【課題】検出に適したしきい値を判別するのに適した情報を表示する。
【解決手段】投光部１０３および受光部１０４と、受光処理により得られた受光量をあらかじめ設定されたしきい値と比較することにより入光状態および非入光状態のいずれであるかを判別して、その判別結果を出力する検出部として機能する制御部１０５と、受光量を表示することが可能な表示部１００とを具備する光電センサにおいて、現在設定されているしきい値により判別される複数の入光期間および複数の受光期間を対象に、各入光期間の中で受光量が相対的に最も低くなった期間における受光量と、各受光期間の中で受光量が相対的に最も高くなった期間における受光量とをそれぞれ特定し、特定された２つの代表受光量を、表示部１００に表示する。 （もっと読む）

【課題】 特に１μｍの波長帯域において、レーザ装置の発生する光パルスをモニタすることができる光パルスモニタ装置を提供する。
【解決手段】 光パルスモニタ装置は、光パルスを発生させる光源と、光サーキュレータと、分散補償量を変化できる可変型分散補償器と、光パルスを周期的に強調する干渉計と、２光子吸収を利用した受光器と、Ａ／Ｄコンバータと、受光器で受光した信号の時間的変化をモニタに表示するソフトウエアを備えたコンピュータとで、構成されている。 （もっと読む）

【課題】被測定光信号の隣接ビット間の位相差及び強度比のばらつきを検出する光サンプリングシステムを提供する。
【解決手段】
被測定光信号を、第１及び第２サブ被測定光信号、並びに１ビット遅延を与えられた第３及び第４サブ被測定光信号に分割する光分岐器及びビット遅延器と、第３及び第４サブ被測定光信号に、各々異なる位相変調を与えて第１及び第２変調光信号を生成する第１及び第２位相シフタと、第１サブ被測定光信号及び第１変調光信号、並びに第２サブ被測定光信号及び前記第２変調光信号を、各々結合して第１及び第２干渉光信号を生成する光結合器と、第１及び第２干渉光信号の各々とサンプリング用パルスとを入力して第１及び第２サンプリング光信号を出力する非線形光学媒体とを具える。そして、第１及び第２サンプリング光信号の電力を測定して、被測定光信号の隣接ビット間の位相差及び強度比を検出する。 （もっと読む）

【課題】空間光を簡易な構成で効率的に光ファイバに入力可能な空間光測定用光ファイバ変換器を提供する。
【解決手段】本発明の空間光測定用光ファイバ変換器は、集光鏡と、集光鏡の焦点にその先端が配置され集光鏡で反射された光が入射される光ファイバプローブと、を備える。集光鏡は、例えば放物面鏡や楕円面鏡である。楕円面鏡の場合、光ファイバプローブは、楕円面鏡の一方の焦点にその先端が配置され、楕円面鏡の他方の焦点に配置された点光源からの光が、楕円面鏡で反射されて前記光ファイバプローブに入射される。 （もっと読む）

【課題】各チャネルが差動位相変調された波長多重信号光において、個々の変調信号の隣接シンボル間での位相差を一括かつ同時に評価可能とする。
【解決手段】評価対象の波長多重信号光Ｓに対して、該信号光を構成する変調信号の１シンボル長に相当する時間遅延ΔＴを付与し（１１）、時間遅延ΔＴを付与前の信号光と付与後の信号光のそれぞれについて、サンプリングパルス光Ｌとの干渉効果を用いることにより全電界振幅を時間Ｔ毎にＭ回測定し（１２−１，１２−２）、測定されたＭ個のサンプルをフーリエ解析することで各波長の変調信号の電界振幅を算出し（１３）、各波長毎に時間遅延ΔＴを付与前の信号光の電界振幅と付与後の信号光の電界振幅とを比較することにより各波長の変調信号における隣接シンボル間の位相差を算出する（１４−１〜１４−Ｍ）。 （もっと読む）

【課題】検査対象となる光源からの光の光学特性が正確に検査できることで、検査効率の向上を図ることができると共に、高い検査信頼性を得ることができる。
【解決手段】検査装置は、検査対象となるＬＥＤからの光を採光部２により取り込み、ＬＥＤの光学的な検査を分光器により行うためのものである。採光部２は、ＬＥＤに向けて光を取り入れるための開口部が設けられていると共に、取り入れた光を分光器へ出力する光ファイバ４が基端部に設けられたカップ状のケース部２１と、ＬＥＤから開口部を通じて光ファイバ４へ至るまでの光軸を含む範囲以外の範囲を遮蔽する環状に形成された遮蔽部材２２１がケース部２１内の奥行き方向に沿って１０枚配置され、光軸に対して斜行して開口部に入射する光を制限する光調整部とを備えている。 （もっと読む）

