【課題】 ワークのエッジ位置に沿って誤差を識別することができるとともに、ワーク画像との対応関係を容易に把握することができる画像測定装置を提供する。
【解決手段】 ワーク画像からエッジを抽出するエッジ抽出手段と、ワークの輪郭情報及び輪郭位置の公差を含む測定設定データを保持する測定設定データ記憶手段と、ワーク画像及び輪郭情報を位置合わせし、ワーク画像上のエッジ位置とこのエッジ位置に対応する輪郭位置との変位量を示す誤差を算出する誤差算出手段と、算出された誤差を公差と比較し、良否判定を行う誤差判定手段と、抽出されたエッジ及び良否判定の結果をワーク画像上に表示する測定結果表示手段により構成される。測定結果表示手段は、誤差が不良と判定されたエッジ位置について、誤差の大きさが極大となるエッジ位置の誤差を数値表示する。 （もっと読む）

【課題】 複数のワークについて、輪郭の不一致度合いを容易に識別することができる画像測定装置を提供する。
【解決手段】 ワーク画像Ａ２からエッジを抽出するエッジ抽出手段と、ワーク画像Ａ２及び予め保持されたマスター画像Ａ１を比較する画像比較手段と、比較結果に基づいて、ワーク画像Ａ２のエッジ位置とこのエッジ位置に対応するマスター画像Ａ１上の位置との変位量を示す誤差を算出する誤差算出手段と、複数のワーク画像Ａ２について算出された誤差の統計情報をエッジ位置ごとに算出する統計情報算出手段と、統計情報を、その値に応じた表示態様でワーク画像Ａ２又はマスター画像Ａ１から抽出されたエッジ位置に沿って表示する統計情報表示手段により構成される。 （もっと読む）

【課題】実質的に同程度の時間及び正確さで、異なる画像の欠陥検出を実行する。
【解決手段】本発明に係る欠陥検出方法は、工業用部品に関する入力画像を受け取るステップと、上記入力画像に関するモデルタイプを受け取るステップと、上記モデルタイプに対応するモデル画像を取得するステップと、上記モデル画像と上記入力画像との間の画像間変換を推定するステップと、上記推定された画像間変換に基づいて上記モデル画像及び上記入力画像を共通座標系に変換することによって位置合わせされた入力画像と位置合わせされたモデル画像とを取得するステップと、上記入力画像及び上記モデル画像に関する複数の画像差分ベクトルを形成するステップと、上記入力画像に関するラベルされた分類マップを生成する統計分類モデルを、上記複数の画像差分ベクトルに対して適用するステップと、を含んでいる。 （もっと読む）

【課題】例えば自走式電線点検装置を使用したビデオ映像に適した処理を行う。
【解決手段】撚られた複数の素線が表面に露出している電線に沿って撮像手段を移動させながら撮影した電線の複数の連続画像に基づいて電線の異常を検出する異常検出方法において、複数の連続画像４のうち、１枚の基準画像中の基準となる素線境界の位置情報及び素線の幅情報の入力を受け付け記憶する初期値設定処理（ステップＳ４３）と、連続画像の各々について素線の境界を検出して素線表面画像を切り出す画像切り出し処理（ステップＳ４４，Ｓ４５）と、素線表面画像中の素線の表面の明るさの変化に基づいて素線の異常を検出する異常検出処理（ステップＳ４６〜Ｓ４８）を備えている。 （もっと読む）

【課題】特に、布片に付されたマークを十分な精度で認識できるマーク読み取り装置、および方法を提供する。
【解決手段】布片Ｔを撮影するカメラ１１と、撮影した布片画像を処理する画像処理装置とを備える。布片画像の明度勾配方向θを演算し、あらかじめ記憶された複数種類のテンプレート画像のうち、布片画像の明度勾配方向θに一番近似する明度勾配方向を有するテンプレート画像に対応する種類を、布片Ｔの種類と判断する。織り目により生じる細かい凹凸や、シワ等に起因するノイズが大量にある布片画像でも、そのノイズに惑わされることなく、精度の良い判断ができる。布マークを十分な精度で認識し、布片の種類や表裏を識別することで、その結果を基に布片のハンドリング方法を決定することができる。 （もっと読む）

