説明

光量モニタとそれを用いた光源装置

【課題】
導光ロッドの個体差を無くし、内部欠陥やキズに依存する漏光量を測定することなく、導光ロッドから出力される検出光の光量を増加させて検出精度を向上させると共に、導光ロッドからは均一の光量分布の光を出射できるようにする。
【解決手段】
光源(2)から被照射物に至る光路中に、光入射端面(7in)となる片端側から入射した光を均一化して光出射端面(7out)となる他端側から出射する多角柱状のロッドインテグレータから成る導光ロッド(7)が配され、光出射端面(7out)のエッジ部(9)の外周面に該エッジ部(9)で散乱して外部に出射する光をさらに拡散させる光拡散体(10)が設けられると共に、光拡散体(10)で拡散された光の光量を照射光量として検出する光センサ(15)を設けた。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、光源から被照射物に照射される照明光の照射光量を検出する光量モニタとそれを用いて光量制御を行う光源装置に関し、特に、CCDカメラ等を使用した画像処理検査装置等のように検査対象物に照射される光量を一定に維持する必要のある検査装置の光源に用いて好適なものである。
【背景技術】
【0002】
例えばフラットパネルディスプレイ製造工程では、従来より、検査対象物となるガラス板や塗料塗布面に光を照射し、これをCCDカメラ等で観察して傷や塗装不良等の欠陥を検知する画像処理検査装置が使用されている。
【0003】
その際、光源装置に要求される条件として、検査対象物(被照射物)への光量は少なくとも検査時間中は変化しないこと、また、使用するカメラの受光感度性能レベルに応じて必要な光量の光を照射できることなどが挙げられる。
【0004】
画像処理検査用の光源装置の光源としては、ハロゲンランプ、LED等の固体光素子、水銀ランプおよびメタルハライドランプ等放電灯が使用されており、中でも、水銀ランプやメタルハライドランプ等の放電灯は、立ち上り時間が遅いものの高光量が得られることから、この種の光源として最適である。
しかしながら、これらの放電灯は1000〜2000時間点灯させると検査対象物への照射光量が次第に減衰していくために、使用するにあたっては、画像の明るさが変わらないようにその都度光量調整することが必要となる。
【0005】
ここで、照射光量が減衰する原因としては、ランプ自体の発光量の変化の他、ランプの電極の変化に伴い放電箇所が変化したり、発光点が第一焦点から外れてしまうなど、ランプの光量分布パターンの変化が考えられる。
【0006】
そこで本出願人は、ランプ光量変化に起因する照射光量変化があっても、光量分布パターンの変化に起因する照射光量変化があっても、これを正確に検出して、照射光量を一定に維持できる光源装置を提案した。
【特許文献1】特開2005−233927号公報
【0007】
これによれば、ランプから出射されて反射鏡で集光された光が導光ロッドに入射されると、導光ロッド内に形成された無数の内部欠陥や、周面に付いた細かなキズで光が乱反射を起こし、その光の一部が周面から漏れる。
そして、この導光ロッドの周面に光センサを設けて導光ロッドからの漏光量と、導光ロッドの光出射口に接続したバンドルファイバ先端から被照射物への照射光量を検出したところ、ランプ自体の発光量変化に起因する照射光量変化はもちろんのこと、光量分布パターンの変化に起因する照射光量変化があっても、これをかなり正確に検出することができた。
【0008】
しかしながら、漏光量は内部欠陥やキズに依存するため、導光ロッドごとに漏光量が著しく異なるため、出荷時のキャリブレーション調整が困難になるという問題があった。
また、内部欠陥やキズが少なく導光ロッドとしては品質の良好なものほど漏光が少ないため検出精度が低下し、導光ロッドによっては、光量分布パターンが変化したときに必ずしも照射光量を正確に検出できない場合があることが判明した。
さらに、従来の円柱状の導光ロッドの出射光は入射光の光量分布が維持されるため、均一の光量分布を有する照明光が要求される場合に、別途、光を均一化する光学系を設けなければならないという問題がある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0009】
そこで本発明は、導光ロッドの個体差を無くし、内部欠陥やキズに依存する漏光量を測定することなく、導光ロッドから出力される検出光の光量を増加させて検出精度を向上させると共に、導光ロッドからは均一の光量分布の光を出射できるようにすることを技術的課題としている。
【課題を解決するための手段】
【0010】
