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Fターム[2F065AA51]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 測定内容 (27,691) | 輪郭 (4,339)

Fターム[2F065AA51]の下位に属するFターム

断面 (424)
3次元的 (2,562)
肉厚分布 (23)
面内パターン (323)

Fターム[2F065AA51]に分類される特許

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【課題】輪郭線近傍の欠陥であっても高い精度で存在を検出することができ、高い精度で良品判定を行うことができる画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラムを提供する。
【解決手段】取得した各第一の多値画像の画素ごとに、異なる二方向におけるエッジ強度を算出し、各第一の多値画像の画素ごとに、異なる二方向におけるエッジ強度の平均値を算出する。算出した平均値を中心として、各第一の多値画像の画素ごとに、異なる二方向におけるエッジ強度の相互相関分布領域を算出する。判定対象物に関する第二の多値画像の画素ごとに、異なる二方向におけるエッジ強度を算出し、算出した第二の多値画像の画素ごとのエッジ強度が、算出してある各第一の多値画像の画素ごとのエッジ強度の相互相関分布領域に含まれているか否かを判断する。 (もっと読む)


【課題】
画像処理による等階級の選別は、選別対象の外観を選別規準としているので選別対象の全面を検査する必要があるところ、選別対象は搬送部の一部をなすコンベアの上に乗せられた状態であるので、搬送部と選別対象の接触部の撮像が行えないことが問題となっていた。また、選別対象が山積み状態となっておれば、適切に画像処理を行うことができないので分離されていなければならない。従来は人手で行っていた選別作業を自動化して、省力化の要請があった。
【解決手段】
独立駆動される複数台のV型ベルトコンベアと保持機構を組み合わせることにより、多様な形状寸法を有する選別対象において、複数種類の選別対象に対応することができ、山積み状態の選別対象の分離を促して、撮像部までに選別対象を1個に分離して、識別部でのニューロネットワーク等を利用した全面画像処理により、選別作業の自動化を図った。 (もっと読む)


【課題】溶接時に溶接品質検査が可能で、溶接後に検査工程を追加する必要がなくなり、、検査に要する工数や手間を縮減できる溶接品質検査方法/装置を提供する。
【解決手段】スリット光が照射されたビードを撮影し、その画像によってビード外形状を計測し、同外形状に基づいて溶接品質の良否を判定する溶接品質検査において、スリット光の非照射状態と照射状態とにおけるビード画像を各々スリット光の波長を通過帯域とするバンドパスフィルタを通し、デジタル化した後、両画像間の差分画像を抽出し、同差分画像によってビード外形状を計測し、これにより溶接品質の良否を判定する。差分画像はスリット光のみによる光強度分布画像(スリット光データ)であるから、溶接光と検査用のスリット光が区別されたスリット光による、つまり溶接時における溶接品質の良否判定が行なわれる。 (もっと読む)


【課題】アライメントマークの位置を計測する時間の短さの点で有利な位置計測装置の提供。
【解決手段】位置計測装置の制御部は、撮像系のテレセントリシティに関する情報を予め記憶し、基板に形成された複数のアライメントマークのうち少なくとも1つに関して、ステージの位置制御により撮像系に対するフォーカス調整を行って撮像系に撮像を行わせ、撮像によるアライメントマークの信号に基づいてX−Y平面に平行な面における位置を求め、フォーカス調整のなされた少なくとも1つのアライメントマークに関して、基板表面の第1の位置を検出系に検出させ、他のアライメントマークに関して、フォーカス調整を行わずに、撮像系に撮像を行わせ、かつ基板表面の第2の位置を検出系に検出させ、撮像によるアライメントマークの信号と第1の位置と第2の位置とテレセントリシティに関する情報とに基づいて、X−Y平面に平行な面における位置を求める。 (もっと読む)


【課題】被測定面の位置をその反射率に左右されず、安定して高精度に測定し得る共焦点分光方式の光距離計及び距離測定方法を提供する
【解決手段】光距離計21は、白色光源22からの照明光を複屈折板27により常光成分と異常光成分とに分離し、被測定面34aの光軸上の異なる位置で結像するように投射する。被測定面からの反射光を合波し、回折格子29により波長毎に分散させ、複屈折板30により再び常光成分と異常光成分とに分離して撮像素子31に入射させる。信号処理部33が、撮像素子から出力された電気信号を処理して常光成分及び異常光成分の光強度P1,P2を検出しかつ差分ΔP=P1−P2を算出する。差分ΔPが0となる波長λ0を検出することによって、被測定面の位置が求まる。 (もっと読む)


