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Fターム[2F067AA02]の内容

波動性又は粒子性放射線を用いた測長装置 (9,092) | 測定内容 (1,524) | 位置、座標 (355) | 1次元 (22)

Fターム[2F067AA02]に分類される特許

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【課題】マイクロ波エレメントへの物体の近接を検出するために使用されるセンサアセンブリを提供する。
【解決手段】少なくとも1つのマイクロ波信号を発生するように構成された信号発生器104と、信号発生器104に接続された結合器106と、結合器106に結合されたマイクロ波エレメント108と、結合器106に接続された処理モジュール112が含まれている。マイクロ波エレメント108は、少なくとも1つのマイクロ波信号の関数として電磁界を発生するように構成されている。マイクロ波エレメント108は、物体102が電磁界と相互作用すると、装荷信号を結合器106へ反射するように構造化されている。処理モジュール112は、基準信号を使用して装荷信号を処理し、マイクロ波エレメント108への物体の近接を表すデータ信号を生成するように構成されている。データ信号はサブ−マイクロ波周波数を画定する。 (もっと読む)


【課題】センサ組み立て体内の電磁放射を低下させ、信号強度の低下を防止する。
【解決手段】センサ組立体110内で使用するセンサプローブ202は、少なくとも1つのマイクロ波信号から少なくとも1つの前方伝播電磁場224を生成し、少なくとも1つの後方伝播電磁場228を生成するように構成された放射体206と、放射体に結合されたデータ管路204からなり、データ管路204周りにほぼ円周方向に延び、センサ組立体内の電磁放射を大幅に低下させるように構成された接地導体を設ける。 (もっと読む)


【課題】マイクロ波を利用し測定範囲を広げると共に、その高い周波数特性により、測定精度を上げる。
【解決手段】センサアセンブリ110を備え、センサアセンブリ110は、少なくとも1つのマイクロ波信号から、少なくとも1つの電磁場209を発生させるマイクロ波エミッタ206を備える少なくとも1つのプローブ202であって、部品が少なくとも1つの電磁場と相互作用すると、マイクロ波エミッタに負荷が生じるプローブと、マイクロ波エミッタに結合されたデータコンジット115であって、負荷を表す少なくとも1つの負荷信号が、マイクロ波エミッタからデータコンジット内に反射されるデータコンジットと、少なくとも1つの負荷信号を受信し、部品を監視するのに使用される電気出力を生成するように構成された少なくとも1つの信号処理器200とを備える、部品104の監視システム。 (もっと読む)


【課題】稼働中の駆動軸との近接度を、測定範囲の広いセンサーで検出し、データを送信する。
【解決手段】機械構成部品104をモニタするうえで使用するためのセンサ組立体110は信号処理デバイス200と、少なくとも1つのプローブ202と、を含む。少なくとも1つのプローブは、少なくとも1つのマイクロ波信号から電磁場が生成されるように構成された放射源206を含み、負荷信号が生成されるように電磁場内に機械構成部品が配置されたとき、放射源は、離調する。少なくとも1つのプローブは、放射源に結合され、負荷信号を信号処理デバイスに無線で送信するように構成された送信機210も含む。 (もっと読む)


【課題】アンテナ送信時の反射を吸収する電磁吸収部材を設け、アンテナ接地による過度のエネルギー損失をふせぐ。
【解決手段】マイクロ波センサプローブ202は、プローブ筐体208と、前記プローブ筐体に結合された放射源本体と、前記放射源本体に結合された放射源206と、を含む。放射源は、少なくとも1つのマイクロ波信号から電磁場を生成するように構成されている。少なくとも1つの電磁吸収部材は、放射源を介して送られた電流と放射源によって生成された電磁放射のうちの少なくとも1つを吸収するように構成されている。 (もっと読む)


【課題】近接度応答の線形範囲を拡大する。
【解決手段】マイクロ波センサ組立体110は、あるパターンの周波数を含む少なくとも1つのピンクノイズ系マイクロ波信号を生成するための信号処理デバイス200と、前記信号処理デバイスに結合された少なくとも1つのプローブ202と、を含む。プローブは、少なくとも1つのピンクノイズ系マイクロ波信号から電磁場224を生成するように構成された放射源206を含み、放射源206から前記信号処理デバイスに負荷信号が反射するように物体が前記電磁場内に配置されたとき、前記放射源は離調する。 (もっと読む)


【課題】エミッタの散乱パラメータを安定化さすセンサアセンブリを提供する。
【解決手段】センサアセンブリ110は、所定の周波数範囲内で複数の周波数成分を含む少なくとも1つのマイクロ波信号から少なくとも1つの電磁界224を発生させるエミッタ206を備えた少なくとも1つのプローブ202であって、部品が少なくとも1つの電磁界224と相互に作用した場合にエミッタ206に負荷が誘起される、少なくとも1つのプローブ202と、エミッタと結合されたデータコンジット204であって、負荷を表す少なくとも1つの負荷信号がこのデータコンジット204内でエミッタ206から反射されるデータコンジット204と、少なくとも1つの負荷信号の受信と電気的出力の発生とを行うように構成された少なくとも1つの信号処理装置200と、を備える。 (もっと読む)


