説明

半導体記憶装置の同期モード検出回路及び方法

【課題】半導体記憶装置の同期モード検出回路及び方法に関するものであり、クロックが入力されれば同期モード信号をイネーブルにし、クロックが入力されなければ同期モードをディセーブルにすることによって、同期モードと非同期モードとを区分することができる半導体記憶装置の同期モード検出回路及び方法を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置の同期モード検出回路は、有効アドレス信号とクロックを組み合わせて基準信号を生成する第1信号組合部と、前記基準信号をラッチする第1ラッチ部と、前記第1ラッチ部の出力信号と前記クロックを組み合わせて検出パルス信号を生成する第2信号組合部と、前記有効アドレス信号のイネーブル有無に応じて前記検出パルス信号の駆動を制御する制御部と、前記制御部の制御により前記検出パルス信号を駆動する駆動部と、前記駆動部で駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するラッチ部とを含む。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体記憶装置の同期モード検出回路及び方法に関し、より詳しくは、クロックが入力される同期モードとクロックが入力されない非同期モードとを区分できるようにする半導体記憶装置の同期モード検出回路及び方法に関する。
【背景技術】
【0002】
移動通信端末などに備えられるPseudo・SRAMのような半導体記憶装置はクロックを選択的に活用して作動する(例えば、特許文献1参照。)。すなわち、クロックが必要な時とそうではない時とを区分してクロックが選択的に入力されるが、この時、半導体記憶装置内に備えられる各回路はクロックの入力有無が判断できなければならない。しかし、従来の半導体記憶装置では、このようにクロックが入力される同期モードとクロックが入力されない非同期モードとを容易に区分することができなかった。よって、このような半導体記憶装置により、進歩した技術を適用するのに技術的な限界が存在した。
【特許文献1】特開2002−109880号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
そこで、本発明は、上記従来の半導体記憶装置の同期モード検出回路における問題点に鑑みてなされたものであって、本発明の目的は、クロックが入力されれば同期モード信号をイネーブルにし、クロックが入力されなければ同期モードをディセーブルにすることによって、同期モードと非同期モードを区分することができる半導体記憶装置の同期モード検出回路及び方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0004】
上記目的を達成するために、本発明の一態様に係る半導体記憶装置の同期モード検出回路は、有効アドレス信号のイネーブル有無に応じてクロックの駆動を制御する制御部と、前記制御部の制御によって前記クロックを駆動する駆動部と、前記駆動部で駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するラッチ部とを含むことを特徴とする。
【0005】
本発明の他の態様に係る半導体記憶装置の同期モード検出回路は、有効アドレス信号がイネーブルになれば有効アドレスパルス信号を発生して駆動部への第1電圧の供給を制御する制御部と、クロックがハイレベルであれば前記第1電圧の供給有無に関わらず前記クロックを反転駆動し、前記クロックがローレベルであれば前記第1電圧が供給される時に前記クロックを反転駆動する前記駆動部と、前記駆動部で駆動された信号をラッチし同期モード信号を出力するラッチ部とを含むことを特徴とする。
【0006】
本発明のまた他の態様に係る半導体記憶装置の同期モード検出回路は、有効アドレス信号とクロックを組み合わせて基準信号を生成する第1信号組合部と、前記基準信号をラッチする第1ラッチ部と、前記第1ラッチ部の出力信号と前記クロックを組み合わせて検出パルス信号を生成する第2信号組合部と、前記有効アドレス信号のイネーブル有無に応じて前記検出パルス信号の駆動を制御する制御部と、前記制御部の制御によって前記検出パルス信号を駆動する駆動部と、前記駆動部で駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するラッチ部とを含むことを特徴とする。
【0007】
本発明のまた他の態様に係る半導体記憶装置の同期モード検出回路は、有効アドレス信号のイネーブル有無に応じてクロックを駆動して第1及び第2信号を生成し、前記第1及び第2信号から基準信号を生成する第1信号組合部と、前記基準信号をラッチする第1ラッチ部と、前記第1ラッチ部の出力信号の電位がハイレベルであればローレベルの電位を形成し、前記第1ラッチ部の出力信号の電位がローレベルであれば前記クロックが非反転駆動された電位レベルを形成する検出パルス信号を生成する第2信号組合部と、前記有効アドレス信号がイネーブルになれば有効アドレスパルス信号を発生して駆動部への第1電圧の供給を制御する制御部と、前記クロックがハイレベルであれば前記第1電圧の供給有無に関わらず前記クロックを反転駆動し、前記クロックがローレベルであれば前記第1電圧が供給される時に前記クロックを反転駆動する前記駆動部と、前記駆動部で駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するラッチ部とを含むことを特徴とする。