【課題】単一ビームや単針を走査する方法と比べて短時間にパターンを検査することができるパターン形成部材の検査方法及び装置、並びにパターン形成部材を提供する。
【解決手段】被転写材料に転写すべきパターン３とプラズモン共鳴構造体４とを有するパターン形成部材１を準備し、プラズモン共鳴構造体４に光を照射してプラズモン共鳴構造体４のプラズモン共鳴の吸収特性を計測し、吸収特性に基づいてパターン３を検査する。 （もっと読む）

【課題】半導体ウェハを検査するための方法および装置を提供する。
【解決手段】本発明は半導体ウェハを検査するための方法に関する。半導体ウェハのエッジをイメージング方法を用いて検査し、エッジ上の欠陥の位置および形状をこのようにして求める。加えて、その外縁がエッジから１０ｍｍ以下である、半導体ウェハの平坦領域上の環状領域を、光弾性応力測定によって検査し、上記環状領域の中で応力を受けた領域の位置をこのようにして求める。欠陥の位置および応力を受けた領域の位置を互いに比較し、欠陥をその形状および光弾性応力測定の結果に基づいてクラスに分類する。本発明はまたこの方法の実施に適した装置に関する。 （もっと読む）

【課題】微粉炭等の固体の燃料粒子のみならず、液体の燃料液滴の燃焼場における挙動を把握するための基礎データを得るべく粒子または液滴の形状・径と温度との同時計測システムを提供する。
【解決手段】２本のレーザー光Ｌ１，Ｌ２の交差点に形成される測定領域を通過する火炎Ｂ中の粒子Ｐでレーザー光Ｌ１，Ｌ２が遮光されることにより形成される影に基づく粒子Ｐの形状をシャドウドップラー光学系Ｉを介して撮影するとともに、粒子Ｐの形状を表す画像信号を送出する高速度カメラ５と、カセグレン光学系IIを介して得られる測定領域中の粒子Ｐによる特定波長の２種類の光強度Ｉ_λ１，Ｉ_λ２をそれぞれ表す発光信号を送出する分光器８と、前記画像信号を処理して粒子Ｐの全部が高速度カメラ５の撮像画面に取り込まれている期間である測定可能期間を検出するとともに、前記測定可能期間に対応する前記発光信号に基づき二色温度計の原理により粒子Ｐの温度を演算するパソコン６とを有する。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の点群データからその特徴を抽出し、対象物の輪郭に係るデータを自動的かつ短時間に生成する技術を提供する。
【解決手段】測定対象物の二次画像と、この二次元画像を構成する複数の点の三次元座標データとを関連付けた点群データの中から、演算の負担の大きい非面領域に係る点群データ除去する非面領域除去部１０１と、非面領域のデータが除去された後の点群データに対して、面を指定するラベルを付与する面ラベリング部１０２と、ラベルが付与された面から連続した局所領域に基づく局所平面を利用して、対象物の輪郭線を算出する輪郭線算出部１０６を備える。 （もっと読む）

【課題】円板状の２組の基板を上下に積層して成る貼合わせ基板において、素子形成などにあたって、基板中心位置のズレ量を一括して求められるようにする。
【解決手段】輪郭測定手段３によって、貼合わせ基板２の厚み方向の投影像から２組の基板２１，２２を合わせた輪郭形状を検出する一方、エッジ形状測定手段４によって、周方向の複数点において、貼合わせ基板２の接線方向の投影像から２組の基板２１，２２それぞれのエッジ形状を検出する。そして、演算手段６が、輪郭測定手段３の検出結果から、いずれか一方の組の基板の形状データを検出し、直径および中心位置を求める一方、他方の組の基板については、その一方の組の基板の形状データを基準に、エッジ形状測定手段４で検出された２組の基板間の相対的な位置関係から、形状データを求め、直径および中心位置を求める。その後、２組の基板間の中心位置の距離から、前記ズレ量を求める。 （もっと読む）