この課題を解決するために、本発明に係る光量モニタは、光源から被照射物に照射される光の照射光量を検出するためのもので、光源から被照射物に至る光路中に、光入射端面となる片端側から入射した光を均一化して光出射端面となる他端側から出射する多角柱状のロッドインテグレータから成る導光ロッドが配され、光出射端面のエッジ部の外周面に該エッジ部で散乱して外部に出射する光をさらに拡散させる光拡散体が設けられると共に、該拡散体で拡散された光を検出する光センサが配されたことを特徴としている。
また、本発明に係る光源装置は、上述の光量モニタの検出光量に応じて照射光量を制御する光量コントローラを備えたことを特徴としている。
【発明の効果】
【0011】
本発明に係る光量モニタは、光源から被照射物に至る光路中にロッドインテグレータから成る導光ロッドが配されているので、光源から照射された光に光分布があっても、ロッドインテグレータで均一化されて、その光出射端面から出射される。
そして、出射された光は、被照射物に直接照射され、あるいは、ライトガイドなどで導かれて被照射物に照射される。
【0012】
ここで、導光ロッドの光出射端面と側面との稜線で形成されるエッジ部はミクロ的にみると粗面で形成されているので、ロッド内を進行する光の内、エッジ部に照射された光はそこで散乱してロッド外部に出射される。
また、エッジ部の粗面から出射される散乱光の光量は、ロッド内部に形成された内部欠陥や側面についたキズに起因する漏光に比してはるかに大きく、また、一定の品質検査をクリアした導光ロッドであればどのロッドも略均一であるので、エッジ部からの散乱光の光量は略一定であり導光ロッドによる個体差はほとんどない。
ただし、ロッド外部へ向かう散乱光の進行方向や指向性はロッドによって異なるので、この散乱光をエッジ部外周面に設けた光拡散体でさらに拡散させることにより平均化して光センサに導き、その光量を照射光量として検出している。
【0013】
このように、本発明では、導光ロッドの光出射端面のエッジ部からの散乱光をさらに拡散体で拡散させて平均化して検出しているので、導光ロッドの個体差が無く、検出精度を向上させることができる。
また、導光ロッドはロッドインテグレータで形成されているので、入射される光がガウシアン分布のような光量分布を有していても、出射される光の光量分布を均一化することができ、均一の光量分布を有する照明光が要求される場合に、別途、光を均一化する光学系を設ける必要がない。
【発明を実施するための最良の形態】
【0014】
本例では、導光ロッドの個体差を無くし、内部欠陥やキズに依存する漏光量を測定することなく、導光ロッドから出力される検出光の光量を増加させて検出精度を向上させると共に、導光ロッドからは均一の光量分布の光を出射できるようにするという課題を達成するために、光を均一化して出射する多角柱状のロッドインテグレータを導光ロッドとして用い、その光出射端面のエッジ部からの散乱光をさらに光拡散体で拡散させて平均化し、その光量を照射光量として光センサで検出するようにした。
【0015】
図1は本発明に係る光源装置を示す説明図、図2は導光ロッドを示す説明図、図3は調光フィルタを示す説明図、図4は光量モニタによる光の検出メカニズムを示す説明図、図5は検出光量と照射光量の関係を示す説明図である。
【実施例1】
【0016】
図1に示す光源装置1は、例えば検査対象物(被照射物)の表面を撮像して画像処理により製品検査を行う際に、バンドルファイバ2を介して検査対象物に照明光を照射するために用いられるもので、筐体3に、メタルハライドランプなどの光源4から検査対象物(被照射物)に照射される照明光の照射光量を検出する光量モニタ5と、その検出光量に応じて照射光量をフィードバック制御する光量コントローラ6を備えている。
【0017】
光量モニタ5は、光源4から被照射物に至る光路中に、光入射端面7inとなる片端側から入射した光を均一化して光出射端面7outとなる他端側から出射する正六角柱状のロッドインテグレータから成る導光ロッド7を備えている。
導光ロッド7は、本例では、断面が対辺間距離21mmの正六角形の長さ120mmのガラス体で形成され、光源4から照射された光を集光する楕円反射鏡8の光軸Xと同軸的に配されると共に、反射鏡8の第二焦点Fが光入射端面7inの中心に位置するように配され、光出射端面7outにバンドルファイバ2の光入射端2inが対向して配されている。
【0018】
また、導光ロッド7は、図2に示すように、光出射端面7outのエッジ部9の外周面に、該エッジ部9から外部に散乱する光をさらに拡散させる光拡散体10が設けられており、本例では、六角柱の側面に沿ってその長手方向にテフロン樹脂(デュポン社の商品名)からなるスペーサ兼用の光拡散体10が貼り付けられて遮光ケース11内に挿入されている。
【0019】