【課題】光励起によりテラヘルツ波を発生、検出する素子において低温成長半導体の歪みや欠陥がテラヘルツ波発生効率などを制限していた点を解決した光伝導素子等を提供する。
【解決手段】光伝導素子は、半導体低温成長層１４を有し、半導体低温成長層１４と半導体基板１０との間に位置し且つ半導体低温成長層１４よりも薄い半導体層１１、１２、１３を有する。半導体低温成長層１４は、半導体層１１、１２、１３と格子整合し半導体基板１０と格子整合しない半導体を含む。 （もっと読む）

【課題】光源装置を大型化することなく、光源装置の異常を検出可能とすること。
【解決手段】励起光源１６、光ファイバ１８、波長変換ユニット２０を順に接続して構成された光源装置と、該光源装置の正常な動作を確認する動作確認装置１４と、からなる照明システムは、光源装置における波長変換部を備える光信号射出端３２と動作確認装置とを直接物理的に接続するための接続部４０と、該接続部により光信号射出端と動作確認装置とが接続された状態で、光信号射出端から射出された光信号を検出する光量センサ２８と、該光量センサでの検出結果に基づき、励起光源と光ファイバと波長変換ユニットの動作を判定する判定回路を有する光源制御器２２と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】コア間クロストークが小さい場合であっても精度よく測定することが可能なマルチコア光ファイバから出力される光の受光方法、及び、分離装置を提供する。
【解決手段】マルチコア光ファイバから出力される光の受光方法によれば、ディプレスト型（Ｃ）あるいはトレンチ型（Ｂ）のように、コア周囲にクラッドＡよりも屈折率が低い層Ｃが設けられた受光導波路をマルチコア光ファイバの後段に用いることで、この屈折率の低い層がクラッド側からコアＢへのノイズ等の伝播を抑制することができる、この結果、コア間クロストークが小さい場合であってもクロストーク由来とは異なる成分が低減されてコア間クロストークを精度よく測定することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】照明光源が発光した光を受光して光学測定を行うときに、照明光源に熱のダメージを与えることなく正確に光学測定を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明の光学測定装置は、ＬＥＤ８に対して電源部７が駆動電流を供給することでＬＥＤ８を発光させる発光部２と、ＬＥＤ８が発光した光Ｌを受光してＬＥＤ８の光学測定を行う測光部５と、発光部２と測光部５との間を接続し、発光部２の発光タイミングと測光部５の測定タイミングとを同期させるためのトリガ信号ｔｒｉｇを伝送するトリガ信号伝送部２０と、を備えている。これにより、光学測定を正確に行うことができ、ＬＥＤ８に対して作用する熱のダメージを軽減することができる。 （もっと読む）

【課題】清浄な状態に維持できる光センサの提供。
【解決手段】燃焼室７における燃焼過程での放射光を検出する光センサ１は、その先端に配置されて燃焼室７に面する少なくとも１個のレンズ２を有する。レンズ２の周辺部のまわりには加熱装置４が巻きつけられており、その加熱装置４が、光センサの先端を、レンズ２を覆う燃焼室７からの煤を焼き尽くす温度まで加熱して、光センサ１を清浄な状態に維持するようになっている。 （もっと読む）

【課題】
パルス光のピークパワーの状態をリアルタイムにモニターできる、ピークパワーモニター装置およびピークパワーのモニター方法を提供する。
【解決手段】
測定対象であるレーザーパルス光を２つの光に分波する分波器と、分波された２つの光をそれぞれ受ける、第１光検出器および第２光検出器と、信号演算処理器と、出力器と、を有し、前記第１光検出器は１光子吸収を利用して受けた光のエネルギーを第１信号に変換するとともに、前記第２光検出器は２光子吸収を利用して受けた光のエネルギーを第２信号に変換しており、前記信号演算処理器は、前記第２信号を前記第１信号で除した商を求め、前記商より前記パルス光のピークパワーの状態を表す演算機能を有しており、前記パルス光のピークパワーの状態を表す信号を、前記出力器に出力しモニターすることを特徴とするピークパワーモニター装置である。 （もっと読む）

【課題】
パルス光の時間幅の状態をリアルタイムにモニターできる、パルス光のモニター装置およびパルス光のモニター方法を提供する。
【解決手段】
測定対象であるレーザーパルス光を２つの光に分波する分波器と、分波された２つの光をそれぞれ受ける、第１光検出器および第２光検出器と、信号演算処理器と、出力器と、を有し、前記第１光検出器は１光子吸収を利用して受けた光のエネルギーを第１信号に変換するとともに、前記第２光検出器は２光子吸収を利用して受けた光のエネルギーを第２信号に変換しており、前記信号演算処理器は、前記第２信号を前記第１信号の２乗で除した商を求め、前記商より前記パルス光の時間幅の状態を表す演算機能を有しており、前記パルス光の時間幅の状態を表す信号を、前記出力器に出力しモニターすることを特徴とするパルス光のモニター装置である。 （もっと読む）