【0008】
一方、本発明の一態様に係る半導体記憶装置の同期モード検出方法は、a)有効アドレス信号のイネーブル有無に応じてクロックの駆動を制御するステップと、b)前記a)ステップの制御により前記クロックを駆動するステップと、c)前記b)ステップで駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するステップとを含むことを特徴とする。
【0009】
本発明の他の様態に係る半導体記憶装置の同期モード検出方法は、a)有効アドレス信号とクロックを組み合わせて基準信号を生成するステップと、b)前記基準信号をラッチするステップと、c)前記ラッチされた信号と前記クロックを組み合わせて検出パルス信号を生成するステップと、d)前記有効アドレス信号のイネーブル有無に応じて前記検出パルス信号の駆動を制御するステップと、e)前記d)ステップの制御により前記検出パルス信号を駆動するステップと、f)前記e)ステップで駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【0010】
以上で説明した本発明の半導体記憶装置の同期モード検出回路は、クロックが入力されれば同期モード信号をイネーブルにし、クロックが入力されなければ同期モード信号をディセーブルにすることによって、同期モードと非同期モードとを区分することができる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【0011】
次に、本発明に係る半導体記憶装置の同期モード検出回路及び方法を実施するための最良の形態の具体例を、図面を参照しながら説明する。
【0012】
しかし、本発明は、多様な形態で実現することができ、ここで説明する実施形態に限定されない。
【0013】
図1は、本発明の一実施形態に係わる半導体記憶装置の同期モード検出回路の構成を示すブロック図である。
図面に示すように、前記同期モード検出回路は、有効アドレス信号vadのイネーブル有無に応じてクロックclkの駆動を制御する制御部10、前記制御部10の制御により前記クロックclkを駆動する駆動部20、及び前記駆動部20で駆動された信号をラッチし、同期モード信号symを出力するラッチ部30からなっている。
【0014】
ここで、前記有効アドレス信号vadは、半導体記憶装置の外部から入力され、アドレスの入力区間を設定する有効アドレスコマンド(以下、/ADV信号)を反転して生成したハイイネーブル信号であって、アドレスをアドレスバッファに入力するようにすることに用いられる信号である。そして、前記同期モード信号symは、ローイネーブル信号であって、同期モードではローレベルの信号を出力し、非同期モードではハイレベルの信号を出力する。
【0015】
前記有効アドレス信号vadがイネーブルになると、前記制御部10は所定時間の間周辺電圧Vperiを前記駆動部20に供給する。この時、前記駆動部20は、前記クロックclkを反転駆動して前記ラッチ部30に伝達する。その後、前記ラッチ部30は、前記駆動部20から伝達された信号をラッチして格納し、これを再び反転して前記同期モード信号symとして出力する。
【0016】
一方、前記周辺電圧Vperiが前記駆動部20に供給されない区間では、前記駆動部20が前記クロックclkを反転駆動できなくなる。しかし、前記ラッチ部30は、既に伝達された信号を保有し続けているため、前記同期モード信号symは持続的に出力される。
【0017】
以下、前記同期モード検出回路に関するより詳細な説明は図2を参照して行う。
図2は、図1に示した同期モード検出回路の詳細構成を示す回路図である。
【0018】
前記同期モード検出回路において、前記制御部10は、前記有効アドレス信号vadを受信して第1有効アドレスパルス信号vap1を出力する第1パルス発生器110、及び前記第1有効アドレスパルス信号vap1のイネーブル有無に応じて前記周辺電圧Vperiを駆動する第1電圧ドライバー120からなっている。
【0019】
前記第1パルス発生器110は、前記有効アドレス信号vadを所定時間遅延させる第1遅延器DLY1、前記第1遅延器DLY1の出力信号を反転する第1インバータIV1、及び前記有効アドレス信号vadと前記第1インバータIV1との出力信号を受信して前記第1有効アドレスパルス信号vap1を出力する第1ナンドゲートND1からなっている。
【0020】
また、前記第1電圧ドライバー120は、ゲート端に前記第1有効アドレスパルス信号vap1が入力され、ソース端に前記周辺電圧Vperiが印加され、かつドレーン端が前記駆動部20に接続される第1トランジスタTR1からなっている。
【0021】
