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Fターム[2F065AA25]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 測定内容 (27,691) | 長さ;径;間隙;深さ (3,606) | 段差;深さ (264)

Fターム[2F065AA25]に分類される特許

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【課題】板材を搬送中に、オンラインで板材の溶接部における段差量を正確に測定することができる板材溶接部の段差量の測定方法および装置を提供する。
【解決手段】溶接により複数の板材をつなぎ合わせた板材Sを搬送しながら、前記板材Sの溶接部S3の溶接線を横切る線上において前記板材Sまでの距離を非接触でかつ同時に多点計測し、前記計測した距離をもとに前記溶接部S3における前記鋼板Sの段差量を算出する。好ましくは、前記溶接線を横切る線上に配列した複数のレーザ距離計41aにより前記多点計測を行なう。 (もっと読む)


【課題】胆道・膵管等の平坦な表面を有する生体内の内壁部において、病変部の疑いのある、「内壁部の表面(最表面)において乳頭状隆起が発生している領域」、及び、「内壁部の表面(最表面)においてランダムに細胞(上皮細胞)が増殖している領域」が存在する場合に、その領域を自動で検出して診断支援を行う診断支援装置を提供する。
【解決手段】OCT装置1の演算処理装置90は、立体構造データにより胆道・膵管の内壁部の表面の位置が検出され、その表面形状から面粗さが算出される。そして、面粗さが粗い領域が「内壁部の表面(最表面)において乳頭状隆起が発生している領域」、又は、「内壁部の表面(最表面)においてランダムに細胞(上皮細胞)が増殖している領域」として検出される。 (もっと読む)


【課題】 コークス炉の炭化室の炉壁の肌荒れによる損傷の程度を指標化できるようにする。
【解決手段】 炭化室11の炉壁14の画像データから、炭化室11の奥行方向の各位置における炉壁14の凹凸量を示す凹凸プロフィール900であって、炭化室11の高さ位置が異なる複数の凹凸プロフィール900を生成する。そして、複数の凹凸プロフィール900から基準位置の変位の部分を抽出してこれらの差分をとることにより、基準位置が揃った凹凸プロフィールを得る。そして、当該基準位置が揃った凹凸プロフィールを、炭化室の奥行方向において100mmピッチで分割し、分割した各区間において、当該凹凸プロフィールの値(凹凸量)の最小値を抽出し、その平均値を肌荒れ指数とする。 (もっと読む)


【課題】各層の膜厚測定を可能にする積層体、その積層体の製造方法、及び非破壊非接触で膜厚測定を行いフィルム異常の検査が可能となる膜厚測定方法を提供する。
【解決手段】複数の層を積層してなる積層体である。複数の層の少なくとも一層に対し、予め設定した位置に空隙を形成した。 (もっと読む)


【課題】タイヤサイド部におけるマークを打点すべき位置に凹凸が存在する場合であっても、マーク不良を起こすことなくマークを打点し、かつ、打点されたマークを迅速に検査することが可能なマーク打点方法及びマーク打点装置を提供する。
【解決手段】タイヤサイド部の表面におけるマーク打点予定領域を撮像手段により撮像し、当該撮像されたマーク打点予定領域における基準面に対する凸部表面の高さが予め規定された閾値を下回るときにマーク打点予定領域にマークを打点する。 (もっと読む)


【課題】岩石試料内の単一天然亀裂の開口幅と形状の両方を高い分解能で且つ高精度で同時に測定でき、測定に際して岩石試料が消失することなく、測定に要する時間とコストの負担を軽減できるようにする。
【解決手段】単一亀裂を有する岩石試料を型として、亀裂を境とする2つの透明レプリカ試料14a,14bを、一方は無色の透明樹脂で、他方は染料で着色した透明樹脂で作製し、両者を組み合わせることで亀裂12を復元し、亀裂内に前記染料とは異なる色の染料溶液を満たして岩石レプリカ試験体10とする。それに白色光を照射し、透過光を各染料に対応したバンドパスフィルター20を通して各色毎の2次元平面座標の光強度データをCCDカメラ18で取得し、各色毎の2次元平面座標の吸光度から2種類の染料で着色された部分の厚さをデータ収録装置22で算出して亀裂開口幅と亀裂形状を同時に求める。 (もっと読む)


【課題】2つの表面領域を同期測定できるクロマティックポイントセンサ装置(CPS装置)の動作方法を提供すること。
【解決手段】2光束アッセンブリが取り付けられた1光束CPS光学ペンを用いたセンサ装置の第1測定光束および第2測定光束を、それぞれ第1表面領域および第2表面領域に位置合わせする。2つの反射光が2光束CPSの共焦点開口部を通過する。第1測定光束および第2測定光束にそれぞれ起因する第1測定および第2測定を含んだ少なくとも1の測定セットを実行する。様々な位置での測定セットの実行のため、少なくとも第1表面領域を移動させる。各測定結果は、極めて良好な分解能(例えば、少なくとも10nmの分解能)で決定される。本センサ装置と動作方法は、干渉計または他の高額で複雑な構成要素を使わないで、高い分解能と精度を必要とする測定に適用できる。 (もっと読む)