遮光ケース11は、導光ロッド7を挿入する六角上の挿入孔12が形成されると共に、光出射端面7out側に、内周面13を光拡散面に形成した環状凹溝からなる光拡散空間14が光出射端面7outのエッジ部9を囲むように形成され、光拡散体10で拡散された光の光量を照射光量として検出するシリコンフォトセルなどの光電変換型の光センサ15が、その受光面を導光ロッド7の側面と平行にして前記光拡散空間14に設けられている。
これにより、光センサ15に対向するエッジ部9で散乱された光は、光拡散体10で拡散されて平均化されて光センサ15に入射され、光センサ15に対して導光ロッド7の裏面側のエッジ部9で散乱された光は光拡散空間14内で散乱しながら光センサ15に入射される。
この場合に、導光ロッド7の光出射端面7outに、照射光量に影響を与えない程度にフロスト処理を施しておけば、導光ロッド7を透過する光の一部が導光ロッド7内に戻され、その戻り光の一部がロッド側面から光拡散空間14内に入射されるので、検出光量をより増大させることができる。
【0020】
光量コントローラ6は、その入力側に光量モニタ5の光センサ15が接続されると共に、出力側に調光フィルタ16を所定角度回転させるステップモータ17を備えている。
この調光フィルタ16は、開口率が徐々に変化する多数のスリットが円周上に配列形成され(図3参照)、回転に伴ってその回転方向に応じて透過光量が漸増/漸減するようになっている。
【0021】
なお、18は光源4となるメタルハライドランプなどの点灯回路、19は赤外線カットフィルタである。
【0022】
以上が本発明の一構成例であって、次にその作用について説明する。
光源4から照射された光は楕円反射鏡8でその第二焦点Fに集光されて、六角柱状の導光ロッド7に入射され、光出射端面7outに向って直進し、あるいは、側面で反射しながら光出射端面7outに向かう。
導光ロッド7は、ロッドインテグレータで形成されているので光量分布が均一化されて光出射端面7outから出射され、バンドルファイバ2により検査対象物(被照射物)まで案内され、照明光として照射される。
したがって、導光ロッド7に入射される光がガウシアン分布のような光量分布を有していても、出射される光の光量分布を均一化することができ、均一の光量分布を有する照明光が要求される場合に、別途、光を均一化する光学系を設ける必要がない。
【0023】
光出射端面7outのエッジ部9はミクロ的に見ると図4に示すように粗面で形成されているので、導光ロッド7内を進行した光のうちエッジ部9に達した光は散乱され、導光ロッド7からランダムな方向に出射される。
このとき、エッジ部9の外周面には光拡散体10が配されているので、ランダムな方向に散乱された光のうち、光センサ15に対向するエッジ部9から出射される散乱光は、光拡散体10で拡散されて平均化されて光センサ15に入射され、光センサ15に対して導光ロッド7の裏面側のエッジ部9から出射される散乱光は光拡散空間14内で拡散しながら光センサ15に入射される。
【0024】
このエッジ部9の粗面から出射される光量は、ロッド7の内部に形成された内部欠陥や側面についたキズに起因する漏光に比してはるかに大きく、また、一定の品質検査をクリアした導光ロッド7であればどれも略均一であるので、エッジ部9からの散乱光の光量は略一定であり導光ロッド7による個体差はほとんどない。
このように、光センサで検出される検出光は、導光ロッド7による個体差がないので、工場出荷時のキャリブレーションを行うときに、ゲインに大きな差がないので、その分、キャリブレーションが容易になるというメリットがある。
【0025】
また、エッジ部9からの散乱光を、光拡散体10でさらに拡散させて平均化して光センサ15で検出しているので、ロッド7の外部へ向かう散乱光の進行方向や指向性が導光ロッド7によって異なることがあっても、その影響を受けることなく照射光量を検出することができる。
【0026】
発明者の実験によれば、照明光の照射光量変化が、光源4の光量変化に起因するか、導光ロッド7に入射される光の光量分布の変化に起因するものとを問わず、照射光量と光センサ16で検出された検出光量との間に相関が見られた。
すなわち、バンドルファイバ2の光出射端に置かれた光センサ(図示せず)で照射光量を検出し、定格電圧を印加したときの検出光量を100%とし、そのとき光センサ15で検出された検出光量を同じく100%として比較したところ、図5に示すようなリニアな関係が得られた。
【0027】
この光源装置1を検査用照明光源として用いる場合、1500〜2000時間点灯後の照射光量は、初期光量と比して40%程度の減光が予想されるので、当初より調光フィルタ16でランプ4の光量を最大光量の60%程度に落としておく。
この状態で光量モニタ5の光センサ15で検出された検出光量Qを100%として光量コントローラ6に記憶しておき、検出光量Qが変化したときに当初記憶した検出光量Qに等しくなるように調光フィルタ16を回転させる。