そして、前記駆動部20は、ゲート端に前記クロックclkが入力され、ソース端が前記制御部10の前記第1トランジスタTR1のドレーン端に接続され、かつドレーン端が第1ノードN1に接続される第2トランジスタTR2、及びゲート端に前記クロックclkが入力され、ドレーン端が前記第1ノードN1に接続され、かつソース端が接地される第3トランジスタTR3からなっている。
【0022】
また、前記ラッチ部30は、前記第1ノードN1に伝達された信号を反転する第2インバータIV2、前記第2インバータIV2とラッチ構造とを形成する第3インバータIV3、及び前記第2インバータIV2の出力信号を反転する第4インバータIV4からなっている。
【0023】
この時、前記第4インバータIV4から出力される信号が前記同期モード信号symである。
【0024】
前記有効アドレス信号vadは、ハイイネーブル信号であるため、前記第1ナンドゲートND1から出力される前記第1有効アドレスパルス信号vap1は、前記有効アドレス信号vadより短いイネーブルタイムを有するローイネーブル信号となる。前記第1有効アドレスパルス信号vap1がイネーブルになると、前記制御部10の前記第1トランジスタTR1がターンオンするので、前記駆動部20は前記クロックclkを反転して前記第1ノードN1に伝達する。その後、ラッチ部30の前記第2及び第3インバータIV2,IV3は、前記第1ノードN1に伝達された信号を格納する。そして、前記第4インバータIV4は、前記第2インバータIV2の出力信号を反転して前記同期モード信号symとして出力する。
【0025】
しかし、前記第1有効アドレスパルス信号vap1がディセーブルになると、前記制御部10の前記第1トランジスタTR1がターンオフするので、前記駆動部20は前記クロックclkを前記第1ノードN1に伝達できなくなる。この時、前記ラッチ部30の前記第2及び第3インバータIV2,IV3に格納された信号から前記同期モード信号symは持続的に出力される。
【0026】
このように前記同期モード検出回路は、入力される前記有効アドレス信号vadの制御によって、前記クロックclkを駆動及びラッチして前記同期モード信号symを生成する。その後、前記同期モード信号symを受信する装置は、前記クロックclkが入力されないと前記同期モード信号symがディセーブルになるので、現在非同期モード状態であることが把握でき、更に前記クロックclkの入力によって、前記同期モード信号symがイネーブルになると現在同期モード状態であることが把握できる。
【0027】
図3は、本発明の他の実施形態に係わる半導体記憶装置の同期モード検出回路の構成を示すブロック図である。
図示した同期モード検出回路は、前記有効アドレス信号vadと前記クロックclkとを組み合わせて基準信号refを生成する第1信号組合部40、前記基準信号refをラッチする第1ラッチ部50、前記第1ラッチ部50の出力信号と前記クロックclkとを組み合わせて検出パルス信号dtpを生成する第2信号組合部60、前記有効アドレス信号vadのイネーブル有無に応じて前記検出パルス信号dtpの駆動及びラッチを制御する制御部70、前記制御部70の制御により前記検出パルス信号dtpを駆動する駆動部80、及び前記駆動部80で駆動された信号をラッチし、前記同期モード信号symを出力する第2ラッチ部90からなっている。
【0028】
前記第1信号組合部40は、前記有効アドレス信号vadと前記クロックclkが有する電位レベルによって前記基準信号refを生成する。その後、前記基準信号refは、前記第1ラッチ部50でラッチ及び駆動された後、前記第2信号組合部60に伝達される。前記第2信号組合部60は、前記第1ラッチ部50から伝達された信号と前記クロックclkとを組み合わせて、前記検出パルス信号dtpを生成する。
【0029】
前記有効アドレス信号vadがイネーブルになると、前記制御部70は所定時間の間周辺電圧Vperiを前記駆動部80に供給する。この時、前記駆動部80は、前記検出パルス信号dtpを反転駆動して前記第2ラッチ部90に伝達する。その後、前記第2ラッチ部90は、前記駆動部80から伝達された信号をラッチして格納し、これを再び反転して前記同期モード信号symとして出力する。
【0030】
一方、前記周辺電圧Vperiが前記駆動部80に供給されない区間では、前記駆動部80が前記検出パルス信号dtpを反転駆動できなくなる。しかし、前記第2ラッチ部90は、既に伝達された信号を保有し続けているため、前記同期モード信号symは持続的に出力される。
【0031】
以下、前記同期モード検出回路に関するより詳しい説明は図4及び図5を参照して行う。
図4は図2に示した同期モード検出回路の詳細構成を示す回路図であり、図5は図4に示した同期モード検出回路の動作を説明するためのタイミング図である。
図4に示すように、前記第1信号組合部40は、前記有効アドレス信号vadを反転する第5インバータIV5、前記クロックclkを反転する第6インバータIV6、前記第5インバータIV5の出力信号と前記第6インバータIV6の出力信号とを受信する第2ナンドゲートND2、前記第5インバータIV5の出力信号と前記クロックclkとを受信する第1ノアゲートNR1、ゲート端に前記第2ナンドゲートND2の出力信号が入力され、ソース端に前記周辺電圧Vperiが印加され、かつドレーン端が第2ノードN2に接続される第4トランジスタTR4、及びゲート端に前記第1ノアゲートNR1の出力信号が入力され、ドレーン端が前記第2ノードN2に連結され、かつソース端が接地される第5トランジスタTR5からなっている。