【課題】試料中のターゲットの深さ位置を、大容量のメモリを必要とすることなく検出すること。
【解決手段】画像処理装置20は、ステージ11をZ方向へ移動させながら撮像素子30を露光させることで、蛍光マーカMを示す第1の輝点を含む試料SPLの第1の画像を取得し、ステージ11をZ方向へ第1の速度で等速移動させるとともにX方向へ第2の速度で等速移動させながら撮像素子30を露光させることで、上記蛍光マーカMを示す第2の輝点を含む第2の画像を取得し、第1の画像と第2の画像の合成画像内で、第1の輝点と第2の輝点との間の距離Dを算出し、当該距離Dと、上記第1の速度及び第2の速度とを基に、試料SPL中の蛍光マーカMの高さhを算出する。 (もっと読む)


【課題】凹凸形状の測定精度の向上を図ることができる形状測定装置を提供する。
【解決手段】本発明の形状測定装置は、測定対象1の凹凸形状にライン光を照射する投光装置2と、前記投光装置2によって前記凹凸形状に形成される光切断線を撮像する撮像装置3と、前記凹凸形状の上底及び下底の各々で前記光切断線の幅が最小になるように前記投光装置2をその光出射軸方向4に移動させる駆動装置5と、前記撮像装置3によって撮像された、前記凹凸形状の上底で前記光切断線の幅が最小となる画像と、前記凹凸形状の下底で前記光切断線の幅が最小となる画像に基いて、前記凹凸形状の高さ又は深さを算出する処理装置6と、を備える。 (もっと読む)


【課題】外乱光が存在する場合でも正確に被計測部材の表面形状を計測することのできる表面形状計測方法およびその装置を提供する。
【解決手段】スリット光画像の長さ方向に直交する画素列を列番号第1列として、第1列目の第1所定範囲内の画素の輝度値から初期中心位置G0を求め、初期中心位置G0を中心とし、第1所定範囲より狭い第2所定範囲(参照光幅)内の画素の輝度値から第1列目の中心位置G1を求める。第2列以降の第i列〜第n列までは、第(i−1)列目の中心位置G(i−1)を中心として第2所定範囲内の画素の輝度値を加重平均して第i列目の中心位置Giを求めて、中心位置G1〜Gnを求めG1〜Gnを接続して表面形状を求める。 (もっと読む)


【課題】物体光について光路長を変えて何度も多数の干渉縞を撮影する必要なく、バンプの高さ測定や形状検査を、簡単かつ正確に行うことを可能とする。
【解決手段】2つの光源21、22からの互いに異なる波長の光を重ね合わせたビート光を、分割して、一方を参照ミラー28で反射させて参照光とし、他方をバンプ23に照射し反射させて物体とし、参照光と物体光を重畳し干渉させて生じる干渉縞をCCD30で撮影して、干渉縞像からバンプの高さ測定又は形状検査を可能とし、ビート光の波長Λ/2は、測定すべきバンプ23の設計仕様における高さより大きくなるように、2つの光源のそれぞれの波長λ1、λ2を設定する。 (もっと読む)


【課題】凹部深さを高精度に検出できる凹部深さの測定方法及び検査装置を提供する。
【解決手段】凹部Dが形成された測定対象物Wに対して略直交する方向の光Lightを測定対象物Wに照射して凹部Dの周縁に陰影を生じさせた状態で、測定対象物Wの凹部Dを濃淡表示した画像を取得する画像取得工程S1を有する凹部深さの測定方法は、前記画像の凹部Dに対応する部分(凹部画像D')の略中心から周縁までの階調値に基づいて凹部深さを計算する計算工程S5を設けたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】三次元計測を行うにあたり、より高精度な計測をより短時間で実現することのできる三次元計測装置及び基板検査装置を提供する。
【解決手段】基板検査装置は、プリント基板に対し光を照射する照明装置と、プリント基板上の前記照射された部分を撮像するCCDカメラと、各種制御を行う制御装置とを備えている。そして、検査対象領域が輝度飽和しない第1露光時間で第1撮像処理を行い、計測基準領域の計測に適した所定の露光時間のうち、前記第1露光時間で不足した分に相当する第2露光時間で第2撮像処理を行う。続いて、検査対象領域に関しては、第1撮像処理により得た画像データの値を用い、計測基準領域に関しては、第1撮像処理により得た画像データの値と、第2撮像処理により得た画像データの値とを合算した値を用いた三次元計測用の画像データを作成し、当該三次元計測用の画像データに基づき、三次元計測を行う。 (もっと読む)