【課題】本出願は、燃焼チャンバ（４０）内の燃焼火炎（９０）で使用する光学プローブシステム（１００）を提供する。
【解決手段】本光学プローブシステム（１００）は、燃焼チャンバ（４０）の周りに固定取付けされかつその各々の視界（２１０）内における燃焼火炎（９０）により発生された光を収集するように配置された幾つかの光学プローブ（１１０）を含むことができる。燃焼チャンバ（４０）の外部における１つ又はそれ以上の構成要素（１５０）が、光学プローブ（１１０）の各々の視界（２１０）内における燃焼火炎（９０）により発生された光を示す信号を生成しかつ解析することができる。 （もっと読む）

【課題】基準ファイバならびに測定対象である光ファイバが無くともＡＰＤの増倍率の補正が容易に出来る光パルス試験器およびその調整方法を提供することを目的とする。
【解決手段】光パルスではなくタイミング制御不要な連続光を試験対象の光ファイバを接続するための外部接続部に向けて射出し、当該連続光の後方散乱光よりレベル大きい反射光をアバランシェフォトダイオード（ＡＰＤ）で受光し、ＡＰＤの増倍率を決定するＡＰＤバイアス電圧を変化させ、ＡＰＤの増倍率とＡＰＤバイアス電圧の組み合わせを複数検出することによってＡＰＤの増倍率の補正を行う。 （もっと読む）

【課題】本発明は、光ファイバ心線の被覆径や被覆材料に依存するようなテーブルを参照することなく、光ファイバ心線の漏洩光を用いて光ファイバ心線の伝搬光の光強度を測定することを目的とする。
【解決手段】本発明は、漏洩限界半径を下回る曲率半径で光ファイバ心線を湾曲させ、等しい漏洩率で光ファイバ心線１０の伝搬光Ｌ１を漏洩させる２箇所の曲げ部１１ａ及び１１ｂと、曲げ部１１ａ及び１１ｂの湾曲させた光ファイバ心線１０からの漏洩光Ｌ１の光強度を、２箇所のそれぞれ別個に測定する光測定部１２と、光測定部１２の測定した２箇所での光強度を用いて、光ファイバ心線１０の伝搬光の光強度を算出する演算部１３と、を備える。 （もっと読む）

【課題】発光チップと光ファイバの中心軸がずれた場合でも光量の減衰を抑制可能なファイバ型光電センサを提供する。
【解決手段】光ファイバ１０と発光チップ３の中心軸がずれた場合、この発光チップ３から光ファイバ１０へ入光する光量は減少するが、隣接する発光チップ４からも入光するようにして光量の減衰を抑制する。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で、電磁波強度分布の測定を高精度に行う電磁波強度分布測定装置を提供する。
【解決手段】一定の立体角を有する筒状のセンサ保持部材２１の一端に紫外線センサ２２を固定し、他端側を、半円球状のセンサ取付け部材１０に形成した貫通孔１１を貫通して、センサ取付け部材１０の表面側に突出させ、センサ取付け部材１０を挟んで両側から六角ナット２３で締めつけて固定する。同様にして同一の立体角を有するセンサ保持部材２１に固定された全ての紫外線センサ２２をセンサ取付け部材１０に取り付ける。そして、各紫外線センサ２２のセンサ信号をデータ処理装置６０で取り込み、これを現在時刻と対応付けて記憶装置６５に格納する。 （もっと読む）

【課題】 スペクトル線幅が狭い（コヒーレンス時間が長い）レーザ光のコヒーレンス時間を正確に測定する。
【解決手段】 遅延時間τの関数である被測定レーザ光のコヒーレンス関数γ(τ)を測定する場合に、被測定レーザ光（１１）の光周波数を線形に掃引し（１２）、掃引されたレーザ光を分岐し（１３１）、分岐された一方のレーザ光をサーキュレータ（１４）により光ファイバ（１５）に入射してレイリー散乱光を生じさせ、光ファイバ（１５）で生じたレイリー散乱光と分岐されたもう一方のレーザ光とを合波し（１３２）、合波された光を受光して光電流を検出し（１６）、検出された光電流を数値化してフーリエ変換し（１７，１８）、フーリエ変換された光電流値より、遅延０における振幅の標準偏差と遅延τにおける振幅の標準偏差とを算出し、両者の比により遅延τにおけるコヒーレンス関数の絶対値を求める（１９）。 （もっと読む）

【課題】検出器の両端に必要とされるバイアスを増大させずに単一光子による信号の存在を強調するため、従来より高い周波数で動作させることができる光子検出システム。
【解決手段】単一光子を検出するように構成された光子検出器５１と、光子検出器の出力信号を、第１の部分が第２の部分と実質的に同一である第１の部分と第２の部分とに分配する信号分配器５５と、第２の部分を第１の部分に対して遅延させる遅延手段５６と、信号の第１の部分と遅延させた第２の部分とを、遅延させた第２の部分が出力信号の第１の部分における周期的変動を打ち消すために使用されるように合成する合成器６１とを備える光子検出システム。 （もっと読む）