動させる構造に比べ、スループットを向上させることができるとともに、切替時の音を極力軽減でき、更に、寿命も増大させることができる。
【0009】
本発明のオートフォーカス装置において、光源と、この光源からの光を前記照明光学系光路および前記パターン投影光学系光路に分割する光分割手段と、前記パターン投影光学系光路からの光を前記照明光学系光路の光と合成する光合成手段と、を備えていることが好ましい。
このような構成によれば、光分割手段によって、光源からの光を照明光学系光路およびパターン投影光学系光路に分割するようにしたから、1つの光源ですみ、部品点数の削減、コスト低減に寄与できる。また、光合成手段によって、パターン投影光学系光路からの光を照明光学系光路の光と合成するようにしたから、パターン投影光学系光路からの光と照明光学系光路の光とを別々に対物レンズに入射させる構造に比べ、装置構成を簡略化できる。
【0010】
本発明のオートフォーカス装置において、前記光分割手段によって分割された照明光学系光路中には、シャッタが設けられている、ことが好ましい。
このような構成によれば、照明光学系光路中にもシャッタが設けられているから、パターン投影時には照明光を遮断することができる。このため、パターン投影時において、コントラストの高いパターンを得ることができ、高精度なフォーカス合わせが実現できる。
【0011】
本発明のオートフォーカス装置において、前記光分割手段は、光源からの光を前記照明光学系光路と複数の前記パターン投影光学系光路とに分割する複数の光分割光学素子を含んで構成され、複数の前記パターン投影光学系光路には、異なるパターンを形成したパターン投影板、および、シャッタがそれぞれ設けられている、ことが好ましい。
このような構成によれば、複数のパターン投影光学系光路が設けられ、各パターン投影光学系光路には、異なるパターンを形成したパターン投影板、および、シャッタがそれぞれ設けられているから、被測定物の材質や表面状態に応じて、最適なパターンを有するパターン投影板を選択できる。
【0012】
なお、パターン投影板に形成されるパターンとしては、エッジを検出できるパターンであればどのような模様でもよいが、たとえば、複数の三角形パターン、斜め格子パターン、波状パターンが好ましい。このようにすれば、被測定物のエッジが方向性を有していても、そのエッジが残るため、つまり、エッジがこれらのパターンに隠れてしまうことがないため、安定したフォーカスが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【0013】
以下、本発明の実施形態を図を参照しながら詳細に説明する。なお、以下の実施形態の説明において、同一構成要件あるいは同一機能を奏するものについては、同一符号を付し、その説明を省略または簡略化する。
【0014】
<第1実施形態>
図1および図2に、第1実施形態にかかる画像測定機の光学系構成図を示す。
第1実施形態にかかる画像測定機は、図1に示すように、被測定物Wを載置したテーブル10と、被測定物Wの測定面に光を集光させる対物レンズ11と、この対物レンズ11の光軸上に配置されたビームスプリッタ12と、このビームスプリッタ12を通過した光に基づく被測定物Wの像を観察可能な観察光学系13と、この観察光学系13で得られた被測定物の像のコントラストに基づいて対物レンズ11をその光軸方向へ変位させる駆動機構16と、光源20と、この光源20からの光を照明光学系光路30およびパターン投影光学系光路40に分割する光分割手段21と、パターン投影光学系光路40からの光を照明光学系光路30の光と合成する光合成手段22とを備える。
【0015】
テーブル10は、X軸方向(図1の左右方向)およびY軸方向(図1の紙面直交方向)へ移動可能に構成されている。
観察光学系13は、対物レンズ11の光軸上に配置された所定倍率のチューブレンズ14と、このチューブレンズ14によって所定倍率に拡大または縮小された像を撮像するCCDカメラ15とから構成されている。
駆動機構16は、対物レンズ11の焦点が被測定物Wの測定面に位置するように、対物レンズ11を光軸方向へ変位させるもので、例えば、対物レンズ11を保持したレンズホルダに設けられたコイル17と、装置本体側の静止部材にコイル17に対向して固定されたマグネット18とから構成されている。