【課題】製造コストが安く、故障部品が交換可能なセンサプローブを組み立てる。
【解決手段】センサを組み立てる方法は、エミッタ336をプローブキャップ300内に配置するステップを含み、エミッタ336は少なくとも1つのマイクロ波信号から電磁界を生成するように構成される。内側スリーブ302は環状であり、該表面324を囲むねじ部326を含む。ねじ部326はプローブキャップ300のねじ部322と連携し、互いにねじ結合される。外側スリーブ304は、内表面328を囲むねじ部332を持ち、内側スリーブ302のねじ部326と連携し、外側スリーブ304内に、内側スリーブ302をねじ結合する。 (もっと読む)


【課題】電磁場に対して、大きな電磁エネルギー量を放射するエミッタを有すセンサ組立体を提供する。
【解決手段】マイクロ波エミッタ206は、エミッタ本体300から半径方向外向きに延びる第1のアーム310を含む。第1のアーム310は、少なくとも部分的に非線形であり、かつ少なくとも1つのピーク334及び少なくとも1つのトラフ336を有する。本マイクロ波エミッタ206はまた、エミッタ本体300から半径方向外向きに延びる第2のアーム312を含む。第2のアーム312は、少なくとも1つのピーク334及び少なくとも1つのトラフ336を有する。第1のアーム310及び第2のアーム312は、少なくとも1つのマイクロ波信号を受信した時に電磁場を発生する。 (もっと読む)


【課題】マイクロ波ドップラセンサの特性を利用して従来よりも安価な構成にて、しかも応答性よく、加工装置あるいは作業機械の内部状態を計測できるようにする。
【解決手段】トーチを規定の高さからワークに向けて移動開始させる。つぎに、トーチを規定の高さからワークに向けて移動させている間、トーチとの相対位置が固定的な固定位置からワーク表面に向けてマイクロ波を送信して反射したマイクロ波のドップラ周波数を検出し、ドップラ周波数と、送信波の周波数とに基づき、トーチとワークとの間の相対速度を逐次演算する。つぎに、演算された相対速度が零とみなされる値になった時点で、トーチがワークに当接したとみなし、当該時点に至るまでの逐次の相対速度の積分値を、トーチとワークとの間の距離として出力する。 (もっと読む)


【課題】舗装の内部損傷箇所を非破壊で迅速に定量調査できる方法を提供する。
【解決手段】上記課題は、舗装路面Rにおける検出対象領域の全体にわたり所定の間隔で、電磁波レーダーkによる探査を行い、各反射波検出位置40について前記内部損傷で反射した部分を含む又は含まない反射波データ50を取得し、この反射波データ50に基づき、各反射波検出位置40の所定深さにおける反射波強度55を取得し、この反射波強度50が所定の強度しきい値以上となる反射波検出位置40を、内部損傷で反射した部分を含む反射波が検出された内部損傷箇所とし、且つ反射波強度が所定の強度しきい値未満となる反射波検出位置40を、内部損傷で反射した部分を含まない反射波が検出された非内部損傷箇所として、検出対象領域に占める内部損傷箇所の割合を定量化する、ことを特徴とする舗装の内部損傷箇所の非破壊調査方法により解決される。 (もっと読む)


【課題】シリンダーの長さについて調整する必要がなく、連続的に検出可能である距離測定装置を提供すること。
【解決手段】放出信号を、反射体を有する伝導構造体の中へ送り込むための少なくとも一つの結合プローブを有し、分析エレクトロニクスとセンサー装置とを有し、伝導構造体は、HFトランシーバーを、誘電体支持装置を有する導波管を介して、結合プローブに接続する送り領域を有する送りブロックを有する距離測定装置であって、結合プローブは、三段位相モジュールとして設けられ、その中央に平らなベース領域を有し、その次に、シリンダーが設けられ、ピンが設けられ、そのピンによって、送り領域が、結合プローブに接続される距離測定装置。 (もっと読む)


評価電子装置と、センサー装置とを有する測距計が記載されており、前記センサー装置は反射体を有するライン状構造物へ伝送信号を送るための少なくとも一つの結合プローブを備え、前記反射体は、シリンダー、例えばピストンシリンダーの、ピストンの下側にある。 (もっと読む)