【課題】物体表面に摩耗や撓み等が存在する場合、表面上に障害物が存在するような場合に1回の計測範囲を超える長さに渡って計測する場合においても物体表面の傷を高精度で測定することが可能な物体表面傷の計測方法を提供する。
【解決手段】物体3の両端間に部材2を設け水平板6を押しつけて変形硬化させ、水平板を取り外し物体両端と部材表面とを結ぶ基準線を設定し、計測器を設置し、計測器を基準線に沿って移動させ物体表面までの距離を測定して傷の分布を示す第1の計測データを取得し、計測器を次の計測範囲内に設置し、計測器を移動させ物体表面までの距離を測定して第2の計測データを取得し、第1の計測データと第2の計測データとを連結させたデータを取得する。 (もっと読む)


【課題】ねじ加工が施された管端部のねじ要素をオンライン(ねじ加工ライン)で自動的に精度良く測定する方法を提供する。
【解決手段】本発明は、順次搬送される管Pの端部にねじ加工が施されるねじ加工ライン100上で、ねじ加工後の管端部のねじ要素を自動的に測定する方法であって、ねじ加工後の管端部をねじ洗浄装置30で洗浄する洗浄工程と、前記洗浄された管端部をねじ乾燥装置40で乾燥させる乾燥工程と、前記乾燥後の管端部のねじ要素を自動ねじ要素測定装置50で測定する測定工程とを含み、少なくとも前記測定工程においては、管端部が清浄雰囲気下におかれることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】可視光、近赤外光または赤外光が透過する材料に設けられた高アスペクト比の穴の深さ等の段差構造の形状を正確且つ高速に測定する。
【解決手段】可視光、近赤外光または赤外光の測定用光Lを未貫通ビア104が形成されたシリコンウェーハ101の裏面103側から照射し、共焦点測定法により、測定用光Lがシリコンウェーハ101の表面102及び未貫通ビア104の底面105に焦点を結ぶ位置を測定することによって未貫通ビア104の見かけ上の形状を測定し、予め取得したシリコンウェーハ101の屈折率または屈折率を測定する屈折率測定手段によって測定したシリコンウェーハ101の屈折率を用いて、前記測定した形状を換算することにより未貫通ビア104の実際の形状を算出する。 (もっと読む)



【課題】光干渉断層画像診断を精度よく行うのに好適な基準格子等を提供する。
【解決手段】本発明に係る基準格子100は、光干渉断層画像の診断に用いられる基準格子であって、光を透過する部材から構成され、当該部材に複数のグリッド線110を備え、複数のグリッド線110は、光干渉断層画像に表示される。そして、基準格子100を対象物に固定し、基準格子100及び対象物に低干渉光を照射し、当該基準格子100及び当該対象物により当該低干渉光が反射された反射光に基づいて、当該基準格子100及び当該対象物を測定し、基準格子100が備えるグリッド線110間の測定寸法と当該グリッド線110間の実寸法との差に基づいて、測定された対象物の測定寸法に含まれる誤差を特定する。 (もっと読む)


【課題】CMOSセンサーによる撮像時に、投影照明と回転シャッタとの同期を取る。
【解決手段】画像形成装置は照明組立体を有し、照明組立体は、複数の放射源と投影光学系を有し、放射源から視覚野の異なるそれぞれの領域の上へ放射を投影するように構成される。画像形成組立体は、画像センサ上に視覚野の光学的画像を形成するように構成された、画像センサと対物光学系を有し、画像センサは、多重のグループ内に配置されたセンサ要素の1配列を有し、画像センサは、視覚野の電子画像を形成するため、回転シャッタによりトリガーされて、連続するそれぞれの露出期間において、視覚野の異なるそれぞれの区域からの放射を獲得する。制御装置は、照明組立体が視覚野の異なるそれぞれの区域を前記回転シャッタと同期して照明するために、放射源をパルスモードで順次活性化するように接続される。 (もっと読む)


【課題】受光信号に基づく認識形状と対象物の実形状との相違により、対象物の変位測定の精度が低下することを抑制することが可能な二次元変位センサを提供する。
【解決手段】二次元変位センサ1は、ユーザが、認識形状M2が表示された前記表示部の表示画面内で対象物の対象領域を指定可能な指定部37と、その対象領域に対応する二次元撮像部15の撮像面上の領域内の画素からの受光信号に基づいて対象物の変位測定を行う変位測定部33と、を備え、二次元撮像部からの受光信号に基づき、認識形状のうち、対象物において測定方向に直交する方向に沿った直線部分に相当する直線領域Nを抽出し、表示画面内において直線領域を、認識形状の他の領域と区別可能に表示させる。 (もっと読む)


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