【0016】
光源20は、例えば、発光ダイオード(LED)などによって構成されているが、これに限られない。
光分割手段21および光合成手段22は、ビームスプリッタ23,24によって構成されている。
【0017】
照明光学系光路30は、光分割手段21を構成するビームスプリッタ23からビームスプリッタ12に至る経路で構成され、その光路中には、ビームスプリッタ23からビームスプリッタ12に向かって、照明用レンズ31、光合成手段22を構成するビームスプリッタ24が順に挿入配置されている。つまり、これらにより通常の照明用光学系が構成されている。
パターン投影光学系光路40は、光分割手段21を構成するビームスプリッタ23から光合成手段22を構成するビームスプリッタ24に至る経路で構成され、その光路中には、ビームスプリッタ23からビームスプリッタ24へ向かって、電子制御シャッタ41、ミラー42、パターン投影板43、ミラー44、投影用レンズ45が順に挿入配置されている。つまり、これらによりパターン投影用光学系が構成されている。
【0018】
電子制御シャッタ41は、複数の羽根が円形に組み合わされ、これらが駆動源によって開閉される構造である。つまり、シャッタ開閉指令が出されると、駆動源が駆動され、これによって複数の羽根が開閉される構造である。
パターン投影板43は、図2に示すように、光を透過する複数の三角形パターンと、光を遮断する複数の三角形パターンとが隣接配置され、隣接するもの同士が逆向き配置されたパターンを有する。なお、パターン投影板43の製作にあたっては、電子ビーム描画、転写、エッチング、および、ダイシングソーによる切断などの一般的加工技術によって、パターン投影板43を鮮明に製作することができる。
【0019】
以上の構成において、測定にあたって、光源20から光を出射すると、その光は、ビームスプリッタ23によって、照明光学系光路30とパターン投影光学系光路40とに分割される。
照明光学系光路30に分割された光は、照明用レンズ31、ビームスプリッタ24、ビームスプリッタ12を通って対物レンズ11に入射し、被測定物Wの測定面を照射する。被測定物Wの測定面からの反射光は、対物レンズ11、ビームスプリッタ12を通ったのち、チューブレンズ14の倍率に拡大または縮小されたのち、CCDカメラ15に結像される。
【0020】
ここで、CCDカメラ15で撮像された各画素のコントラスト値を判断し、コントラスト値が低い場合には、電子制御シャッタ41を開放する。すると、パターン投影光学系光路40に分割された光が、電子制御シャッタ41を通過し、ミラー42で反射されたのち、パターン投影板43に入射される。これにより、パターン投影板43の三角形パターンがミラー44、投影用レンズ45、ビームスプリッタ24,12、対物レンズ11を介して被測定物Wの測定面に投影される。
【0021】
これにより、CCDカメラ15で撮像された各画素のコントラスト値を基に駆動機構16を駆動させ、対物レンズ11を光軸方向へ変位させてフォーカスを合わせる。
対物レンズ11のフォーカス合わせを行ったのち、電子制御シャッタ41を閉じる。すると、パターン投影光学系光路40に分割された光が遮断されるから、パターン投影板43の三角形パターンが被測定物Wの測定面に投影されなくなる。この状態において、CCDカメラ15で撮像された被測定物Wの画像から被測定物Wの寸法や形状などを測定する。
【0022】
第1実施形態によれば、照明光学系光路30とパターン投影光学系光路40とを備え、パターン投影光学系光路40には、電子制御シャッタ41、所定のパターンを形成したパターン投影板43、投影用レンズ45が設けられ、この電子制御シャッタ41によってパターン投影板43のパターン投影をオン・オフするようにしているから、従来のように、パターン投影板をソレノイドやスプリングなどにより進退駆動させる構造に比べ、スループットを向上させることができるとともに、切替時の音を極力軽減でき、更に、寿命も増大させることができる。
【0023】
また、光分割手段21を構成するビームスプリッタ23によって、光源20からの光を照明光学系光路30とパターン投影光学系光路40とに分割するようにしたから、1つの光源ですみ、部品点数の削減、コスト低下に寄与できる。