【課題】学習データとの対比により対象物を検出することができる固定カメラシステムに対する設定情報として対象物検出サイズを算出する対象物検出サイズ算出システムを提供する。
【解決手段】画像データをサンプリングした内容から背景領域についてのデータを取得して背景領域データ16に記録する背景領域取得部11と、各フレームについて背景領域データ16に記録された内容と比較することで動体領域の画素集合を検出する動体検出部12と、動体領域の画素集合について輪郭を抽出する輪郭抽出部13と、輪郭を包含する矩形を算出し、フレーム内での矩形の平均サイズを算出して矩形データ17に記録する矩形算出部14と、所定の期間において矩形データ17に蓄積された矩形の平均サイズの分布状態に基づいて、所定の基準により矩形のサイズの範囲を求めて対象物検出サイズ25として出力する矩形サイズ算出部15と、を有する。 (もっと読む)


【課題】被写体の遠近が急激に変化する箇所においても、被写体までの正確な距離を算出することが可能なデプスマップ出力装置を提供する。
【解決手段】被写体像を所定の結像面に結像させる撮影レンズ11と、結像面の近傍に二次元状に配列されたマイクロレンズMLを有するマイクロレンズアレイ12と、複数のマイクロレンズMLの各々に対応して配置される受光素子配列30と、横方向に配列された複数の横レンズ列を選択しその各々について、当該横レンズ列を構成するマイクロレンズMLの各々に対応する受光素子配列30の出力を演算し、当該横レンズ列の中央部のマイクロレンズMLのデフォーカス量すると共に、当該デフォーカス量を二次元状に配列したデータである横由来デプスマップを作成し、同様に縦方向について縦由来デプスマップを作成し、横由来デプスマップと縦由来デプスマップとを合成し最終的なデプスマップを出力する合成処理を実行する制御回路40とを備えるステレオ撮像装置1。 (もっと読む)


【課題】画像内に含まれる目的の対象物を検出する速度を向上させる。
【解決手段】標準パターンの領域を、任意の点である領域分割中心点から放射線状に2つ以上の領域に分割し、分割領域ごとに領域分割中心点から最大距離にある標準パターン画素位置を標準パターン代表点として選定する。被判定パターンの領域を、標準パターン代表点選定ステップと同じ条件で領域分割中心点を用いて2つ以上の領域に分割し、分割領域ごとに領域分割中心点から最大距離にある被判定パターン画素位置を被判定パターン代表点として選定する。対応する分割領域における標準パターン代表点の座標と被判定パターン代表点の座標の位置的差異を求め、すべての分割領域において位置的差異が予め定められた範囲内であるときに被判定パターンは目的の対象物であると判定する。 (もっと読む)


【課題】振動の影響による3次元形状の測定誤差を低減した形状測定装置を提供する。
【解決手段】形状測定装置は、被測定物をライン光で照明して撮像するプローブ20と、プローブ20と被測定物とを相対移動させるリニアモータと、照明の状態と撮像の状態から被測定物の形状を測定する形状演算部と、プローブの振れを検出する振れ検出部と、振れ検出部に検出された振れに基づいて被照明位置の補正を行う補正機構60,80,90とを備えて構成される。 (もっと読む)


【課題】刻印溝の両斜面に照射されたレーザー光の撮像明度を確保しつつ、前記刻印溝の底面に照射されたレーザー光を確実に撮像することができる刻印検査装置を提供する。
【解決手段】移動ステージ43に検査対象2の刻印部4を境として左側に配置される第一ラインレーザー51と、刻印部4を境として右側に配置される第二ラインレーザー52とを設ける。第一ラインレーザー51は、第一ラインレーザー光61を刻印面3に照射し、第二ラインレーザー52は、第二ラインレーザー光62を刻印面3に照射する。移動ステージ43の両ラインレーザー51,52間に検査対象2の刻印部4を真上から撮像するCCDカメラ71を設け、CCDカメラ71で刻印部4に照射された各ラインレーザー光61,62を刻印部4に正対する位置から撮像できるように構成する。 (もっと読む)


