【課題】 非接触式測定装置において、測定対象物のエッジを、より正確に測定できるようにすること。
【解決手段】 測定部１１２の光源１１３から出力した測定用光は、光反射部１０８の反射ミラー１１１によって測定対象物３０１の測定点方向に反射され、測定対象物３０１の測定点で反射した測定用光は反射ミラー１１１によって反射されて光検出素子１１４によって検出される。光反射部１０８は測定対象物３０１に沿って移動駆動され、測定対象物３０１までの測定距離の直前測定値と今回測定値の変化が所定値以下の場合（領域Ａ、Ｃ）、反射ミラー１１１は測定用光を測定対象物３０１に対して垂直方向に反射して測定を行い、エッジ３０３、３０４の存在によって前記変化が所定値を越える場合（領域Ｂ）には、移動速度を所定値以下にすると共に、モータ１０９によって反射ミラー１１１を所定角度ずつ回転させることによって光軸３０５を傾けながら測定を行う。 （もっと読む）

【課題】被写体の３次元情報を入力するためにその被写体に投影されるパターン光の種類を、複数種類のパターン光を出力する光学素子を備えた可動部材を割り出すことによって切り換える技術において、その光学素子が位置決めされる際の位置精度を向上させる。
【解決手段】３次元入力装置のうちの投影部１２を、光源部６８と投影機構６６と投影光学系３２とを含むものとし、その投影機構６６を、光源部からの入射光と交差する方向に移動可能なキャリッジ２０２と、そのキャリッジに保持される可動部材２６４と、キャリッジを駆動する駆動機構２２２とを含むものとする。その可動部材２６４は、光源部からの入射光を用いて前記複数種類のパターン光をそれぞれ生成する複数の平面的光学素子２６０をキャリッジの移動方向に沿って並ぶように備えている。 （もっと読む）

【課題】 比較的簡単な構成で、測定を高速、かつ高精度に行なうことが可能な光学測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 光学装置本体３０は光を出射する投光部３１と、コリメータレンズ３５と、対物レンズ３７とを備えるとともに、イメージセンサ５１、受光ピンホールアレイ５５並びに、導光手段４１を備える。そして、ワークＷの３次元的な形状を計測するのに、光をワークＷ上に走査させているが、この走査をコリメータレンズ３５を進退させて行なっている。そして、このときには、コリメータレンズ３５と同期したタイミングでイメージセンサ５１を進退させる必要があるが、本実施形態ではコリメータレンズ３５とイメージセンサ５１とがスライダ６３によって連結され一体的に進退するから、同期をとるための機構を必要としない。従って、比較的簡単な構成で、測定を高速、かつ高精度に行なうことが可能な光学測定装置を提供することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 比較的簡単な構成で、測定を高速、かつ高精度に行なうことが可能な光学測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 光学装置本体３０は光を出射する投光部３１、対物レンズ３９、イメージセンサ５１、受光ピンホールアレイ５５並びに、第一の導光手段４１、第二の導光手段４５を備える。そして、ワークＷの３次元的な形状を計測するのに、光をワークＷ上に走査させているが、この走査を投光ピンホールアレイ３５を進退させて行なっている。そして、このときには、投光ピンホールアレイ３５と同期したタイミングで受光ピンホールアレイ５５を進退させる必要があるが、本実施形態では受光ピンホールアレイ３５と投光ピンホールアレイ５５とがスライダ６３によって連結され一体的に進退するから、同期をとるための機構を必要としない。従って、比較的簡単な構成で、測定を高速、かつ高精度に行なうことが可能な光学測定装置を提供することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】半透明物質などに覆われた被検物であってもその内部の所望の被検部位の計測ができる共焦点光学系を有した測定装置を提供する。
【解決手段】測定装置は、共焦点光学系を備え、共焦点光学系の焦点面を被検物に対してその高さ方向に相対移動させながら異なる高さ位置ごとに、順次、前記被検物の光量データを取得し、記憶する装置であり、被検物の被検部位を指定すると共に、その指定した被検部位の高さ方向の光量データ分布グラフ上において、所望の測定範囲を任意に指定することで、その記憶した光量データに基づき被検部位の高さなどの測定が可能である。 （もっと読む）

【課題】 高速かつ低コストで全数インライン検査に適した接触式検査装置を提供する。
【解決手段】 光照射手段１００と、この光照射手段１００からの光Ｌが内部に入射される透明板１１０と、全反射現象乱れ検出手段１２０とを備え、透明板１１０を構成する面のうち少なくとも１つの面が、その内部に入射された光Ｌを全反射し、かつ、外表面側に被検査物が接触される第１反射面１１１であり、全反射現象乱れ検出手段１２０は、第１反射面１１１における光の全反射現象の乱れを検出する接触式検査装置。 （もっと読む）