また、光合成手段22を構成するビームスプリッタ24によって、パターン投影光学系光路40からの光を照明光学系光路30の光と合成するようにしたから、パターン投影光学系光路40からの光と照明光学系光路30の光とを別々に対物レンズ11に入射させる構造に比べ、装置構成を簡略化できる。
【0024】
<第2実施形態>
図3に、第2実施形態にかかる画像測定機の光学系構成図を示す。
第2実施形態にかかる画像測定機は、第1実施形態に対して、照明光学系光路30に電子制御シャッタ32が設けられている点が異なる。つまり、光分割手段21を構成するビームスプリッタ23と照明用レンズ31との間に電子制御シャッタ32が挿入配置されている。この電子制御シャッタ32は、第1実施形態の電子制御シャッタ41と同じである。
【0025】
第2実施形態によれば、照明光学系光路30にも電子制御シャッタ32が設けられているから、パターン投影時には照明光を遮断できる。このため、パターン投影時において、コントラストの高いパターンを得ることができるから、高精度なフォーカス合わせが実現できる。
【0026】
<第3実施形態>
図4に、第3実施形態にかかる画像測定機の光学系構成図を示す。
第3実施形態にかかる画像測定機は、第2実施形態に対して、複数のパターン投影光学系光路を備える点が異なる。
つまり、光分割手段21が、光源20からの光を照明光学系光路30とパターン投影光学系光路40に分割する光分割光学素子としてのビームスプリッタ23と、パターン投影光学系光路40に分割された光を更に第1パターン投影光学系光路40Aと第2パターン投影光学系光路40Bに分割する光分割光学素子としてのビームスプリッタ25とを含んで構成されている。
【0027】
第1パターン投影光学系光路40Aは、ビームスプリッタ23からビームスプリッタ25、ビームスプリッタ26および投影用レンズ45を通ってビームスプリッタ24に到達する経路として構成されている。
第2パターン投影光学系光路40Bは、ビームスプリッタ25からミラー42、ミラー44、ビームスプリッタ26および投影用レンズ45を通ってビームスプリッタ24に到達する経路として構成されている。
第1パターン投影光学系光路40Aおよび第2パターン投影光学系光路40Bには、電子制御シャッタ41A,41Bおよび異なるパターンを形成したパターン投影板43A,43Bがそれぞれ挿入配置されている。
【0028】
第3実施形態によれば、第1パターン投影光学系光路40Aおよび第2パターン投影光学系光路40Bが設けられ、これらパターン投影光学系光路40A,40Bには、電子制御シャッタ41A,41B、および、異なるパターンを形成したパターン投影板43A,43Bがそれぞれ設けられているから、被測定物の材質や表面状態に応じて、最適なパターンを有するパターン投影板43A,43Bを選択できる。従って、オートフォーカス機能を更に拡大させることが可能である。
【0029】
<変形例>
本発明は、前述の実施形態に限定されるものでなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良などは本発明に含まれる。
例えば、前記各実施形態では、複数の羽根を円形に組み合わせ、これらの羽根を駆動装置によって開閉させる電子制御シャッタ41、41A,41Bを用いたが、これに限られない。例えば、通電の有無によって光を透過、遮断できる状態に切替可能な液晶板などでもよい。
【0030】
前記各実施形態では、電子制御シャッタ41,41A,41Bをパターン投影板43,43A,43Bの前に挿入するようにしたが、これに限らず、パターン投影板43,43A,43Bの後でもよく、パターン投影光学系光路40,40A,40B中であればどこでもよい。
同様に、電子制御シャッタ32を照明用レンズ31の前に挿入するようにしたが、これに限らず、照明用レンズ31の後でもよく、照明光学系光路30中であればどこでもよい。
【0031】
前記各実施形態では、1つの光源20からの光を、ビームスプリッタ23によって、照明光学系光路30およびパターン投影光学系光路40,40A,40Bに分割するようにしたが、これに限らず、照明光学系光路30およびパターン投影光学系光路40,40A,40Bにそれぞれ光源を設けるようにしてもよい。
【0032】