【課題】対象体の形状データに基づいて、仮想座標空間において対象体が占める対象体領域を生成する場合に、対象体領域の外周部付近に不明瞭な形状部分が発生する可能性を低くする。
【解決手段】計測点から対象体上の各被計測点までの距離を計測することにより、または、対象体を撮像することにより、対象体の形状データを取得する形状データ取得ステップＳ１と、形状データに基づいて、仮想座標空間において対象体が占める対象体領域を生成する領域生成ステップＳ２と、生成した対象体領域に対し修正処理を行う領域修正ステップＳ３とを有する。修正処理は、縮小処理および拡大処理の少なくとも一方を含む。対象体領域の外周部分または内周部分を処理対象領域とし、（Ａ）縮小処理は、対象体領域内に含まれる処理対象領域を対象体領域から削除する処理であり、（Ｂ）拡大処理は、対象体領域外に位置するとともに該対象体領域に隣接する処理対象領域を対象体領域に統合する処理である。 （もっと読む）

【課題】帯状部材の外観形状が帯状部材の長さ方向にどのように変化しているかを知ることのできる帯状部材の外観形状検査方法及びその装置を提供する。
【解決手段】この帯状部材の外観形状検査装置は、検出された二次元輪郭データを帯状部材の長さ方向に並べて検査用データを作成し、該検査用データから、各二次元輪郭データが示す帯状部材の外観形状の輪郭が帯状部材の長さ方向にどの様に変化するかを示す帯状部材の外観形状の特徴データを抽出する。このため、検査用データから抽出された前記各特徴データは帯状部材の厚さや、帯状部材の幅方向端部位置等が、帯状部材の長さ方向にどの様に変化するかを示すことになるので、帯状部材の外観形状が帯状部材の長さ方向にどの様に変化しているかを知ることができ、タイヤ特性の向上を図る上で極めて有利である。 （もっと読む）

【課題】高精度な被写体シルエット画像を必要とせず、さらに、各視点においては２値のシルエット抽出を行わずに、多視点映像をもとに高精度な被写体の３次元モデルを構築する方法を提供する。
【解決手段】本発明の方法は、複数の背景画像の画素値と複数の被写体画像の画素値とから、ボクセル空間中の各ボクセルの背景尤度を表す連続値を算出し、各ボクセル間の隣接関係を考慮したエネルギー関数を定義し、これを最小化するように、各ボクセルに被写体領域または背景領域のいずれかに割り当てることで、被写体領域を決定し、ボクセルデータを構築する。 （もっと読む）

【課題】 大変形を高精度かつ動的に計測可能な計測装置及び計測方法を提案する。
【解決手段】 スペックル干渉を用いた変形計測において、２光束のうち一方の光束が非コリメート光となる光路と平行平面状の透明物体を利用し、キャリア縞を形成することが可能となる。具体的には、非コリメート光となる光路上に上記透明物体を設置、または光路上からの除去、もしくは光路上に設置した透明物体の屈折率、厚み、光軸に対する傾斜角を変更する。上記処理とスペックル干渉パターンの取得を繰り返し行うことにより、変形に応じた縞画像からの位相解析を行うことができ、大変形を高精度かつ動的に計測できる。 （もっと読む）

【課題】照明条件の制約を受けず、特殊な装置が必要なく、フラッシュによる強調表現を避けつつ、対象物の表面の特徴を得る。
【解決手段】通常光でカメラ（図示せず）により対象物の表面を撮影する通常光撮影手段１００と、通常光でない特殊光でカメラ（図示せず）により表面を撮影する特殊光撮影手段１１０と、通常光撮影手段１００で撮影された画像と特殊光撮影手段１１０で撮影された画像とを蓄積するデータ蓄積手段１２０と、各画像の輝度の分散を求め、分散により輝度を正規化し、正規化後の各画像の相関を求める画像相関処理手段１３０と、画像相関処理手段で得られた差分画像を表示手段１５０に出力する表面特徴検出手段１４０とを備える。 （もっと読む）