この時、前記第2ノードN2に形成される信号が前記基準信号refである。
【0032】
そして、前記第1ラッチ部50は、前記基準信号refを反転する第7インバータIV7、前記第7インバータIV7とラッチ構造とを形成する第8インバータIV8、及び前記第7インバータIV7の出力信号を反転する第9インバータIV9からなっている。
【0033】
また、前記第2信号組合部60は、前記クロックclkを反転する第10インバータIV10、及び前記第9インバータIV9の出力信号と前記第10インバータIV10の出力信号とを受信して前記検出パルス信号dtpを出力する第2ノアゲートNR2からなっている。
【0034】
前記制御部70は、前記有効アドレス信号vadを受信して第2有効アドレスパルス信号vap2を出力する第2パルス発生器710、及び前記第2有効アドレスパルス信号vap2のイネーブル有無に応じて前記周辺電圧Vperiを駆動する第2電圧ドライバー720からなっている。
【0035】
この時、前記第2パルス発生器710は、前記有効アドレス信号vadを所定時間遅延させる第2遅延器DLY2、前記第2遅延器DLY2の出力信号を反転する第11インバータIV11、及び前記有効アドレス信号vadと前記第11インバータIV11の出力信号とを受信して前記第2有効アドレスパルス信号vap2を出力する第3ナンドゲートND3からなっている。
【0036】
また、前記第2電圧ドライバー720は、ゲート端に前記第2有効アドレスパルス信号vap2が入力され、ソース端に前記周辺電圧Vperiが印加され、かつドレーン端が前記駆動部80に接続される第6トランジスタTR6からなっている。
【0037】
そして、前記駆動部80は、ゲート端に前記検出パルス信号dtpが入力され、ソース端が前記制御部70の前記第6トランジスタTR6のドレーン端に接続され、かつドレーン端が第3ノードN3に接続される第7トランジスタTR7、及びゲート端に前記検出パルス信号dtpが入力され、ドレーン端が前記第3ノードN3に接続され、かつソース端が接地される第8トランジスタTR8からなっている。
【0038】
また、前記第2ラッチ部90は、前記第3ノードN3に伝達された信号を反転する第12インバータIV12、前記第12インバータIV12とラッチ構造とを形成する第13インバータIV13、及び前記第12インバータIV12の出力信号を反転する第14インバータIV14からなっている。
【0039】
この時、前記第14インバータIV14から出力される信号が前記同期モード信号symである。
【0040】
図5には前記クロックclk、/ADV信号、前記有効アドレス信号vad、前記第2有効アドレスパルス信号vap2、前記第1ノアゲートNR1の出力信号、前記第2ナンドゲートND2の出力信号、前記基準信号ref、前記検出パルス信号dtp、及び前記同期モード信号symが示されている。
【0041】
この時、同期モードと非同期モードとを区分するために、前記クロックclkが入力される区間と入力されない区間をそれぞれ示した。前記有効アドレス信号vadは、前記/ADV信号の影響を受けてイネーブルになることが分かる。
【0042】
前記有効アドレス信号vadがイネーブルになると、前記制御部70の前記第3ナンドゲートND3から出力される前記第2有効アドレスパルス信号vap2もまたイネーブルになる。この時、前記第2有効アドレスパルス信号vap2は、前記有効アドレス信号vadの立ち上り時間の影響を受けてその立ち下がり時間が形成されており、前記有効アドレス信号vadより短いイネーブルタイムを有するローイネーブル信号である。図5のタイミング図は、このような前記第2有効アドレスパルス信号vap2の特性を示している。
【0043】
前記第1信号組合部40の前記第1ノアゲートNR1から出力される信号は、前記有効アドレス信号vadがイネーブルになる区間の間前記クロックclkの位相が反転した形態に形成される。そして、前記第2ナンドゲートND2から出力される信号は、前記有効アドレス信号vadがイネーブルになる区間の間にはハイレベルの電位を有するようになり、前記有効アドレス信号vadがディセーブルになる区間の間には前記クロックclkと同じ電位レベルを有するようになる。
【0044】
前記第1ノアゲートNR1の出力信号と前記第2ナンドゲートND2の出力信号が共にハイレベルの時、前記第1信号組合部40の出力信号である前記基準信号refの電位はローレベルに遷移する。その後、前記第1ラッチ部50は、この時の前記基準信号refを格納及び非反転駆動することによって、前記基準信号refのレベルを保持してこれを出力する。また、前記第1ノアゲートNR1の出力信号と前記第2ナンドゲートND2の出力信号が共にローレベルの時、前記基準信号refの電位はハイレベルに遷移する。前述と同様に、前記第1ラッチ部50はこの時の前記基準信号refを格納及び非反転駆動することによって、前記基準信号refのレベルを保持してこれを出力する。