前記第3実施形態では、光源20からの光を、照明光学系光路30と、第1パターン投影光学系光路40Aおよび第2パターン投影光学系光路40Bとに分割するようにしたが、照明光学系光路30と、3つ以上のパターン投影光学系光路とに分割するようにしてもよい。このようにすれば、オートフォーカス機能をより拡大させることが可能である。
【0033】
前記実施形態では、パターン投影板43のパターンが、三角形パターンを有していたが、これに限らず他のパターンでもよい。例えば、斜め格子パターン、波状パターンなど、被測定物のエッジを検出できるパターンであればどのような模様でもよい。
【産業上の利用可能性】
【0034】
本発明は、被測定物の像を観察光学系で観察しながら被測定物の寸法や形状を測定する画像測定機や顕微鏡などの光学式測定装置に利用できる。
【図面の簡単な説明】
【0035】
【図1】本発明の第1実施形態にかかる画像測定機を示す光学系構成図。
【図2】同上実施形態におけるパターン投影板のパターン例を示す図。
【図3】本発明の第2実施形態にかかる画像測定機を示す光学系構成図。
【図4】本発明の第3実施形態にかかる画像測定機を示す光学系構成図。
【図5】従来の画像測定機を示す光学系構成図
【符号の説明】
【0036】
11…対物レンズ、
13…観察光学系、
16…駆動機構、
20…光源、
21…光分割手段、
22…光合成手段、
23…ビームスプリッタ(光分割光学素子)、
24…ビームスプリッタ(光合成光学素子)、
25…ビームスプリッタ(光分割光学素子)、
26…ビームスプリッタ(光合成光学素子)、
30…照明光学系光路、
31…照明用レンズ、
32…電子制御シャッタ、
40…パターン投影光学系光路、
40A…第1パターン投影光学系光路、
40B…第2パターン投影光学系光路、
41,41A,41B…電子制御シャッタ、
43,43A,43B…パターン投影板、
45…投影用レンズ、
W…被測定物。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
被測定物の測定面に光を集光させる対物レンズと、この対物レンズから出射された光に基づく被測定物の像を観察可能な観察光学系と、この観察光学系で得られた被測定物の像のコントラストに基づいて前記対物レンズをその光軸方向へ変位させる駆動機構とを備えたオートフォーカス装置において、
光を前記対物レンズを介して被測定物の測定面に照射する照明光学系光路と、
パターン投影光学系光路とを備え、
前記パターン投影光学系光路には、所定のパターンを形成したパターン投影板、投影用レンズ、および、シャッタが設けられている、ことを特徴とするオートフォーカス装置。
【請求項2】
請求項1に記載のオートフォーカス装置において、
光源と、この光源からの光を前記照明光学系光路および前記パターン投影光学系光路に分割する光分割手段と、前記パターン投影光学系光路からの光を前記照明光学系光路の光と合成する光合成手段と、を備えていることを特徴とするオートフォーカス装置。
【請求項3】
請求項2に記載のオートフォーカス装置において、
前記光分割手段によって分割された照明光学系光路中には、シャッタが設けられている、ことを特徴とするオートフォーカス装置。
【請求項4】
請求項2または請求項3に記載のオートフォーカス装置において、
前記光分割手段は、光源からの光を前記照明光学系光路と複数の前記パターン投影光学系光路とに分割する複数の光分割光学素子を含んで構成され、
複数の前記パターン投影光学系光路には、異なるパターンを形成したパターン投影板、および、シャッタがそれぞれ設けられている、ことを特徴とするオートフォーカス装置。

【図1】
image rotate

【図2】
image rotate

【図3】
image rotate

【図4】
image rotate

【図5】
image rotate


【公開番号】特開2010−128330(P2010−128330A)
【公開日】平成22年6月10日(2010.6.10)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−304779(P2008−304779)
【出願日】平成20年11月28日(2008.11.28)
【出願人】(000137694)株式会社ミツトヨ (979)
【Fターム(参考)】