【課題】検査対象物内の液体の流れを停止させないで保温材内の水の存在位置を精度良く測定できる水分検出装置を提供する。
【解決手段】配管検査装置15の中性子発生管1及び中性子検出器を有する。中性子発生管2は単一エネルギーを有するパルス状の高速中性子20を発生し、保温材12に照射する。高速中性子20は保温材12内に存在する水14及び配管11内を流れる液体10によって減速されて熱中性子21となる。高速中性子20の照射方向とは逆方向に進行する熱中性子21はHe比例計数管2で検出される。この計数管2からの出力信号は多チャンネル波高分析器8を経てデータ処理装置9に達する。データ処理装置9は高速中性子の発生時刻を基準とする熱中性子検出率の分布情報を算出し、さらに、この分布情報を用いて、保温材12内に水14が存在する場合の水14の位置及び水14の量を求める。 (もっと読む)


【課題】人為的判断が入らず、条件により値が変わるなどの不正確さがなく、かつ磁性塗膜以外も適用可能な層厚さ測定方法及び層の界面平滑度の測定方法を提供する。
【解決手段】元素組成の異なる層を有する構造物における層厚さ測定方法であって、前記構造物の断面を作製する断面作製工程1と、前記断面の断面画像を取得する画像取得工程2と、前記取得した断面画像から画像輝度データを得る画像輝度データ取得工程3とを備えており、前記断面画像の厚さ方向において、前記断面画像の前記画像輝度データの変化率が極値となる位置を前記層の界面位置とし、前記界面位置に基づいて前記層の厚さを求める。 (もっと読む)


【課題】画像から短時間で画像の特徴点を抽出することを目的とし、特に、磁気記録ヘッドのコアの画像等、輝度値の投影データが特徴的な画像から、短時間で正確に画像の特徴点を抽出することを目的とする。
【解決手段】画像を入力し、該入力画像の各画素の輝度値を所定方向に積算して投影データ曲線を作成し、該投影データ曲線を部分ごとに直線近似し、該近似直線の交点を変曲点として抽出することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】多重管が真っ直ぐであるか否かに係らず、その内管に生じた欠陥の位置を大掛かりな装置を用いずに短時間で正確に測定できるようにする。
【解決手段】二重管1の内管2内に放射された電波Txは軸線方向に伝播し、内管2に生じた欠陥Dを通り抜けて、外管3の内部の空間5を通って二重管1の一端に電波Rxとして戻る。電波を放射した時点から、戻ってきた時点迄の時間差(電波の往復伝播時間)をτ、二重管1の一端から欠陥D迄の距離をL、内管2及び外管3内の電波の平均伝播速度をVとすると、τ=2L/Vであり、この式をLについて解くと、L=V・τ/2となるので、電波の往復伝播時間を測定することにより、欠陥Dの位置を求めることができる。 (もっと読む)


【課題】サンプルと基準点との間の距離を測定する方法および装置を提供する。
【解決手段】検査されるサンプル(12)と少なくとも基準点(19,21)との間の距離(Z)を測定する方法は、信号をサンプル(12)の第1の電位に変調し、一次粒子ビームをサンプル(12)に供給し、二次粒子ビーム、および二次粒子ビームの粒子の第2の電位に変調信号を検出し、検出された変調信号を、基準信号と比較するという工程を有する。装置は、信号をサンプル(12)の第1の電位に変調する変調ユニット(22)と、サンプル(12)に当たる一次粒子ビームを発生させるビーム発生器(2)と、二次粒子ビームの粒子と二次粒子ビームの粒子の第2の電位に変調された変調信号を検出する検出器(19,20,21)と、検出された変調信号を基準信号と比較する評価ユニット(25)とを有する。 (もっと読む)


【課題】 外部から視認できない物体等の移動量を、放射線を用いて計測するに当たり、放射線の空間強度分布の時間的変化や、放射線検出器の感度むら並びに歪みがあっても、常に高い精度で移動量を計測することのできる放射線を用いた移動量測定装置を提供する。
【解決手段】 規定時間経過前後の被測定物の放射線透視像から、それぞれ移動量測定方向に沿ったラインプロファイルPn(y),Pn−1(y)を作成し、これらのラインプロファイルの差分値の絶対値があらかじめ設定されている値以上の領域のみを比較して被測定物Wの移動量を算出することで、放射線の空間強度分布や放射線検出器の感度むら等の影響を除外し、正確な移動量の算出を可能とする。 (もっと読む)


【目的】 研磨における加工終点を十分に検出することができる方法及びかかる方法を適用することが可能な研磨装置を提供することを目的とする。
【構成】 基板200を研磨する研磨パッド230、ターンテーブル220や、トップリング210等から構成される研磨部と、前記基板200の表面側と裏面側とのうち、いずれか一方に配置され、前記研磨部が前記基板を研磨する間、複数の陽電子112を放出する陽電子線源110と、前記基板200を挟んで前記陽電子線源110と対向して配置され、放出された前記複数の陽電子112の寿命を測定する、シンチレータ122,124、CFD142,144、TAC150や、MCA160等から構成される測定部と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


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