【課題】トータルステーションと比して簡易な装置を用いて、リアルタイムで被計測物の特徴点の位置を計測できる位置計測方法、及び位置計測システムを提供する。
【解決手段】円柱体であるターゲット３０の中心位置を計測する位置計測方法であって、レーザ光をターゲット３０上で走査してターゲット３０上の複数の計測点までの距離を計測するＬＲＦ２０から、ターゲット３０上における複数の計測点の位置情報を取得するステップと、ターゲット３０上における複数の計測点の位置情報と、既知情報であるターゲット３０の円周面３０Ｂ上の円弧部及び中心位置の情報とに基づいて、ターゲット３０の中心位置を推定するステップと、を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、洗浄による飛散水や湯気の発生あるいは素子の汚れ等によって光量が不足した場合であっても、車形データを作成することができる車形検出装置及びこの装置を備えた洗車機を提供するものである。
【解決手段】発光部５ａにおける隣接する２つの発光素子Ｌａ・Ｌａ+1を同時に発光させ、その一方の発光素子Ｌａと水平に対向する１つの受光素子Ｒａで受光する第１の光軸Ｂｄと、同じく２つの発光素子Ｌａ・Ｌａ+1を同時に発光させ、その他方の発光素子Ｌａ+1のと水平に対向する１つの受光素子Ｒａ+1で受光する第２の光軸Ｂｅとを形成し、各素子毎に各光軸で車体検出する強光検出モードを実行可能にした。 （もっと読む）

【課題】透明色又は白色系の流体物を噴射するスプレーの噴射状態の良否を正確に判定することができるスプレー噴射状態監視装置を提供する。
【解決手段】スプレーの噴射状態を撮影する撮影部と、黒色系であって、スプレーを挟んで撮影部と対面するよう設けてある背景板と、スプレーから噴射された流体物を照明するが、背景板の撮影される部分を照明しないように配置されている照明部と、撮影部により撮影された画像データにおいて、スプレーのノズルの先端から所定の距離、範囲にある領域を二値化処理して、流体物と背景に区分けし、得られたデータに予め登録されたデータを照らし合わせる、及び／又は、流体物と背景に区分されたデータにおける流体物の面積を算出することにより、スプレーの噴射状態が正常か否かを判定する画像処理部とを備える。 （もっと読む）

【課題】半導体デバイスの回路パターンの測長輪郭線の位置を高精度に求める。
【解決手段】パターン計測装置は、転写された回路パターンの画像輪郭線を取得する（ステップＳ３０１）。そして、パターン計測装置は、デザインデータを基本形状に分解し（ステップＳ３０２）、基本形状ごとに法線ベクトルを算出する（ステップＳ３０３）。次に、画像輪郭線に基本形状をマッピングし（ステップＳ３０４）、画像輪郭線にマッピングされた基本形状に対応する法線ベクトルを用いて測長輪郭線の位置を求める（ステップＳ３０５）。なお、デザインデータは、ＯＰＣ（光近接効果補正）の処理が行われていてもいなくても、いずれの場合にも適用できる。 （もっと読む）

【課題】ガラス基板の形状測定の精度と測定の作業効率を向上させることができる、ガラス基板の形状測定装置を提供すること。
【解決手段】ガラス基板Ｗを載置可能な載置部１１と、ガラス基板Ｗの被測定部位Ｗａの測定基準となる基準形状１２ａが形成された基部１２と、被測定部位Ｗａと基準形状１２ａを被写体とするカメラ１４と、カメラ１４による被写体の撮像画像に基づいて、基準形状１２ａに対する被測定部位Ｗａの相対位置を検出する相対位置検出部３１と、基準形状１２ａの絶対位置と相対位置検出部３１によって検出された相対位置とに基づいて、被測定部位Ｗａの絶対位置を検出する絶対位置検出部３２とを備える、ガラス基板の形状測定装置。 （もっと読む）