【0045】
そして、前記検出パルス信号dtpは、前記第1ラッチ部50の出力信号がローレベルの時、前記クロックclkがハイレベルであればハイレベルの電位を有し、その他の場合はローレベルの電位を有する。
【0046】
前記同期モード信号symは、前記第2有効アドレスパルス信号vap2がイネーブルになる時点で前記検出パルス信号dtpが反転駆動及びラッチされて生成される。前記第2有効アドレスパルス信号vap2が再びディセーブルになっても前記検出パルス信号dtpは既に生成された電位レベルを保持する。しかし、その後前記検出パルス信号dtpの立ち上り時間に前記同期モード信号symは立ち下がり時間を有するようになり、この時に形成されたローレベルの電位は、前記第2有効アドレスパルス信号vap2がイネーブルになる時までに持続する。前記同期モード信号symは、ローイネーブル信号であるため、図5に示したように、前記クロックclkを検出して発生した前記検出パルス信号dtpによってイネーブルになり、非同期モードに入るとディセーブルになることが確認できる。
【0047】
図1及び図2で説明した同期モード回路では、前記第1有効アドレスパルス信号vap1がイネーブルになった時、前記クロックclkがハイレベルであれば、その後非同期モードに入ってもこれを検出できないという問題点があった。
【0048】
しかし、図3及び図4で提示した同期モード回路では、前記第2有効アドレスパルス信号vap2がイネーブルになった区間の間前記クロックclkではなく、前記検出パルス信号dtpを非反転駆動して前記同期モード信号symを生成するため、このような問題点を解決することができる。すなわち、前記検出パルス信号dtpは、前記有効アドレス信号vadと前記クロックclkとの組み合わせによって生成され、前記有効アドレス信号vadがイネーブルになった時、前記クロックclkがハイレベルになってもローレベルの電位を保持するため、非同期モードで前記同期モード信号symがハイレベルの電位を有するようになる。
【0049】
このように前記同期モード検出回路は、有効アドレス信号vadの制御によって、前記クロックclkを駆動及びラッチして前記同期モード信号symを生成する。その後、前記同期モード信号symを受信した装置は、前記クロックclkが入力されなければ前記同期モード信号symがディセーブルになるため、現在非同期モード状態であることが把握でき、また前記クロックclkの入力によって前記同期モード信号symがイネーブルになると現在同期モード状態であることが把握できる。
【0050】
上述したように、本発明に係わる半導体記憶装置の同期モード検出回路を適用すればクロックを選択的に活用しなければならない半導体記憶装置の技術的限界を克服することができる。すなわち、クロックの選択的な入力によって同期モードと非同期モードとを区分して動作するため、半導体記憶装置内の各回路は動作モードが変化しても容易に対応することができる。また、非同期モードを認知できない副作用を解決できる回路を適用することによって、同期モード検出回路の技術的完成度を向上させることもできる。
【0051】
このように、本発明の属する技術分野の当業者であれば本発明がその技術的思想や必須特徴を変更せず、他の具体的な形態で実施できることを理解するはずである。以上、本発明の好ましい実施形態について詳細に説明したが、本発明の権利範囲はこれに限定されず、請求の範囲で定義している本発明の基本概念を利用した当業者の多様な変形及び改良形態も本発明の権利範囲に属するものである。
【図面の簡単な説明】
【0052】
【図1】本発明の一実施形態に係わる半導体記憶装置の同期モード検出回路の構成を示すブロック図である。
【図2】図1に示した同期モード検出回路の詳細構成を示す回路図である。
【図3】本発明の他の実施形態に係わる半導体記憶装置の同期モード検出回路の構成を示すブロック図である。
【図4】図3に示した同期モード検出回路の詳細構成を示す回路図である。
【図5】図4に示した同期モード検出回路の動作を説明するためのタイミング図である。
【符号の説明】
【0053】
N1〜N3…第1〜3ノード
Vperi…周辺電圧
clk…クロック
dtp…検出パルス信号
ref…基準信号
sym…同期モード信号
vad…有効アドレス信号
10…制御部
20…駆動部
30…ラッチ部
40…第1信号組合部
50…第1ラッチ部
60…第2信号組合部
70…制御部
80…駆動部
90…第2ラッチ部
110…第1パルス発生器
120…第1電圧ドライバー
710…第2パルス発生器
720…第2電圧ドライバー

【特許請求の範囲】
【請求項1】
有効アドレス信号のイネーブル有無に応じてクロックの駆動を制御する制御部と、
前記制御部の制御によって前記クロックを駆動する駆動部と、
前記駆動部で駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するラッチ部と、
を含むことを特徴とする半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項2】