検出光量Qは経時的に低下する傾向にあるので、例えば検出光量Qが1%低下したときに、調光フィルタ16をそのスリット16aが大きくなる方向に回転させて、検出光量Q=100(%)となるように光量調整を行う。
【0028】
この場合に、検出光量Qは常に100(%)に維持されており、検出光量Qが1%変化するたびに光量調整されるので、しかも、その原因が光源4の光量変化に起因するものであっても、光量分布の変化に起因するものであっても、その原因にかかわらず照射光量を正確に検出できる。
【0029】
このようにして、検出光量に応じて徐々に調光フィルタ16により導光ロッド7への入射光量を増大させることにより、1500〜2000時間点灯後でも、当初照射光量と略等しい光量に維持して照射することができる。
【0030】
なお上述の説明では、光量コントローラ6として導光ロッド8への入射光量を可変制御する調光フィルタ16を用いたが、本発明はこれに限らず、ランプ光量を可変制御する調光回路であってもよい。
また、光源4として、可視光を照射するランプを用いる場合に限らず、紫外線ランプ、赤外線ランプを光源とする光照射装置にも適用し得る。
さらに、裏面側のエッジ部9から出射された散乱光は、光拡散体10が設けられていなくても光拡散空間14の内周面で拡散しながら光センサ15に案内されるので、光拡散体10は少なくとも光センサ15と対向する側に形成されていれば足り、裏面側には必ずしも設けられていなくても良い。
また、導光ロッド7は正六角柱に限らず、任意の多角柱状のロッドインテグレータであればよく、特に照射光を長方形のスクリーンや基板にそのまま投影するような場合は、断面がそのスクリーン等の縦横比に等しい四角柱状のロッドインテグレータを使用すればよい。
【産業上の利用可能性】
【0031】
以上述べたように、本発明は、CCDカメラ等を使用した画像処理検査装置等のように検査対象物に照射される光量を一定に維持する必要のある検査装置等の光源装置の用途に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【0032】
【図1】本発明に係る光源装置を示す説明図。
【図2】導光ロッドを示す説明図。
【図3】調光フィルタを示す説明図。
【図4】光量モニタによる光の検出メカニズムを示す説明図。
【図5】検出光量と照射光量の関係を示すグラフ。
【符号の説明】
【0033】
1 光源装置
4 光源
5 光量モニタ
6 光量コントローラ
7 導光ロッド
7in 光入射端面7in
7out 光出射端面7out
9 エッジ部
10 光拡散体
14 光拡散空間
15 光センサ

【特許請求の範囲】
【請求項1】
光源から被照射物へ照射される照明光の照射光量を検出する光量モニタであって、
光源から被照射物に至る光路中に、光入射端面となる片端側から入射した光を均一化して光出射端面となる他端側から出射する多角柱状のロッドインテグレータから成る導光ロッドが配され、前記光出射端面のエッジ部の外周面に該エッジ部で散乱して外部に出射する光をさらに拡散させる光拡散体が設けられると共に、該拡散体で拡散された光の光量を前記照射光量として検出する光センサが配されたことを特徴とする光量モニタ。
【請求項2】
前記導光ロッドの出射端面側に、内周面を光拡散面に形成した環状の光拡散空間がエッジ部を囲むように形成され、該光拡散空間内に前記光センサが配されると共に、前記エッジ部のうち少なくとも光センサと対向するエッジ部に光拡散体が設けられてなる請求項1記載の光量モニタ。
【請求項3】
光源から被照射物に照射される照明光の照射光量を検出する光量モニタと、その検出光量に応じて照射光量を制御する光量コントローラを備えた光源装置において、
前記光量モニタとして、光源から被照射物に至る光路中に、光入射端面となる片端側から入射した光を均一化して光出射端面となる他端側から出射する多角柱状のロッドインテグレータから成る導光ロッドが配され、前記光出射端面のエッジ部の外周面に該エッジ部散乱して外部に出射する光をさらに拡散させる光拡散体が設けられると共に、該拡散体で拡散された光の光量を前記照射光量として検出する光センサが配されたことを特徴とする光源装置。




【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【公開番号】特開2007−101465(P2007−101465A)
【公開日】平成19年4月19日(2007.4.19)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2005−294314(P2005−294314)
【出願日】平成17年10月7日(2005.10.7)
【出願人】(000000192)岩崎電気株式会社 (533)
【Fターム(参考)】