【課題】 ラインセンサを用いて部品認識を行う場合の信頼性を向上させる。
【解決手段】 表面実装機は、ラインセンサを備えたカメラ２２と照明ユニット２４とからなる撮像ユニット２０を有し、ヘッドユニット６に吸着保持された部品をカメラ２２（ラインセンサ）に対して相対的に移動させて撮像することによりその画像に基づき部品の保持状態を認識する。表面実装機は、照明ユニット２４を制御する照明制御部等を有し、この照明制御部等は、ラインセンサの１撮像ピッチの中間と点灯時間の中間とが時間的に一致するタイミングで、照明ユニット２４をラインセンサの１撮像ピッチの間に１回だけパルス点灯させるべく照明ユニット２４を制御する。 （もっと読む）

【課題】光空間変調素子とイメージャとを組み合わせることによって、従来では得られることのなかった新たな視覚情報処理を実現可能な視覚情報処理システムを提供する。
【解決手段】本発明に係る視覚情報処理システムは、光源からの放射光を所定の光パターンに基づいて変調する光空間変調素子を有し、光パターンに基づいて変調された放射光を撮像対象物に照射する光パターン生成部と、光パターンが重畳された撮像対象物を撮像し、撮像対象物の特徴量を抽出する画像特徴抽出部とを備え、光パターンは、三角測量原理に基づいて前記撮像対象物の３次元情報を得ることができる複数の光パターンであると共に、画像特徴抽出部で抽出された特徴量に基づいて光パターンの種類及び数の少なくとも一方が適応制御される光パターンであることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 被測定物上の測定点を任意に選択可能として被測定物上の測定点の高さを高速で測定する。
【解決手段】 対物レンズ３の焦点位置と光学的に共役の関係に配置され、光源２からの光ビームが被測定物１方向に反射するように傾く複数のマイクロミラー１０_{（１，１）}〜１０_{（ｍ，ｎ）}をマトリクス状に配列した測定点選択手段４と、被測定物１上に集光された光ビームの集光点からの反射及び散乱光を測定点選択手段４を介して検出する光検出手段５と、被測定物１を対物レンズ３に対してその光軸方向に相対的に変位させてその変位量を検出する変位手段６と、測定点選択手段４の各マイクロミラー１０_{（１，１）}〜１０_{（ｍ，ｎ）}を個別に駆動すると共に、光検出手段５で検出された光の輝度及び変位手段６で検出された被測定物１の変位量のデータから最大輝度値を示す変位量を被測定物１の高さとして求める制御手段７とを備えたものである。 （もっと読む）

【課題】 金属板の表面全体において鮮明な撮像画像を得ることが可能な表面検査装置を提供する。
【解決手段】 撮像手段２の撮像方向を変更し、その変更量を示す撮像方向変更量信号Ｓ１を撮像方向変更手段４及び演算手段１４へ送信するコントローラ１２と、撮像方向変更量信号Ｓ１に基づいて撮像手段２の撮像方向を変更する撮像方向変更手段４と、撮像方向変更量信号Ｓ１に基づいて、光源６による光の照射方向が撮像手段２の撮像方向に対する正反射方向となる光源６の位置及び光の照射方向の変更量を演算し、光源位置変更量信号Ｓ２を駆動部１８へ送信するとともに照射方向変更量信号Ｓ３を照射方向変更手段１０へ送信する演算手段１４と、光源位置変更量信号Ｓ２に基づいて光源６の位置を変更する駆動部１８と、照射方向変更量信号Ｓ３に基づいて光源６による光の照射方向を変更する照射方向変更手段１０とを備える。 （もっと読む）

【課題】 長尺物の長手方向の長さとその垂直方向の変位幅の規模が著しく異なる場合であっても、垂直方向の変位を精度よく計測することが可能な長尺物の変位計測システムを提供する。
【解決手段】 変位計測システム１０では、計測対象たる長尺物１の位置情報が長手方向と垂直な方向と平行な面を持つ多面体からなる多面体ミラー１２を用いて集光され、その各面を介して長尺物の不連続な複数部位の画像がカメラ１４によって撮影され、コンピュータ１６にて画像から長尺物の垂直方向の位置が検出される。すなわち、長尺物の長手方向の代表部位が抜き出され、それらをつなぎ合わせて長尺物全体を把握し得る画像が撮影されて垂直方向の位置が検出される。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、回転体部に複雑なアナログ回路を不要とし、信号をロジックレベルで取り扱い可能とすることにより、装置の小型化、生産コストの低減化を図ることのできるレベル計測装置を提供することを目的としている。
【解決手段】 ワイヤドラム１と共に回転する第一の板部材８と、検出軸６と共に回転する第二の板部材９とを有し、該第一および第二の板部材８，９を対向して配置し、それぞれ回転中心を中心とする同一半径の円周上に円弧状のスリット８ａ，９ａを設け、ワイヤドラム１側の回転変位と検出軸６側の回転変位のずれを第一および第二の板部材に設けたスリットの重なりである通光部14の幅によって検知し、これに基づいてワイヤドラム１の回転量と検出軸６の回転量が同じになるように制御する。 （もっと読む）