【課題】鉛蓄電池用格子体に存在する形状変化を、バラツキなく高精度で検出できるばかりではなく、検出した鉛蓄電池用格子体の形状変化から、鉛蓄電池用格子体鋳造装置の異常、例えば、鋳造鋳型に塗布されている離型剤の寿命及び鋳造装置の不具合を迅速かつ適確に判定可能な、鉛蓄電池用格子体鋳造装置の異常判定方法を提供するものである。
【解決手段】鋳造された鉛蓄電池用格子体の形状変化を検出して、鉛蓄電池用格子体鋳造装置の異常を判定する方法であって、(a)鉛蓄電池用格子体の形状変化検出領域を照明する工程、(b)照明された形状変化検出領域を撮像する工程、(c)撮像された画像に2値化処理及び任意的に収縮処理を施す工程、(d)上記処理後の画像から鉛蓄電池用格子体の形状変化を検出する工程、並びに(e)検出した形状変化から、鉛蓄電池用格子体鋳造装置の異常を判定する工程を含む、鉛蓄電池用格子体鋳造装置の異常判定方法。 (もっと読む)


【課題】画像中のオブジェクトの位置および回転角度の検出時間を削減する。
【解決手段】参照オブジェクトモデルを用いた投票により画像からオブジェクトを検出するオブジェクト検出装置において、オブジェクトモデルの代表点を中心としてオブジェクトモデルを所定の角度ずつ回転して得られる回転オブジェクトモデルそれぞれの特徴点の座標値を参照オブジェクトモデルとして記憶する記憶部20と、画像の輪郭を抽出する輪郭抽出部33と、記憶部20から読み出した前記参照オブジェクトモデルの座標値と、前記画像の輪郭における点の座標値と、に基づき算出した座標値に対して投票を行ってその積算値である投票数を算出する投票数算出部36と、算出した座標値から、投票数が所定の閾値を超える算出した座標値を抽出する位置抽出部37と、を備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、半導体ウェハにおける表面形状の測定に適した精度で、そして、より短時間でその表面形状を測定し得る表面形状測定装置および半導体ウェハ検査装置を提供する。
【解決手段】本発明の表面形状測定装置Saは、測定対象である半導体ウェハSWの表面に所定の波面を持つ測定光を照射するための光源部1と、半導体ウェハSWの表面で反射した測定光の反射光における波面の形状を測定する波面センサ4と、波面センサ4で測定した反射光における波面の形状に基づいて半導体ウェハSWにおける表面の形状を求める演算制御部7aとを備える。そして、半導体ウェハ検査装置は、このような表面形状測定装置Saを備えて構成される。 (もっと読む)


【課題】コンパクトで、簡単且つ精度良く製作することができるキャリブレーション治具およびこれを用いた撮像装置のキャリブレーション方法を提供することである。
【解決手段】表面にセットステージ2と平行な平坦面34を有するベース32と、平坦面34に貫通形成され、レーザー変位計5の基準位置を取得するために輪郭形状を測定され、且つ認識カメラ4の基準位置を取得するために周縁部と共に撮像される共通基準孔33と、を備え、共通基準孔33は、レーザー変位計におけるレーザースポットのスポット35径より大きく、且つ認識カメラ4の視野に収まる大きさに形成されているものである。 (もっと読む)


【課題】走行状態の車両における路面に対する車輪の姿勢や、車体に対する車輪の姿勢及び車輪のタイヤ形状を定量的に計測する挙動計測装置を提供する。
【解決手段】車両走行時の車輪の挙動を計測する車輪挙動計測装置であって、車両に設けられ、車輪を撮像する複数の車輪カメラ及び路面を撮像する複数の路面カメラと、車輪のホイールに設けられ、当該車輪のホイールの外側面と平行に取り付けられる不動板と、不動板における車輪カメラの視野内に、少なくとも3箇所配設される第1被測定体と、ホイールの外側面における車輪カメラの視野内に、複数配設される第2被測定体と、車輪カメラと路面カメラとが撮像した画像を記憶する記憶手段と、記憶手段が記憶した画像を処理する画像処理手段とを具備するようにした。 (もっと読む)