前記制御部は、
前記有効アドレス信号を受信して有効アドレスパルス信号を出力するパルス発生器と、
前記有効アドレスパルス信号のイネーブル有無に応じて周辺電圧を駆動する電圧ドライバーと、
を含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項3】
前記電圧ドライバーは、ゲート端に前記有効アドレスパルス信号が入力され、ソース端に前記周辺電圧が印加され、かつドレーン端が前記駆動部に接続される第1トランジスタを含むことを特徴とする請求項2に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項4】
有効アドレス信号がイネーブルになれば有効アドレスパルス信号を発生して駆動部への第1電圧の供給を制御する制御部と、
クロックがハイレベルであれば前記第1電圧の供給有無に関わらず前記クロックを反転駆動し、前記クロックがローレベルであれば前記第1電圧が供給される時に前記クロックを反転駆動する前記駆動部と、
前記駆動部で駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するラッチ部と、
を含むことを特徴とする半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項5】
前記制御部は、
前記有効アドレス信号を受信して有効アドレスパルス信号を出力するパルス発生器と、
前記有効アドレスパルス信号のイネーブル有無に応じて前記第1電圧を駆動する電圧ドライバーと、
を含むことを特徴とする請求項4に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項6】
前記電圧ドライバーは、ゲート端に前記有効アドレスパルス信号が入力され、ソース端に前記第1電圧が印加され、かつドレーン端が前記駆動部に接続される第1トランジスタを含むことを特徴とする請求項5に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項7】
前記駆動部は、
ゲート端に前記クロックが入力され、ソース端が前記制御部に接続され、かつドレーン端が第1ノードに接続される第2トランジスタと、
ゲート端に前記クロックが入力され、ドレーン端が前記第1ノードに接続され、かつソース端が接地される第3トランジスタと、
を含み、
前記第1ノードが出力端であることを特徴とする請求項3又は6に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項8】
前記ラッチ部は、前記駆動部から伝達された信号に対するラッチ構造を形成する2つのインバータを含み、前記同期モード信号を出力することを特徴とする請求項1又は4に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項9】
有効アドレス信号とクロックを組み合わせて基準信号を生成する第1信号組合部と、
前記基準信号をラッチする第1ラッチ部と、
前記第1ラッチ部の出力信号と前記クロックを組み合わせて検出パルス信号を生成する第2信号組合部と、
前記有効アドレス信号のイネーブル有無に応じて前記検出パルス信号の駆動を制御する制御部と、
前記制御部の制御によって前記検出パルス信号を駆動する駆動部と、
前記駆動部で駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するラッチ部と、
を含むことを特徴とする半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項10】
前記第1信号組合部は、
前記有効アドレス信号を反転する第1インバータと、
前記クロックを反転する第2インバータと、
前記第1インバータの出力信号と前記第2インバータの出力信号を受信するナンドゲートと、
前記第1インバータの出力信号と前記クロックを受信するノアゲートと、
ゲート端に前記ナンドゲートの出力信号が入力され、ソース端に前記周辺電圧が印加され、かつドレーン端が第1ノードに接続される第1トランジスタと、
ゲート端に前記ノアゲートの出力信号が入力され、ドレーン端が前記第1ノードに接続され、かつソース端が接地される第2トランジスタと、
を含み、
前記第2ノードから前記基準信号を出力することを特徴とする請求項9に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項11】
前記制御部は、
前記有効アドレス信号を受信して有効アドレスパルス信号を出力するパルス発生器と、
前記有効アドレスパルス信号のイネーブル有無に応じて周辺電圧を駆動する電圧ドライバーと、
を含むことを特徴とする請求項9に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項12】
前記電圧ドライバーは、ゲート端に前記有効アドレスパルス信号が入力され、ソース端に前記周辺電圧が印加され、かつドレーン端が前記駆動部に接続される第1トランジスタを含むことを特徴とする請求項11に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項13】