本発明は、三次元画像情報を取得するための３Ｄ半導体センサ７９を用いて、エレベータエリアを監視するための装置に関する。半導体センサ７９は、監視されるべきエレベータエリアが、光源によって照光される領域に配置されるようにして取り付けられる光源と、反射光を受光するようにして取り付けられるセンサ群と、電気的信号を画像情報に変換するための処理チップとを備えている。装置には、三次元画像情報を供給するために半導体センサ７９に接続されている処理ユニット８０も設けられている。処理ユニット８０は、監視されるべきエレベータエリアの状態をあらわす状態情報を得るために、画像情報を処理する。
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試験対象物の第１の表面箇所に対する走査干渉分光信号から導出可能な情報と試験対象物の複数のモデルに対応する情報とを比較することを含む方法であって、複数のモデルは、試験対象物に対する一連の特性によってパラメータ化される方法。比較される導出可能な情報は、試験対象物の第１の箇所における走査干渉分光信号の形状に関する。
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【課題】３次元計測時の計測位置および姿勢を容易に決定し、３次元計測における操作性を向上させることが可能な技術を提供する。
【解決手段】３次元計測システム１は、ＣＡＤデータに含まれるアノテーション情報に基づいて、計測対象物のプリミティブを特定する特定部３４と、計測対象物のうち、特定されたプリミティブに相当する部分を撮影対象領域とするように、計測用カメラの位置および姿勢を決定する決定部３５とを備える。 （もっと読む）

【課題】 分解能が高く、個人差および死角領域の無い、遺物の複雑な断面形状の測定を可能にすること。
【解決手段】 測定対象物である遺物がセットされる試料台１０と、該試料台１０にセットされた測定対象物である遺物の左右に一定角度で配置され、遺物に光を照射し、遺物によって反射された反射光によって遺物の断面形状データを画像データとしてそれぞれ出力する一対のレンジファインダセンサ１１、１２と、該一対のレンジファインダセンサ１１、１２から出力される画像データに基づき遺物の断面形状を測定する画像処理装置２とから成る遺物の断面形状測定装置および測定方法。 （もっと読む）

【課題】 撮像時の変調パターンが簡単に実現でき、この変調パターンの実装がし易く、且つ測定物体方面から戻る反射パルス光から距離（位相）決定を行うための単純で精度の高い形状測定装置を提供する。
【解決手段】 測定物体２に光パターンである照射パターンを照射する照射手段３と、前記測定物体２表面で反射された光パターンである撮像パターンを得る、前記照射手段３と光学的に同じ位置にある撮像手段４、５、６とを備え、前記撮像パターンから前記測定物体２の表面形状を計算する形状測定装置において、前記測定物体２は前記照射手段３から或る距離の範囲に存在し、前記照射手段３は角周波数ωで変調した或る強度の照射パターンを前記測定物体２に照射し、前記撮像手段４、５、６は、前記測定物体２表面で反射され照射と同じ経路を逆にたどって前記撮像手段４、５、６に戻る反射光を、角周波数ω、位相φｄで変調を行った後に光量の時間平均を検知し、それにより前記測定物体２の距離Ｌを、複数の変調条件で得られた光量に基づいて求める。 （もっと読む）

【課題】 一の材料層に透明或いは半透明の材料層が形成されてなる被検物に対し、一回の走査・撮像工程で、その最表層の高さのみならず、それ以外の層の上面（或いは下面）高さをも測定できるようにする。
【解決手段】 記憶装置３２から走査画像の読み出しを開始した後、最初に検出した光量ピークに対応して求められる焦点面ＦＳの高さ位置から被検部位の高さを算出する構成の高さ測定装置において、走査画像の読み出し順を、走査画像の取得順に対して同順、逆順のいずれについても設定できるようにする。 （もっと読む）

【課題】 機上に搭載可能で小型かつ安価な研削盤の被測定物測定装置を提供する。
【解決手段】 支持ベース１を、研削盤本体に固定されたハウジングブラケット１１と、このハウジングブラケット１１に装着されたハウジング１２と、ハウジング１２に回動可能に支持された回動軸１３と、回動軸１３の先端から放射方向に延設された揺動アーム１４とからなるものとして、その揺動アーム１４の先端に、レーザ測定機２の照射部２１と受光部２２とを配備する。そして、回動軸１３の基端側には、クランク１５と、これに接続されたシリンダ１６と、クランク１５の揺動を停止させるストッパー１７とを設けて、レーザ測定機２を被測定物の測定位置から進退可能とする。 （もっと読む）

【課題】 安定して正確な形状の識別が可能であり、しかも、破損損傷しやすい、例えば、みかんなどの青果類など浮皮の有無を識別する場合においても、青果類の表面を破壊することなく、青果類に対して、接触せずに連続的に正確な形状の測定が可能であり、しかも見た目にも歪曲していびつな外観をした青果類の選別が可能な青果類の形状選別装置および形状選別方法を提供する。
【解決手段】 被測定青果類に対して測定用光を照射する照射部と、前記被測定青果類に照射された測定用光を受光する受光部と、前記受光部により受光された測定用光を数値化し、予め用意されている正常な青果類の形状データとを比較することにより形状を判定する演算装置とを備える青果の形状選別装置により、精度良く形状を判定する。 （もっと読む）