【課題】非球面形状を高精度に測定する際に、被測定物保持機構と干渉光学系との相対的移動を高精度に行える機構を有する測定装置を提供する。
【解決手段】被測定物10を被測定面軸Sの回りに回転させる被測定物回転機構70および該回転機構を搭載し被測定面軸と直交または平行方向に直線移動させる第1スライド機構7を備える被測定物保持機構Aと、測定光を照射して光干渉測定を行う干渉光学系2を保持し該光学系をその測定光軸Lと被測定面軸Sとのなす測定角度を変更可能に旋回させる光学系旋回機構80および該旋回機構を搭載し第1スライド機構7の移動方向と直交方向に直線移動させる第2スライド機構8を備える干渉光学機構Bとを備え、測定角度を順次変更した毎に被測定物10を回転させつつ光干渉測定を行う。 (もっと読む)


【課題】レールや形鋼などの立体的形状を有する検査対象物の表面疵などの表面状態を安定的に検査することが可能な表面検査装置および表面検査方法の提供。
【解決手段】検査対象物に対して上方から板状光線を投光する上部光線源1aと、検査対象物に上部光線源1aにより投光された板状光線を検査対象物の上方から撮像する上部カメラ1bと、検査対象物に対して側方から板状光線を投光する側部光線源2a,3aと、検査対象物に側部光線源2a,3aにより投光された板状光線を検査対象物の側方から撮像する側部カメラ2b,3bと、上部カメラ1bにより撮像された画像から検査対象物の搬送位置のずれを算出する搬送位置算出手段6と、搬送位置算出手段6により算出された搬送位置のずれに基づいて側部光線源2a,3aおよび側部カメラ2b,3bの位置を調整する検査位置調整手段7とを有する。 (もっと読む)


【課題】測定対象膜に照明光を照射して測定される表面形状データ及び界面形状データから、この測定対象膜の屈折率を得ることができる膜構造測定方法及び表面形状測定装置を提供する。
【解決手段】表面形状測定装置の制御用プロセッサで実行される膜構造測定方法は、撮像装置により、物体に形成された測定対象膜に光を照射し、当該光の反射光からこの測定対象膜の表面の形状である表面形状データ及び測定対象膜と物体との界面の形状である界面形状データを測定するステップ220と、平均値がほぼ0となるように表面形状データ及び界面形状データの各々を基準面を用いて補正することにより、補正された表面形状データ及び補正された界面形状データを算出するステップ230と、補正された表面形状データ及び補正された界面形状データから、測定対象膜の屈折率を算出するステップ240と、を有する。 (もっと読む)


【課題】低密度の反射対応から鏡面を再構築する。
【解決手段】点対応手順が鏡面物体203の画像のセットに適用され、低密度の反射対応が生成される(210)。画像のセットは、カメラ202によって取得される間、回転を受ける。すなわち、カメラ202、環境、又は物体203のいずれかが回転する。線形系AΘ=0が解かれる(220)か、又は関連する二次錐計画(SOCP)が解かれる。ここで、Θは局所表面パラメーターのベクトルである。表面の勾配は局所二次曲面パラメーターから得られ(230)、勾配は法線を得るために統合される(240)。ここで法線は表面の形状を定義する。 (もっと読む)


【課題】
プリント配線基板等、特に光透過型電子基板の欠陥を、基板のずれを気にせずに光学的処理により高精度、迅速、かつ、自動的に検出することができる形状欠陥等の検査方法および検査装置を提供する。
【解決手段】
可干渉性レーザ光源、可干渉性平行レーザ光束中に設置されたフーリエ変換レンズと、そのレンズの前方に設置された検査物体の回転を抑えるためのガイド溝を通して搬送する検査物体の導入手段または検査物体形状写出手段と、前記レンズの光軸中心の後焦点面または光軸中心の後焦点面付近に設置された形状識別手段としての光差分または排他的論理和を行う光学フィルタ(光差分フィルタまたは光相関フィルタ)を含む光差分器や光相関器と、光学フィルタを前焦点面として設置された逆フーリエ変換レンズと、逆フーリエ変換レンズからの画像を撮り込む電子カメラ、とで構成される画像の差異や画像欠陥を検査する方法および装置。 (もっと読む)


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