有効アドレス信号のイネーブル有無に応じてクロックを駆動して第1及び第2信号を生成し、前記第1及び第2信号から基準信号を生成する第1信号組合部と、
前記基準信号をラッチする第1ラッチ部と、
前記第1ラッチ部の出力信号の電位がハイレベルであればローレベルの電位を形成し、前記第1ラッチ部の出力信号の電位がローレベルであれば前記クロックが非反転駆動された電位レベルを形成する検出パルス信号を生成する第2信号組合部と、
前記有効アドレス信号がイネーブルになれば有効アドレスパルス信号を発生して駆動部への第1電圧の供給を制御する制御部と、
前記クロックがハイレベルであれば前記第1電圧の供給有無に関わらず前記クロックを反転駆動し、前記クロックがローレベルであれば前記第1電圧が供給される時に前記クロックを反転駆動する前記駆動部と、
前記駆動部で駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するラッチ部と、
を含むことを特徴とする半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項14】
前記第1信号組合部は、
前記有効アドレス信号を反転する第1インバータと、
前記クロックを反転する第2インバータと、
前記第1インバータの出力信号と前記第2インバータの出力信号を受信するナンドゲートと、
前記第1インバータの出力信号と前記クロックを受信するノアゲートと、
ゲート端に前記ナンドゲートの出力信号が入力され、ソース端に前記第1電圧が印加され、かつドレーン端が第1ノードに接続される第1トランジスタと、
ゲート端に前記ノアゲートの出力信号が入力され、ドレーン端が前記第2ノードに接続され、かつソース端が接地される第2トランジスタと、
を含み、
前記第2ノードから前記基準信号を出力することを特徴とする請求項13に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項15】
第1ラッチ部は、
前記基準信号を反転する第1インバータと、
前記第1インバータとラッチ構造を形成する第2インバータと、
前記第1インバータの出力信号を反転する第3インバータと、
を含むことを特徴とする請求項9又は13に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項16】
前記第2信号組合部は、
前記クロックを反転するインバータと、
前記インバータの出力信号と前記第1ラッチ部の出力信号とを受信して前記検出パルス信号を出力するノアゲートと、
を含むことを特徴とする請求項9又は13に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項17】
前記制御部は、
前記有効アドレス信号を受信して有効アドレスパルス信号を出力するパルス発生器と、
前記有効アドレスパルス信号のイネーブル有無に応じて前記第1電圧を駆動する電圧ドライバーと、
を含むことを特徴とする請求項13に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項18】
前記パルス発生器は、
前記有効アドレス信号を所定時間遅延させる遅延器と、
前記遅延器の出力信号を反転するインバータと、
前記有効アドレス信号と前記インバータの出力信号とを受信して有効アドレスパルス信号を出力するナンドゲートと、
を含むことを特徴とする請求項2、5、11及び17のいずれか一つに記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項19】
前記電圧ドライバーは、ゲート端に前記有効アドレスパルス信号が入力され、ソース端に前記第1電圧が印加され、かつドレーン端が前記駆動部に接続される第1トランジスタを含むことを特徴とする請求項17に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項20】
前記駆動部は、
ゲート端に前記検出パルス信号が入力され、ソース端が前記制御部に接続され、かつドレーン端が第1ノードに接続される第2トランジスタと、
ゲート端に前記検出パルス信号が入力され、ドレーン端が前記第1ノードに接続され、かつソース端が接地される第3トランジスタと、
を含むことを特徴とする請求項12又は19に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項21】
前記第2ラッチ部は、前記駆動部から伝達された信号に対するラッチ構造を形成する2つのインバータを含み、前記同期モード信号を出力することを特徴とする請求項9又は13に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項22】
前記第1トランジスタのドレーン端は、前記第2トランジスタのソース端に接続されることを特徴とする請求項7又は20に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項23】
前記第1電圧は、周辺電圧であることを特徴とする請求項4又は13に記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項24】
前記有効アドレス信号は、有効アドレスコマンドを反転して生成されたハイイネーブル信号であることを特徴とする請求項1、4、9及び13のいずれか一つに記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項25】
前記有効アドレスパルス信号は、前記有効アドレス信号に比べて短いイネーブルタイムを有するローイネーブル信号であることを特徴とする請求項2、5、11及び17のいずれかに記載の半導体記憶装置の同期モード検出回路。
【請求項26】
a)有効アドレス信号のイネーブル有無に応じてクロックの駆動を制御するステップと、
b)前記a)ステップの制御により前記クロックを駆動するステップと、
c)前記b)ステップで駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するステップと、
を含むことを特徴とする半導体記憶装置の同期モード検出方法。
【請求項27】
前記a)ステップは、前記有効アドレス信号がイネーブルになれば有効アドレスパルス信号を生成し、前記有効アドレスパルス信号のイネーブル有無に応じて前記クロックの駆動に用いられる第1電圧を供給又は遮断するステップであることを特徴とする請求項26に記載の半導体記憶装置の同期モード検出方法。
【請求項28】
前記b)ステップは、前記クロックがハイレベルであれば第1電圧の供給有無に関わらず前記クロックを反転駆動し、前記クロックがローレベルであれば前記第1電圧が供給される時に前記クロックを反転駆動するステップであることを特徴とする請求項26に記載の半導体記憶装置の同期モード検出方法。
【請求項29】
a)有効アドレス信号とクロックを組み合わせて基準信号を生成するステップと、
b)前記基準信号をラッチするステップと、
c)前記ラッチされた信号と前記クロックを組み合わせて検出パルス信号を生成するステップと、
d)前記有効アドレス信号のイネーブル有無に応じて前記検出パルス信号の駆動を制御するステップと、
e)前記d)ステップの制御により前記検出パルス信号を駆動するステップと、
f)前記e)ステップで駆動された信号をラッチし、同期モード信号を出力するステップと、
を含むことを特徴とする半導体記憶装置の同期モード検出方法。
【請求項30】
前記a)ステップは、前記有効アドレス信号のイネーブル有無に応じてクロックを駆動して第1及び第2信号を生成し、前記第1及び第2信号から基準信号を生成するステップであることを特徴とする請求項29に記載の半導体記憶装置の同期モード検出方法。
【請求項31】
前記c)ステップは、前記b)ステップでラッチされた信号の電位がハイレベルであればローレベルの電位を形成し、前記b)ステップでラッチされた出力信号の電位がローレベルであれば前記クロックが非反転駆動された電位レベルを形成する検出パルス信号を生成するステップであることを特徴とする請求項29に記載の半導体記憶装置の同期モード検出方法。
【請求項32】
前記d)ステップは、前記有効アドレス信号がイネーブルになれば有効アドレスパルス信号を生成し、前記有効アドレスパルス信号のイネーブル有無に応じて前記クロックの駆動に用いられる第1電圧を供給又は遮断するステップであることを特徴とする請求項29に記載の半導体記憶装置の同期モード検出方法。
【請求項33】
前記e)ステップは、前記クロックがハイレベルであれば第1電圧の供給有無に関わらず前記クロックを反転駆動し、前記クロックがローレベルであれば前記第1電圧が供給される時に前記クロックを反転駆動するステップであることを特徴とする請求項29に記載の半導体記憶装置の同期モード検出方法。
【請求項34】
前記有効アドレス信号は、有効アドレスコマンドを反転して生成されたハイイネーブル信号であることを特徴とする請求項26又は29に記載の半導体記憶装置の同期モード検出方法。
【請求項35】
前記有効アドレスパルス信号は、前記有効アドレス信号に比べて短いイネーブルタイムを有するローイネーブル信号であることを特徴とする請求項27又は32に記載の半導体記憶装置の同期モード検出方法。
【請求項36】
前記第1電圧は、周辺電圧であることを特徴とする請求項27、28、32、及び33のいずれか一つに記載の半導体記憶装置の同期モード検出方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【公開番号】特開2007−242211(P2007−242211A)
【公開日】平成19年9月20日(2007.9.20)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−352941(P2006−352941)
【出願日】平成18年12月27日(2006.12.27)
【出願人】(591024111)株式会社ハイニックスセミコンダクター (1,189)
【氏名又は名称原語表記】HYNIX SEMICONDUCTOR INC.
【住所又は居所原語表記】San 136−1,Ami−Ri,Bubal−Eup,Ichon−Shi,Kyoungki−Do,Korea
【Fターム(参考)】